JPS60101799A - Two-stage sample/hold circuit - Google Patents

Two-stage sample/hold circuit

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Publication number
JPS60101799A
JPS60101799A JP20948983A JP20948983A JPS60101799A JP S60101799 A JPS60101799 A JP S60101799A JP 20948983 A JP20948983 A JP 20948983A JP 20948983 A JP20948983 A JP 20948983A JP S60101799 A JPS60101799 A JP S60101799A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sampling pulse
sample
supplied
circuit
sampling
Prior art date
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Pending
Application number
JP20948983A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsuo Soneda
曽根田 光生
Yuji Hayashi
祐司 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Publication of JPS60101799A publication Critical patent/JPS60101799A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C27/00Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02Sample-and-hold arrangements

Landscapes

  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce power consumption through simple constitution by driving the current source of a buffer circuit only at the timing of plural sampling pulses. CONSTITUTION:Depletion type FETs 111 and 131 are used and a sampling pulse is supplied to the gate of an enhancement type FET141. Further, a depletion type FET151 is used and a sampling pulse phiSP' is supplied to the gate of an enhancement type FET191 provided in parallel to the FET141. Other stages are constituted similarly. Then, the FETs 141 and 191 are off while no sampling pulse is supplied, and no current flows. When a sampling pulse is supplied, the FETs 111, 131, and 151 transfer a display signal efficiently and the FETs 141 and 191 operate in a saturation area and serves as constant current sources. Consequently, the current value in sampling is equalized to that in reading operation and the pulses phiSP' and phiSP are used as they are.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、パラレル入力や、シリアル・ノくうVル変換
等に使用される2段階サンプルホールド・回路に関する
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a two-stage sample-and-hold circuit used for parallel input, serial to voltage conversion, and the like.

背景技術とその問題膚 例えば線順次駆動のディスプレイ装置の入力回路として
第1必忙示すような2段階サンプルボールド回路が用い
られる。図において、入力端子(1)に供給される表示
信号が第1(初段)のサンプルホールド回路(21)、
(22)・・・(2p) K′供給されると共に、走査
回路(3)からの第2図に示すよりなJlfi次変化す
る第1のサンプリングパルスφ51.φS2・・・φ8
.がそれぞれのサンプルホールド回路(2,)〜(2p
) K供給される。
BACKGROUND TECHNOLOGY AND PROBLEMS For example, a two-stage sample bold circuit is used as an input circuit for a line-sequential drive display device. In the figure, the display signal supplied to the input terminal (1) is connected to a first (initial stage) sample and hold circuit (21),
(22)...(2p) K' is supplied, and the first sampling pulse φ51 . φS2...φ8
.. are the respective sample and hold circuits (2,) to (2p
) K is supplied.

これらのサンプルホールド回路(21)〜(2p)にサ
ンプルホールドされた信号がそれぞれ第2のサンプルホ
ールド回路(41)−(42)・・・(4p) ic供
給されると共に、サンプリングパルスφ5.より遅いタ
イミングで形成される第2のサンプリングパルスφ が
サンプルホールド回路(41)〜(4p)に供給p される。
The signals sampled and held by these sample and hold circuits (21) to (2p) are respectively supplied to second sample and hold circuits (41) to (42)...(4p) IC, and sampling pulses φ5. A second sampling pulse φ formed at a later timing is supplied to the sample and hold circuits (41) to (4p).

これによって入力端子(1)Kシリアルで供給された表
示信号が順次サンプルホールド回路(21)〜(2p)
でホールドされ、サンプルホールド回路(41)〜(4
p)で同時化されて取り出される。なおpは1ラインの
画素数Fca当する。
As a result, the display signal supplied to the input terminal (1) K serially is sent to the sample and hold circuits (21) to (2p).
sample and hold circuits (41) to (4).
p) is synchronized and taken out. Note that p corresponds to the number of pixels Fca in one line.

このような回路において、回路の具体的な構成は、従来
は第3図に示すよ5になっていた。すなわち第1のサン
プルホールド回路(21)を構成するFET (11,
)及びコンデンサ(121)が設けられ、入力端子(1
)がF E T (111)のソースに接続され。
In such a circuit, the specific configuration of the circuit has conventionally been 5 as shown in FIG. That is, the FET (11,
) and a capacitor (121) are provided, and the input terminal (1
) is connected to the source of F ET (111).

このFBT(11+)のドレインがコンデンサ(12+
)を通じて電源端子VSSK接続される。またFET(
111)のドレインが、バッファ回路(51)を構成す
るソースホロア構成のFgT (13t)のゲートに接
続され、このFBT(13x)めソースが電源端子VD
D K 接M サtt、トvイyカFET (14t)
 ノ’/ −ストレインを通じて電源端子VSSK接b
゛される。
The drain of this FBT (11+) is the capacitor (12+)
) is connected to the power supply terminal VSSK. Also, FET (
The drain of the FBT (111) is connected to the gate of the FgT (13t) with a source follower configuration constituting the buffer circuit (51), and the source of this FBT (13x) is connected to the power supply terminal VD.
D K contact M satt, Tovyka FET (14t)
No'/ - Connect power terminal VSSK through strain b
It will be done.

さらに第2のサンプルホールド回路(41)を構成する
FF:T(15+)及びコンデンサ(16t )が設け
られ、FET (131)のドレインがFET (15
,)のソースに接続され、このFBT(151)のドレ
インがコンデンサ(161)を通じて電源端子v8Sに
接続される。またFET (15*)のドレインが、バ
ッファ回路(6りを構成すルア −スホ07 ’am 
)FET (17t)のゲートに接続され、とのFET
(171)のソースが電源端子■DD ”接続され、ド
レインがFET(181)のソースドレインを通じて電
源端子v8sに接続される。そしてFET(17t)の
ドレインから出方端子(71)が導出される。
Furthermore, an FF:T (15+) and a capacitor (16t) constituting the second sample and hold circuit (41) are provided, and the drain of the FET (131) is connected to the FET (15+).
, ), and the drain of this FBT (151) is connected to the power supply terminal v8S through a capacitor (161). In addition, the drain of the FET (15*) is connected to the buffer circuit (6).
)FET connected to the gate of (17t), and FET with
The source of (171) is connected to the power supply terminal ■DD", and the drain is connected to the power supply terminal v8s through the source and drain of FET (181). Then, the output terminal (71) is led out from the drain of FET (17t). .

この回路がp段設けられる。そして各F B i’ (
11J ) +(112)・・・(lip) ノケ−)
 Kそれぞれサンプリングパルスφ811φ32・・”
φ、pが供給され、FET(151)I(152)・・
・(15p)のゲートに共通にサンプリングパルスφ3
.が供給される。
This circuit is provided in p stages. And each F B i' (
11J) +(112)...(lip) Noke-)
K sampling pulses φ811φ32...”
φ, p are supplied, FET (151) I (152)...
・Sampling pulse φ3 common to the gate of (15p)
.. is supplied.

これによって順次サンプルホールド及びrHJ時化され
た信号が出力端子(7t ) 、(72)・・・(7p
) K取り出される。
As a result, the signals sequentially sampled and held and converted to rHJ are sent to the output terminals (7t), (72)... (7p
) K is taken out.

ところがこの回路において、FET (14+)、(1
4z)・・・・・(14p)及び(181)、(182
)・・・(18p)はそれぞれ定電流源として用いられ
る。このため各ゲート忙はVDC及びvDc′の定電圧
が供給され、これによって常忙一定の電流が、 エ 椿−喧→惰1■−回路を流される。従って各段ごとに所
定の電力が消費され、段数が増すと共にその消費電力は
極めて大きくなっ−てしまう。
However, in this circuit, FET (14+), (1
4z)...(14p) and (181), (182
)...(18p) are each used as a constant current source. Therefore, constant voltages of VDC and vDc' are supplied to each gate, so that a constant current is passed through the circuit. Therefore, a predetermined amount of power is consumed for each stage, and as the number of stages increases, the power consumption becomes extremely large.

発明の目的 本発明はこのような点Kかんがみ、簡単な構成で消費電
力を低減させるようにするものである。
OBJECTS OF THE INVENTION In view of the above point K, the present invention aims to reduce power consumption with a simple configuration.

発明の概要 本発明は、第1のサンプリングパルス忙よす信号をサン
プルホールドする第1のサンプルホールド回路と、上記
第1の゛す°ンプルホールド回路によりサンプルホール
ドされた信号を、上記第1のサンプリングパルスの発生
より所定時間経過後発生するm、2のサンプリングパル
ス忙よりサンプルボールドする第2のサンプルボールド
回路とを、エミッタホロアまたはソースボロアで構成さ
れたバッファ回路を介して接続した2段階サンプルボー
ルド回路において、上記バッファ回路の電流源を上記第
1及び第2のサンプリングパルスのタイミングのみ駆動
するよ5Kしたことを特徴とする2段階サンプルホール
ド回路であって、これKよれば簡単な構成で消費電力を
低減させることができる。
Summary of the Invention The present invention includes a first sample and hold circuit that samples and holds a first sampling pulse signal, and a signal sampled and held by the first sample and hold circuit. A two-stage sample bold circuit is connected to a second sample bold circuit that performs sample bold based on the m,2 sampling pulse generated after a predetermined time has elapsed from the generation of the sampling pulse, via a buffer circuit configured with an emitter follower or a source bore. A two-stage sample and hold circuit characterized in that the current source of the buffer circuit is driven only at the timing of the first and second sampling pulses, and according to this K, the power consumption is reduced with a simple configuration. can be reduced.

実施例 第4図において、 FET(lit)、(13+)をデ
ィプレッション型に構成すると共に、サンプリングパル
スφ8□をエンハンスメント型のFET (141) 
f) rグー)K供給する。またFET(15*)をデ
ィプレッション型に構成すると共に1サンプリングパル
スφsp′をPET (14,)に並列に設けられたエ
ンハンスメント型のFET(19,)のゲート忙供給す
る。
In FIG. 4, the FET (lit) and (13+) are configured as a depletion type, and the sampling pulse φ8□ is configured as an enhancement type FET (141).
f) r goo) K supply. Further, the FET (15*) is constructed as a depletion type, and one sampling pulse φsp' is supplied to the gate of an enhancement type FET (19,) provided in parallel with the PET (14,).

以下各段について同様K f、If成する。Kf and If are similarly formed for each stage thereafter.

この回路において、FET(1j+)、(191)はサ
ンプリングパルスがない期間はオフしており、電流は流
れない。そしてサンプリングパルスが供給されると、デ
ィプレッション型のFET (11+)、(13t)。
In this circuit, FETs (1j+) and (191) are off during the period when there is no sampling pulse, and no current flows. When a sampling pulse is supplied, depletion type FETs (11+) and (13t) are activated.

(15w )は効率よく表示信号を転送すると共に、こ
のパルスによってFET (144)、(19+)を飽
和領域で動作させ、定電流源とする。これによってサン
プリング時と読み出し時には従来と同様の回路構成とな
る。
(15w) efficiently transfers the display signal, and this pulse causes the FETs (144) and (19+) to operate in the saturation region, making them a constant current source. As a result, the circuit configuration is the same as the conventional one at the time of sampling and reading.

従ってこの第1のサンプルホールドの消費電力、1 は、段数をpとする1と従来のものと比へてろとなる。Therefore, the power consumption of this first sample and hold is 1 is 1 where the number of stages is p, which is significantly different from the conventional one.

またこの場合忙、■パ1すT(14t)と(19t )
とのサイズを等しくすることで、サンプリング時と読み
出−し時の電流値を同じ妊することができ、これによっ
てサンプリングパルスφ5.′トしてφ8.をそのまま
用いることができる。
Also, in this case, busy, ■P1T (14t) and (19t)
By making the sizes of the sampling pulses φ5 and . ' φ8. can be used as is.

こうしてサンプルホールドが行われるわけであるが、こ
の回路によれば、サンプリングパルスでバッファ回路の
定電流源をオンさせ、サンプリング時と出力時のみKT
L流を流すようにしているので、従来のものに比べて第
1のサンプルホールトルホールド回路のバッファ回路に
使用される定電流源は、出力を連続的忙得るために常に
駆動される。
Sample and hold is performed in this way. According to this circuit, the constant current source of the buffer circuit is turned on with a sampling pulse, and KT is held only during sampling and output.
Since the L current is made to flow, the constant current source used in the buffer circuit of the first sample hole hold circuit is constantly driven in order to obtain a continuous output, compared to the conventional one.

またディプレッション型のFETを用いるととKよって
効率よく信号を転送することができる。
Furthermore, if a depletion type FET is used, signals can be transferred efficiently.

ところで上述の回路忙おいてディグVツション型トエン
ハンスメント型のF’ETを同時に用いることは、プロ
セス上の工程を増してしまう。そこで第5図に示すよう
に、FlうT(14+)、(19+)に供給されるサン
プリングパルスを抵抗器(20+)、(2]4)あるい
は(2り、(21で分割し、FET(141)、(19
1)が飽和領域で動作するようにすると、F B T 
(11、) 、(13s ) 。
However, if the above-mentioned circuit is used simultaneously with a digital V-transition type enhancement type F'ET, the number of process steps will increase. Therefore, as shown in FIG. 141), (19
1) operates in the saturation region, F B T
(11,), (13s).

(151)はエンハンスメント型が使用でき、またサン
プリングパルスφ5.としてφ5.を用いることができ
る。
(151) can be of the enhancement type, and the sampling pulse φ5. As φ5. can be used.

さらに第6図において、サンプリングパルスφ50.φ
8.をオア回路(24,)で合成すること罠より、FE
T(14□)、(191)を一つ圧することもできる。
Furthermore, in FIG. 6, the sampling pulse φ50. φ
8. From the trap of combining with the OR circuit (24,), FE
It is also possible to press one T (14□) or (191).

この場合にオア回路(241)は具体的には第7図のよ
うに構成され、ここで回路のVDI)′をFET(14
t)が飽和領域で働くように選べば、FET (111
)、(131)。
In this case, the OR circuit (241) is specifically configured as shown in FIG.
If t) is chosen to work in the saturation region, the FET (111
), (131).

(151)はディプレッション型でなくてもよい。(151) does not have to be of the depression type.

発明の効果 本発明によれば、簡単な構成で消費電力を低減させるこ
とができた。
Effects of the Invention According to the present invention, power consumption can be reduced with a simple configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1し1、第2図は2段階サンプルホールド回路の59
明のための図、第3図は従来の回路の構成図、第4図は
本発明の一例の構成図、第5図〜第7図は他の例の説明
のための図である。 (1)は入力端子、(2)は第1のサンプルホールド回
路、(3)は走査回路、(4)は第2のサンプルホール
ド回路、(5) * (G)はバッファ回路、(7)は
出力端子である。 代理人 仲間 頁゛−゛ 同 松 隈 秀 盛ハ1 ゛ 第5図 第6図 第7図
Figures 1 and 2 show 59 of the two-stage sample and hold circuit.
3 is a configuration diagram of a conventional circuit, FIG. 4 is a configuration diagram of an example of the present invention, and FIGS. 5 to 7 are diagrams for explaining other examples. (1) is an input terminal, (2) is a first sample and hold circuit, (3) is a scanning circuit, (4) is a second sample and hold circuit, (5) * (G) is a buffer circuit, (7) is the output terminal. Agent Associate Page ゛-゛Same Hide Matsukuma Moriha 1 ゛Figure 5 Figure 6 Figure 7

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 第1のサンプリングパルスにより信号をサンプルホール
ドする第1のサンプルホールド回路と、上記第1のサン
プルホールド回路によりサンプルホールドされた信号を
、上記第1のサンプリングパルスの発生より所定時間経
過後発生する第2のサンプリングパルス忙よりサンプル
ホールートするg2のサンプルホールド回路とを、エミ
ッタホロアまたはンースホロアで構成されたバッファ回
路を介して接続した2段階サンプルホールド回路におい
て、上記バッファ回路の電流源を上記第1及び第2のサ
ンプリングパルスのタイミングのみ駆動するようKした
ことを特徴とする2段階サンプルホールド回路。
a first sample-and-hold circuit that samples and holds a signal using a first sampling pulse; and a first sample-and-hold circuit that samples and holds a signal using a first sampling pulse; In a two-stage sample and hold circuit, the current source of the buffer circuit is connected to the sample and hold circuit of g2, which performs a sample hole route from the sampling pulse of G2, through a buffer circuit configured with an emitter follower or a second follower. A two-stage sample and hold circuit characterized in that it is driven only at the timing of the second sampling pulse.
JP20948983A 1983-11-08 1983-11-08 Two-stage sample/hold circuit Pending JPS60101799A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000065717A1 (en) * 1999-04-27 2000-11-02 Seiko Epson Corporation Clock generation circuit, serial/parallel converter and parallel/serial converter, and semiconductor device

Cited By (2)

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US6414528B1 (en) 1999-04-27 2002-07-02 Seiko Epson Corporation Clock generation circuit, serial/parallel conversion device and parallel/serial conversion device together with semiconductor device

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