JPS6010275A - 電子写真プリント機械におけるマ−ク粒子の供給量を調節する制御システム - Google Patents

電子写真プリント機械におけるマ−ク粒子の供給量を調節する制御システム

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JPS6010275A
JPS6010275A JP59116716A JP11671684A JPS6010275A JP S6010275 A JPS6010275 A JP S6010275A JP 59116716 A JP59116716 A JP 59116716A JP 11671684 A JP11671684 A JP 11671684A JP S6010275 A JPS6010275 A JP S6010275A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は全般的に電子写真プリント機械に関し、さらに
詳しくは潜像を現像りる1〜す粒子の電荷を決定して、
これに応答して現像装置内にイ]加的な1〜す粒子を供
給することにJ、って現像材混合物内へのトナ粒子の供
給毎を制御リ−る(幾構にlJgするものである。
全般的に言って電子写真プリント方法は導電性部材を実
質的に均一な電位に帯電させて、これの −表面を感性
化づることを含んぐいる。導電性の表面の帯電された部
分は複製されるオリジナル文古の光像に露出される。こ
れと異なり、モジュレートされた光ビームすなわちレー
ゾーピームにより帯電された導電性の表面の選択された
部分の放電を行い、導電性の表面に所望の情報を記録す
ることもできる。このようにして、複製を望まれる情報
に対応する静電的潜像が導電性表面に記録されるのであ
る。導電性部材上に静電的潜像を記録した後で、潜像は
現像材を静電的潜像に接触させることによって現像され
る。一般にこの現像材はキャリア粒子に摩擦電気的に1
4着するトナ粉末を含む。この]−す粒子はキャリア粒
子から離れて潜像に引付【ノられ、導電性部材上にトナ
粉末の像を形成し、この1・す粉末の像が引続いてコピ
ーシー1−に転写されるのである。最後にコピーシート
が加熱されて、像の形状に1−す粉末の像をコピーシー
トに永久的に固定する。
トナ粒子が現像材から消耗づ゛るにつれて付加的なトナ
粒子の供給量をこれに追加しなGノればならない。種々
の異なる型式のトナ供給装置が公知である。例えば19
60年にジエイモ・ジュニアに付与された米国特許第2
.956.487号は現像された像から反射される光線
を検出するフ第1−セルを開示している。このフA1−
セルからの信号が適当に処理されて制御信号を形成俳る
。この制御信号は現像材混合物内への1〜す粒子の供給
量を調節する。1967年にトノヒユーおよびダヴイツ
ドソンその他に付与された米国特許 第3.348.522号および米国特許第3,348,
523号はともに帯電されたシ9電性ドラムの縁部に沿
った縞を露出する装置を開示している。この縞はトナ粒
子によってW像される。
ファイバー束が光線を導電性ドラムの現像された縞おJ
:び裸の表面に照射する。1つの7オトセルが現像され
た縞から反射される光線を検出する。
伯の7オトセルが裸のWffi性表面から反射される光
線を検出する。これらのフォトセルはトナ粒子の供給量
、を制wJツるのに使用されるブリッジ回路の2つの脚
を形成している。1971年にエイ、ブに付与された米
国特許第3.553,464号はトナ粒子によって現像
された帯電されるテープを開示している。このテープは
光源と光電変換器との間を通過さぼられる。メーターに
よって指示されるように光電変換器によって検出された
光線の強度はテープに現像されたトナ粒子のt!1に対
応する。もしテープが光を透過しないものであれば、光
線はテープを通過しないでテープから反射される。19
73年にホイテツドに付与された米国特許第3.754
.821号はトナ粒子によって現像された導電性ドラム
に固定されて電気的にバイアスを与えられた透明なプレ
ートを開示している。
光源が光線をプレートを通してフォトセルに照射する。
このフオt・セルからの電気的出力信号は処理されて誤
差信号が発生され、トナ供給装置を(j勢して現像材混
合物に付加的なトナ粒子を供給する。1982年にブレ
ースに付与された米国特許第4.318.651丹は導
電性表面に密接して配置される赤外線81度針金開示し
ている。この赤外IIA濃度i1は導電性表面に記録さ
れた1対のテスト面積部分に付着するトナ粒子の濃度を
検出する。
一方のテスト面積部分に14着するトナ粒子の濃度から
得られる′出力信号は、現像材混合物にトナ粒子を供給
するのを制御りるために使用される他方のテスト面積部
分に41着するI−ノー粒子の濃度に対応する信号とと
もに導電性表面の帯電を調節するのに使用される。での
J:うにして1〜す粒子が現像材混合物から消耗される
につれて現像材混合物にトナ粒子を供給するのを制御す
る多数の機構が提案されている。1973年3月6日イ
]にて1〜ラハデンベルクその他に付与された米国特許
第3.719.165号はこのような機構に関係すると
思われる。
前述′の特許の記載のIII係のある部分を簡単に要約
すると、この特許は、磁気ブラシが導電性表面の帯電さ
れない面積部分に周服的に接触づる時にこの磁気ブラシ
によって生ずる自己バイアス電位をザンプリングするこ
とによって現像材混合物のトナ粒子の濃度を監視り°る
ようになっている磁気ブラシ現像ステーションを開示し
ている。トナ粒子は磁気ブラシによって検出された電位
に逆比例して現像@置に供給される。
本発明の1つの特徴によれば、マーク粒子(marki
no particle)によって潜像を現像する装置
が設()られる。この装置はマーク粒子の成る供給口を
貯蔵する装置を含む。この貯蔵装置にマーク粒子を供給
する装置が設けられている。マーク粒子を貯蔵装置から
潜像に密接する位置に運搬する運搬装置が設番ノら、れ
ている。この運搬装置は潜像に供給されるマーク粒子の
電荷を感知して、これを指示する信号を供給装置に伝達
づる。この供給装置は受入れた信号に応答して貯蔵装置
内へのマーク粒子の供給mを調節J−る。
本発明の伯の特徴ににれば、導電性表面に記録された静
電的潜像を右りる型式の電子写真プリント機械が提供さ
れる。摩擦電気的に付着するトナ粒子を有り゛る少なく
とも二1X7リア粒子を含む現像材が潜像に密接して前
進さけられ、トナ粒子がキャリア粒子から離れて潜像に
引付けられ、4電性表面上にドブ粉末の像を形成する。
現像材の成る供給mを貯蔵する装置が設番ノられる。こ
の貯蔵装置にトナ粒子を供給する装置が設けられる。現
像材を貯蔵装置から潜像に密接する位置に運搬する装置
が設けられる。この運m装買は潜像に付着されたトナ粒
子の電荷を感知してこれを指示する信号を供給装置に伝
達し、貯蔵装置内への1・す粒子の供給mを調節ず◇。
本発明のさらに他の特徴によれば、マーク粒子によって
潜像を現像する方法が提供される。この方法はハウジン
グ内にマーク粒子の成る供給量を貯蔵する工程を含む。
ハウジング内のマーク粒子は現像ローラにて潜像に密接
りる位置に運搬され、マーク粒子が潜像に引付【ノられ
るJ、うになす。潜像に引付けられたマーク粒子の電荷
が感知される。
感知された電荷に応答してマーク粒子がハウジング内に
供給される。
本発明のさらに他の特徴によれば、摩擦電気的に付着す
るトナ粒子を有する少なくども11797粒子を含む現
像材によって導電性表面に記録された静電的潜像を現像
する方法が提供される。この方法はハウジング内に現像
材の成る供給量を貯蔵する工程を含む。現像材は現像ロ
ーラに”C潜像に密接した位置に運搬され、トナ粒子が
潜像に引付けられるようになす。潜像に引付けられたト
ナ粒子の電荷が感知される。感知された電荷に応答して
付加的なトナ粒子がハウジング内に供給されるのである
本発明の仙の特徴は、添f′J図面を参照して述べられ
る以下の説明によつく“明らかになる。
本発明は以下にその望ましい実施例を参照して説明され
るが、本発明をこのような実施例に限定する企図゛のな
いことは理解されねばならない。反対に本発明は特許請
求の範囲に限定されるような本発明の精神および範囲に
含まれる総ての変形、修正および等価的なものを広く包
含することを企図している。
本発明の特徴を全般的に理解するために図面が参照され
る。これらの図面を通じて同様の符号【よ総で同様の部
材を示づように使用されている。第1図は本発明の装置
を組込んだ図解的な電子写真プリント機械の種々の部材
を概略的に示す。以下の説明から本発明の装置が広い範
囲の変形形態の電子写真プリント機械にもよく適応し、
こ1に説明された特定の実施例に本発明の応用面が制限
されるものでないことは明らかである。
電子写兵プリント機械の技術はよく知られているから、
第1図におりる種々の処理スデーションは以下に概略的
に示され、その作動が図面を参照して簡単に説明される
第1図に示されるように図解的な電子写真プリント機械
は導電性支持体に固定された光S電性面12を有するド
ラム10を使用している。光導電性向12は電気的絶縁
性の有機樹脂にランダムに拡散された光導電性粒子を右
する電荷発生層を含むのが望ましい。導電性支持体は1
つまたはそれ以上のジアミンが溶解されている透明な電
気的に不活性のポリカーボネート樹脂を有する電荷運搬
層を含む。ドラム10は矢印14の方向に動さ、光13
電性面12の引続く部分を順次ドラム10の通路の廻り
に配置された種々の処理スデーションを通して前進させ
る。
最初に、光導電性向12の1つの部分は帯電ステーショ
ンAを通過させられる。この帯電ステーション八におい
て、全体を符号16で示されたコロナ発生装置が光導電
性面12を比較的高い実質的に均一な電位に帯電させる
次に光導電性面12の帯電された部分は結像ステーショ
ンBに前進さUられる。この結像ステーションBは全体
を符号18で示された露出装置を含む。露出装置18内
ではオリジナル文書が表面を下方に曲番ノ°C透明なブ
ラアン上に配置される。
ランプがオリジナル文書を照明し、光線はA′リジナル
文棗から反射され−Cレンズを通して伝達され、オリジ
ナル文めの光像を形成する。この光像は光1#電性面1
2の帯電された部分に焦点合せされ、光yn電性面上の
電荷を選択的に間数させる。このことはオリジナル文書
に含まれている情報の面積部分に対応する静電的潜像を
光導電i面12上に記録させる。光導電性面12上に静
電的潜像が記録された後で、ドラム10が潜像を矢印1
4の方向に現像ステーションCに前進させる。
現像ステーションCにおいて、全体を符号20で示され
た磁気ブラシ現像装置が摩擦電気的に付着するI−す粒
子を有りる11791粒子の現像材混合物を静電的潜像
に接触−りるように運搬する。潜像はキャリア粒子から
1〜す粒子を引(Jりて光導電性面12上にトナ粉末の
像を形成りる。引続く静電的潜像が現像されるにつれて
、トノ粒子がIIi!像材混合材混合物ナ粒子が消耗す
る。現4&装冑2゜内に配置されるトナ粒子供給装置は
付加的なドブ粒子を現像材温−合物に供給して、これに
にり引続く使用を可能どなず。この現像装置の1lT1
1Iな構造およびトナ粒子の供給を制御する態様が以下
に第2図および第3−図を参照し゛C説明される。
現像の後で、ドラム10がトナ粉末の像を転写ステーシ
ョンDに前進させる。転写ステーションDk:おいて支
持材料のシートがトノー粉大の像に接触するように動か
される。この支持材料のシートは全体を符号26で示さ
れるシート給送装置によって転写ステーションDに前進
させられる。シート給送装*26はシート30の積重ね
体の最り部のシートに接触すると給送ロール28を含む
のが望ましい。この給送ロール28は矢印32の方向に
回転して最上部のシー1〜を前進ローラー34によって
形成されるニップJなわち挾持部に前進さぼる。この前
進ローラー734は矢印36の方向に回転してシートを
シュート38内にyJ進さ「る。
このシュート38は前進する支持体のシートを調時され
た順序でドラム10の光導電性面12と接触させるよう
に指向させ、光導電性面12上に現像されている粉末像
が転写ステーションDにて前進する支持体のシートに接
触するようになす。
転写ステーションDは゛コL1す発生装置40を含み、
このコロナ発生装置はイオンをシートの裏側に射出する
。このことはf5)木像を光導電性面から離してシーt
・に引付番ノる。転写の後で、シートは矢印44の方向
にコンベア42上で運動を続け、シートを融合ステーシ
ョンEに向!すて前進させるのが望ましい。
融合ステーションEは全体を符号46で示される融合組
立体を含み、この融合組立体46は転写された粉末像を
シートに永久的に固定する。融合組立体46は加熱され
、た融合ローラ4Bおよびバックアップローラ50を含
むのが望ましい。シートは粉末像が融合ローラ48に接
触するにうにして融合ローラ48およびバックアップロ
ーラ50の間を通過する。このJ:うにして、粉末像は
シートに永久的に固定される。融合の後で、前進ローラ
52はシー1〜を捕捉1−シー54に前進させて、その
後で作業者によってシーi・をノリンl−m械から取出
1ようになされる。
粉末像が光導電性面12から7Iピーシ−1−に転写さ
れた後で、ドラム10は光導電性向を清掃ステーション
Fに向って回転する。この清掃ステーションFにおいて
、清掃ブラシが光導電性面12に付着する残余の粒子を
除去する。
前述の説明は本発明の特徴を組込んだ電子写真プリント
機械の全般的な作動を承して本発明の目的を示すのに充
分1eあると者えられる。
さて本発明の特別の主題を示すために、第2図は第1図
に示されたプリンI−機械に示された現像装置を詳細に
示している。此の図面に示されるように、この現像装@
20は全体を符号58で示された現像ローラを含む。こ
の現像ローラは導電性の軸56上に回転可能に取(=J
uられた非磁性の管状部材22を含んでいる。この管状
部材22は粗面にされた外周面を有するアルミニウムか
ら作られ、軸56は不銹鋼から作られるのが望ましい。
細長い磁石24が軸56上に固定して取f1けられ、管
状部材22の内側にこれから間隔をおかれて配置されて
いる。例えば、磁石24はその円周面の廻りに多数の磁
極を与えられたバリウムフェライトから作られるのであ
る。全体を符号60で示された電流感知装置が軸56に
連結されている。このTi流感知装@60は電圧源62
に接続され、この電圧源62は軸56に電気的なバイア
スを与え、したがって導電性の軸受を経て管状の部材2
2に電気的なバイアスを与えるようになっている。電流
感知′4A置60は電圧源62と直列の抵抗を横切る電
圧降下を感知することによって電流の測定を行うのであ
る。電流感知装[60からの出力は積分器64に伝達さ
れる。この積分器64は所望の時間間隔にわたって電流
感知装置60から伝達される電流信号を積分する演算増
幅器となし得る。
積分器64からの出力はアナ1−1グ・デジタル変換器
66に伝達される。またこのアナログ・デジタル変換器
66からの出力は電子回置プリント機械内の中央処理ユ
ニツ]−68に伝達される。注目されることは、このア
ナログ・デジタル変換器66が中央処理ユニット68と
一体的な部分となし得ることである。この中央処JJj
 :Lニラ1−68は論理回路を含み、この論理回路が
また現像装置のハウジング内にトナ粒子を供給するのを
制御するだめの誤差信号を発生づるのである。このよう
にして、トナ粒子が、発生されlこ電荷の関数とし゛C
現像装置に供給されるのである。このことは、発生され
た電荷がバイアス電流によつ−(測定できることによる
のである。当業者には同じ方法が中央処理ユニッ]〜お
よびアナログ・デジタル変換器に代えてアナログ電圧・
時間変換器によって行われ1りることを理解できる。
さて第3図を参照すれば、中央処理ユニツ1へ68が現
像装置のハウジング内にトナ粒子を供給するのを調節す
る態様が示されている。この図面に示されるにうに中央
処理ユニット68は誤差信号を電圧1!70に伝達する
。この中央処理ユニット68からの誤差信号は電圧源7
0からの出力電圧を調節し、現像装置への付加的なトナ
粒子の供給を制御するようになっている。全体を符号7
2で示されるトナ供給装置は現像ステーション20内に
配置されている。この1−す供給装置172はトナ粒子
の成る供給量をその内部に貯蔵する容器74を含む。適
当なローラ76が容器74に連結される室78内に配置
され、トナ粒子をオーガ80内に供給するようになって
いる。その例として、オーガ80は多数の開口を有する
管内に取付けられた螺旋状のばねを含む。モータ82が
オーガ80の螺旋状の部材を回転させ、トナ粒子を管を
通して前進させるようになっている。これによりトナ粒
子は管の開口から現像装置のハウジングの室内に供給さ
れ、現像1]−ラ58によって使用されるようになされ
る。モータ82の付勢は電圧源70によって制御される
。この電圧源70は中央処理ユニツl−68に接続され
ている。光S電性向上に現像されたI−す粒子のmの測
定された電荷は電流の測定値と比例り−る。この電流の
測定値4よ積分され、所望の値と比較され゛C誤差信号
が発生され、現像装置への1・す粒子の追加mを制御J
る。
この誤差信号は電圧l!70を制御するのに使用され、
電圧源70はまたモータ82を(=J勢する。このよう
にして、付加的な1ヘナ粒子が光8’11性面上の現像
されたトナ粒子の電荷の関数として現像装置に供給され
るのである。
当業者には像と像との間の範囲となりのが望ましい帯電
された面積の区画を照明することによってサンプルとな
される静電的潜像が光導電性面12上に記録できること
が判る。このサンプルとなされる静電的潜像は現像ロー
ラ58にJ:つぞ現像されるが、潜像上に供給されるト
ナ粒子の電荷が潜像を現像するために既述されたJ:う
に監視されるのである。この技術は潜像上に供給される
1・す粒子の゛電荷を測定する代りに利用ぐきる。
トナ粒子供給装置は現像の間にバイアス電流に比例して
トナ粒子を供給する。このamは現像材の摩擦生成物(
triboproduct )の変化に無関係に作動時
間にわたってm擦電荷(tribOchar(Je )
を一定の調節可能の比率に保持する。この場合制御され
るのは現像材の溜部のJ!!擦電荷ではなく1ヘナ粒子
のJ!!擦電荷である。このことは溜部の摩擦電荷に対
する現像された1−す粒子の摩擦電荷の比が時間ととも
に変化するような装置において右利である。この装置は
また給送される1〜す粒子の濃度の制御装置となされる
利点を有する。それぞれの像が現像された後で、適当な
トナ粒子の量が現像装置のハウジングの溜部に供給され
゛τトナ粒子の濃度を一定に保持するようになされる♂
定常状態においτ溜部に供給されるトナ粒子の量は排出
されるトナ粒子の最と等しくなる。もしこの排出される
トナ粒子の量に対するトナ粒子の電荷の比(電荷比率7
間比率)が一定に保持されるならば溜部から出て行く1
−す粒子の量と溜部に入る最との摩擦電荷の比(Lri
bo)は一定となる。
溜部は電荷対供給比率によって決定される現像される1
・す粒子の摩擦電荷の値が一定eある点に遂する。
本発明によって提案される1〜す粒子供給装置による現
像材の性質を理論的に説明Jる数学的な解析は容易に誘
導できる。下記の用BTIが定義されている。
m、=M部内のトナシ仔の昂 ITI c−溜部内の14797粒子の置市、R=P/
R上のトナ粒子の現像速痕山、=1〜す粒子供給装置の
供給速度 ri1[rr=トナ粒子の供給速度の誤差■B−バイア
ス電流 1、R=P/R上の現像された1−す粒子の帯電電流 I −1−L、R−誤差電流 Err B Tr−現像されたトナ粒子のFfR擦電荷(電荷/吊) 1−C=トナ粒子の濃度(rn 7m、)に=バイアス
電流に刻する供給率の比例41数理想的な場合には、下
記の仮定がなされる。
(1)I、=I、11 測定されたバイアス電流は現像されたトナ粒子の電流に
等しい。
他には電流の漏洩路があってはならない。
(2) m PR= m PR/ T r現41A装置
のトナ粒子は摩擦電荷Trにより現像されたトナ粒子の
電荷に関係する。すなわちそのmil!電荷はJ:り限
定されたmである。過大の誤った()゛インのトナ粒子
の現像はこの仮定に抵触する。
このことはトナ粒子の濃度に対1−る標準の摩擦電気(
tribo)であって、負の帰還特性を得る必要はない
。この摩擦電気(tribo )がTCの単調な減少関
数であることが必要なだけである。
(4)山 −nl drTI P’R ■ トナ粒子のmは現像された量に等しい。Jなわち過大な
1−す粒子の漏洩がない場合である。
理想的なトナ粒子の濃度(TO)の制御装置は、バイア
ス電流により、比例的に一定の定数Kにしたがってi・
す粒子を供給するようにして構成されるのである このことは次のように書くのと同じである。
(5) m = K I B このことは瞬間的に測定されたバイアス電流の関数とし
て供給速度を変化さけることを必要とする。しかし、こ
のことは、成る一定の時間にわたって(例えば1つのコ
ピー)電流を積分し、この積分値に関係して後で成るド
ブ゛粒子の昂を供給覆ること)同じで(遥かに実用的で
)ある。
トナ粒子の濃度(TC)は式1−4による4つの仮定J
3よび式5の与えられた条件にJ:って決定できる。式
1.2.4おJ:び5を相合Uると次の式が得られる。
(6)m =IB (K 1/−し・)■ この式は式3によって次のようになる。
(7)r’n■+m、(IB/mCA)−+−1,co
/A−IBK=0 これは最初の条件mr (t=0)に対して時間に関係
する解を有する。
(8) m、(t ) =tncΔに−mcC0または
最初の摩擦電気の条件Tr (t=0)によって、 からトナ粒子の現像を開始する場合摩m電気は、時間定
数へm/IBにJ:す、設定されたパラン−ター1/に
のIIJ限俯に指数輿数的に接近づる(IBtはi間を
内の正味発生電荷)。
トナ粒子の発生摩擦電気の電荷は充分な時間の後で(定
常状態で)値1/Kに接近する。この値には電流/供給
間の比率または(電荷/時間)/(沿/時間)=電荷7
量−摩擦電気 (trtbochargc )である。式9は式5の供
給量制御条件が安定した負の帰還(filじたループ)
システムであり、たとえこのシステムが妨害を受けても
所望の摩擦電気の値が保持されることを証明rJ−る。
式9の時間定数A m / I Bは付加的なトナ粒子
が追加されない場合の現作材のWi度低下の自然の時間
定数と比較され4りる。1・す粒子が供給されないで溜
部からトナ粒子が消耗する時の庁m電気の電荷は次のよ
うになる。
式10は自然に摩擦電気をI制御りる同じ111問定数
がまたトナ粒子供給削の*iシステムを制御I するこ
とを示?101−す粒子が追加されない時は(式10に
よって示されるにうに)このシステムは最も迅速に濃度
低下を生ずる。このように他の現像可能の1−大粒子制
御システムは何れも本発明により提案されるシステムJ
:り優れた時間定数を右ジることはできない。したがっ
て、弐〇の時間応答性は満足なものである。
例えば最初の仮定の式4にて考慮されなかった溜酊内へ
または溜部外への正味のトナ粒子の流れがある場合には
帯電電流の測定誤差または供給速度の誤差はI制御され
る摩tll電気に影響を与えるのである。この誤差は市
[rrである。式4は次のように書代えることができる
(11)、r″n= ri)−rir 、R−+−rn
 Frr丁d このr″n[11,は誤ったトノー粒子供給装置から誘
導されるもので、1〜す粒子が粉末の汚れまたは低い/
誤ったサインのトナ粒子ににつて失われるのである。同
様にもし測定されたバイアス電?ytI8が正確に現像
されたトナ粒子の電MIplでない場合には式1の仮定
は誤差電流■ によって次のよrr うに修正されねばならない。
(12) I、=I、R+IE、、。
誤差電流I は現像装置ハウジングからまたErr は光′a電性面との磁気ブラシの電荷交換による電気的
な漏洩路から生ずる。
式2.3.5.11および12を解くと次の最終的な結
果が得られる。
g+ )e−t、 t/rnoA)−1こ)で 式13により、誤差の項■ および山E11.を[rr 導入する効果は定常状態の摩擦電気を1/lりから1/
に′に移行させ、時間応答作用の形態を式9におけると
同様に保持りることになることが判る。
新しい11!擦電気1/に′は、誤差の項がlE+18
、/■ く〈1で、m/IPR<<1にしたがってPR
Err 小さいならば1/に−に−近く保持される。もしこれら
の条件が満足されない時には制御される摩擦電気は安定
でない。何故ならば誤差の項したがつCK′が時間とと
もに変化°りるからである。。I[、。
および出 は■PRずなわち面ll1l!適用範囲にし
たErr がって変化せず、それぞれのコピーに対し゛て変化する
。もし■ および山42.が一定であれば、Err これらの項は容易に補正できる。
この供給装置が適性に作動するためには種々の仮定およ
び拘束条件があることは明らかである。
その結果は式1−5の有効性に基づく。さてこ)でこれ
らの式のそれぞれについて検討する。
バイアス電流測定の式1はトナ粒子の帯電電流およびバ
イアス電流が相互に関係すると仮定している。ハウジン
グから外への電流の漏洩路は問題を生じさUる。渾洩路
(> 10−′Amps)は主として高温/多湿の条イ
′[において問題となる。成る受光器は磁気ブラシの先
端と光導電性面との間に著しい電荷の交換を行う。この
ことは対処を要する甚だ困難な問題である。この問題の
1つの解決方法は本来的な「@」測定を行うことである
。Jなわも文書間の面積の背景部分(現像されていない
)にてバイアス電流測定を行い、引続く電流測定を偏倚
ずなわら修正する値を利用して行うのである。
例えばそれぞれのコピーには常に白い面積部分があり、
それぞれのコピーにおける最小限の測定電流がこの修正
する電流どして利用できる。
摩擦電気の帯電の関係に関づる式2は発生された電荷が
一定の関係で1〜す粒子の量に関係覆るものと仮定して
いる。実際上現像材、は式2で仮定しているような鋭い
ピークを右Vる電荷の分布を右しない。このことは発生
された電荷の分布の形状が種々の現像電位に対し【著し
く変化しない限り問題にはならない。例えば主とし−C
背q面積部分にお【ノる誤った/低い1ノーインの1・
す粒子の現像は、式2における平均の摩擦電気が一1ピ
ー旬に変化りる入力特性に関係するから、問題を生ずる
のである。
T Cど摩擦電気との関係に関する式3は任意の仮定で
ある。この標準の形は単に便利のために選ばれるのであ
る。△が小さい場合はこのシステムの時間応答性は改善
される。しかし、このことはトナ粒子の濃度(T C)
に対Jる摩擦電気の依存性を増大させる犠牲を伴って得
られるのである。
必要な拘束条件は、FJ擦電気がトノ粒子のm度(TC
)の単調に減少する作用でな番ノればならないことであ
る。「増加」1°る作用は不安定な正の帰還ループシス
テムを与える。殆ど総ての現像材は適正な減少する単調
な性質を有する。
トナ粒子の吊を保有することに関する式4は、トナ粒子
が現像以外の原因で現、像装置のハウジングから失われ
る場合にのみ誤差を生ずる。
供給制御に関する式5は、1・す粒子の母がバイアス電
流にしたがって供給されることを必要とし、典型的なバ
イアス電流は0.1から10μ八までの間で変化覆る。
この電流の正確な測定は、特に電流が積分され、大部分
のノイズがフィルターされるからまたトナ粒子の供給装
置を考Tm覆ることが重要である。供給速度はその寿命
の限り一定に保持されねばならない。勾えられた電気的
入力に対する供給されるmの変化はそれ自体制御される
摩擦電気の移動(Kのシフト)に比例して生ずるのであ
る。
以上を要約すると、本発明のシステムが、静電的潜像上
に現像される1−す粒子の電荷の関数として、現像装置
のハウジングに対するトナ粒子の供給量を制御りるもの
であることが明らかである。
バイアス電流によって測定されに電荷は現像ローラにJ
:って感知される。この電荷に比例する電気的な出力信
号が積分され゛(デジタル信号に変換され、このデジタ
ル信号がまた電子写真プリン1〜機械の中央処理ユニッ
トにょって処理される。中央処理ユニツ1〜から伝達さ
れる誤差信号は現像装置のハウジング内へのトナ粒子の
供給量を制御りるのCある。
本発明はオリシノール文書を走査りるのに使用される光
学系とともに使用されるように説明されたが、当業者に
は本発明の装置が、光導電性面の帯電された部分の選択
された面ゼi部分を照射づるように配置されたモジュレ
−1−されたレーデ−ビームとともに使用されて光導電
性面上に静電的潜像を記録Jるようになしくqることが
判る。
したがって、本発明にょっく静電的潜像上に現像される
トナ粒子の電荷の関数としく現像is内へのトナ粒子の
供給量を調節する装置が提供されるのである。この装置
は上述の目的および利点を完全に満2さ′せるものであ
る。本発明はその特定の実施例について説明されたが、
当業者には多くの変形、修正が可能であることが判る。
したがって、本発明は、広く特許請求の範囲に限定され
た精神および範囲に含まれるこのような総ての変形、修
正を包含するものであることを企図するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の特徴を組込んだ図解的な電子写真プリ
ン1〜機械を示す概略的立面図。 第2図は第1図のプリント機械に使用される制御機構を
示り概略的説明図。 第3図は第1図のプリント機械におけるトナ粒子の供給
mの調節を示1概略的説明図。 10・・・ドラム 12・・・光導電性面 16.40・・・コロナ発生装置 18・・・露出装置 20・・・磁気ブラシ現像装置 24・・・磁石 26・・・シート給送装置 60・・・電流感知装置 62.70・・・電圧源 64・・・積分器 66・・・アナログ・デジタル変換器 68・・・中央処理ユニット 72・・・トナ供給装置 A・・・帯電ステーション B・・・結像ステーション C・・・現像ステーション D・・・転写ステーション E・・・融合ステーション F・・・清棉ステーション 代理人 浅 祠 皓 FIG、/ FIG、3 第1頁の続き ■発明 者 ヘンリイ・アール・ティルアメリカ合衆国
ニューヨーク州 ロチニスター・ハンプシャー・ ドライブ111

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)マーク粒子によるwi像の現像装置において、前
    記マーク粒子の成る供給■を貯蔵するための貯蔵装置と
    、 前記貯M装4にマーク粒子を供給するための供給装置と
    、 前記マーク粒子を前記貯蔵装置から前記潜像に密接する
    位訂に運搬するだめの運搬装置と、を包含し、 前記運m装置は、前記潜像に供給されるマーク粒子の電
    荷を感知して、これを指示する信号を前記供給装置に伝
    達し、マーク粒子の前記貯蔵装欝内への供給mを調節す
    るようになされていることを特徴とする潜像の現像装置
    。 (21マーク粒子によって潜像を現像する方法において
    、 ハウジング内にマーク粒子の成る供給端を貯蔵し、マー
    ク粒子が前記潜像に引イリ番)られるように現像ローラ
    にて前記ハウジング内のマーク粒子を前記潜像に密接す
    る位置に運搬し、 前記潜像に引例けられたマーク粒子の電荷を感知し、 前記感知された電向に応答してマーク粒子を前記ハウジ
    ング内に供給リーる、 ことを特徴とする潜像の現像方法。
JP59116716A 1983-06-16 1984-06-08 電子写真プリント機械におけるマ−ク粒子の供給量を調節する制御システム Granted JPS6010275A (ja)

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US505014 1983-06-16

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JPH058828B2 JPH058828B2 (ja) 1993-02-03

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