JPS5998372U - 誘導形継電器の試験装置 - Google Patents

誘導形継電器の試験装置

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JPS5998372U
JPS5998372U JP19959782U JP19959782U JPS5998372U JP S5998372 U JPS5998372 U JP S5998372U JP 19959782 U JP19959782 U JP 19959782U JP 19959782 U JP19959782 U JP 19959782U JP S5998372 U JPS5998372 U JP S5998372U
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JP
Japan
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relay
input value
value
inductive
state
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Pending
Application number
JP19959782U
Other languages
English (en)
Inventor
清志 木村
Original Assignee
株式会社明電舎
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Publication date
Application filed by 株式会社明電舎 filed Critical 株式会社明電舎
Priority to JP19959782U priority Critical patent/JPS5998372U/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案による試験装置構成図、第2図は第1図
における測定制御装置の制御フローを例示するものであ
る。 1・・・誘導形継電器、2・・・入力値発生装置、3・
・・入力値検出器、4・・・測定制御装置。

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. (1)試験対象誘導形継電器の入力値をプログラム制御
    で発生する入力値発生装置と、この入力値発生装置が上
    記誘導形継電器に与える入力値を検出する入力値検出器
    と、上記誘導形継電器の出力接点のメイク及びブレイク
    状態を該出力接点から判別しかつ上記入力値検出器の検
    出値から該誘導継電器の入力値を判別及び上記入力値発
    生装置の出力制御をする測定制御装置とを含み、上記測
    定制御装置は上記誘導形継電器の出力接点がブレイク状
    態とメイク・状態に交互に切換わるまで該継電器の入力
    値を少しづつ増加又は減少する制御を繰り返し、上記誘
    導形継電器の出力接点がブレイク状態、メイク状態にな
    ったときの上記入力値検出器の検出値を該継電器の復帰
    値、動作値として得る測定制御手段を備えたことを特徴
    とする誘導形継電器の試験装置。
  2. (2)  上記測定制御装置は継電器の入力値制御に該
    継電器の出力接点がブレイク状態とメイク状態に切換わ
    る毎に該入力値の増減変化幅を小さくする制御をし、ブ
    レイク状態とメイク状態の切換わりが所定回数に達した
    ときに復帰値、動作値の測定値を得る手段を含む実用新
    案登録請求の範囲第1項記載の誘導形継電器の試験装置
JP19959782U 1982-12-22 1982-12-22 誘導形継電器の試験装置 Pending JPS5998372U (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62245974A (ja) * 1986-04-18 1987-10-27 Kandenko Co Ltd 継電器試験方法
JP2008130527A (ja) * 2006-11-27 2008-06-05 Kyosan Electric Mfg Co Ltd リレー検査装置

Cited By (2)

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