JPS599557A - 穀粒の被害粒測定装置 - Google Patents
穀粒の被害粒測定装置Info
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- JPS599557A JPS599557A JP11877082A JP11877082A JPS599557A JP S599557 A JPS599557 A JP S599557A JP 11877082 A JP11877082 A JP 11877082A JP 11877082 A JP11877082 A JP 11877082A JP S599557 A JPS599557 A JP S599557A
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- grains
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
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- G01N33/10—Starch-containing substances, e.g. dough
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- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、穀粒中に混入づる各種粒子の粒数および整粒
歩合などを測定する顆粒の被害粒測定装置の改良に関す
る。
歩合などを測定する顆粒の被害粒測定装置の改良に関す
る。
農産物検査法に基づく検査］ｎ目には、穀粒の含水率２
色ツヤなどをみる形質、１立当りの槍輻を調べる容積重
の３種類と、コメの整った割合をみる整粒歩合（％）お
よび穀粒中に混入りる被害粒（病害粒、虫害粒、胴割粒
など）、北米１名色粒、異種穀粒、放物の最高限度（％
）をそれぞれ規定し、これらによって品位の等級を決定
しているが、前記含水率を和学的に測定する以外は目視
に頼って測定するのが現状である。
色ツヤなどをみる形質、１立当りの槍輻を調べる容積重
の３種類と、コメの整った割合をみる整粒歩合（％）お
よび穀粒中に混入りる被害粒（病害粒、虫害粒、胴割粒
など）、北米１名色粒、異種穀粒、放物の最高限度（％
）をそれぞれ規定し、これらによって品位の等級を決定
しているが、前記含水率を和学的に測定する以外は目視
に頼って測定するのが現状である。
本発明は−１−記の諸点に鑑み、通過する米粒に対して
投光するスボッ１〜ライトを米粒の前半と接手の両側部
が通過（るとぎの直交または偏光の透光量を別々に受光
し、両光量の差が任意の設定Ｍ埠限界値に対して増減す
る値を検出する第１検出回路と、両光量の和が任意の設
定領域の光量に対して増減ゴる値を検出覆る第２検出回
路とに連結づる複数個の受光素子を設【プ、また前記各
検出回路を総粒数検出回路を介してデジタル表示器に連
結することにより、各種粒子の識別およびその粒数の測
定を電子光学的に自動化して整粒歩合と、被害粒、北米
、異秤穀粒。
投光するスボッ１〜ライトを米粒の前半と接手の両側部
が通過（るとぎの直交または偏光の透光量を別々に受光
し、両光量の差が任意の設定Ｍ埠限界値に対して増減す
る値を検出する第１検出回路と、両光量の和が任意の設
定領域の光量に対して増減ゴる値を検出覆る第２検出回
路とに連結づる複数個の受光素子を設【プ、また前記各
検出回路を総粒数検出回路を介してデジタル表示器に連
結することにより、各種粒子の識別およびその粒数の測
定を電子光学的に自動化して整粒歩合と、被害粒、北米
、異秤穀粒。
異物等の各粒数を短時間に、かつ高精度にそれぞれ測定
する高性能な装置を開発して提供せんと覆るものである
。
する高性能な装置を開発して提供せんと覆るものである
。
本発明を実施例図について説明する。第１図および第２
図においては、符号１は箱形機枠で、該機枠１内部に縦
走状に籾粒を流動する送穀用条溝２を設けた振動送穀樋
３を横架状に設置し、その排出側に籾粒を流下する流穀
用条溝４を設けた傾斜流穀樋５を連設し、該送穀樋５の
流穀用条溝４の板体５Ａスリツト状の検出用透光窓６を
設けると共に、該透光窓６の上下位置に光源７と受光量
ｗ８をほぼ対向状に配置して前記透光窓６を通過する籾
粒の透過光線によって各梗粒子を検出するように形成し
である。
図においては、符号１は箱形機枠で、該機枠１内部に縦
走状に籾粒を流動する送穀用条溝２を設けた振動送穀樋
３を横架状に設置し、その排出側に籾粒を流下する流穀
用条溝４を設けた傾斜流穀樋５を連設し、該送穀樋５の
流穀用条溝４の板体５Ａスリツト状の検出用透光窓６を
設けると共に、該透光窓６の上下位置に光源７と受光量
ｗ８をほぼ対向状に配置して前記透光窓６を通過する籾
粒の透過光線によって各梗粒子を検出するように形成し
である。
また、前記振動送穀樋３は、その側部に振動傾斜送穀ｕ
ｉ９を並列して横架状に配設し、該傾斜送穀樋９はイの
低位側受入部に供給ホッパー１０を設けると共に、該錆
面に籾粒を誘導（る案内壁１１を立設し、前記送穀用条
溝４の初端部に設けた穀粒流人口１２と、前記傾斜送穀
樋９の高位側の一側に設けた排穀口１３を相乃に連結し
て一体的に形成しである。
ｉ９を並列して横架状に配設し、該傾斜送穀樋９はイの
低位側受入部に供給ホッパー１０を設けると共に、該錆
面に籾粒を誘導（る案内壁１１を立設し、前記送穀用条
溝４の初端部に設けた穀粒流人口１２と、前記傾斜送穀
樋９の高位側の一側に設けた排穀口１３を相乃に連結し
て一体的に形成しである。
また前記受光装置８は、２条のオプティカル・ファイバ
１４．１５の一側端を光学レンズ１６を介して前記透光
窓６に臨設するど共に、その他側端に一対の受光素子１
７．１８を設け、また受光素子１７．１８は導線によっ
て機枠１上部のデジタル表示器１９に連結しである。
１４．１５の一側端を光学レンズ１６を介して前記透光
窓６に臨設するど共に、その他側端に一対の受光素子１
７．１８を設け、また受光素子１７．１８は導線によっ
て機枠１上部のデジタル表示器１９に連結しである。
次に第４図により米粒の明暗形について説明する。本図
は前記透光窓６十に位置して下方から照射された籾粒を
示し、その各図ａ、ｂ、ｃ。
は前記透光窓６十に位置して下方から照射された籾粒を
示し、その各図ａ、ｂ、ｃ。
ｃｌ、ｅ、ｆ、ｏにおいて中央の組状実線（太線）は透
光窓６のスリット、楕円形の閉曲線（点線）は籾粒内の
米粒２０．また米粒２０中に記した譲状点線（細線）は
亀裂面Ｒをそれぞれ表わす。
光窓６のスリット、楕円形の閉曲線（点線）は籾粒内の
米粒２０．また米粒２０中に記した譲状点線（細線）は
亀裂面Ｒをそれぞれ表わす。
また図ａにおいて、ＡおよびＢは前記各受光素子１７．
１８の各ファイバ１４．１５が対向するそれぞれの視点
イ１′装置で、この視点位置において、前記光源から籾
粒に透光した透過光線を光学レンズ１６を透して籾粒両
側部２１．２２の光量をそれぞれ受光した場合、各受光
素子１７゜１８の受光量（明暗度）は共に等しく、その
光ｍ差が基準光耐限界値（電圧）以下になるので、この
米粒は亀裂面のない整粒子として識別される。図すの米
粒２０′はその亀裂面Ｒが図上において透光窓６の左側
にあり、ために透光窓６から粒子内に入射した透過光線
は前記亀裂面Ｒ５− で゛散乱して粒体ノを側部の光量は低下し、その光量差
が１１光量限界値以七となるので、この粒子は胴割粒と
しく識別される。図Ｏの米粒２０″は上記米粒２０’
と反対の明暗影面を生ずるので、その光量差が基準光用
限界値以上となって、この粒子も胴割粒としＣ識別され
る。次に図ｄ。
１８の各ファイバ１４．１５が対向するそれぞれの視点
イ１′装置で、この視点位置において、前記光源から籾
粒に透光した透過光線を光学レンズ１６を透して籾粒両
側部２１．２２の光量をそれぞれ受光した場合、各受光
素子１７゜１８の受光量（明暗度）は共に等しく、その
光ｍ差が基準光耐限界値（電圧）以下になるので、この
米粒は亀裂面のない整粒子として識別される。図すの米
粒２０′はその亀裂面Ｒが図上において透光窓６の左側
にあり、ために透光窓６から粒子内に入射した透過光線
は前記亀裂面Ｒ５− で゛散乱して粒体ノを側部の光量は低下し、その光量差
が１１光量限界値以七となるので、この粒子は胴割粒と
しく識別される。図Ｏの米粒２０″は上記米粒２０’
と反対の明暗影面を生ずるので、その光量差が基準光用
限界値以上となって、この粒子も胴割粒としＣ識別され
る。次に図ｄ。
ｅ 、 ｆ 、 （Ｈの異種異物の識別について説明（
る。
る。
この場合は粒子全体の光量を受光して識別するので、前
記受光素子１７．１８の光端の和を異種異物用検出回路
に人力すると共に、該検出回路に設けた比較器の設定値
に着色粒、被害粒。
記受光素子１７．１８の光端の和を異種異物用検出回路
に人力すると共に、該検出回路に設けた比較器の設定値
に着色粒、被害粒。
異種粒、異物に応じた各領域の識別用設定値（実験的に
求めた数値を用いる）をそれぞれ設定する。図ｄの米粒
２０・・・は粒子全体が着色されて半透明化し、受光し
た全体光量が前記識別用設定値と一致するので、この粒
子は着色粒として識別され、また図ｅは被害粒、図ｆは
異種粒、図０は異物を例示したものである。
求めた数値を用いる）をそれぞれ設定する。図ｄの米粒
２０・・・は粒子全体が着色されて半透明化し、受光し
た全体光量が前記識別用設定値と一致するので、この粒
子は着色粒として識別され、また図ｅは被害粒、図ｆは
異種粒、図０は異物を例示したものである。
なお、前記光量の和は、粒子全体の光量を意味するので
、粒子全体の光量を受光する別の受６一 元素イを設置Ｊる舅合も含まれる。また受光素子には、
フォトタイオード、フォトトランジスタ、光導電セル、
光電管、イメージセンサ等が使用される。
、粒子全体の光量を受光する別の受６一 元素イを設置Ｊる舅合も含まれる。また受光素子には、
フォトタイオード、フォトトランジスタ、光導電セル、
光電管、イメージセンサ等が使用される。
次に第３３図の制御用電気回路について説明する。受光
装置６８の両受元素ｆ１８または１９は各増幅器２３
、したは２４を介して胴割粒用検出回路２５の差動増幅
器２６に連結され、その出力側は比較器２７を介して記
憶回路２８に連結されると共に、前記増幅器２４の出ツ
ノ側の分岐路は粒子検出回路２９を介して記憶回路２８
に連結され、該記憶回路２８の出力側−側端子は整粒用
カウンター３０を介して整粒用デジタル表示器３１に、
また゛その他側端子は胴割粒用カウンター３２を介して
胴割粒用デジタル表示器３３にそれぞれ連結され、３４
ば比較器２７に光量差の基準限界値を設定する設定器で
ある。
装置６８の両受元素ｆ１８または１９は各増幅器２３
、したは２４を介して胴割粒用検出回路２５の差動増幅
器２６に連結され、その出力側は比較器２７を介して記
憶回路２８に連結されると共に、前記増幅器２４の出ツ
ノ側の分岐路は粒子検出回路２９を介して記憶回路２８
に連結され、該記憶回路２８の出力側−側端子は整粒用
カウンター３０を介して整粒用デジタル表示器３１に、
また゛その他側端子は胴割粒用カウンター３２を介して
胴割粒用デジタル表示器３３にそれぞれ連結され、３４
ば比較器２７に光量差の基準限界値を設定する設定器で
ある。
また前記両受光素子１８または１９の各出力側の分岐路
は増幅器３５を介して異種異物用検出回路３６に設置プ
だ比較器３７，３８，３９゜４０にそれぞれ連結される
と共に、その出力側は着色流用カウンター４１、被害粒
用カウンター４２、￥シ種穀粒用カウンター４３、異物
用カウンター４４をそれぞれ介して各デジタル表示器４
５，４６，４７．’ ４８にイれぞれ連結され、４９は
比較器３７に接続した着色粒用設定器、５０は比較器３
８に接続した被害粒用設定器、５１は比較器３９に接続
した異種穀粒用設定器、５２は比較器４０に接続した異
物用設定器である。また前記各比較器３７，３８，３９
．４０の各出力側の分岐路は総粒数検出回路に設（）た
ＯＲ回路５３の入力側に接続されると共に、その出力側
は総粒数用カウンター５４を介してデジタル表示器５５
に連結しである。
は増幅器３５を介して異種異物用検出回路３６に設置プ
だ比較器３７，３８，３９゜４０にそれぞれ連結される
と共に、その出力側は着色流用カウンター４１、被害粒
用カウンター４２、￥シ種穀粒用カウンター４３、異物
用カウンター４４をそれぞれ介して各デジタル表示器４
５，４６，４７．’ ４８にイれぞれ連結され、４９は
比較器３７に接続した着色粒用設定器、５０は比較器３
８に接続した被害粒用設定器、５１は比較器３９に接続
した異種穀粒用設定器、５２は比較器４０に接続した異
物用設定器である。また前記各比較器３７，３８，３９
．４０の各出力側の分岐路は総粒数検出回路に設（）た
ＯＲ回路５３の入力側に接続されると共に、その出力側
は総粒数用カウンター５４を介してデジタル表示器５５
に連結しである。
上述の構成であるから、供給ホッパー１０から振動傾斜
送穀１１Ｍ９に流下した資料籾粒は、該傾斜送穀樋９の
振動作用によって高位側に上送されて排穀口１３から振
動送穀樋３の条溝２に流入すると共に、該送穀樋３の振
動作用によって前記条溝２に縦走状に配列して流動し、
また傾斜流ｔＱ ｆｊＡ ５の条溝４を急流状に流下走
行して透光窓６をそれぞれ通過する。該透光窓６に位置
する籾粒は、下部の光源７から籾粒に投光した透過光線
が光学レンズ１６．を透して籾粒両側部２１．２２の光
量を前記各受光素子１７゜１８がそれぞれ受光してその
検出信号を制御用電気回路に送信する。そして胴割粒用
検出回路２５に流入した各受光素子１７．１８の信号は
、差動増幅器２６によって光量差を検出すると共に、そ
の検出信号は比較器２７で設定器３４に設定した光量差
の基準限界値と比較してその一致信号を記憶回路２８に
入力し、記憶回路２８では粒子検出回路２９からの粒子
通過時間の信号と比較して限界値を超える信号数を検出
して記憶すると共に、所定の信号数以下の検出信号を整
粒用カウンター３０に入力してその粒数が８１算される
と共に、デジタル表示器３１に入力して整粒数を表示し
、また所定の信号数以上の粒子の検出信号を胴割粒用カ
ウンター３２に入力してその粒数が計算されると共に、
デジタル９− 表示器３３に入力して胴割粒数を表示でる１、また前記
受光素子１７または１８の分岐出力は増幅器３５によっ
て増幅しで昇穀異物用検出回路３６に設【ノた比較器３
７．３８，３９．４０にそれぞれ入力され、比較器３７
では、イの入力信号を着色粒の識別用数値を設定した設
定器４９からの信号と比較し、その一致信号を着色流用
カウンター４１に入力してその粒数を計算すると共に、
カウンター信号をデジタル表示器４５に入力して着色粒
数を表示し、比較器３Ｂでは、その人力信号を被害粒の
識別用数値を設定した設定器５０からの信号と比較し、
比較器３９では、ぞの入力信号を異種粒の識別用数値を
設定した設定器５１からの信号と比較し、比較器４０で
は、その人ツノ信号を異物の識別用数値を設定した設定
器５２からの信号と比較し、前記各比較器３８．３９，
４．０の各一致信号を被害粒用カウンター４２、異種粒
用カウンター４３、異物用カウンター４４に人力してぞ
れぞれの粒数を計算すると共に、各カウンター信号を１
０− デジタル表示器４６．４７．４８にそれぞれ人ツノして
被害粒数、異種粒数、異物数をそれぞれ表示する。また
前記比較器３７．３８．３９゜４０の各分岐出力はＯＲ
回路５３に入力されると共に、そのＯＲ信号を総粒数用
カウンター５４に入力して検出した粒数を計算し、その
ノ〕ウンター信号をデジタル表示器５５に人力して総粒
数を表示する。また前記総粒数用カウンター５４の分岐
出力と前記整粒用カウンター３０の分岐出力とを比率測
定器（図示してない）に入力して整粒歩合（％）を表示
する。
送穀１１Ｍ９に流下した資料籾粒は、該傾斜送穀樋９の
振動作用によって高位側に上送されて排穀口１３から振
動送穀樋３の条溝２に流入すると共に、該送穀樋３の振
動作用によって前記条溝２に縦走状に配列して流動し、
また傾斜流ｔＱ ｆｊＡ ５の条溝４を急流状に流下走
行して透光窓６をそれぞれ通過する。該透光窓６に位置
する籾粒は、下部の光源７から籾粒に投光した透過光線
が光学レンズ１６．を透して籾粒両側部２１．２２の光
量を前記各受光素子１７゜１８がそれぞれ受光してその
検出信号を制御用電気回路に送信する。そして胴割粒用
検出回路２５に流入した各受光素子１７．１８の信号は
、差動増幅器２６によって光量差を検出すると共に、そ
の検出信号は比較器２７で設定器３４に設定した光量差
の基準限界値と比較してその一致信号を記憶回路２８に
入力し、記憶回路２８では粒子検出回路２９からの粒子
通過時間の信号と比較して限界値を超える信号数を検出
して記憶すると共に、所定の信号数以下の検出信号を整
粒用カウンター３０に入力してその粒数が８１算される
と共に、デジタル表示器３１に入力して整粒数を表示し
、また所定の信号数以上の粒子の検出信号を胴割粒用カ
ウンター３２に入力してその粒数が計算されると共に、
デジタル９− 表示器３３に入力して胴割粒数を表示でる１、また前記
受光素子１７または１８の分岐出力は増幅器３５によっ
て増幅しで昇穀異物用検出回路３６に設【ノた比較器３
７．３８，３９．４０にそれぞれ入力され、比較器３７
では、イの入力信号を着色粒の識別用数値を設定した設
定器４９からの信号と比較し、その一致信号を着色流用
カウンター４１に入力してその粒数を計算すると共に、
カウンター信号をデジタル表示器４５に入力して着色粒
数を表示し、比較器３Ｂでは、その人力信号を被害粒の
識別用数値を設定した設定器５０からの信号と比較し、
比較器３９では、ぞの入力信号を異種粒の識別用数値を
設定した設定器５１からの信号と比較し、比較器４０で
は、その人ツノ信号を異物の識別用数値を設定した設定
器５２からの信号と比較し、前記各比較器３８．３９，
４．０の各一致信号を被害粒用カウンター４２、異種粒
用カウンター４３、異物用カウンター４４に人力してぞ
れぞれの粒数を計算すると共に、各カウンター信号を１
０− デジタル表示器４６．４７．４８にそれぞれ人ツノして
被害粒数、異種粒数、異物数をそれぞれ表示する。また
前記比較器３７．３８．３９゜４０の各分岐出力はＯＲ
回路５３に入力されると共に、そのＯＲ信号を総粒数用
カウンター５４に入力して検出した粒数を計算し、その
ノ〕ウンター信号をデジタル表示器５５に人力して総粒
数を表示する。また前記総粒数用カウンター５４の分岐
出力と前記整粒用カウンター３０の分岐出力とを比率測
定器（図示してない）に入力して整粒歩合（％）を表示
する。
このように本発明の穀粒の被害粒測定装置は、穀粒中に
混入する各種粒子等の識別およびその各粒数の測定を電
子光学的に自動化して整粒歩合と、被害粒、着色粒、異
種粒、異物等を短時間にかつ高精度に測定するので、そ
の検査能率を大幅に向１できると共に、その作業の省ノ
ｊ化を充分に達成でき、また検出作業を円滑化すると共
に、穀粒検査の信頼性を確保できる等の効果を奏するも
のである。
混入する各種粒子等の識別およびその各粒数の測定を電
子光学的に自動化して整粒歩合と、被害粒、着色粒、異
種粒、異物等を短時間にかつ高精度に測定するので、そ
の検査能率を大幅に向１できると共に、その作業の省ノ
ｊ化を充分に達成でき、また検出作業を円滑化すると共
に、穀粒検査の信頼性を確保できる等の効果を奏するも
のである。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例図である。第１図は本装置の断面
図、第２図はその要部の平面図、第３図はその制御用電
気回路図、第４図は籾粒の明暗形の説明図である。 １・・・精彩機枠 ２・・・送穀用条溝３・・
・振動送穀樋 ４・・・流穀用条溝５・・・傾斜
流穀ｆｉｌｌ ＥｉΔ・・・板体６・・・検出
用透光窓 ７・・・光源８・・・受光装置
９・・・振動傾斜送穀１ｉｆｆｉ１０・・・供給ホッ
パー １１・・・案内壁１２・・・穀粒流人臼
１３・・・排穀口１／Ｉ、１５・・・オプディ力ルファ
イバ１６・・・光学レンズ １７．１８・・・受光
索子１９・・・デジタル表示器 ２０．２０’ 、２０″・・・米粒 ２１．２２・・・両側部 ２３・・・増幅器２４・・
・増幅器 ２５・・・胴割粒用検出回路２６・
・・差動増幅器 ２７・・・比較器２８・・・記憶
回路 ２９・・・粒子検出回路３０・・・整粒用
カウンター ３１・・・整粒用デジタル表示器 ３２・・・胴割粒用カウンター ３３・・・胴割粒用デジタル表示器 ３４・・・設定器 ３５・・・増幅器３３６・
・・異種異物用検出回路 ３７．３８．３９．４０・・・比較器 ４１・・・着色流用カウンター ４２・・・被害粒用カウンター ４３・・・異種穀粒用カウンター ４／Ｉ・・・異物用カウンター ４５．４６，４ア、４Ｂ・・・デジタル表示器４９・・
・着色流用設定器 ５０・・・被害粒用設定器５１・・
・賃穀粒粒用設定器 ｂ２・・・異物用設定器 ５３・・・ＯＲ回路５４・
・・総粒数用カウンター ５５・・・デジタル表示器 特許出願人 １３− 第１図 （７） 第２図 （１１） ＼ （３６） 異物 ３０７−
図、第２図はその要部の平面図、第３図はその制御用電
気回路図、第４図は籾粒の明暗形の説明図である。 １・・・精彩機枠 ２・・・送穀用条溝３・・
・振動送穀樋 ４・・・流穀用条溝５・・・傾斜
流穀ｆｉｌｌ ＥｉΔ・・・板体６・・・検出
用透光窓 ７・・・光源８・・・受光装置
９・・・振動傾斜送穀１ｉｆｆｉ１０・・・供給ホッ
パー １１・・・案内壁１２・・・穀粒流人臼
１３・・・排穀口１／Ｉ、１５・・・オプディ力ルファ
イバ１６・・・光学レンズ １７．１８・・・受光
索子１９・・・デジタル表示器 ２０．２０’ 、２０″・・・米粒 ２１．２２・・・両側部 ２３・・・増幅器２４・・
・増幅器 ２５・・・胴割粒用検出回路２６・
・・差動増幅器 ２７・・・比較器２８・・・記憶
回路 ２９・・・粒子検出回路３０・・・整粒用
カウンター ３１・・・整粒用デジタル表示器 ３２・・・胴割粒用カウンター ３３・・・胴割粒用デジタル表示器 ３４・・・設定器 ３５・・・増幅器３３６・
・・異種異物用検出回路 ３７．３８．３９．４０・・・比較器 ４１・・・着色流用カウンター ４２・・・被害粒用カウンター ４３・・・異種穀粒用カウンター ４／Ｉ・・・異物用カウンター ４５．４６，４ア、４Ｂ・・・デジタル表示器４９・・
・着色流用設定器 ５０・・・被害粒用設定器５１・・
・賃穀粒粒用設定器 ｂ２・・・異物用設定器 ５３・・・ＯＲ回路５４・
・・総粒数用カウンター ５５・・・デジタル表示器 特許出願人 １３− 第１図 （７） 第２図 （１１） ＼ （３６） 異物 ３０７−
Claims (5)
- （１） 通過する米粒に対して投光するスポットライ
トを米粒の前半と後半の両側部が通過するときの直交ま
たは偏光の透光量を別々に受光し、両光量の差が任意の
設定基準限界値に対して増減する値を検出する第１検出
回路と、両光量の和が任意の設定領域の光量に対して増
減する値を検出する第２検出回路とに連結する複数個の
受光素子を設けたことを特徴とする穀粒の被害粒検出装
置。 - （２） 前記スポットライトを透光する透光窓を開設
した板体を前記米粒の投光部に設けた特許請求の範囲第
（１）項記載の穀粒の被害粒測定装置。 - （３） 前記第１検出回路が、胴割粒と整粒を識別す
るための基準限界値を設定したものである特許請求の範
囲第（１）項または第（２）項記載の穀粒の被害粒測定
装置。 - （４） 前記第２検出回路が、着色粒、被害粒、異種
粒、貸物をそれぞ′れ識別Ｍ−るための各領域の光量値
を設定したちのひある特許請求の範囲第（１）項または
第（２）項記載の穀粒の被害粒測定装置。 - （５） 前記各検出［」１路が、総オ）″ノ数検出回
路を介してデジタル表示器に連結しくある特許請求の範
囲第（１）項または第（２）項記載の穀粒の被害粒測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11877082A JPS599557A (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | 穀粒の被害粒測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11877082A JPS599557A (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | 穀粒の被害粒測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS599557A true JPS599557A (ja) | 1984-01-18 |
| JPH0141215B2 JPH0141215B2 (ja) | 1989-09-04 |
Family
ID=14744633
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11877082A Granted JPS599557A (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | 穀粒の被害粒測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS599557A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5539001A (en) * | 1978-09-13 | 1980-03-18 | Hayashi Yakuhin Kikai Kk | Defective capsule detector |
| JPS57151804A (en) * | 1981-03-13 | 1982-09-20 | Satake Eng Co Ltd | Detecting device for cracked grain of rice |
-
1982
- 1982-07-07 JP JP11877082A patent/JPS599557A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5539001A (en) * | 1978-09-13 | 1980-03-18 | Hayashi Yakuhin Kikai Kk | Defective capsule detector |
| JPS57151804A (en) * | 1981-03-13 | 1982-09-20 | Satake Eng Co Ltd | Detecting device for cracked grain of rice |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0141215B2 (ja) | 1989-09-04 |
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