JPS60103349A - Cleaning device for substrate - Google Patents

Cleaning device for substrate

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Publication number
JPS60103349A
JPS60103349A JP58211626A JP21162683A JPS60103349A JP S60103349 A JPS60103349 A JP S60103349A JP 58211626 A JP58211626 A JP 58211626A JP 21162683 A JP21162683 A JP 21162683A JP S60103349 A JPS60103349 A JP S60103349A
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JP
Japan
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glass substrate
cleaning
tank
substrate
pure water
Prior art date
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Pending
Application number
JP58211626A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazunori Imamura
今村 和則
Nobutoshi Abe
安部 宣利
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Nippon Kogaku KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp, Nippon Kogaku KK filed Critical Nikon Corp
Priority to JP58211626A priority Critical patent/JPS60103349A/en
Publication of JPS60103349A publication Critical patent/JPS60103349A/en
Priority to US07/011,413 priority patent/US4715392A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/68Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
    • G03F1/82Auxiliary processes, e.g. cleaning or inspecting

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

PURPOSE:To remove effectively foreign matter sticking to a glass substrate and to improve the capacity of a stage for cleaning said substrate by providing means for coating a cleaning liquid on the substrate to be cleaned, removing the foreign matter sticking thereto and washing the remaining matter, etc. CONSTITUTION:A glass substrate 5 is vertically held from a housing part 1 and is positioned above a brush cleaning tank 2 along a route 6. A washing means 7 which ejects pure water to the substrate 5, a means 8 for coating a cleaning liquid which ejects ammonia cleaning liquid and a rotary brush 11 are respectively segmented by plates 9, 10 for preventing scattering in a cleaning tank 2. An alcohol liquid is ejected from the ejecting part 13 of a rinse tank 3 and the substrate 5 is dried by freon vapor in a vapor tank 4. The foreign matter sticking to the substrate 5 is thus thoroughly removed by moving vertically the substrate in the tank 2. The substrate 5 is transferred into the tank 3 and the tank 4 to eliminate the remaining cleaning liquid, by which the efficiency in the cleaning stage is improved and the thoroughly cleaned substrate 5 is obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は、汚染された基板を洗浄する装置に関し、特に
半導体製造1穆で使用されるレチクルやフォトマスク等
のガラス基板に付着した異物(微小なゴミやシミあるい
は油分)を除去する洗浄装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Technical Field of the Invention) The present invention relates to an apparatus for cleaning contaminated substrates, and in particular, the present invention relates to an apparatus for cleaning contaminated substrates, and particularly for cleaning foreign matter (microscopic particles) attached to glass substrates such as reticles and photomasks used in semiconductor manufacturing. This relates to cleaning equipment that removes dirt, stains, and oil.

(発明の背景) レチクルやフォトマスク等のガラス基板を洗浄する方法
として、従来より、スポンジを用いた手洗いや、回(ブ
ラシによる洗浄、又は超音波溶剤槽を用いた洗浄等が実
施されている。このうち、洗浄効果が高く、かつ自動化
に適した方法は回転ブラシを用いた洗浄である。ところ
が、鵠に回転ブラシを用いてガラス基板の表面に付着し
た異物を除去したとしても、最終的に乾燥したガラス基
板を得るまでのその他の洗浄工程によっては、十分な洗
浄効果を得られないという欠点があった、(発明の目的
) 本発明は以上の欠点を解決し、ガラス基板に付着した異
物を効果的に除去するとともに、乾燥したガラス基板を
得るまでの洗浄工程の能力を低下させないようにした洗
浄装置を得ることを目的とする。
(Background of the Invention) Conventionally, methods for cleaning glass substrates such as reticles and photomasks include hand washing with a sponge, cleaning with a brush, or cleaning with an ultrasonic solvent bath. Among these methods, cleaning using a rotating brush is the most effective cleaning method and is suitable for automation. However, even if a rotating brush is used to remove foreign matter attached to the surface of the glass substrate, the final (Objective of the Invention) The present invention solves the above-mentioned drawbacks, and has the disadvantage that a sufficient cleaning effect cannot be obtained depending on other cleaning steps until a glass substrate is dried. It is an object of the present invention to provide a cleaning device that effectively removes foreign matter and does not reduce the performance of the cleaning process until a dry glass substrate is obtained.

(発明の概要) 本発明は、レチクルやフォトマスク等の基板を保持して
、その基板を洗浄槽に搬入及び搬出する搬送手段と、そ
の洗浄槽内に設けられて、基板に洗浄液(アンモニア水
溶液、あるいは純水)を噴き付ける静して、塗布する洗
浄液塗布手段と、洗浄液で湿潤したその基板の表面を擦
って、付着した異物(チリやほこり、あるいは油分)を
除去する異物除去手段(回転ブラシ)と、異物除去手段
による異物除去の後、基板に残存した洗浄液、又は異物
を洗い流す水洗手段(純水噴出部)とを設けることを技
術的要点とする。
(Summary of the Invention) The present invention provides a conveying means for holding a substrate such as a reticle or a photomask and transporting the substrate into and out of a cleaning tank, and a cleaning liquid (ammonia aqueous solution) provided in the cleaning tank. There is a cleaning solution application means that statically sprays a cleaning solution (or pure water), and a foreign matter removal means (rotary) that rubs the surface of the substrate moistened with the cleaning solution to remove attached foreign matter (dirt, dust, or oil). The technical point is to provide a cleaning device (brush) and a water washing means (pure water spouting section) for washing away the cleaning liquid or foreign matter remaining on the substrate after the foreign matter removal means removes the foreign matter.

(実施例) 第1図は本発明の実施例が適用される自動洗浄装置の全
体概略図である。
(Embodiment) FIG. 1 is an overall schematic diagram of an automatic cleaning device to which an embodiment of the present invention is applied.

ガラス基板5は収納部1に収納され、収納部1かも最も
離れた位置に、本発明の実施例によるブラシ洗浄槽2が
配置され、その隣りで収納部1にはさまれた位Ii&に
は、アルコールを用いてガラス基板5を洗うリンス槽3
が配置され、さらに、リンス槽3と収納部IKはさまれ
た位置にはフレオン蒸気を用いてガラス基板5を乾燥す
る蒸気乾燥槽4が配置されている。この収納部1、ブラ
シ洗浄槽2、リンス槽3、及び蒸気乾燥槽4(以下、単
に蒸気14と呼ぶ)はガラス基板5の直線的な搬送経路
6に活って配列される。収納部lに収納された洗浄すべ
きガラス基板5け、縦に保持された状態で経路6に従っ
て、蒸気槽4、リンス槽3を飛び越して、ブラシ洗浄槽
2の上方に位随決めされる。ブラシ洗浄槽2の内部には
、上から@番に、ガラス基板5に純水を噴射する純水噴
出部(水洗手段)7と、アンモニア水溶液等の洗浄液を
噴射する洗浄液噴出部(洗浄液塗布手段)8と、ガラス
基板50表面を擦るように回転するブラシ(異物除去手
段)11とが、各々飛散防止板9、】0によって区画し
て配置されている。またブラシ洗浄槽2の底部12は錐
体状になっており、排液の回収効率を畠めである。
The glass substrate 5 is stored in the storage part 1, and the brush cleaning tank 2 according to the embodiment of the present invention is arranged at the farthest position from the storage part 1, and the brush cleaning tank 2 according to the embodiment of the present invention is located next to it and is sandwiched between the storage parts 1 and Ii&. , a rinse tank 3 that washes the glass substrate 5 using alcohol
Further, a steam drying tank 4 for drying the glass substrate 5 using Freon steam is arranged between the rinsing tank 3 and the storage part IK. The storage section 1, the brush cleaning tank 2, the rinsing tank 3, and the steam drying tank 4 (hereinafter simply referred to as steam 14) are arranged along a linear transport path 6 for the glass substrate 5. Five glass substrates to be cleaned stored in a storage part 1 are vertically held and positioned above a brush cleaning tank 2 following a path 6, jumping over a steam tank 4 and a rinsing tank 3. Inside the brush cleaning tank 2, from top to bottom, there are a pure water spouting section (washing means) 7 that jets pure water onto the glass substrate 5, and a cleaning fluid spouting section (cleaning fluid application means) that spouts a cleaning fluid such as ammonia aqueous solution. ) 8 and a brush (foreign matter removing means) 11 that rotates so as to rub the surface of the glass substrate 50 are separated by scattering prevention plates 9 and ]0, respectively. Moreover, the bottom part 12 of the brush cleaning tank 2 is shaped like a cone to improve the collection efficiency of waste liquid.

リンス槽3の内部には、純水をイレプロビル)′ルコー
ル液(以下、IPAとする)等に置換するために、その
iPAを噴出する1、PA噴出部13が設けられ、ガラ
ス基板50両面をIPAでリンスする。また、このリン
ス槽3の底部14も雄体状に形成され、排液の回収効率
を高めである。蒸気槽4の底部にはフレオン液16が供
給ライン18から所定瞼ずつ供給され、ヒーター19に
よって加熱される。とれによってフレオン蒸気が槽4内
に満され、ガラス基板5の蒸気乾燥が行なわれる。
Inside the rinsing tank 3, a PA spouting section 13 is provided for spouting iPA to replace pure water with ileprovir alcohol solution (hereinafter referred to as IPA), etc. Rinse with IPA. Moreover, the bottom part 14 of this rinse tank 3 is also formed in a male shape to increase the efficiency of collecting the drained liquid. A Freon liquid 16 is supplied to the bottom of the steam tank 4 from a supply line 18 to predetermined eyelids at a time, and heated by a heater 19 . Freon vapor fills the tank 4 due to the breakage, and the glass substrate 5 is vapor-dried.

ガラス基板5によって凝縮して滴下するフレオン液は、
純度が低く、汚れているので、フレオン液16と混じる
ことのないように受皿17aで受けて回収ライン17b
を介して回収される。尚、蒸気槽4の上方部周辺には冷
却管15が設けられ、フレオン蒸気が槽外に流出するの
を防ぐ。
The Freon liquid condensed and dripped by the glass substrate 5 is
Since the purity is low and it is dirty, it is collected in a saucer 17a to prevent it from mixing with the Freon liquid 16, and then passed through the recovery line 17b.
will be collected through. A cooling pipe 15 is provided around the upper part of the steam tank 4 to prevent freon vapor from flowing out of the tank.

第2図はブラシ洗浄槽2の拡大斜視図である。FIG. 2 is an enlarged perspective view of the brush cleaning tank 2. FIG.

ガラス基板5はアーム20によって端面部を両方から挟
持されて、縦状態でガラス基板5の表面と平行なy方向
とZ方向とに搬送される。
The end face portions of the glass substrate 5 are held by the arms 20 from both sides, and the glass substrate 5 is conveyed vertically in the y direction and the Z direction parallel to the surface of the glass substrate 5.

このブラシ洗浄槽2の上部は、ガラス基板5とアーム2
0が進退できるだけの開口部21が設けられて、密閉さ
れている。この構造は、槽2内にほこシが進入すること
を防ぐとともに、内部の各種液体のミスト(飛沫)が外
部に出ることを防ぐのに有効である。さて、純水噴出部
7は、開口部21から下方に進入してくるガラス基板5
0両面に平行して配置されたバイグア a、7 bと、
このパイプ73.7bのそれぞれの2ケ所に設けられた
噴射ノズル22.23,24.25とから構成される。
The upper part of this brush cleaning tank 2 consists of a glass substrate 5 and an arm 2.
An opening 21 large enough for 0 to move forward and backward is provided and sealed. This structure is effective in preventing dust from entering the tank 2 and also in preventing mist (splash) of various liquids inside from exiting to the outside. Now, the pure water spouting section 7 is connected to the glass substrate 5 that enters downward from the opening 21.
Baigua a, 7 b arranged in parallel on both sides of 0,
This pipe 73.7b is composed of injection nozzles 22.23 and 24.25 provided at two locations, respectively.

パイプ7a、7bには一定の圧力の純水が供給され、噴
射ノズル22〜25はその圧力によって純水を扇状の液
膜にして噴出する。ノズル22〜25は、純水がガラス
基板5の表面の横方向(図ではy方向)に扇状に広がっ
て噴出すると共に、ガラス基板50表面の上下方向には
嫌とんど広がらないように噴出するような構造になりで
いる。そこで、これらノズル22〜25の配置について
第3図により詳述する。第3図(a)はパイプ7a、7
bとガラス基板5との配置状態を槽2の上方から見た図
であり、第3図(b)はそれを横から見た図である。第
3図(a)に示すように、ノズ/l/22からの純水人
q1と、ノズル23からの純水Aq2とが、ガラス基板
5の横幅方向にもれなく噴き付けられるように、扇形の
開き角θ1と、そのノズル22.23の間隔とが定めら
れている。またノズル、24.25についても同様に、
純水A(13とAq4が横幅方向にもれなく広がって噴
出される。一方、第3図(b)に示すように各純水Aq
l〜Aq4はガラス基板5の上下方向には広がらないの
で液膜状になる。ただし、ガラス基板5の同一の面に噴
射される純水AqlとAq2は、扇状の液膜がガラス基
板50面上で互いに重ならないように、パイプ7aに対
してノズル22と23の取り伺は角度を少しずらしであ
る。これは純水A、qlとAq2とが重なって互いにぶ
つかったとき、犬h1の飛沫が発生することを防止する
ものである。純水Aq3とAq4についても扇状の液膜
が互いに重ならないように、パイプ7bに対してノズル
24と25の改り付は角度を少しずらしである。さらに
、ノズル22〜25は純水AqI〜Aq4がガラス基板
5の表面に垂直に噴射するのではなく、ある角度を持っ
て下方に噴射するようにパイプ7a、7bに設けられて
いる。これは、ガラス基板5に弱く付着した異物を洗い
流す力を強めるとともにガラス基板5がない時に、互い
に向き合うノズルから噴射された純水AqlとAq3(
Aq2とAq4)とがぶつかり、純水の飛沫が生じるこ
とを防1ヒするためでもある。このため、純水Aq、1
とAq 3 (Aq 2とAq4)の扇状の液膜の面が
成す角度を鋭角にするのが望1しく、例えば5°〜85
°がよい。さて、第2図の説明に戻り、パイプ7a、7
bの下方には各々飛散防止板9a、9bが槽2の中央部
に向けて下方に傾斜した状態で互いに対向して設けられ
ている。飛散防止板9aと9bの下端部は、ガラス基板
5とアーム20とが)勇過するように適当な間隔で離れ
ている。この飛散防止板9a、9bは、ノズル22〜2
4からの純水、あるいは−族ガラス基板5に噴射されて
はね返った純水が再び飛沫となって上方にはね返るのを
防止するものである。この飛散防止板9a、9bの表面
が成す角度は、第3図で示した純水AqlとA、q3(
Aq2とA q 4. )との液膜が成す角度や、純水
の噴出圧力によっても異なるが、206〜160°程度
であれば、飛散防止の効果が得られる。
Pure water at a constant pressure is supplied to the pipes 7a and 7b, and the spray nozzles 22 to 25 use the pressure to spray the pure water into a fan-shaped liquid film. The nozzles 22 to 25 eject pure water so that it spreads in a fan shape in the lateral direction of the surface of the glass substrate 5 (in the y direction in the figure), and also ejects the pure water so as not to spread in the vertical direction of the surface of the glass substrate 50. It has a structure that makes it possible to do so. Therefore, the arrangement of these nozzles 22 to 25 will be explained in detail with reference to FIG. 3. FIG. 3(a) shows pipes 7a, 7
FIG. 3(b) is a view showing the arrangement of the glass substrate 5 and the glass substrate 5 as seen from above the tank 2, and FIG. 3(b) is a view as seen from the side. As shown in FIG. 3(a), in order to spray pure water q1 from nozzle/l/22 and pure water Aq2 from nozzle 23 all over the width direction of glass substrate 5, a fan-shaped The opening angle θ1 and the interval between the nozzles 22, 23 are determined. Similarly, regarding the nozzle 24.25,
Pure water A (13 and Aq4) are sprayed out while spreading in the width direction without exception. On the other hand, as shown in Fig. 3(b), each pure water A
Since l to Aq4 do not spread in the vertical direction of the glass substrate 5, they form a liquid film. However, when pure water Aql and Aq2 are sprayed onto the same surface of the glass substrate 5, the nozzles 22 and 23 are placed in the pipe 7a so that the fan-shaped liquid films do not overlap each other on the glass substrate 50 surface. The angle is slightly different. This is to prevent splashes from the dog h1 from being generated when pure water A, ql and Aq2 overlap and collide with each other. Regarding the pure waters Aq3 and Aq4, the angles of the nozzles 24 and 25 are slightly shifted from the pipe 7b so that the fan-shaped liquid films do not overlap each other. Further, the nozzles 22 to 25 are provided in the pipes 7a and 7b so that the pure waters AqI to Aq4 are not sprayed perpendicularly to the surface of the glass substrate 5, but are sprayed downward at a certain angle. This strengthens the power to wash away foreign matter that is weakly attached to the glass substrate 5, and when the glass substrate 5 is not present, pure water Aql and Aq3 (
This is also to prevent Aq2 and Aq4) from colliding and causing splashes of pure water. For this reason, pure water Aq, 1
It is desirable that the angle formed by the surfaces of the fan-shaped liquid films of and Aq 3 (Aq 2 and Aq 4) be an acute angle, for example, 5° to 85°.
° is good. Now, returning to the explanation of Fig. 2, the pipes 7a, 7
Below b, anti-scattering plates 9a and 9b are provided facing each other and slanted downward toward the center of the tank 2. The lower ends of the scattering prevention plates 9a and 9b are spaced apart from each other by an appropriate distance so that the glass substrate 5 and the arm 20 can pass through each other. These anti-scattering plates 9a and 9b are used for the nozzles 22-2.
This prevents the pure water from 4, or the pure water that has been sprayed onto the - group glass substrate 5 and bounced off, from turning into droplets and bouncing back upwards. The angle formed by the surfaces of these anti-scattering plates 9a and 9b is based on the relationship between pure water Aql and A, q3 (
Aq2 and Aq4. ) and the jetting pressure of pure water, but if the angle is about 206 to 160 degrees, the effect of preventing scattering can be obtained.

さて、ガラス基板5が飛散防止板9a、9bの間を通り
、さらに下表に移動すると、洗浄液噴出部8に至る。洗
浄液噴出部8は純水噴出部7と同様にガラス基板5と平
行に位置するノくイブ8a。
Now, when the glass substrate 5 passes between the anti-scattering plates 9a and 9b and further moves toward the bottom, it reaches the cleaning liquid spouting section 8. The cleaning liquid spouting section 8 is a nozzle 8a located parallel to the glass substrate 5, similar to the pure water spouting section 7.

8bと、そのパイプ8a、8bの各々に設けられた噴射
ノズル26.27,28.29とから構成される。これ
らパイプ8a、8bとノズル26〜29の配置は、前述
の純水噴出部7と同様である。
8b, and injection nozzles 26, 27, 28, 29 provided in each of the pipes 8a, 8b. The arrangement of these pipes 8a, 8b and nozzles 26 to 29 is similar to that of the pure water spouting section 7 described above.

加圧された洗浄液、例えばアンモニア水溶液はノくイブ
8a、8bに供給され、そのアンモニア水溶液はノズル
26〜29から、扇状にガラス基板5の両面に噴射され
る。この場合、アンモニア水溶液は必らvしも液膜状で
ある必要はない。このノくイブga、8bの下方に、飛
散防止板9a、9bと同様に、飛散防止板10a、10
bが槽4の中央部に向けて下方に傾斜して設けられてい
る。この飛散防止板IQa、lobの働きも飛散防止板
9a、9bと同様に、ノズル27〜29からのアンモニ
ア水溶液が上方に飛沫になって散らないようにするもの
であるが、そればかりでなく、その下側に配置された回
転ブラシ11からの飛沫が、上方に飛び出すのを防ぐ働
きもある。
A pressurized cleaning liquid, such as an ammonia aqueous solution, is supplied to the nozzles 8a and 8b, and the ammonia aqueous solution is sprayed onto both sides of the glass substrate 5 in a fan shape from the nozzles 26 to 29. In this case, the ammonia aqueous solution does not necessarily have to be in the form of a liquid film. Below this nokube ga, 8b, similar to the scattering prevention plates 9a, 9b, there are scattering prevention plates 10a, 10.
b is provided so as to be inclined downward toward the center of the tank 4. Similar to the scattering prevention plates 9a and 9b, the function of the scattering prevention plates IQa and lob is to prevent the ammonia aqueous solution from the nozzles 27 to 29 from turning into droplets and scattering upward; It also serves to prevent droplets from the rotating brush 11 arranged below from flying upward.

この回転ブラシ11はガラス基板50表面に平行に配置
された回転軸O7を有する円柱状のブラシ11aと、回
転軸02を有する円柱状のプラグ11bとからなる。そ
のブラシ11.a、llbはガラス基板5が飛散防止板
10aと10bの間の間隙を通って下方にへたとき、そ
のガラス基板5を挟み込むように、回転軸01と02と
の間隔35が定められている。そして、ブラシlla、
llbの毛は、例えばナイロン材であり、各回転軸O5
,0,に対して半径方向に延びるように植毛されている
The rotating brush 11 includes a cylindrical brush 11a having a rotation axis O7 arranged parallel to the surface of the glass substrate 50, and a cylindrical plug 11b having a rotation axis 02. The brush 11. In a and llb, the distance 35 between the rotation axes 01 and 02 is determined so that when the glass substrate 5 passes through the gap between the anti-scattering plates 10a and 10b and goes downward, the glass substrate 5 is sandwiched therebetween. . And brush lla,
The bristles of llb are made of nylon material, for example, and each rotation axis O5
, 0, and extends in the radial direction.

ブラシllaは第2図の矢印50aで示すように回転軸
01を中心に時計回りに回転し、ブラン11bは矢印5
0bで示すように回転軸02を中心に反時計回りに回転
する。すなわち、ブラシllaと11bに挟み込まれた
ガラス基板5は、ブラシ11a+11bの回転によって
、槽4の底部12の方、(下方)にたくし込まれるよう
に擦られる。このため、ガラス基板50両面に付着した
異物(ゴミやシミ等)は、ブラシita、tibの毛に
よって底+<++ t 2の方へ擦り落される。尚、円
柱状のブラシlla、1111の軸方向の長さは、ガラ
ス基板5の横幅方向にできるだけ広く接触するとともに
、ガラス基板5の両端面部を保持するアーム20には触
ねないような長さに定められる。これはブラシlla、
111)の毛の磨耗を防ぐために極めて有効である。寸
だブラシita、iibの噛合ぜ部分と、純水噴出部7
からの純水がガラス基板にあたる位置との間隔は少なく
ともガラス基板の上下方向の幅(高さ)よりも大きく定
められている。
The brush 11a rotates clockwise around the rotation axis 01 as shown by the arrow 50a in FIG.
As shown by 0b, it rotates counterclockwise around the rotation axis 02. That is, the glass substrate 5 sandwiched between the brushes 11a and 11b is rubbed so as to be pushed toward the bottom 12 of the tank 4 (downward) by the rotation of the brushes 11a+11b. Therefore, foreign matter (dust, stains, etc.) attached to both surfaces of the glass substrate 50 is rubbed off toward the bottom +<++ t 2 by the bristles of the brushes ita and tib. The axial length of the cylindrical brush lla, 1111 is such that it contacts as widely as possible in the width direction of the glass substrate 5 and does not touch the arms 20 that hold both end surfaces of the glass substrate 5. stipulated in This is brush lla,
111) is extremely effective in preventing hair abrasion. The meshing part of the brushes ita and iib and the pure water spouting part 7
The distance from the position where the pure water from the glass substrate hits the glass substrate is determined to be larger than at least the vertical width (height) of the glass substrate.

さて、ブラシ洗浄槽4の底部12は錐体状に形成されて
いるが、これは、ガラス基板5に噴き付けられた純水や
アンモニア水溶液の排液を効率よく回収して、その錐体
の頂点部からパイプ32を介して排出するためである。
Now, the bottom part 12 of the brush cleaning tank 4 is formed in the shape of a cone, and this is because it efficiently collects the waste liquid of pure water or aqueous ammonia solution sprayed onto the glass substrate 5, and the bottom part 12 of the brush cleaning tank 4 is shaped like a cone. This is because the water is discharged from the top portion through the pipe 32.

この錐体の角度は頂角にして90°〜175°が好まし
い。もちろんその角度が小さくなればなる程、排液の回
収効率はよくなるが、逆に槽が大型化してしまうことに
なるので、槽の大きさとの兼ね合いで定めるのがよい。
The angle of this cone is preferably 90° to 175° in terms of the apex angle. Of course, the smaller the angle, the better the recovery efficiency of the drained liquid will be, but this will conversely increase the size of the tank, so it is best to set it in consideration of the size of the tank.

また以上のように洗ノp剤にアンモニア水溶液を用いる
と異臭が強いので、槽4の洗浄液噴出部8近傍の側壁に
排気バイブ30を接続して、槽4内に充満するアンモニ
アのガスを不図示の浄化装置31へ排出するような構造
となっている。
In addition, as mentioned above, when an ammonia aqueous solution is used as a cleaning solution, it gives off a strong odor, so an exhaust vibrator 30 is connected to the side wall of the tank 4 near the cleaning fluid spouting part 8 to remove the ammonia gas filling the tank 4. The structure is such that the water is discharged to the illustrated purification device 31.

尚、第2図において、ブラシ洗浄槽4はバッキングを介
した接合部34を境に、上側部と下1111九μとに分
離可能に構成されていて、純水噴出部7、洗浄液噴出部
8及び飛散防止仮9.10は上側部に設けられて装置全
体に対して固定であり、ブラシ11a、llb及びパイ
プ32が設けられた下側部が上側部に対して下方に取り
はrせる。これはブラシlla、llbの交換を容易に
するためである。その下側部にはブラシ11 a、1 
l bを個別に回転させるモータが第4図のように一体
に設けられている。第4図はその“ド側部のみを示す平
面図であり、ここではブラシllaを回転させるモータ
40aと、モータ40aの回転をブラシ11aの回転%
+ O,に伝えるべlレトドラ・イブ機構41aのみを
図示する。ブラシllbについてもモータ401)、ベ
ルトドライブ機構41bが槽4の下側部に一体に設けら
れている。
In addition, in FIG. 2, the brush cleaning tank 4 is configured to be separable into an upper part and a lower part 11119μ with a joint 34 through a backing as a boundary, and a pure water spouting part 7 and a cleaning liquid spouting part 8. The anti-scattering provision 9.10 is provided on the upper side and is fixed to the entire device, and the lower side where the brushes 11a, llb and pipe 32 are provided is removed downward from the upper side. This is to facilitate the replacement of brushes lla and llb. On the lower side there are brushes 11a, 1
A motor for individually rotating the lb is provided integrally as shown in FIG. FIG. 4 is a plan view showing only the side part of the brush 11a.
Only the bellet drive mechanism 41a that transmits the signal to +O is shown. As for the brush llb, a motor 401) and a belt drive mechanism 41b are also integrally provided on the lower side of the tank 4.

尚、回転軸O3を槽4の下側部の側壁で蜘、支する\、 軸受42aは防水用にバッキング処理がされている。ま
たパイプ32の先には、下側部の取りはずしに支障のな
いように、フレキシブルなバイブ(ホース)33が接続
されている。
Note that the bearing 42a that supports the rotating shaft O3 on the lower side wall of the tank 4 is backed for waterproofing. Further, a flexible vibrator (hose) 33 is connected to the tip of the pipe 32 so that the lower part can be removed without any trouble.

第5図は搬送アーム20の駆動とブラシ洗浄槽4の駆動
を制御する制御系の回路ブロック図である。装置全体は
マイクロ」ンピュータ(以下、CPIJと呼ぶ)60に
よって統括制御される。(1’LI60からの各種指令
はインターフェイス回路(以下、l ト’と呼ぶ)61
を弁して各駆動部に送られる。駆j1ij回路62は、
CPU60の指令でパイプ7a、7bに加圧された純水
を供給するか否かを切替える′l磁弁63を駆動する。
FIG. 5 is a circuit block diagram of a control system that controls the drive of the transport arm 20 and the drive of the brush cleaning tank 4. The entire apparatus is centrally controlled by a microcomputer (hereinafter referred to as CPIJ) 60. (1'Various commands from the LI60 are sent to the interface circuit (hereinafter referred to as lto') 61
is sent to each drive unit. The drive j1ij circuit 62 is
A command from the CPU 60 drives the magnetic valve 63 which switches whether or not to supply pressurized pure water to the pipes 7a and 7b.

駆動回路64はC、P U 60の指令でパイプ8a、
8bに加圧された洗浄o、(アンモニア水浴液)を供給
するか古かを切替える電磁弁65を駆動する。駆動回路
66はCPU30からの指令で、ブラシlla、11b
を回転さするモータ40a、40hを個別に駆動する。
The drive circuit 64 moves the pipe 8a,
The electromagnetic valve 65 that switches between supplying pressurized cleaning o (ammonia water bath liquid) to 8b and supplying it or not is driven. The drive circuit 66 receives instructions from the CPU 30 to drive the brushes lla and 11b.
The motors 40a and 40h that rotate the motors 40a and 40h are individually driven.

モータ等の動力源を含む1財劾部(L:J−丁、ZAC
Tと呼ぶ)67はCP (,760から)48令に応じ
て、アーム20を上下’frb (Z方向の移4“1,
1)さぜる。その移動甘もCP U f50によっで指
令される。同様に動力源を含む駆動部(以下、Y A 
C’[’とI・・rぶ)68は、CP tJ 60から
0411合K 応り、 テ、r −ム20をY方向、す
なわち、ガラス:1.?板5の表面に治った方向に移動
さぜる。そのY方向のIl′!−動量もCP U 60
によって指令される。乙のように、ガラス基板5を縦状
態に保持しC1その表面と手行な方向に搬送させること
によって、雰囲気中に漂う微小外ゴミのガラス基板5表
面への付着を低減さぜる効果が得られる。
1 financial department (L: J-Ding, ZAC) including power sources such as motors
(referred to as T) 67 moves the arm 20 up and down 'frb (moves in the Z direction 4'1,
1) Stir. Its movement is also commanded by CPU f50. Similarly, the drive unit including the power source (hereinafter referred to as YA
C'[' and I...rb) 68 is CP tJ 60 to 0411 go K, Te, r-mu 20 in the Y direction, that is, glass: 1. ? Move it in the direction that the surface of the board 5 is cured. Il' in the Y direction! -The amount of movement is also CPU 60
commanded by. By holding the glass substrate 5 vertically and transporting it in a direction parallel to the surface of C1, as shown in Part B, it is possible to reduce the adhesion of microscopic foreign particles floating in the atmosphere to the surface of the glass substrate 5. can get.

次に本実施I!11jによる洗浄動作を第6図のフロー
チャート図に基づいて説明する。
Next is the actual implementation I! The cleaning operation by 11j will be explained based on the flowchart of FIG.

洗浄工程が開始されると、Ci’ U 60はステノブ
】00でガラス基板5を収納部1から取り出するための
指令をZACT67.68に出力する。
When the cleaning process is started, the Ci' U 60 outputs a command to the ZACT 67.68 to take out the glass substrate 5 from the storage section 1 using the steno knob 00.

そして、第2図に示した位置にガラス基板5が位置決め
されるように、CPU60は収納部1の上方からブラシ
洗浄槽4の上方までアーム20をy方向に移動するため
の指令をYNCT68に出力する。次にCPU60はガ
ラス基板5の上下方向の中心位置が第2図に示すような
位置aから位置ciで下降するような指令をZACT6
7に出力する。
Then, the CPU 60 outputs a command to the YNCT 68 to move the arm 20 in the y direction from above the storage section 1 to above the brush cleaning tank 4 so that the glass substrate 5 is positioned at the position shown in FIG. do. Next, the CPU 60 issues a command (ZACT6) to lower the vertical center position of the glass substrate 5 from position a to position ci as shown in FIG.
Output to 7.

次にCPU60はステップ101で純水噴出部7による
純水リンス(洗浄)がN1回行なわれたか否かを判断す
る。この純水リンスの回数N、は、ガラス基板5が第2
図の位置Cから位置すの間を、F下に往復した回数のこ
とであシ、零を含む値である。ここではまだ純水リンス
が行なわれていないので、CPU60はステップ102
で、電磁弁63を開きノズル22〜25から純水を噴出
する。このとき、純水はガラス基板5の上端部に噴射さ
れ、CPU60はガラス基板5が位置Cから位置b−!
!で所定の速度で移動するような指令をZACT68に
出力する。そして、ガラス基板5が位置Bでくると、純
水はガラス基板5め下端部に噴射されので、CP U 
60は再び位置Cオで下降させる指令をZACT68に
出力する。これによって、ガラス基板5の1往復が完了
し、CPU60は再びステップ101を実行する。
Next, in step 101, the CPU 60 determines whether pure water rinsing (cleaning) by the pure water spouting section 7 has been performed N1 times. The number of times N of this pure water rinsing is
This is the number of times the robot has traveled back and forth from position C to position F in the figure, and is a value that includes zero. Since pure water rinsing has not yet been performed here, the CPU 60 performs step 102.
Then, the solenoid valve 63 is opened and pure water is spouted from the nozzles 22-25. At this time, pure water is sprayed onto the upper end of the glass substrate 5, and the CPU 60 moves the glass substrate 5 from position C to position b-!
! A command to move at a predetermined speed is output to the ZACT68. Then, when the glass substrate 5 comes to position B, pure water is sprayed onto the lower end of the glass substrate 5, so that the CPU
60 outputs a command to ZACT 68 to lower it again at position CO. As a result, one round trip of the glass substrate 5 is completed, and the CPU 60 executes step 101 again.

以上のように、ガラス基板5の位置Cから(T fRb
−1での往復が行なわれている間、純水の噴出が継続し
て行なわれ、ガラス基板50両面を湿潤させるとともに
、場合によっては純水の噴射圧力で弱く付着した異物も
洗い流される。
As described above, from the position C of the glass substrate 5 (T fRb
While the reciprocation at -1 is being carried out, pure water is continuously ejected to moisten both surfaces of the glass substrate 50, and in some cases, weakly attached foreign matter is washed away by the pure water ejection pressure.

さて、ガラス基板5が位置Cで停止して純水リンスが終
わると、CPU60は電磁弁63を閉じる指令を出力し
た後、電磁弁65を開き、アンモニア水溶液をノズル2
6〜29から噴出させる指令を出力する。そしてCPU
60はステップ103で洗浄液噴出部8と回転ブラシ1
1によるブラッシングがN2回(ただしN、は零以外の
値)行なわれたか否かを判断する。ここではまだブラッ
シングが行なわれていないので、CPU60はガラス基
板5を第2図に示しだような位?ICから位置etで下
降さする指令をZA、CT68に出力し、モータ4Q;
+、4obを回転させる指令を駆動回路66に出力して
、ステップ104のブラッシングを開始する。このステ
ップ104でCPU60はガラス基板5が位置eから位
置ctで上昇した後、再び位1Retで下降する往復運
動をするような指令を7AC’l”68に出力し、ガラ
ス基板5両面のアンモニア水溶液によるブラッシングを
行なう。ガラス基板5が位置eにくると、ガラス基板5
の上端部が、2つのブラシlla、111)にはさみ込
壕れるようにしてブラッシングされ、位置eからガラス
基板5を所定速度で上昇させ位置dに達すると、ガラス
基板5の上下方向の中心位置が2つのブラシ11a、l
lbにはさみ込まれてブラ。
Now, when the glass substrate 5 stops at position C and the pure water rinsing is completed, the CPU 60 outputs a command to close the solenoid valve 63, opens the solenoid valve 65, and pours the ammonia aqueous solution into the nozzle 2.
A command to eject is output from 6 to 29. and CPU
60, in step 103, the cleaning liquid spouting part 8 and the rotating brush 1 are connected.
1 is performed N2 times (N is a value other than zero). Since brushing has not yet been performed here, the CPU 60 moves the glass substrate 5 to the position shown in FIG. The IC outputs a command to descend at position et to ZA and CT68, and motor 4Q;
+, a command to rotate 4ob is output to the drive circuit 66, and brushing in step 104 is started. In this step 104, the CPU 60 outputs a command to the 7AC'l"68 to perform a reciprocating motion in which the glass substrate 5 moves up from the position e to the position ct and then descends again at the position 1Ret, and the ammonia aqueous solution on both sides of the glass substrate 5 is When the glass substrate 5 reaches position e, the glass substrate 5
The upper end is brushed by being sandwiched between the two brushes lla, 111), and when the glass substrate 5 is raised from position e at a predetermined speed and reaches position d, the vertical center position of the glass substrate 5 is are two brushes 11a, l
It's tucked into my lb and it's a bra.

シンクされる。さらにガラス基板5が位置Cまで上昇す
る間に、ガラス基板5の両面はアンモニア水溶液が噴纜
伺けられて湿潤し、ガラス基板5は再び位Reに向かっ
て下降し、両面のブラッシングが行なわれる。尚、ガラ
ス基板5が位置Cまで上昇すると、ブラッシングは行な
われず、ブラシ11a、llbは空転しているだけであ
る。しかも多量のアンモニア水溶液が飛散防止板10a
Synced. Furthermore, while the glass substrate 5 is raised to position C, both surfaces of the glass substrate 5 are wetted by spraying an ammonia aqueous solution, and the glass substrate 5 is lowered again toward position Re, and both surfaces are brushed. . Note that when the glass substrate 5 rises to position C, brushing is not performed and the brushes 11a and 11b simply rotate idly. Moreover, a large amount of ammonia aqueous solution is scattered on the scattering prevention plate 10a.
.

10bの間から、ブラシllaと111)の噛合い部分
に滴下する。このため、本来なら多量の飛沫がブラシ1
1 a、1 l bの回転によって発生し槽内の上方に
はね上がる。ところが本実殉し11では、ブラシlla
、llbの回転方向が第2図に示した矢印50 a、5
0 bのように定められているので、飛散防止板ioa
、:tabの間隙から上方にはね上がる飛沫は極めて少
なく、ブラシ11a。
From between the brushes 10b and 111), the liquid is dripped onto the meshing part between the brushes lla and 111). For this reason, a large amount of droplets that would normally fall on the brush 1
It is generated by the rotation of 1 a and 1 l b and jumps upward in the tank. However, in Honjitsu Martyrs 11, brush lla
The direction of rotation of
0b, so the shatterproof plate ioa
,: There are very few droplets splashing upward from the gap between the tabs, and the brush 11a.

11、bがその噛合せ部分から半周以上した位置で、遠
心力でブラシの毛を離れたアンモニア水溶液の飛沫は全
て飛散防止板10a、10bの下面にぶつかるので、槽
4の上方に飛散することがない。
At the position where 11 and b are more than half a turn from the engaging part, all the droplets of ammonia solution that have left the bristles of the brush due to centrifugal force collide with the lower surface of the scattering prevention plates 10a and 10b, so that they are scattered above the tank 4. There is no.

このように、ガラス基板5が位置eから位置Cの間を1
往復すると、CP U 60はステップ103でN2回
往復したかを判断する。ここでブラッシングがN2回実
行されると、CPU60は次のステツプ105に進み、
純水によるブラッシングがN3回客 (ただしN3は零以上の値)行なわれた否かを判断し2
、実行していなければステップ106に進む。
In this way, the glass substrate 5 moves from position e to position C for 1 time.
After the round trip, the CPU 60 determines in step 103 whether the round trip has been made N2 times. When brushing has been executed N2 times, the CPU 60 proceeds to the next step 105.
Determine whether or not the customer has brushed with pure water N3 times (however, N3 is a value of zero or more).
, if not executed, the process advances to step 106.

ガラス基板5がf3′L19 eまで下降すると、アー
ム20の上部も開L1部21から槽4内に鵡大した状態
になる。このため、ブラシ1.1a、llbが回転して
いること、及びアンモニア水溶液のノズル26・〜29
からの噴射圧力が、・Mいこと等により、アーノ・20
の上部にアンモニア水溶液の飛沫が付着することもある
。もし、アーム20にアンモニア水5容液の飛沫が付着
したまま、ブラシ洗争槽2に引き続く工員、例えば蒸気
槽4の乾燥工程が実施されると、蒸気槽4内のフレオン
蒸気に作用して乾燥効用を減じてしまう。そこで、ステ
ップ103.104の終了時でガラス基板5が位:le
のとき、CrtJ60は電%lfi’63を開放する指
令を出力して、ノズル22〜・25から純水を噴射する
。このとき、ブラシlla、llbの回転、アンモニア
水溶液の東躬及び純水の噴射が同時に行なわれるが、純
水は主にアーム20の上1都に噴き付けられて、付着し
たアンモニア水溶液の飛沫を洗い流す。
When the glass substrate 5 descends to f3'L19e, the upper part of the arm 20 also expands into the tank 4 from the open L1 portion 21. For this reason, the brushes 1.1a and llb are rotating, and the ammonia aqueous solution nozzles 26 to 29
Due to the fact that the injection pressure from
Splashes of ammonia aqueous solution may adhere to the top of the tank. If a worker following the brush washing tank 2, for example, a drying process in the steam tank 4, is carried out with droplets of 5 volumes of ammonia water attached to the arm 20, the freon vapor in the steam tank 4 will be affected. It reduces the drying effect. Therefore, at the end of steps 103 and 104, the glass substrate 5 is at the position: le
At this time, the CrtJ60 outputs a command to open the electric current %lfi'63, and injects pure water from the nozzles 22 to 25. At this time, the rotation of the brushes lla and llb, the spraying of the ammonia aqueous solution, and the spraying of pure water are performed at the same time, but the pure water is mainly sprayed onto the upper part of the arm 20 to remove the adhering droplets of the ammonia aqueous solution. Wash away.

そして、このステップ105と106でもガラス基板5
をN8回位装eと位置Cとの間で上下に往復運動させる
。尚、このステップ105.106の実行時に、アンモ
ニア水溶液の噴射を中止すれば、アーム20に付着した
“アンモニア水浴液の飛沫の洗浄効果はさらに向上する
。このよりにして、アーム20の上部の純水による洗浄
が終了すると、CPU60はブラシ11 a、1 l 
bノ回転を停止する指令を駆動回路66に出力するとと
もに、電磁弁65を閉じてアンモニア水溶液の噴射を停
止する指令を駆動回路64に出力する。ただし、その指
令はガラス基板5が位置Cまで上昇したときに出力され
、その後ガラス基板5は位置eまで戻ることはない。
Also in steps 105 and 106, the glass substrate 5
is reciprocated up and down between the N8 rotation device e and the position C. Note that if the injection of the ammonia aqueous solution is stopped when executing steps 105 and 106, the effect of cleaning the droplets of the ammonia bath solution adhering to the arm 20 will be further improved. When the cleaning with water is completed, the CPU 60 selects the brushes 11 a and 1 l.
A command to stop the rotation of b is output to the drive circuit 66, and a command to close the solenoid valve 65 and stop the injection of the ammonia aqueous solution is output to the drive circuit 64. However, this command is output when the glass substrate 5 rises to position C, and thereafter the glass substrate 5 does not return to position e.

次にCPU5oはステップ107と108で純水リンス
を行なう。これは先のステップ101.102と全く同
様に実行され、ガラス基板5やアーム20の下部(保持
部分)に残存したアンモニア水溶液を洗い流す。このと
きもガラス基板5を位置Cとbの間でN4回(ただL7
N4は零以外の値)上下に往TV!運ηbさせて、ガラ
ス基板50表面に流れへれずに弱く付着した見物を洗い
17Iりすとともに、ガラス基板5表面のアンモニア水
m液を十分に純水に置換する。。
Next, the CPU 5o performs pure water rinsing in steps 107 and 108. This is carried out in exactly the same manner as the previous steps 101 and 102, and the ammonia aqueous solution remaining on the glass substrate 5 and the lower part (holding part) of the arm 20 is washed away. At this time as well, move the glass substrate 5 between positions C and b N4 times (only L7
N4 is a value other than zero) Up and down TV! The aqueous ammonia solution on the surface of the glass substrate 5 is sufficiently replaced with pure water while washing the objects weakly attached to the surface of the glass substrate 50 without being washed away. .

以上のようにして、ステップ107.108が終了する
と、CP U 60は純水の噴出を停止させ、ガラス基
板5が槽4の開口部21かも退出するような指令をZへ
Ci’ 67に出力する。そしてガラス基板5が第2図
に示したように位置決めされると、CP’ LT 60
は、ガラス基板5をy方向に所定FPr移動さぜる41
1令をYACT68に出力し、次のリンス槽3での洗浄
工程すなわちステップ109.110を開始する。ここ
でも、C’P U 60はガラス基板5がリンス槽3内
で−L下に往復運動するような指令をZACT67に出
力する。このリンス槽3内ではJPA噴出部13からl
[PA75!扇形の液膜状となZlように一11ラス基
板5の両面に噴き付けられろ。ガラス基板5がN6回(
ただしN、は零以外の値)」−下動じて、ガラス基板5
の茨面が十分、アルコールで置換されると、CPU60
はそのアルコールが乾燥し力いうちに、次のステップ1
11〜114で蒸気槽4による乾燥工程を実行する。
As described above, when steps 107 and 108 are completed, the CPU 60 stops the jetting of pure water and outputs a command to Z to Ci' 67 for the glass substrate 5 to exit from the opening 21 of the tank 4. do. When the glass substrate 5 is positioned as shown in FIG.
41 moves the glass substrate 5 by a predetermined amount of Fpr in the y direction.
The first command is output to the YACT 68, and the next cleaning process in the rinse tank 3, that is, steps 109 and 110 are started. Here too, the C'P U 60 outputs a command to the ZACT 67 to cause the glass substrate 5 to reciprocate downward in the rinsing tank 3 at -L. In this rinsing tank 3, from the JPA spouting part 13
[PA75! Spray it on both sides of the 111 lath substrate 5 in the form of a fan-shaped liquid film. Glass substrate 5 is applied N6 times (
However, N is a value other than zero) - Move down and the glass substrate 5
When the thorny surface of is sufficiently replaced with alcohol, CPU60
Take the next step 1 while the alcohol is dry and strong.
A drying process using the steam tank 4 is performed in steps 11 to 114.

まずCPU60はガラス基板5を蒸気1114に位置決
めするための指令をYACT68に出力して、アーム2
0をy方向に移動させる。その後ガラス基板5を蒸気槽
4の下部、すなわちフレオン蒸気で充満した位置まで下
降させて、その位置でガラス基板5の温度がフレオン蒸
気の温度と等しくたるまでの時間T、だけ静止させる。
First, the CPU 60 outputs a command to the YACT 68 to position the glass substrate 5 on the steam 1114, and
0 in the y direction. Thereafter, the glass substrate 5 is lowered to the lower part of the steam tank 4, that is, to a position filled with Freon vapor, and is held still at that position for a time T until the temperature of the glass substrate 5 becomes equal to the temperature of the Freon vapor.

(ステップ111.112)そして時間T1の経過後、
CPU60はガラス基板5が蒸気槽4の冷却管15の高
さまで上昇するような指令をZACT67に出力する。
(Steps 111 and 112) And after time T1 has elapsed,
The CPU 60 outputs a command to the ZACT 67 to raise the glass substrate 5 to the height of the cooling pipe 15 of the steam tank 4 .

このガラス基板5の上昇に伴りて、ガラス基板5にまと
わりついてきたフレオン蒸気は、下降するか、または冷
却管15の方へ引き寄せられて凝縮する。
As the glass substrate 5 rises, the Freon vapor clinging to the glass substrate 5 either descends or is drawn toward the cooling pipe 15 and condenses.

そこでまとわシついたフレオン蒸気がガラス基板5から
引き離される時間T4だけ、CPU60はガラス基板5
を冷却管15の高さで靜土させる。(ステップ113.
114) 以上の工程によって、ガラス基板5が乾燥するので、C
PU30はステップ115を実行し、蒸気槽4からガラ
ス基板5を搬出して、隣りの収納部1へただちに収納す
る。これにより、ガラス基板5の一1車の洗浄工程が終
了する。
During the time T4 during which the clinging Freon vapor is separated from the glass substrate 5, the CPU 60
is allowed to settle at the height of the cooling pipe 15. (Step 113.
114) Since the glass substrate 5 is dried through the above steps, C
The PU 30 executes step 115, carries out the glass substrate 5 from the steam tank 4, and immediately stores it in the adjacent storage section 1. This completes the cleaning process for the first and first wheels of the glass substrate 5.

ところで、本実施例のように、ブラシ11a。By the way, as in this embodiment, the brush 11a.

11bによる洗浄では、ガラス基板5上の異物がブラシ
の毛に付着したシ、洗浄液のブラシへの付着後の乾燥等
によりブラシそのものが汚染されることも考えられる。
11b, the brush itself may become contaminated due to foreign matter on the glass substrate 5 adhering to the bristles of the brush, or due to drying after the cleaning liquid adheres to the brush.

そこで、本実横倒ではさらにブラシ11 a、111)
のセルフクリーニングを実行するようなシーケンスが組
み込まれている。第7図はそのシーケンスの一例を説明
するフローチー1・−ト図である。
Therefore, when the book is on its side, brushes 11 a, 111)
It has a built-in sequence that performs self-cleaning. FIG. 7 is a flow chart 1 for explaining an example of the sequence.

第7図において、ステップ120の搬出から、ステップ
121の洗浄まではそれぞれ第6図のステップ100と
ステップ101〜114と同一である。次にガラス基板
5を収納部1に収納するステップ122が実行されたと
き、ステップ123と124において、ブラシ洗浄槽2
内のブラシ11a、llbを空転させるとともに純水噴
出部7から純水を噴射する。このとき純水噴出部7から
の純水は飛散防止板9a、9bに一度噴き付けられた後
、両防止板9a、9bの間の間隙から下方の飛散防止板
10a、10bの間の間隙を通ってブラシlla、ll
bに落下する。ステップ121が終了した時点では、ブ
ラシlla、1lbi、1:ウェント状態なので、ブラ
シ11の毛に付着した異物や洗浄液は純水によって洗い
流される。この件ib作は純水の使用量やブラシlia
、llbの回転速度等から実験的に定められた時間T、
だけ実行される。その後、CPU60はステップ125
でガラス基板5が収納部1に収納完了したか否かを判断
して、ブラシ11のセルフクリーニングを含めた一連の
洗浄工程を終了する。このように、1枚のガラス基板5
のブラシによる洗浄の度にセルフクリーニングを行なっ
て〉けば、ガラス基板5は常に清浄なブラシによって擦
られるから、かなり汚れたガラス基板の洗浄後に、あま
り汚れていないガラス基板を洗浄しても、前のガラス基
板で除キされた異物が後のガラス基板に再付着すること
がなく、いずれのガラス基板も一様に清浄されるという
効果がある。尚、このセルフクリーニングのエフ障はブ
ラシ洗浄槽2内にガラス基板5が搬入されていない状伸
であれば、第6図のフローチャート中のどこに入れても
同様の効果が得られる。
In FIG. 7, steps from unloading in step 120 to cleaning in step 121 are the same as step 100 and steps 101 to 114 in FIG. 6, respectively. Next, when step 122 of storing the glass substrate 5 in the storage part 1 is executed, in steps 123 and 124, the brush cleaning tank 2
The inner brushes 11a and llb are rotated idly and pure water is sprayed from the pure water spouting section 7. At this time, the pure water from the pure water spouting part 7 is once sprayed onto the scattering prevention plates 9a, 9b, and then flows from the gap between the two prevention plates 9a, 9b to the gap between the lower scattering prevention plates 10a, 10b. Brush through, lla, ll
Fall to b. At the end of step 121, since the brushes are in the wet state, foreign matter and cleaning liquid attached to the bristles of the brush 11 are washed away with pure water. In this case, the amount of pure water used and brush lia for ib work
, the time T determined experimentally from the rotational speed of llb, etc.
only executed. After that, the CPU 60 performs step 125.
Then, it is determined whether or not the glass substrate 5 has been completely stored in the storage section 1, and a series of cleaning steps including self-cleaning of the brush 11 is completed. In this way, one glass substrate 5
If self-cleaning is performed each time the glass substrate 5 is cleaned with the brush, the glass substrate 5 will always be rubbed by the clean brush, so even if a fairly dirty glass substrate is cleaned and a not-so-contaminated glass substrate is cleaned, This has the effect that foreign matter removed from the previous glass substrate does not re-adhere to the subsequent glass substrate, and all glass substrates are uniformly cleaned. Incidentally, as long as this self-cleaning failure occurs when the glass substrate 5 is not carried into the brush cleaning tank 2, the same effect can be obtained no matter where in the flowchart of FIG. 6 the glass substrate 5 is placed.

また、セルフクリーニング時に、ブラシ11a。Also, during self-cleaning, the brush 11a.

11bの回転情0..02の間隔35を少し狭くするよ
うに移動させて、ブラシ11 a、1 l bの臣いの
ブラシの毛先が少しrつ重なり合う(くい込む)ように
して回I味さすると、セルフクリーニングの効果はより
向上する。さらに、セルフクリーニングの際、洗浄液噴
出部8からアンモニア水溶液を1T4.出してブラシ1
1のクリーニングを行ない、その後純水によるクリーニ
ングを実行するようにしてもよい。またその際、アンモ
ニア水溶液の代りに、ブラシ11のクリーニングにより
効果的な洗浄剤を噴出させるような構成にすれば、クリ
ーニング効果はさらに向上する。
11b rotating emotion 0. .. If you move the interval 35 of brushes 11a and 11b to make them a little narrower so that the tips of the bristles of brushes 11a and 1lb overlap (bite into) a little, and then rub it again, the self-cleaning will be done. The effect will be even better. Furthermore, during self-cleaning, an ammonia aqueous solution is applied from the cleaning liquid spouting part 8 at 1T4. Take out brush 1
1 cleaning may be performed, and then cleaning with pure water may be performed. Further, in this case, if a configuration is adopted in which a cleaning agent more effective for cleaning the brush 11 is spouted instead of the ammonia aqueous solution, the cleaning effect will be further improved.

以上、本発明の詳細な説明したが、この実施例以外に種
々の変形例が考えられる。ブラシ洗浄槽2内の純水噴出
部7には、ガラス基板5の片面に対して2個のノズルを
設けたが、1個以上いくつでもよい。ただし複数個のノ
ズルを設ける場合は、各ノズルから噴射された扇状に広
がる純水の液膜が、互いに干渉し合わないように、液膜
の噴出方向の角度を第3図(b)で示したように上下に
少しずつずらした方が飛沫の発生防止の点から効果的で
ある。また、第3図では2つのノズルをパイプ7a(7
b)に対して少し角度を変えて取シ付けるとしたが、全
く同一の角度に取り付けても、純水の液膜の噴出角度を
微小に上下方向に変えることができる。これは実施例の
ようなバイブ7a(7b)の一端を密封し、他端から加
圧された純水を供給することによって可能である、これ
によって、ノズルの噴出角度が上下に2つとも同一であ
っても、純水の供給側に近いノズルと、供給側から離れ
たノズルとでは純水の噴出圧力に若干の差が生じ、自ず
と噴出角度が上下方向に微小置去なってくるのであるっ 次に、ブラシ11は回転軸にほぼ平行な方向に延びるよ
うに植毛された、いわゆるカップ状のブラシでも同様の
効果が得られる。この場合、カッ゛プ状のブラシの回転
軸の延長線はガラス基板の表面と直交、又は90°以外
の一定角度で交わり、ガラス基板の両面が同時にブラッ
シングされるように、ガラス基板に対して対称に配置さ
れる。また、上記実施例のような円柱状のブラシにしろ
、カップ状のブラシにしろ、ブラシの毛先はガラス基板
がないときに噛合うように配置されるのがよいが、必ら
ずしもその必要はなく、ガラス基板の厚さよりも狭い間
隔で、毛先が互いに接触しないような間隔で配置してあ
れば同様の効果が得られる。
Although the present invention has been described in detail above, various modifications can be made in addition to this embodiment. Although two nozzles are provided on one side of the glass substrate 5 in the pure water spouting section 7 in the brush cleaning tank 2, any number of nozzles may be provided. However, when installing multiple nozzles, the angle of the jetting direction of the liquid film is shown in Figure 3 (b) so that the fan-shaped pure water film sprayed from each nozzle does not interfere with each other. It is more effective to shift it up and down little by little as shown above in terms of preventing the generation of droplets. In addition, in Fig. 3, two nozzles are connected to pipe 7a (7a).
Although it is assumed that the device is installed at a slightly different angle compared to b), even if the device is installed at exactly the same angle, the jetting angle of the pure water film can be slightly changed in the vertical direction. This is possible by sealing one end of the vibrator 7a (7b) as in the embodiment and supplying pressurized pure water from the other end. This allows the jetting angle of the nozzle to be the same both above and below. Even so, there is a slight difference in the jetting pressure of pure water between a nozzle near the pure water supply side and a nozzle far from the supply side, and the jetting angle naturally becomes slightly different in the vertical direction. Next, the same effect can be obtained by using the brush 11 as a so-called cup-shaped brush with bristles extending in a direction substantially parallel to the rotation axis. In this case, the extension line of the rotational axis of the cup-shaped brush is perpendicular to the surface of the glass substrate, or intersects at a certain angle other than 90 degrees, so that it is brushed against the glass substrate so that both sides of the glass substrate are brushed at the same time. arranged symmetrically. Furthermore, whether it is a cylindrical brush as in the above embodiment or a cup-shaped brush, it is preferable that the bristles of the brush be arranged so that they interlock when there is no glass substrate, but this is not always the case. This is not necessary, and the same effect can be obtained by arranging the bristles at intervals narrower than the thickness of the glass substrate so that the tips of the bristles do not come into contact with each other.

また、ブラッシング時に使用する洗浄液としては、レチ
クルやフォトマスクの帯電による静電破壊、及び帯電に
よる異物の再付着の防止のため、アンモニア水溶液が適
しているが、その他に炭酸水を用いてもよい、また異物
除去手段として、異物を擦って除去するものであれば、
スポンジ等を用いてもよい。
In addition, as the cleaning liquid used during brushing, an ammonia aqueous solution is suitable in order to prevent electrostatic damage caused by charging the reticle or photomask, and to prevent foreign matter from re-adhering due to charging, but carbonated water may also be used. , and as a means of removing foreign matter, if the foreign matter is removed by rubbing,
A sponge or the like may also be used.

また、上記実施例では洗浄液を特別な成分で構成された
水溶液としたが、比較的汚染されてないガラス基板を洗
浄する場合、純水のみを用いてブラッシングするように
しても十分洗浄効果が得られる。この場合、洗浄液噴出
部8が不用となり、装置の簡略化が可能となる。ただし
この際も、純水噴出部7のノズル22〜25からの純水
がガラス基板にあたる高さ位置と、ブラシ11の噛み合
せ部分(ガラス基板との接触部分)の位置との間隔は、
ガラス基板の上下方向の幅の1〜3倍程に定める。これ
は、ブラシ11の回転で生じる純水の飛沫を、できるだ
けガラス基板に付着させないためである。またこのとき
、ブラシ洗浄槽4での洗浄は、純水(洗浄液)を噴き付
けてブラッシングする工程と、ガラス基板が槽4から退
出する際に、ガラス基板の表面に残存した異物を純水で
洗い流す工程との2工程でよく、洗浄時間が短縮される
In addition, in the above embodiment, the cleaning solution was an aqueous solution composed of special components, but when cleaning a glass substrate that is relatively uncontaminated, a sufficient cleaning effect can be obtained even if brushing is performed using only pure water. It will be done. In this case, the cleaning liquid spouting part 8 becomes unnecessary, and the apparatus can be simplified. However, in this case as well, the distance between the height position where the pure water from the nozzles 22 to 25 of the pure water spouting part 7 hits the glass substrate and the position of the engaging part of the brush 11 (the part in contact with the glass substrate) is as follows.
It is determined to be about 1 to 3 times the vertical width of the glass substrate. This is to prevent splashes of pure water generated by the rotation of the brush 11 from adhering to the glass substrate as much as possible. At this time, cleaning in the brush cleaning tank 4 includes a step of brushing by spraying pure water (cleaning liquid), and a process of brushing the glass substrate by spraying it with pure water (cleaning liquid). Only two steps are required, including the rinsing step, and the cleaning time is shortened.

また、上記実施例では不図示であるが、ブラシ洗浄槽4
の内壁で水平な段になる部分は、各種液体が落下してき
たとき槽4の上方に飛沫となってはね上がらないように
、全てテーバ状に形成されているっ 尚、ブラシ洗浄[14の純水噴出部4の上方に、さらに
高圧気体の噴射ノズルを設け、純水リンスの終了した基
板に高圧気体を吹き付けて、付着した滴を吹き飛ばし、
ただちに乾燥した基板を得るようにしてもよい。
Although not shown in the above embodiment, the brush cleaning tank 4
The horizontal steps on the inner wall of the tank 4 are all tapered so that when various liquids fall, they do not splash into the upper part of the tank 4. A high-pressure gas jet nozzle is further provided above the pure water spouting section 4, and the high-pressure gas is sprayed onto the substrate that has been rinsed with pure water to blow off the adhered droplets.
A dry substrate may be obtained immediately.

(発明の効果) 以上のように本発明によれば、基板に付着した異物を洗
浄液を用いて擦って除去するとともに、その後洗浄液、
又は残存した異物を水洗するようにしたので、洗浄液が
残存することなく、他の工程で悪影響を及ぼすことがな
いという効果がある。
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, foreign matter adhering to a substrate is removed by rubbing it with a cleaning liquid, and then the cleaning liquid,
Alternatively, since the remaining foreign matter is washed with water, there is an effect that the cleaning liquid does not remain and does not have any adverse effects on other processes.

また、基板の搬送手段(アーム20)も同時に水洗され
、搬送手段に洗浄液が付着してよごれとなることがなく
、装置全体の清浄度が高く保たれるという効果もある。
In addition, the substrate transport means (arm 20) is also washed with water at the same time, so that the cleaning liquid does not adhere to the transport means and cause dirt, and the overall cleanliness of the apparatus is maintained at a high level.

さらに、実施例のように基板はその表面と平行な方向に
搬入、搬出するようになっているので、基板が受ける空
気量が少なく、雰囲気中に浮遊する異物が水洗後の基板
に再付着する可能性が少なくなるという利点もある。
Furthermore, as in the example, the substrate is carried in and carried out in a direction parallel to its surface, so the amount of air that the substrate receives is small, and foreign matter floating in the atmosphere will re-adhere to the substrate after washing with water. There is also the advantage that there are fewer possibilities.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例による自動洗浄装商の概略的な
構成図、第2図はブラシ洗浄槽の構造を示す斜視図、第
3図(a)は純水噴出部のノズルと純水の噴射状態とを
示す平面図、第3図(b)は、第3図(a)の状態を横
から見た側面図、第4図はブラシ洗浄槽の下側部の構造
を示す平面図、を説明するフローチャート図、第7図は
ブラシのセルフクリーニング工程を説明するフローチャ
ート図であろう 〔主要部分の符号の説明〕 1・・・収納部 2・・・ブラシ洗浄槽、3・・・リン
ス槽、4・・・蒸気乾燥槽、5・・・ガラス基板7・・
・純水噴出部、8・・・洗浄液噴出部11・・・回転ブ
ラシ 才1図 第3図(θ) オ、3図(1)) 才6図 1摸l冗0−103349 (10) ;tq図
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an automatic cleaning device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing the structure of a brush cleaning tank, and FIG. FIG. 3(b) is a side view of the state shown in FIG. 3(a) when viewed from the side, and FIG. 4 is a plan view showing the structure of the lower part of the brush cleaning tank. FIG. 7 is a flowchart explaining the self-cleaning process of the brush [Explanation of symbols of main parts] 1...Storage section 2...Brush cleaning tank 3...・Rinse tank, 4... Steam drying tank, 5... Glass substrate 7...
・Pure water spouting part, 8...Cleaning liquid spouting part 11...Rotating brush Figure 1, Figure 3 (θ), Figure 3 (1)) Figure 1, illustration 0-103349 (10); tq diagram

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 洗浄すべき基板を保持して、該基板を洗浄槽に搬入及び
搬出する搬送手段と;該洗浄槽内に設けられて、前記基
板に洗浄液を塗布する洗浄液塗布手段と;該洗浄液で湿
潤した基板の表面を擦って付着した異物を除去する異物
除去手段と;該異物除去手段による異物除去の終了後、
前記基板に残存した前記洗浄液、又は異物を洗い流す水
洗手段とを備えたことを特徴とする基板の洗浄装置。
a conveying means for holding a substrate to be cleaned and carrying the substrate into and out of a cleaning tank; a cleaning liquid application means provided in the cleaning tank and applying a cleaning liquid to the substrate; a substrate wetted with the cleaning liquid; a foreign matter removing means for removing attached foreign matter by rubbing the surface of the foreign matter; after the foreign matter removal means has finished removing the foreign matter;
A substrate cleaning apparatus comprising: a water washing means for washing away the cleaning liquid or foreign matter remaining on the substrate.
JP58211626A 1983-11-10 1983-11-10 Cleaning device for substrate Pending JPS60103349A (en)

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US07/011,413 US4715392A (en) 1983-11-10 1987-02-04 Automatic photomask or reticle washing and cleaning system

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