JPS60100728A - ラマン分光装置 - Google Patents
ラマン分光装置Info
- Publication number
- JPS60100728A JPS60100728A JP20967983A JP20967983A JPS60100728A JP S60100728 A JPS60100728 A JP S60100728A JP 20967983 A JP20967983 A JP 20967983A JP 20967983 A JP20967983 A JP 20967983A JP S60100728 A JPS60100728 A JP S60100728A
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- Pending
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- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 title claims abstract description 40
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims abstract description 18
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 description 6
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000028161 membrane depolarization Effects 0.000 description 2
- 238000003841 Raman measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ラマン分光装置に関し、特に、偏光解消度■
１［定、固体の偏光ラマン測定等の偏光ラマンスペクト
ルの測定を行うに最適なラマン分光装置に関する。
１［定、固体の偏光ラマン測定等の偏光ラマンスペクト
ルの測定を行うに最適なラマン分光装置に関する。
第１図は、一般的な偏光ラマンスペクトルを測定するた
めの光学系を示しており、１は励起光源としてのレーザ
発振器である。該レーザ発振器１から発生した、例えば
、紙面に平行な方向に百線偏光しているレーザ光は、集
光レンズ２によって被測定試料３に照射される。該レー
ザ光の照射に基づいて該試料から発生したラマン光は、
紙面に平行な偏光成分と、紙面に垂直な偏光成分とを有
しており、その光は、偏光子（検光子）４によって紙面
に平行な偏光成分のみが選択的に得られる。
めの光学系を示しており、１は励起光源としてのレーザ
発振器である。該レーザ発振器１から発生した、例えば
、紙面に平行な方向に百線偏光しているレーザ光は、集
光レンズ２によって被測定試料３に照射される。該レー
ザ光の照射に基づいて該試料から発生したラマン光は、
紙面に平行な偏光成分と、紙面に垂直な偏光成分とを有
しており、その光は、偏光子（検光子）４によって紙面
に平行な偏光成分のみが選択的に得られる。
該偏光子４を透過しｔｃウラマン光レンズ５を介して分
光器６に導かれ、該分光器にＪこつて偏光ラマンスペク
トルが得られることになる。ところで、光学顕微鏡の対
物レンズに接近して被測定試料を配置し、該顕微鏡を介
して該試料の微小部分にレーザ光を照射するようにした
マイクロラマン分光装置が開発されている。この装置の
光学系は、第・２図に示す如く、対物レンズ１１と試料
１２とが接近しているために、試料１２へのレーザ光の
照射光軸と、該試料からのラマン光の取出し光軸とが同
一となっ−（いる。第２図におい−Ｃル−ザ発振器１３
からの紙面に平行な方向に直線偏光しているレーザ光は
、半透ｔＡ １４にＪ、って反則され、対物レンズ１１
を介して試料１２に照射される。
光器６に導かれ、該分光器にＪこつて偏光ラマンスペク
トルが得られることになる。ところで、光学顕微鏡の対
物レンズに接近して被測定試料を配置し、該顕微鏡を介
して該試料の微小部分にレーザ光を照射するようにした
マイクロラマン分光装置が開発されている。この装置の
光学系は、第・２図に示す如く、対物レンズ１１と試料
１２とが接近しているために、試料１２へのレーザ光の
照射光軸と、該試料からのラマン光の取出し光軸とが同
一となっ−（いる。第２図におい−Ｃル−ザ発振器１３
からの紙面に平行な方向に直線偏光しているレーザ光は
、半透ｔＡ １４にＪ、って反則され、対物レンズ１１
を介して試料１２に照射される。
該試料１２より発生した、紙面に平行な偏光成分と紙面
に垂直な偏光成分とを有したラマン光は、該半透鏡１４
を透過し、反射鏡１５によって反射され、レンズ１６を
介して分光器１７に導かれる。
に垂直な偏光成分とを有したラマン光は、該半透鏡１４
を透過し、反射鏡１５によって反射され、レンズ１６を
介して分光器１７に導かれる。
上）ホした第２図の構成により偏光ラマンスペクトルの
測定を行う場合、半透鏡１４と分光器１７の間の光路に
偏光子等が配回される。しかしながら、一般に、半Ｊ’
ｌ鏡は、偏光特性を有しており、波長及び偏光成分に応
じてその透過率は変化覆る。
測定を行う場合、半透鏡１４と分光器１７の間の光路に
偏光子等が配回される。しかしながら、一般に、半Ｊ’
ｌ鏡は、偏光特性を有しており、波長及び偏光成分に応
じてその透過率は変化覆る。
第３図は、半透鏡の偏光特性の一例を示すグラフであり
、縦軸は透過率、横軸は波長であって、Ｐはｐ偏光成分
、ＳはＳ偏光成分を示している。こように半透鏡は波長
に応じた偏光特性を有しているために、第２図の構成に
よって偏光ラマンスペクトルの測定を行う場合には、分
光器１７によつ（得られｌ〔測定結果を、該半透鏡の特
性に応じて修正しな（プればならず、甚だ面倒な作業が
伴うことになる。
、縦軸は透過率、横軸は波長であって、Ｐはｐ偏光成分
、ＳはＳ偏光成分を示している。こように半透鏡は波長
に応じた偏光特性を有しているために、第２図の構成に
よって偏光ラマンスペクトルの測定を行う場合には、分
光器１７によつ（得られｌ〔測定結果を、該半透鏡の特
性に応じて修正しな（プればならず、甚だ面倒な作業が
伴うことになる。
本発明は、上述した点に鑑みてなされたもので、半透鏡
の特性に影響されず、偏光ラマンスペクトルの測定を行
い得るラマン分光装置を提供することを目的とづる。
の特性に影響されず、偏光ラマンスペクトルの測定を行
い得るラマン分光装置を提供することを目的とづる。
本発明に基づくラマン分光装置は、励起光源と、該励起
光源と測定試料との間に配置された第１の半透鏡と、該
試料への励起光の照射に基づいて該試料から発生し、該
半透鏡を介して得られたラマン光を分光づるための分光
器と、該分光器に入射Ｊるラマン光のうち、特定の偏光
成分の光のみを選択的に通過させる／ｊめの手段と、該
試料と該分光器との間の光路に配置され、該第１の半透
鏡と同一の偏光特性を有した第２の半透鏡とを錫え、該
第１と第２の半透鏡を、夫々の法線及び夫々に入射−す
る光の入射面が互いに直交するように配置・したことを
特徴としている。
光源と測定試料との間に配置された第１の半透鏡と、該
試料への励起光の照射に基づいて該試料から発生し、該
半透鏡を介して得られたラマン光を分光づるための分光
器と、該分光器に入射Ｊるラマン光のうち、特定の偏光
成分の光のみを選択的に通過させる／ｊめの手段と、該
試料と該分光器との間の光路に配置され、該第１の半透
鏡と同一の偏光特性を有した第２の半透鏡とを錫え、該
第１と第２の半透鏡を、夫々の法線及び夫々に入射−す
る光の入射面が互いに直交するように配置・したことを
特徴としている。
以下、本発明の実施例を添附図面に基づいて詳述覆る。
第４図にＪシいて、２１は第１の半透鏡ｒあり、レーザ
光は紙面の裏側から該半透＃Ａ２１に入用し、該半透鏡
によって反射され、対物レンズ２２にょっＣ試１’３１
２３の微小部分に照射される。該試料へのレーザ光の照
射に基づいて該試料２３から発生したラマン光は、該対
物レンズ２２によって集光され、半透鏡２１を透過し、
反ＩＪ鏡２４によって反射されて分光器２５に入射する
。該反射鏡２４と分光器２５との間の光路上には、レン
ズ２６゜偏光子２７．第２の半透鏡２８が配置されでい
る。
光は紙面の裏側から該半透＃Ａ２１に入用し、該半透鏡
によって反射され、対物レンズ２２にょっＣ試１’３１
２３の微小部分に照射される。該試料へのレーザ光の照
射に基づいて該試料２３から発生したラマン光は、該対
物レンズ２２によって集光され、半透鏡２１を透過し、
反ＩＪ鏡２４によって反射されて分光器２５に入射する
。該反射鏡２４と分光器２５との間の光路上には、レン
ズ２６゜偏光子２７．第２の半透鏡２８が配置されでい
る。
該第２の半透鏡２８は、第１の半透鏡２１と構造。
祠質等が同一であり、同一の偏光特性を有しており、該
第１と第２の半透鏡は、夫々の法線及び夫々に入射りる
光の入射面が互いに直交するように配置されている。
第１と第２の半透鏡は、夫々の法線及び夫々に入射りる
光の入射面が互いに直交するように配置されている。
上述した如き構成において、試料２３へのレーザ光の照
射に伴って該試料からはラマン光が発生りる。該ラマン
光は試料に特有の偏光成分Ｉｓ。
射に伴って該試料からはラマン光が発生りる。該ラマン
光は試料に特有の偏光成分Ｉｓ。
Ｉρを有している。ここで、Ｉｓはラマン光のＳ偏光成
分強度であり、１ｐは、ｐ偏光成分強度である。該ラマ
ン光は第１の半透Ｒ２１を透過して反射鏡２４に向うが
、該半透鏡２１は偏光特性を有しており、その透過率は
、Ｓ偏光成分に対してはα、ｐ偏光成分に対してはβで
ある。この結果、該半透鏡２１を透過したラマン光の両
幅光成分の強度は、ｉｓα、■ｐβとなる。該反射鏡２
４によって反射された光は、該第２の半透鏡２８に入射
するが、該第２の半透鏡２８は、第１の半透鏡２１に対
して、法線及び入射面が直交している。
分強度であり、１ｐは、ｐ偏光成分強度である。該ラマ
ン光は第１の半透Ｒ２１を透過して反射鏡２４に向うが
、該半透鏡２１は偏光特性を有しており、その透過率は
、Ｓ偏光成分に対してはα、ｐ偏光成分に対してはβで
ある。この結果、該半透鏡２１を透過したラマン光の両
幅光成分の強度は、ｉｓα、■ｐβとなる。該反射鏡２
４によって反射された光は、該第２の半透鏡２８に入射
するが、該第２の半透鏡２８は、第１の半透鏡２１に対
して、法線及び入射面が直交している。
従って、該第１の半透鏡２１にＳ偏光成分として入射し
、出射した光は、該第２の半透鏡２８には、ｐ偏光成分
として入射し、逆に、第１の半透鏡２１にｐ偏光成分と
して入射し、出射した光は、第２の半透鏡には、Ｓ偏光
成分として入射する。この結果、試料から発生したラマ
ン光の偏光成分ＩＳは、第１と第２の半透鏡を透過する
ことによってｉｓαβとなり、他の偏光成分Ｉｐは、第
１と′第２の半透鏡を透過することによってＩｐβαと
なる。該第２の半透鏡２８を透過したラマン光は、偏光
子２７を透過し、一方の偏光成分の光のみが選択的に分
光器２５に尋かれる。ここで、該偏光子２７を９０”回
転さければ、他方の偏光成分の光が選択的に該分光器に
尋かれ、両偏光成分のラマン光の強度比は、Ｉ ｓ／
Ｉ ｌ）となり、試料から発生したラマン光の両偏光成
分の強瓜比と等しくなる。
、出射した光は、該第２の半透鏡２８には、ｐ偏光成分
として入射し、逆に、第１の半透鏡２１にｐ偏光成分と
して入射し、出射した光は、第２の半透鏡には、Ｓ偏光
成分として入射する。この結果、試料から発生したラマ
ン光の偏光成分ＩＳは、第１と第２の半透鏡を透過する
ことによってｉｓαβとなり、他の偏光成分Ｉｐは、第
１と′第２の半透鏡を透過することによってＩｐβαと
なる。該第２の半透鏡２８を透過したラマン光は、偏光
子２７を透過し、一方の偏光成分の光のみが選択的に分
光器２５に尋かれる。ここで、該偏光子２７を９０”回
転さければ、他方の偏光成分の光が選択的に該分光器に
尋かれ、両偏光成分のラマン光の強度比は、Ｉ ｓ／
Ｉ ｌ）となり、試料から発生したラマン光の両偏光成
分の強瓜比と等しくなる。
このように、上）ホした構成により、例えば、ラマン光
の偏光解消度を測定する場合に、従来の如く、半透鏡の
−）光特性に基づく測定結果の條１作業は、不要となる
。
の偏光解消度を測定する場合に、従来の如く、半透鏡の
−）光特性に基づく測定結果の條１作業は、不要となる
。
以上詳述した如く、本冗明は、半透鏡を介して得られた
ラマン光を追加の半透鏡を介して分光器に導くようにし
Ｃおり、簡単な構成で、半透鏡の偏光特性による偏光ラ
マン信号光の強度比のズレを補止ＪることがＣきる。尚
、本発明は、１達した実施例に限定されず、幾多の変形
が可能である例えば、第４図の実１ｍ ＩＴＡにおいて
、第２の半透鏡２８を反ＱＪ鏡２４と分光器２５との間
の光路上に配置りるようにしたが、第２の半透鏡を第１
の半透鏡２１と反ＱＪ鏡２４との間の光路上に配置して
も良い。又、レーザ光を半透鏡て・反射させて試料に照
９Ａするようにしたが、該レーザ光を半透鏡を透過ざぜ
て試料に照射するようにし、試料から発生したうマン光
を該半透鏡によって反射させて取出すように構成しても
良い。この場合、半透鏡の反射特性は、偏光に応じて相
違するが、該半透鏡によっＣ反射したラマン光を第２の
半透鏡にょっ−Ｃ反則さｔ！（分光器に尋くようにすれ
ば、該半透鏡の偏光特性に影響されずに偏光フマンスペ
クトルの測定を行うことができる。
ラマン光を追加の半透鏡を介して分光器に導くようにし
Ｃおり、簡単な構成で、半透鏡の偏光特性による偏光ラ
マン信号光の強度比のズレを補止ＪることがＣきる。尚
、本発明は、１達した実施例に限定されず、幾多の変形
が可能である例えば、第４図の実１ｍ ＩＴＡにおいて
、第２の半透鏡２８を反ＱＪ鏡２４と分光器２５との間
の光路上に配置りるようにしたが、第２の半透鏡を第１
の半透鏡２１と反ＱＪ鏡２４との間の光路上に配置して
も良い。又、レーザ光を半透鏡て・反射させて試料に照
９Ａするようにしたが、該レーザ光を半透鏡を透過ざぜ
て試料に照射するようにし、試料から発生したうマン光
を該半透鏡によって反射させて取出すように構成しても
良い。この場合、半透鏡の反射特性は、偏光に応じて相
違するが、該半透鏡によっＣ反射したラマン光を第２の
半透鏡にょっ−Ｃ反則さｔ！（分光器に尋くようにすれ
ば、該半透鏡の偏光特性に影響されずに偏光フマンスペ
クトルの測定を行うことができる。
第１図は、一般的なラマン分光装置を示１図、第２図は
、試料にレーザ光を集束して照射するようにしたラマン
分光装置を示り図、第３図は、半透鏡の偏光特性を示す
図、第４図は、本発明の一実施例を示Ｊ図である。 ２１．２８・・・半透鏡 ２２・・・対物レンズ ２３・・・試料２５・・・分光
器 ２７偏光子 ≠ ）３ ンＬ噌シ一一
、試料にレーザ光を集束して照射するようにしたラマン
分光装置を示り図、第３図は、半透鏡の偏光特性を示す
図、第４図は、本発明の一実施例を示Ｊ図である。 ２１．２８・・・半透鏡 ２２・・・対物レンズ ２３・・・試料２５・・・分光
器 ２７偏光子 ≠ ）３ ンＬ噌シ一一
Claims (1)
- 励起光源と・、該励起光源と測定試料との間に配置され
た第１の半透鏡と、該試料への励起光の照射に基づい−
Ｃ該試料から発生し、該半透鏡を介して得られたラマン
光を分光するための分光器と、該分光器に入射するラマ
ン光のうち、特定の偏光成分の光のみを選択的に通過さ
けるための手段と、該試料と該分光器との間の光路に配
置され、該第１の半透鏡と同一の偏光特性を有した第２
の半透鏡とを備え、該第１と第２の半透鏡を、夫々の法
線及び夫々に入射する光の入射面が互い直交するように
配置したことを特徴とするラマン分光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20967983A JPS60100728A (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | ラマン分光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20967983A JPS60100728A (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | ラマン分光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60100728A true JPS60100728A (ja) | 1985-06-04 |
Family
ID=16576817
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20967983A Pending JPS60100728A (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | ラマン分光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60100728A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6366443A (ja) * | 1986-09-08 | 1988-03-25 | Jeol Ltd | ラマン分光装置 |
| WO2006029604A1 (de) * | 2004-09-17 | 2006-03-23 | Friedrich-Alexander- Universität Erlangen-Nürnberg | Verfahren zum bestimmen der kristallorientierung eines kristalliten eines multikristallinen festkörpers und zum messen von mechanischen inneren spannungen in festkörpern mittels mikro-raman-spektroskopie |
-
1983
- 1983-11-08 JP JP20967983A patent/JPS60100728A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6366443A (ja) * | 1986-09-08 | 1988-03-25 | Jeol Ltd | ラマン分光装置 |
| WO2006029604A1 (de) * | 2004-09-17 | 2006-03-23 | Friedrich-Alexander- Universität Erlangen-Nürnberg | Verfahren zum bestimmen der kristallorientierung eines kristalliten eines multikristallinen festkörpers und zum messen von mechanischen inneren spannungen in festkörpern mittels mikro-raman-spektroskopie |
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