JPS60117533A - Image display device of scanning type analyzer - Google Patents

Image display device of scanning type analyzer

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JPS60117533A
JPS60117533A JP58225050A JP22505083A JPS60117533A JP S60117533 A JPS60117533 A JP S60117533A JP 58225050 A JP58225050 A JP 58225050A JP 22505083 A JP22505083 A JP 22505083A JP S60117533 A JPS60117533 A JP S60117533A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning
computer
memory
crt
scanning line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58225050A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akio Hori
彰男 堀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP58225050A priority Critical patent/JPS60117533A/en
Publication of JPS60117533A publication Critical patent/JPS60117533A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/252Tubes for spot-analysing by electron or ion beams; Microanalysers
    • H01J37/256Tubes for spot-analysing by electron or ion beams; Microanalysers using scanning beams

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)

Abstract

PURPOSE:To transfer an output data of computer to the CRT in order to display as an image by providing a memory which stores data signal as much as the one scanning line of CRT of a display device with analyzer. CONSTITUTION:A sample 5 is irradiated with electron beam of the scanning type electron microscope and is then scanned by a scanning circuit S. The secondary electron image is displayed on a CRT15 and simultaneously the data processed by a computer 19 is displayed on the CRT21. In this case, a memory 22 which stores data signal as much as one scanning line of CRT15, an output signal of computer 19 for the next scanning line is stored in the memory of one channel during the period of retrace of the one scanning line of CRT15 and content of memory is read during the next scanning and then input to the CRT15. Thereby, an image processed by the computer 19 can be displayed on the CRT and its hard copy can be obtained easily.

Description

【発明の詳細な説明】 イ、産業上の利用分野 本発明は電子線マイクロアナライザ、走査型電子顕微鏡
、走査型オージェ電子分析装置、イオンマイクロアナラ
イザ等のような、試料面を走査して、分析結果を二次元
的な試料面の映像として表示する機能を有する走査型分
析装置の映像表示装置に関する。
Detailed Description of the Invention A. Field of Industrial Application The present invention is applicable to devices such as electron beam microanalyzers, scanning electron microscopes, scanning Auger electron analyzers, ion microanalyzers, etc. that scan a sample surface for analysis. The present invention relates to an image display device for a scanning analyzer that has a function of displaying results as a two-dimensional image of a sample surface.

口、従来技術 近時、上述したような各種の走査型分析装置で、コンピ
ュータと組合せて、分析出力のデータ処理、分析装置の
運転制御をコンピュータで行わせることが一般的に行わ
れるようになって来た。所で上述した各種分析装置はそ
の本来の機能上、良質の画像表示装置を備えている。他
方、分析装置と組合されているコンピュータにもそれ専
用の表示装置が付属されていて、操作上の指示とか分析
結果或は外部入力したデータ等の表示がなされるように
なっている。しかしこのコンピュータに付属した表示装
置は目視用で写真撮影には適していない。
BACKGROUND OF THE INVENTION Recently, it has become common practice to combine various types of scanning analyzers such as those mentioned above with a computer, and have the computer perform data processing of analysis output and control the operation of the analyzer. I came. By the way, the various analysis devices mentioned above are equipped with high-quality image display devices due to their original functions. On the other hand, the computer combined with the analyzer is also attached with its own display device, so that operational instructions, analysis results, externally input data, etc. can be displayed. However, the display device attached to this computer is for visual viewing only and is not suitable for taking photographs.

従ってコンピュータを通して得られた分析データを良質
の画像の・・−トコビーとして入手する手段がなく、文
字、図表で表わされるデータであれば別途プリンタで印
字すると云うような方法が用いられていた。
Therefore, there was no way to obtain high-quality images of the analytical data obtained through a computer, and if the data was expressed in text or diagrams, a separate printer was used to print it out.

八日 的 本発明は、コンピュータの出力データを分析装置付属の
表示装置に転送して良質の映像として表示できるように
し、コンピュータの出力データを単独で或は分析装置に
よって得られる試料面の分析映像と重畳させて写真撮影
することにより、コンピュータの出力データのハードコ
ピーを入手しようとするものである。
The present invention enables computer output data to be transferred to a display device attached to an analyzer and displayed as a high-quality image, and to display the computer output data alone or as an analysis image of a sample surface obtained by the analyzer. The aim is to obtain a hard copy of the computer's output data by superimposing it on the image and taking a photograph.

二、構 成 コンピュータ付属の表示装置は目視用であるから、CR
Tは1フレームl/30秒の高速走査が行われており、
他方分析装置付属の表示装置のCRTは高品質画像を得
るため1フレーム1秒程度の低速走査を行っている。従
ってコンピュータ付属表示装置のCRTに印加する画像
信号をその捷\分析装置付属表示装置のCRTに印加し
ても目的とする画像は表示されない。
2. Since the display device attached to the configuration computer is for visual viewing, CR
T is scanned at a high speed of 1 frame l/30 seconds,
On the other hand, the CRT, which is a display device attached to an analyzer, scans at a low speed of about 1 second per frame in order to obtain high quality images. Therefore, even if the image signal applied to the CRT of the display device attached to the computer is applied to the CRT of the display device attached to the analyzer, the intended image will not be displayed.

本発明d、分析装置付属表示装置のCRTの走査線一本
分のデータ信号を記憶できる容量を持つメモリを1或は
2チャンネル設け、分析装置付属表示装置のCRTの一
走査線の帰線期間中に次の走査線に対するコンピュータ
の出力データ信号を一チャンネルのメモリに書込み、次
の走査において同メモリの内容を読出してCRT(7人
力するか或は一つの走査線を走査している間に第2チヤ
ンネルのメモリの次回走査線用のデータを読込み、次回
走査線の走査中に第2チヤンネルのメモリに次々回走査
線用のデータを読込むようにして2チヤンネルのメモリ
を交互にバッファメモリとして用いるよう例した走査型
分析装置の画像表示装置を提供する。
Invention d, one or two channels of memory having a capacity capable of storing data signals for one scanning line of the CRT of the display device attached to the analyzer is provided, and the retrace period of one scanning line of the CRT of the display device attached to the analyzer is provided. During the scan, the computer's output data signal for the next scanning line is written into one channel of memory, and during the next scanning, the contents of the same memory are read out and transferred to the CRT (with the help of seven people or while scanning one scanning line). An example of using the memories of the two channels alternately as a buffer memory by reading the data for the next scanning line in the memory of the second channel, and reading the data for the next scanning line into the memory of the second channel while scanning the next scanning line. An image display device for a scanning analyzer is provided.

ホ・実施例 図は本発明の一実施例に係る走査型電子顕微鏡を示す。Example The figure shows a scanning electron microscope according to an embodiment of the present invention.

コは電子銃で2は電子ビーム、3はコンデンサレンズ、
4は対物レンズで、試料5表面に電子ビーノ、を収束さ
せている。6は電子検出器で試料5から放出される2次
電子を検出する。7は電子ビームをX方向に振らせるX
偏向コイル、8は電子ビームをY方向に振らせるX偏向
コイルで、一本の走査線を引く(水平走査)方向をX方
向とする。Sは走査回路でX偏向コイル7及びX偏向コ
イル8に走査信号を供給している。同じ走査信号が走査
型電子顕微鏡付属のCRT15のX偏向コイル13、X
偏向コイル14にも供給され、電子ビーム2による試料
5表面の走査と同期してCRT表示面にラスタを構成し
、検出器6の検出出力が増幅器12を介して輝度信号と
してCRTI5に送られ、CRT表示面に試料5の表面
の2次電子像が形成される。この実施例では走査回路S
はディジタル方式を用いており、パルス発振器18の出
力パルスをカウンタ17で計数し、その計数出力をDA
コンバータ16でアナログ信号に変換して、これをX方
向走査信号として増幅器9゜10を介してX偏向コイル
7.15に出力している。カウンタ17は所定の計数値
例えば1024に達すると信号aを出し、その信号によ
ってカウンタ17自身リセツトされ、またその信号がカ
ウンタ17′で計数され、その計数出方がDAコイバー
タ16′でアナログ信号に変換されてY方向走査信(J
としてX偏向コイル8! ]′に送られる〇]9はコン
ピュータでインターフェイス20を通して検出器6の出
力信−弓が取込めるようになっており、この取込んだ信
号に対して種々な演算処理を施す。21はコンピュータ
19に側屈した表示用CRTである。22はコンピュー
タ」9が有するR A Mであって、同コンピュータの
出力データを走査型電子顕微鏡のCRT ]、 5に表
示する場合の2チヤンネルのバッファメモリ用のエリヤ
B1、B2がとっである。CRT15は−アレーン、が
約1000本の水平走査線で構成されており、−水平走
査線を]000画素によって構成しているとし、また映
像の濃淡の階調を1バイト(8ビット)として、−チャ
ンネルのメモリ容量はIKバイトあればよい。寸だコン
ピュータ19には外部同期信号として発振器18の出力
パルス及びカウンタコアが所定回数に達したとき発せら
れる信−%aが送られている。更にコンピュータコ9か
ら出力され、るデータ信−号はDAコンバータ23−c
−rナログ信号に変換され、加算器24において走査型
電子顕微鏡の検出器6の検出信号と重畳されてCRT 
]、 5に輝度信号として印加される。
ko is an electron gun, 2 is an electron beam, 3 is a condenser lens,
Reference numeral 4 denotes an objective lens that focuses an electron beam onto the surface of the sample 5. An electron detector 6 detects secondary electrons emitted from the sample 5. 7 is X that makes the electron beam swing in the X direction
A deflection coil 8 is an X deflection coil that deflects the electron beam in the Y direction, and the direction in which one scanning line is drawn (horizontal scanning) is the X direction. A scanning circuit S supplies a scanning signal to the X deflection coil 7 and the X deflection coil 8. The same scanning signal is sent to the X deflection coil 13 of the CRT 15 attached to the scanning electron microscope.
It is also supplied to the deflection coil 14 to form a raster on the CRT display screen in synchronization with the scanning of the surface of the sample 5 by the electron beam 2, and the detection output of the detector 6 is sent to the CRTI 5 as a brightness signal via the amplifier 12. A secondary electron image of the surface of the sample 5 is formed on the CRT display surface. In this embodiment, the scanning circuit S
uses a digital system, in which the output pulses of the pulse oscillator 18 are counted by the counter 17, and the counted output is sent to the DA.
The converter 16 converts it into an analog signal, which is output as an X-direction scanning signal to the X deflection coil 7.15 via an amplifier 9.10. When the counter 17 reaches a predetermined count value, for example, 1024, it outputs a signal a, and the counter 17 itself is reset by this signal, and the signal is counted by the counter 17', and the output of the count is converted into an analog signal by the DA coverter 16'. It is converted into Y direction scanning signal (J
As X deflection coil 8! 〇]9 sent to ]' is a computer capable of receiving the output signal of the detector 6 through an interface 20, and performs various arithmetic processing on the received signal. 21 is a display CRT bent sideways to the computer 19; Reference numeral 22 denotes a RAM included in the computer 9, in which areas B1 and B2 are reserved for a two-channel buffer memory when output data from the computer is displayed on a CRT (CRT) of a scanning electron microscope. The CRT 15 is made up of about 1000 horizontal scanning lines, and the horizontal scanning lines are made up of ]000 pixels, and the gray level of the image is 1 byte (8 bits). -The memory capacity of the channel only needs to be IK bytes. The output pulse of the oscillator 18 and the signal -%a generated when the counter core reaches a predetermined number of times are sent to the computer 19 as external synchronizing signals. Furthermore, the data signal output from the computer 9 is sent to the DA converter 23-c.
−r is converted into an analog signal, superimposed with the detection signal of the detector 6 of the scanning electron microscope in the adder 24, and transmitted to the CRT.
], 5 as a luminance signal.

上の構成でコンピュータ19のデータ信号出力を走査型
電子M微鏡側の表示装置のCRTI5に表示する場合の
動作を第2図のタイムチャートを用いて説明する。同図
AはX走査信号である。カウンタ1′7はtlの時点で
発振器18の出力の計数を開始し、t2の時点で所定計
数値に達してリセットされる。このとき出される信号が
第1図で説明した信号aで第18図では示してないがワ
ンンヨツト回路がトリガされて一定時間t2〜t1間だ
けカウンタ17の計数動作を停止させ、このようにして
X走査信号が作られる。一つのフラグを設けて、第2図
B、Fに示すようにこのフラグがOのときはB]チャン
ネルのデータを読出してCRTI 5に送シ、B2チャ
ンネルに次の走査線に対するデータ信号を記憶させ、一
つの回のX方向走査が終って信号aが出されたらフラグ
を反転させる。フラグが1のときはB1チャンネルに次
回の走査線用のデータを格納し、B2チャンネルのデー
タを読出してCRT]、5に送る0更に詳細IC述べる
と、コンピュータ19は信号aを受取るとRAM22の
Bl、、B2の両エリヤのアドレスを指定するカウンタ
をクリヤし、カウンタ]7の計数開始と共に発振器1日
の出力パルスを計数し7てBl、B2の各チャンネルの
アドレスを指定してデータの読書きを行う。このように
してRAM22のチャンネルB]又はB2から読出され
たデータは直ちにD Aコンバータ23を介してCR’
[”15に送られ、X方向走査の進行と同期してコンピ
ュータ]9の出力データがCRT 1.5に供給される
ことになる。
The operation when the data signal output from the computer 19 is displayed on the CRTI 5 of the display device on the side of the scanning electronic M microscope with the above configuration will be explained using the time chart shown in FIG. A in the figure is an X scanning signal. The counter 1'7 starts counting the output of the oscillator 18 at time tl, reaches a predetermined count value at time t2, and is reset. The signal issued at this time is the signal a explained in FIG. 1, and although it is not shown in FIG. A scanning signal is created. One flag is provided, and as shown in Figure 2 B and F, when this flag is O, the data of the B] channel is read out and sent to CRTI 5, and the data signal for the next scanning line is stored in the B2 channel. When one X-direction scan is completed and signal a is output, the flag is inverted. When the flag is 1, the data for the next scanning line is stored in the B1 channel, and the data in the B2 channel is read out and sent to the CRT], 5. Clear the counters that specify the addresses of both areas Bl, B2, count the output pulses of the oscillator for one day as counter 7 starts counting, and then specify the addresses of each channel of Bl and B2 to read and write data. do the following. The data read from channel B] or B2 of the RAM 22 in this way is immediately transferred to the CR' via the D/A converter 23.
The output data of the computer] 9 will be supplied to the CRT 1.5 in synchronization with the progress of the X-direction scan.

一トの実施例はコンピュータ19の出力データ信号を走
査型電子顕微鏡の表示装置に転送する場合のバッファメ
モリとして2チヤンネルのメモリを用いたが、第2図G
、Hに示すようにX走査信号のブランキング期間t2〜
t]においてバッファ書込み、走査期間tl’、t2で
バッファから読出すようにすれば1チヤンネルのバッフ
ァメモリでよい。この場合データ書込みのクロックは発
振器]、8の出力パルスでなく、それより高い周波数の
コンピユータ19内部のクロックにより、読出しのクロ
ックだけ発振器18の出力パルスを用いる。
In the first embodiment, a two-channel memory was used as a buffer memory when transferring the output data signal of the computer 19 to the display device of the scanning electron microscope.
, H, the blanking period t2 of the X scanning signal ~
A one-channel buffer memory may be sufficient if data is written into the buffer during the scanning period tl' and read from the buffer during the scanning period t2. In this case, the data writing clock is not the output pulse of the oscillator 8, but a higher frequency internal clock of the computer 19, and the output pulse of the oscillator 18 is used only for the reading clock.

へ・効 果 本発明によれば、コンピュータでデータ処理された画像
とか他の種々なデータが分析装置側の高品質映像表示装
置によって表示できるので、コンピュータに」:って得
られる情報の良質ノ・−トコビーが筒中にかつ安価に得
られる。また分析装置による分析映像に、コンピュータ
により得られるその分析に関する種々なデータ例えば試
料表示、分試料の写真が自動的1r得られる。
Effects According to the present invention, images processed by a computer and various other data can be displayed by the high-quality video display device on the analyzer side.・-Tokobee can be obtained in a cylinder at a low cost. In addition, various data related to the analysis obtained by the computer, such as a sample display and a photograph of the separated sample, are automatically obtained in addition to the analysis image produced by the analyzer.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例装置の構成を示すブロック図
、第2図は同実施例及びもう一つの実施例の動作を説明
するタイムチャートである。 2・・・電子ビーム、5・・・試料、6・・・検出器、
7・・X走査コイル、8・・X走査コイル、S・・・走
査回路、]B5・・走査型電子顕微鏡用CRT、19゛
°コンピユータ、20・・・インターフェイス、21・
・・コンピュータ用CRT、22・・RA M、 B 
]、、 B 2.、、−走査線分のデータを〜時格納す
るメモリチャンネル、23・・・DAコンバータ、24
・・加算回路。 代理人 弁理士 縣 浩 介
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an apparatus according to one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a time chart illustrating the operation of the same embodiment and another embodiment. 2... Electron beam, 5... Sample, 6... Detector,
7...X scanning coil, 8...X scanning coil, S...scanning circuit,] B5... CRT for scanning electron microscope, 19゛° computer, 20... interface, 21...
・・Computer CRT, 22・・RAM, B
],, B2. ,, -Memory channel for storing scanning line data at ~ time, 23...DA converter, 24
...Addition circuit. Agent Patent Attorney Kosuke Agata

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 分析装置付属表示装置のCRTの走査線一本分のデータ
信号を記憶できる容量を持つメモリをコ或は2チャンネ
ル設け、分析装置付属のCRTの一走査線の帰線期間中
に次の走査線に対するコンピュータの出力信号を上記−
チャンネルのメモリに書込み、次の走査で同メモリの内
容を読出して上記CRTに入力するか、一つの走査して
いる間にメモリの一チャンネルのデータを読出して上記
CR,Tに入力し、同じ間に他の一チャンネルに次回走
査線に対するコンピュータの出力信号を書込み、2チヤ
ンネルのメモリを交互に用いるようにした走査型分析装
置の画像表示装置。
One or two channels of memory with a capacity to store data signals for one scanning line of the CRT of the display device attached to the analyzer are provided, and during the retrace period of one scanning line of the CRT attached to the analyzer, the next scanning line can be stored. The computer output signal for -
Write to the memory of a channel and read the contents of the same memory in the next scan and input it to the above CRT, or read the data of one channel of the memory during one scan and input it to the above CR and T, and do the same. An image display device for a scanning analyzer in which a computer output signal for the next scanning line is written to another channel in between, and two channels of memory are used alternately.
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