JPS60100741A - 帯電性フイルムの動摩擦特性測定方法 - Google Patents

帯電性フイルムの動摩擦特性測定方法

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JPS60100741A
JPS60100741A JP20879983A JP20879983A JPS60100741A JP S60100741 A JPS60100741 A JP S60100741A JP 20879983 A JP20879983 A JP 20879983A JP 20879983 A JP20879983 A JP 20879983A JP S60100741 A JPS60100741 A JP S60100741A
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JP
Japan
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tape
film
dynamic friction
coefficient
measured
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JP20879983A
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JPH0260140B2 (ja
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Tetsuo Tatsuno
龍野 哲男
Setsu Arikawa
有川 節
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Taiyo Yuden Co Ltd
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Taiyo Yuden Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N19/00Investigating materials by mechanical methods
    • G01N19/02Measuring coefficient of friction between materials

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、磁気記録テープ等の動摩擦抵抗を測定する
方法に関するものであって、さらに限定していうと、高
分子フィルム等、帯電性を自するフィルムの動摩擦抵抗
の測定において。
フィルムの帯電による動摩擦係数の増加分(測定誤差)
を修正するがことができるる測定方法に関する。
磁気記録テープ等の磁気記録媒体は、これを一定の方向
に走行させながら記録または記録の再生が行われるから
、必然的に送り機構や磁気ヘッド等との間に摺動を伴う
。磁気記録媒体は。
特に近年では、記録の高密度化が要求される結果、該磁
気記録媒体のより良い平Y)1性が必要とされる。
一方、磁気記録媒体の記録または再生に際しては、フィ
ルムが定速度で走行することが必要であり、高度の速度
制御が要求される。
ところで、この速度制御の設計に際しては。
磁気記録媒体の帯電による動摩擦係数の増加分が補正さ
れなければならない。
しかし、前述のように磁気記録媒体の表面が平滑化され
ると、動摩擦係数の測定のときに。
磁気記録媒体の接触物との摺動に伴い、高分子フィルム
はより多くの静電気を帯びるようになる。するとフィル
ムは、帯電した静電気によって接触物に引きつけられる
から、帯電による動摩擦係数増加分(誤差)が多くなっ
てしまう。
この発明は、上記の点に鑑みなされた新しい動摩擦係数
の測定方法であって、帯電によるテープの単位面積当た
り当たりの密着力(以下「帯電力」という。)による動
摩擦係数の増加分(誤差)を補正した正確な動摩擦係数
をめる方法である。以下、この発明の原理と構成を図面
に従い詳細に説明する。
いま図面において、矢印の方向に回転する円筒20表面
に長いテープ1を添え、同テープ1の一端側aにおいて
1円筒2が回転する方向に張力T1を与え、他端側すに
おいて張力T2を測定する場合を考える。この場合に、
テープlが帯電性の弱いもので、張力によって円筒2が
ら受ける動摩擦抵抗に比べて、帯電によって受ける動摩
1察抵抗が無視し得る程度に充分小さいときは、オイラ
ーの力学的モデルにより、張力]゛2は、張力]゛1.
動摩擦係数μk及び抱き角θによって一義的に定まり1
次の式で表される(但しeは自然対数の底)。
T2−Tlf3肌θ (1) これに対して、帯電性の強いテープlでは。
単に張力によるものだけでなく5帯電によってテープl
が受ける動摩擦抵抗も上記弾力′I゛2に大きく関与し
ている。そこでこの点について考察すると、帯電した静
電気によりテープlが円筒2の表面に密着しようとする
力f (以下1静電力jという。)は、接触面積に比例
することから2円筒2の半径をR,テープlの幅をWと
すると1次の式で表される。
r−σRwθ (2) ここで、σは、フィルム2の単位面積当たりの密着力で
あり、帯電力と定義した比例係数である。この帯電力σ
は、テープ1の各位置において円筒2の表面の法線方向
に働くことから、上記静電力fに動摩擦係数μkを掛け
ることにより、帯電によってテープlが受ける動摩擦抵
抗がめられる。この点を考慮して上記オイラーの力学的
モデルを修正すると。
T2=T、 ehe +pk lσRWθ (3)の式
が成り立つことになる。従って、これから動摩擦係数μ
にと帯電力σがそれぞれ次の式で表される。
、ljk = log (dT2/dT+ ) /θ 
(4)以上の力学的関係の考察に基づき、この発明では
、テープ1の一端側aに連続的に変化する張力T1を与
えながら、その他端側すにおいて上記張力T1に対応す
る張力T2の変化を測定する。そしてこれら張力T1と
T2の微少変化の比、即ち、張力T2の張力′1゛1に
対する微分値dT2/dT+をめ、これから上記動摩擦
係数μにと帯電力σをそれぞれめる。
図面では、抱き角θ=90°でテープ1を円筒2の表面
に接触させると共に、同円筒2を矢印方向に回転させな
がら、測定器3側でテープ1に同回転方向に連続的に変
化する張力TIを与え、他方の測定器4側でこの時の張
力T2の変化を測定する。そしてこれら測定器3.4で
それぞれ測定した張力′I゛1とT2を演算器5におい
て比較演算することにより、動摩擦係数μk及び帯電力
σをめる。即ち、前掲の(4)式から。
動摩擦係数μには、上記微分値dT2 /dl’1.と
抱き角θによってまり、また、帯電力σは(5)式から
、微分値dT2 /dT1 + 張力T1と′F2゜動
摩擦係数μに1円筒2の半径R及びフィルム1の幅Wに
よってまる。
そしてこれら二つの係数μにとσによって接触物を挟む
2点での張力1゛1 と1゛2の関係が」2記(3)で
示すような数式としてめることができる。この関係は、
テープの帯電性が強い場合にもテープ1の正確な動摩擦
係数を速やかに測定できる。
そしてこれらのデータの活用により、高度の速度制御も
可能となりる等、所期の目的を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
図面は、この発明を実施するための装置の一例を示す説
明図である。 1−テープ 2−円筒 3.4−張力測定器 Tl+T2’−張力特許出願人 
太陽誘電株式会社 代理人 弁理士 北條和由

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、一定の速度で回転する円筒面に、張力を与えながら
    フィルムを接触させて、同円筒面を挟む2点において測
    定されるフィルムの張力から動摩擦特性を測定する方法
    において、帯電性フィルムの一端側に連続的に変化する
    張力T1を与えながら、その他端において上記張力T1
    に対応する張力T2の変化を測定し、これら張力T1と
    T2の微分値dT2/dT+をもって動摩擦係数と帯電
    力及び上記両眼力T1と1゛2の関係をめるようにした
    ことを特徴とする帯電性フィルムの動摩擦特性測定方法
JP20879983A 1983-11-07 1983-11-07 帯電性フイルムの動摩擦特性測定方法 Granted JPS60100741A (ja)

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JPS60100741A true JPS60100741A (ja) 1985-06-04
JPH0260140B2 JPH0260140B2 (ja) 1990-12-14

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07301589A (ja) * 1994-05-03 1995-11-14 Korea Advanced Inst Of Sci Technol 円筒形物体の外周面の磨耗特性試験及び摩擦係数の測定方法及びその装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5048696U (ja) * 1973-08-29 1975-05-14

Patent Citations (1)

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JPS5048696U (ja) * 1973-08-29 1975-05-14

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07301589A (ja) * 1994-05-03 1995-11-14 Korea Advanced Inst Of Sci Technol 円筒形物体の外周面の磨耗特性試験及び摩擦係数の測定方法及びその装置

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JPH0260140B2 (ja) 1990-12-14

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