JPS60114761A - ガス濃度測定装置 - Google Patents
ガス濃度測定装置Info
- Publication number
- JPS60114761A JPS60114761A JP58223863A JP22386383A JPS60114761A JP S60114761 A JPS60114761 A JP S60114761A JP 58223863 A JP58223863 A JP 58223863A JP 22386383 A JP22386383 A JP 22386383A JP S60114761 A JPS60114761 A JP S60114761A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- water
- tank
- concentration
- water tank
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/4162—Systems investigating the composition of gases, by the influence exerted on ionic conductivity in a liquid
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- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の総する孜術分野〕
不発明は、街ＩＪ定ガス中の水分を除去した後に、固定
することのできない特定成分ガス、例えば塵芥焼却炉の
煙道排ガス中の塩化水素ガス等のような水に溶解し易い
ガスの濃度′５Ｉ：測定するガス濃度枳１ｊ定装置に関
する。
することのできない特定成分ガス、例えば塵芥焼却炉の
煙道排ガス中の塩化水素ガス等のような水に溶解し易い
ガスの濃度′５Ｉ：測定するガス濃度枳１ｊ定装置に関
する。
この種のガス濃度測定方法としては、測定ガスを吸収液
に固定した後、この吸収液中の例えは塩素イオン濃度を
、塩素イオン電極法により検出する湿式法が一般的に知
られている。第１図は従来の塩化水素ガス濃度測定装置
の概略構成図を示す。
に固定した後、この吸収液中の例えは塩素イオン濃度を
、塩素イオン電極法により検出する湿式法が一般的に知
られている。第１図は従来の塩化水素ガス濃度測定装置
の概略構成図を示す。
図において塩化水素ガス濃度朔定装置ｌは、主としてガ
スサンプリング装ｆＩＬ２、塩素イオン測定セル４およ
び塩化水素ガス濃度計５等から構成ちれる。ところで、
ガスランプリング装置２の高露点ガス採取器３ａ１煙道
から採取された排ガス（測定カス）内のドレンが発生す
るのを防止するガス導管加熱器６を介して、ジャンクシ
ョンボックス７に連結される。また、ジャンクションボ
ックス７は吸収セル８に連結されて、排ガス中の塩化水
素ガスは吸収セル８内の吸収液９に吸収（同定）される
。この吸収液９は、２万切換コツクｌＯお工び吸収液汲
出し用定量ボング１１を紅て、塩素イオン創建セル４に
導入され、吸収放り中の塩素イオンが検出ちれ、塩素ガ
ス咲腿ｉ−ｔ ５に指示延れる。１２は排液タンクでめ
る。なお、吸収セル８の上方からの排出ガスは、４方切
侠コック１３？！−経て、女全トレンド２ツ７°１４内
に〃ト出ガス中の水分をドレンとしてｖＦ出される。塾
らに、このガスは、ダイヤフクム式吸引器１５およびデ
ミスタ（除湿器）１６葡経て、半透膜乾燥器１７にて吸
÷ 湿され、圧力ｉｔｓ、フィルタ１９および廻差弁伺フロ
ーレータ２０會縣て、古び半透膜乾燥器１７（ｚ介して
、カスＩｊ１・出口２１より排出さ扛る。
スサンプリング装ｆＩＬ２、塩素イオン測定セル４およ
び塩化水素ガス濃度計５等から構成ちれる。ところで、
ガスランプリング装置２の高露点ガス採取器３ａ１煙道
から採取された排ガス（測定カス）内のドレンが発生す
るのを防止するガス導管加熱器６を介して、ジャンクシ
ョンボックス７に連結される。また、ジャンクションボ
ックス７は吸収セル８に連結されて、排ガス中の塩化水
素ガスは吸収セル８内の吸収液９に吸収（同定）される
。この吸収液９は、２万切換コツクｌＯお工び吸収液汲
出し用定量ボング１１を紅て、塩素イオン創建セル４に
導入され、吸収放り中の塩素イオンが検出ちれ、塩素ガ
ス咲腿ｉ−ｔ ５に指示延れる。１２は排液タンクでめ
る。なお、吸収セル８の上方からの排出ガスは、４方切
侠コック１３？！−経て、女全トレンド２ツ７°１４内
に〃ト出ガス中の水分をドレンとしてｖＦ出される。塾
らに、このガスは、ダイヤフクム式吸引器１５およびデ
ミスタ（除湿器）１６葡経て、半透膜乾燥器１７にて吸
÷ 湿され、圧力ｉｔｓ、フィルタ１９および廻差弁伺フロ
ーレータ２０會縣て、古び半透膜乾燥器１７（ｚ介して
、カスＩｊ１・出口２１より排出さ扛る。
２２．２ｊｉＪ除湿器１６のドレン排出側に眩けられた
固定数りおよびニードルパルプでるる。ざらにまた、吸
収液タンク２４の吸収液は定量ポンプ２５を経て、定量
ずつ吸収セル８に供給きれ、吸収液タンク２６の純水は
定量ポンプ２７を経て、同様に定量ずつ吸収セル８に供
給される。標準液タンク２８の徐準液は、２万切換コツ
クｌＯを経て、塩素イオン検出装置４に供給さ九る。２
９はを伝導入口で、メンブレンフィルタ３０を経て、ジ
ャンクションボックス７および高露点ガス採取器３を清
掃する空気が導入さ７Ｌる。かつ、塩素イオン測定セル
４は、吸収液容器、１１１この吸収容器３１に浸漬嘔れ
る塩素イオン電極３２、比較電＆３３および温度電極３
４等からなる。
固定数りおよびニードルパルプでるる。ざらにまた、吸
収液タンク２４の吸収液は定量ポンプ２５を経て、定量
ずつ吸収セル８に供給きれ、吸収液タンク２６の純水は
定量ポンプ２７を経て、同様に定量ずつ吸収セル８に供
給される。標準液タンク２８の徐準液は、２万切換コツ
クｌＯを経て、塩素イオン検出装置４に供給さ九る。２
９はを伝導入口で、メンブレンフィルタ３０を経て、ジ
ャンクションボックス７および高露点ガス採取器３を清
掃する空気が導入さ７Ｌる。かつ、塩素イオン測定セル
４は、吸収液容器、１１１この吸収容器３１に浸漬嘔れ
る塩素イオン電極３２、比較電＆３３および温度電極３
４等からなる。
ところが、この塩化水素ガス濃度測定装置ｌは、定量ポ
ンプ１１により吸収液９０ｇ、量が一定に制御でれると
共に、足差圧弁２０によりガス流量が一定に制御芒才し
ている。しかしなから、排ガス中の水分も塩化水系カス
と共に、吸収液９内に降下するために、吸収液が稀釈さ
れて５１ｄ量し、塩素イオン濃度が低下する。従って、
排カス中の水分量が多（なる機、塩化水素ガス濃度は減
少方向・＼の誤差を増加するという欠点があった。笑際
上、塵芥焼却炉の場合、排ガス中の水分量は、零ないし
４０％程度の間で、太き（変動するといわれている。こ
のために、塩化水素ガス濃度の測定値が変動することは
解決すべぎＮ要な課題であった。従来、この測定誤差を
解決するには、萬温、多湿、多塵で、ｆＩＥ蝕カスを含
む苛酷な条件下にある煙道内に感湿素子を挿入して、排
ガス中の水分量を検出してこの検出値により、塩化水素
ガス濃度を補正するという方法が採用されていた。しか
し、感湿素子の消耗反が高（、長期間の使用に堪えず交
換頻度が向い等の数多くの問題かあった。
ンプ１１により吸収液９０ｇ、量が一定に制御でれると
共に、足差圧弁２０によりガス流量が一定に制御芒才し
ている。しかしなから、排ガス中の水分も塩化水系カス
と共に、吸収液９内に降下するために、吸収液が稀釈さ
れて５１ｄ量し、塩素イオン濃度が低下する。従って、
排カス中の水分量が多（なる機、塩化水素ガス濃度は減
少方向・＼の誤差を増加するという欠点があった。笑際
上、塵芥焼却炉の場合、排ガス中の水分量は、零ないし
４０％程度の間で、太き（変動するといわれている。こ
のために、塩化水素ガス濃度の測定値が変動することは
解決すべぎＮ要な課題であった。従来、この測定誤差を
解決するには、萬温、多湿、多塵で、ｆＩＥ蝕カスを含
む苛酷な条件下にある煙道内に感湿素子を挿入して、排
ガス中の水分量を検出してこの検出値により、塩化水素
ガス濃度を補正するという方法が採用されていた。しか
し、感湿素子の消耗反が高（、長期間の使用に堪えず交
換頻度が向い等の数多くの問題かあった。
木兄り」は、上述の点３こ鑑み、従来技術の問題点を有
効に解決し、その徊成が簡単で、その取扱いが容易でめ
ると共に、その信頼性が高く長期の使用に堪えるガス訳
度徂１ｊ足装置奮提供することを目的とする。
効に解決し、その徊成が簡単で、その取扱いが容易でめ
ると共に、その信頼性が高く長期の使用に堪えるガス訳
度徂１ｊ足装置奮提供することを目的とする。
このような目的を達成するために、本発明は、サンプリ
ングもれた御ｊ冗ガス中のドレンお↓び特定成分ガスの
イオン濃度を測定した後の排液が収容される水槽と、前
記水槽の上部に設けられ前記水槽の上限レベルを検知す
るレベルスイッチと、前記水槽の底部に設けられ卵数に
より前記水措から前記ドレンおよび排液を排出させる電
磁弁と、前記水槽の上限レベルに達するごとに、前記レ
ベルスイッチを動作させて前記水槽から前記ドレンおよ
び排液の排出が完了するまで前記電磁弁を開放させる前
記測定ガス中の水分量に比例する前記レベルスイッチの
動作回数を計数して、前記特定成分ガスの濃度を補正す
る計数・演舞４回路とを備えることを特徴とする。
ングもれた御ｊ冗ガス中のドレンお↓び特定成分ガスの
イオン濃度を測定した後の排液が収容される水槽と、前
記水槽の上部に設けられ前記水槽の上限レベルを検知す
るレベルスイッチと、前記水槽の底部に設けられ卵数に
より前記水措から前記ドレンおよび排液を排出させる電
磁弁と、前記水槽の上限レベルに達するごとに、前記レ
ベルスイッチを動作させて前記水槽から前記ドレンおよ
び排液の排出が完了するまで前記電磁弁を開放させる前
記測定ガス中の水分量に比例する前記レベルスイッチの
動作回数を計数して、前記特定成分ガスの濃度を補正す
る計数・演舞４回路とを備えることを特徴とする。
次に、本発明の一実施例を図面に基づき、訂細に説明す
る。
る。
第２図は本発明の一実施例の概略構成図を示す。
図において第１図と同一の機能を・有する部分には、同
一の符号が付されている。本ガス病度測定装置は、第１
図に示すガスサンプリング装置２、塩素イオン測定セル
４および塩化水素ガス濃度計５等に、湿度の補正をする
ために、水槽３５、この水槽３５内上部に設けられたレ
ベルスイッチ３６、水相５の底部に鰻けられた囲閉弁、
本実施例では電磁弁３７および割数・演算−路３８とを
付属してなる。水槽３５は、第ｌ伽３９および第２槽４
０とからなり、レベルスイッチ３６お工び電磁弁３７は
第１ ｆ＆ ３ ｔｒｉにそれぞれｅ匝きれている。
一の符号が付されている。本ガス病度測定装置は、第１
図に示すガスサンプリング装置２、塩素イオン測定セル
４および塩化水素ガス濃度計５等に、湿度の補正をする
ために、水槽３５、この水槽３５内上部に設けられたレ
ベルスイッチ３６、水相５の底部に鰻けられた囲閉弁、
本実施例では電磁弁３７および割数・演算−路３８とを
付属してなる。水槽３５は、第ｌ伽３９および第２槽４
０とからなり、レベルスイッチ３６お工び電磁弁３７は
第１ ｆ＆ ３ ｔｒｉにそれぞれｅ匝きれている。
また、安全ドレントラップ１４からのドレンおよび排液
タンク１２７１ｈらの排液は、水槽５の頭部より第１４
Ｗ！ｆ ３９内に収容される。従って、第２槽４０は第
１ｍ：ａ９内の収容液が溢れる際の補助タンクである。
タンク１２７１ｈらの排液は、水槽５の頭部より第１４
Ｗ！ｆ ３９内に収容される。従って、第２槽４０は第
１ｍ：ａ９内の収容液が溢れる際の補助タンクである。
７＋、お ｍｌ数・演算回路３８Ｌルベル計数部４１．
シーケンサ部４２お工び演算・補正部４３とからなる
。
シーケンサ部４２お工び演算・補正部４３とからなる
。
上述の構成により、木頭明の機能を説明する。
安全ドレントラップ１４からのドレンと、排液タンク１
２からの排液、ツーなゎぢ測定セル４における測定済の
排液とを収容了る水４１ｉｉｌａｓ内の第１槽３９は、
第１槽３９が祉状態て、％磁弁ｊ７が閉状態力Ｃ）スｉ
−トシテ、門テン饗需ｒ斤１千鉛呉竺ルスイッチ３６よ
り計数・演算回路３８のレベル引数部４１に、上限の接
点信号が発信さｎる。この動作信号により、シークンサ
部４２Ｕｔａ弁３７を開とする指令を発信し、排水を開
始すると共に、排水が終了するまでの数秒間の時間を設
定し、％磁弁３７の−を保持する。この所足時間の後、
電磁弁３７を閉とし、第２回目以降の水槽３５内の収容
液の計量ｆ：繰返す。従って、排ガス中の水分が多い程
、レベルスイッチ３６からの動作信号（発信パルス）が
多くなる。ところが、この収容液にＬ１吸収セル８に供
給されたに量ずつの吸収液がベース分として加算芒れて
、この発信パルスは排ガス中の水分量との間に、−次式
的比例関係が成立する。すなわち、計数部４１は発信パ
ルスｔｇｔ数し、演算・補正部４３は、この計数量に応
じてガス濃度計５の出力１８号を演算し補正して、湿度
補正された出力信号を発信する。
２からの排液、ツーなゎぢ測定セル４における測定済の
排液とを収容了る水４１ｉｉｌａｓ内の第１槽３９は、
第１槽３９が祉状態て、％磁弁ｊ７が閉状態力Ｃ）スｉ
−トシテ、門テン饗需ｒ斤１千鉛呉竺ルスイッチ３６よ
り計数・演算回路３８のレベル引数部４１に、上限の接
点信号が発信さｎる。この動作信号により、シークンサ
部４２Ｕｔａ弁３７を開とする指令を発信し、排水を開
始すると共に、排水が終了するまでの数秒間の時間を設
定し、％磁弁３７の−を保持する。この所足時間の後、
電磁弁３７を閉とし、第２回目以降の水槽３５内の収容
液の計量ｆ：繰返す。従って、排ガス中の水分が多い程
、レベルスイッチ３６からの動作信号（発信パルス）が
多くなる。ところが、この収容液にＬ１吸収セル８に供
給されたに量ずつの吸収液がベース分として加算芒れて
、この発信パルスは排ガス中の水分量との間に、−次式
的比例関係が成立する。すなわち、計数部４１は発信パ
ルスｔｇｔ数し、演算・補正部４３は、この計数量に応
じてガス濃度計５の出力１８号を演算し補正して、湿度
補正された出力信号を発信する。
以上に説明するように本発明によれば、サンプリングさ
れた排ガス中のドレンおよび特定成分ガスのイオン濃度
の測定後の排液が収容される水槽と、この水槽の上部に
設けられた上限レベルスイッチと、ｂ１１記水槽の底部
に設けちれた電磁弁と、前記排ガス中の水分蓋に比例す
る前記レベルスイッチの動作回数をｂｔ数して特定取分
カス濃度を補正する計数・演算回路とを設りるというガ
ス濃度補正手段により、従来のような旬酷な条件下の煙
道内等に感湿素子を設けることなく、その構成が簡単で
、その取扱いが容易であると共に、その信頼性が筒＜、
長期の使用に堪える等の利点を有する。
れた排ガス中のドレンおよび特定成分ガスのイオン濃度
の測定後の排液が収容される水槽と、この水槽の上部に
設けられた上限レベルスイッチと、ｂ１１記水槽の底部
に設けちれた電磁弁と、前記排ガス中の水分蓋に比例す
る前記レベルスイッチの動作回数をｂｔ数して特定取分
カス濃度を補正する計数・演算回路とを設りるというガ
ス濃度補正手段により、従来のような旬酷な条件下の煙
道内等に感湿素子を設けることなく、その構成が簡単で
、その取扱いが容易であると共に、その信頼性が筒＜、
長期の使用に堪える等の利点を有する。
第１図は従来のカス振度測足装随の概略構成−１第２図
は本さ６明の一笑施例の概略構成図である。 ５：カス鍛度計、１２：排液タンク、１４：安全トレン
トラツ７’、３５：水槽、３６：レベルスイッチ、３７
：電磁弁、３８：計数・演算回路、４１ニレベル計数部
、４２：シーケンサ部、４３：演算補正部。
は本さ６明の一笑施例の概略構成図である。 ５：カス鍛度計、１２：排液タンク、１４：安全トレン
トラツ７’、３５：水槽、３６：レベルスイッチ、３７
：電磁弁、３８：計数・演算回路、４１ニレベル計数部
、４２：シーケンサ部、４３：演算補正部。
Claims (1)
- １）水分を含む測定ガス全サンプリングして、前記測定
ガス中の特定成分ガスを吸収液に固定した後、前記吸収
液中の前記特定成分ガスのイオン濃度により、前記も定
成分ガスの濃度を検出するガス濃度計において、サンプ
リングされた前記測定ガス中のドレンおよび前記特定成
分ガスのイオン濃度全測定した後の排液が収容される水
槽と、前記水槽の上部に設けられ前記水槽の上限レベル
を検知するレベルスイッチと、前記水槽の底部に設けら
れ開放により前記水槽から前記ドレンおよび排液を排出
嘔せる開閉弁と、前記水槽の上限レベルに達するごとに
、前記レベルスイッチを動作させて前記水槽から前記ド
レンおよび排液の排出が光子するまでｒａｉｌ記開閉弁
開閉弁させる前記両足ガス中の水分量に比例するＭｊＪ
記レベルスイッチの動作回数全計数して、前記特定成分
ガスの濃度を補正する計数・演算回路とを備えたことを
特徴とするガス濃度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58223863A JPS60114761A (ja) | 1983-11-28 | 1983-11-28 | ガス濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58223863A JPS60114761A (ja) | 1983-11-28 | 1983-11-28 | ガス濃度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60114761A true JPS60114761A (ja) | 1985-06-21 |
Family
ID=16804883
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58223863A Pending JPS60114761A (ja) | 1983-11-28 | 1983-11-28 | ガス濃度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60114761A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5400642A (en) * | 1992-07-10 | 1995-03-28 | Universidad De Salamanca | Procedure and apparatus for programmed thermal desorption |
-
1983
- 1983-11-28 JP JP58223863A patent/JPS60114761A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5400642A (en) * | 1992-07-10 | 1995-03-28 | Universidad De Salamanca | Procedure and apparatus for programmed thermal desorption |
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