JPS59145951A - 穀粒の被害粒測定装置 - Google Patents
穀粒の被害粒測定装置Info
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- JPS59145951A JPS59145951A JP2025783A JP2025783A JPS59145951A JP S59145951 A JPS59145951 A JP S59145951A JP 2025783 A JP2025783 A JP 2025783A JP 2025783 A JP2025783 A JP 2025783A JP S59145951 A JPS59145951 A JP S59145951A
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- Japan
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- grain
- light
- grains
- rice
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/342—Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour
- B07C5/3425—Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour of granular material, e.g. ore particles, grain
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、米粒中に混入するＩＩｌ］割粒・被害粒の各
粒数および整粒比率等を測定Ｊる測定装置の改良に関す
る。
粒数および整粒比率等を測定Ｊる測定装置の改良に関す
る。
農産物検査法に基づく検査項目には、穀粒の含水率、色
ツヤ等をみる形質、１立当りの重量を調べる容積重の３
種類と、コメの整った割合をみる整粒比率（％）および
整粒中に混入づ゛る被害粒（病害粒・虫害粒・胴割粒等
）・元来・着色粒・異種穀粒・異物の最高限度（％）を
それぞれ規定し、これによつ−（品位の等級を決定して
いるが、前記含水率を科学的に測定覆る以外は目視に頼
つＣ測定するのが現状Ｃある。
ツヤ等をみる形質、１立当りの重量を調べる容積重の３
種類と、コメの整った割合をみる整粒比率（％）および
整粒中に混入づ゛る被害粒（病害粒・虫害粒・胴割粒等
）・元来・着色粒・異種穀粒・異物の最高限度（％）を
それぞれ規定し、これによつ−（品位の等級を決定して
いるが、前記含水率を科学的に測定覆る以外は目視に頼
つＣ測定するのが現状Ｃある。
本発明は上記の諸点に鑑み、縦走状に米粒を流下Ｊる流
穀用条溝を設けた傾斜流穀樋を装設し、前記流穀用条溝
の底部に胴割粒検出用透光部を設けると共に、該透光部
の上下部に光源と複数個の受光素子から成る第１光電検
出装置を設け、また前記流穀用条溝を流下する流下軌跡
の周囲に緑色光の光源と受光素子および基準色板から成
る第２光電検出装同を設り、また前記各受光素子の受光
信号を表示器に入ツノすることにより、前記透光部を流
動通過する米粒の両側部の透過光線をそれぞれ受光して
胴ｆｆ１Ｊ粒を検出力ると共に、前記流下軌跡の米粒に
緑色光を照射しＣその反射または透過光線と基準色板か
らの反射光線をそれぞれ受光して被害粒を検出し、また
前記各受光信号によって各種粒の粒数またはイの比率を
表示するようにし、以で前記各種粒子の識別を電子光学
的に自動化（ると共に、各異種粒の粒数またはその比率
を短時間に、かつ高精度に測定りる高能率な装置を開発
して提供ぜんとづるものである。
穀用条溝を設けた傾斜流穀樋を装設し、前記流穀用条溝
の底部に胴割粒検出用透光部を設けると共に、該透光部
の上下部に光源と複数個の受光素子から成る第１光電検
出装置を設け、また前記流穀用条溝を流下する流下軌跡
の周囲に緑色光の光源と受光素子および基準色板から成
る第２光電検出装同を設り、また前記各受光素子の受光
信号を表示器に入ツノすることにより、前記透光部を流
動通過する米粒の両側部の透過光線をそれぞれ受光して
胴ｆｆ１Ｊ粒を検出力ると共に、前記流下軌跡の米粒に
緑色光を照射しＣその反射または透過光線と基準色板か
らの反射光線をそれぞれ受光して被害粒を検出し、また
前記各受光信号によって各種粒の粒数またはイの比率を
表示するようにし、以で前記各種粒子の識別を電子光学
的に自動化（ると共に、各異種粒の粒数またはその比率
を短時間に、かつ高精度に測定りる高能率な装置を開発
して提供ぜんとづるものである。
本発明を実施例図について説明り−る。第１図およびｍ
２図についＣ１図中符号１は箱形機枠Ｃ，該機枠１内部
に縦走状に米粒を流動ツる送穀用条溝２を設けた撮動送
穀樋３を横架状に設置し、その排出側に縦走状に米粒を
流下する流穀用条溝４を設けた傾斜流穀樋５を連設し、
該流穀６＃ｉ５の流穀用条溝４に胴ｋＩ）粒検出用透光
部６を設けると共に、該透光部６の上下位置に光源７と
複数個の受光素子とから成る受光装置８をほぼ対向状に
配置した第１光電検出装置八を設けて前記透光部６を流
動通過する米粒の両側部の透過光線を受光しＣ胴割粒を
検出するように形成しである。前記撮動送穀８１！ｌ
３は、下部に振動装置９を設けて送穀ｔｉ！！１３の前
記条溝２に供給された米粒を振動作用によつ′Ｃぞの排
出側に搬送しＣ傾斜流穀樋５の条溝４に流出するように
し、また前記傾斜流穀樋５はぞの一側を支脚１０によっ
−Ｃ回動自在に支持りると共に、その他側端部を機枠１
に設（プた排出樋１１に臨設し、また流穀樋５の下側部
には曲折状の支持杆１２を固着すると共に、支持杆１２
の一端部を螺軸と襠部によって回動して上下動覆る傾斜
角調節装置１３に連結し、また支持杆１２の中央部の前
記透光部６の下部位置に集光レンズ１４と光源７を装着
しで同定し、前記受光装置８は２条のオプティカル・フ
ァイバ１５．１６の一側端を前記透光部６に臨設する共
に、その他側端に−ＲＪの受光索子１７．−１８を設け
る。また、各受光素子１７．１８は導線によって機枠１
上部のデジタル用表示器１９に連結し−（ある。そしＣ
前記撮動送穀（；勇３に対する給穀搬送行程は、該振動
送穀樋３に並列して振動傾斜送穀板２゜を横架状に配設
し、該傾斜送穀板２ｏの低位側受入部２１に供給ホッパ
ー２２を設けると共に、該板面に米粒を誘導する案内壁
２３を立設し、前記傾斜送穀板２０の高位側の一側に設
けた排穀１１＋ ２４と、前記振動送穀板３の送穀用条
溝４の供給側端部２５に設けた穀粒の供給口２６を連結
して一体的に形成しである。２７は振動傾斜送穀板２０
の周壁である。
２図についＣ１図中符号１は箱形機枠Ｃ，該機枠１内部
に縦走状に米粒を流動ツる送穀用条溝２を設けた撮動送
穀樋３を横架状に設置し、その排出側に縦走状に米粒を
流下する流穀用条溝４を設けた傾斜流穀樋５を連設し、
該流穀６＃ｉ５の流穀用条溝４に胴ｋＩ）粒検出用透光
部６を設けると共に、該透光部６の上下位置に光源７と
複数個の受光素子とから成る受光装置８をほぼ対向状に
配置した第１光電検出装置八を設けて前記透光部６を流
動通過する米粒の両側部の透過光線を受光しＣ胴割粒を
検出するように形成しである。前記撮動送穀８１！ｌ
３は、下部に振動装置９を設けて送穀ｔｉ！！１３の前
記条溝２に供給された米粒を振動作用によつ′Ｃぞの排
出側に搬送しＣ傾斜流穀樋５の条溝４に流出するように
し、また前記傾斜流穀樋５はぞの一側を支脚１０によっ
−Ｃ回動自在に支持りると共に、その他側端部を機枠１
に設（プた排出樋１１に臨設し、また流穀樋５の下側部
には曲折状の支持杆１２を固着すると共に、支持杆１２
の一端部を螺軸と襠部によって回動して上下動覆る傾斜
角調節装置１３に連結し、また支持杆１２の中央部の前
記透光部６の下部位置に集光レンズ１４と光源７を装着
しで同定し、前記受光装置８は２条のオプティカル・フ
ァイバ１５．１６の一側端を前記透光部６に臨設する共
に、その他側端に−ＲＪの受光索子１７．−１８を設け
る。また、各受光素子１７．１８は導線によって機枠１
上部のデジタル用表示器１９に連結し−（ある。そしＣ
前記撮動送穀（；勇３に対する給穀搬送行程は、該振動
送穀樋３に並列して振動傾斜送穀板２゜を横架状に配設
し、該傾斜送穀板２ｏの低位側受入部２１に供給ホッパ
ー２２を設けると共に、該板面に米粒を誘導する案内壁
２３を立設し、前記傾斜送穀板２０の高位側の一側に設
けた排穀１１＋ ２４と、前記振動送穀板３の送穀用条
溝４の供給側端部２５に設けた穀粒の供給口２６を連結
して一体的に形成しである。２７は振動傾斜送穀板２０
の周壁である。
次に、前記傾斜流穀樋５の流穀用条溝４を流トする米粒
の流ト軌跡Ｐの周囲に、緑色光の光沢；２８と受光素子
２９および基準色板３０がら成る第２光°市検出装向Ｂ
を設けて前記流下軌跡ＩＪの米粒に緑色光を照射してそ
の反射または透過光線と基準色板３０からの反射光線を
受光しく被害粒を検出するようにし、その受光素子２９
は導線によっく機枠１上部の前記表示器１９に連結し、
３１は米粒敷用検出センサーｒ、該センサーは導線によ
り前記表示器１９に連結しＣある。
の流ト軌跡Ｐの周囲に、緑色光の光沢；２８と受光素子
２９および基準色板３０がら成る第２光°市検出装向Ｂ
を設けて前記流下軌跡ＩＪの米粒に緑色光を照射してそ
の反射または透過光線と基準色板３０からの反射光線を
受光しく被害粒を検出するようにし、その受光素子２９
は導線によっく機枠１上部の前記表示器１９に連結し、
３１は米粒敷用検出センサーｒ、該センサーは導線によ
り前記表示器１９に連結しＣある。
−Ｆ述の構成であるから、試料米粒（籾米など）を供給
ホッパー２２に投入しく該装置を起動すると、供給ホッ
パー２２から振動傾斜送穀板２０の低位側受入部２１に
流下した米粒は、該送穀板２０の振動作用によっ−Ｕ−
１万に搬送され（粒密１褒を一定に覆ると共に、案内壁
２３によっ（米粒を誘導しながら盤面高位側の一側に設
（］た排穀口２４を介して穀粒の供給口２６がら撮動送
穀樋３に設け、Ｉこ送穀用条溝２の供給側端部２５に搬
入され、該振動送穀樋３の撮動作用によって米粒をその
送穀用条溝２に縦走状に配列ツると共に、米粒を加速し
て傾斜流穀樋５の流穀用条溝４に流出し、該条溝４の適
度の傾斜により米粒は安定的に流下走行して透光部６を
イれぞれ通過し、該透光部６に位置覆る米粒は、下部の
光源７から照射された米粒両側部の透過光線を第１光主
検出装置△の受光素子’１７．１８がそれぞれ受光しＣ
その明暗度を比較して胴割粒を検出４ると共に、次の検
出しンリ−−３１にコー＞−’Ｃ通過した米粒数を検出
づる。そこで゛、第す図の籾粒の明１１Ｂ影について説
明する。本図は前記透光部６に籾粒が達した場合に、そ
の下ｈｈ＋ ｒう照射した籾影像を示し、イの各図ａ、
ｂ。
ホッパー２２に投入しく該装置を起動すると、供給ホッ
パー２２から振動傾斜送穀板２０の低位側受入部２１に
流下した米粒は、該送穀板２０の振動作用によっ−Ｕ−
１万に搬送され（粒密１褒を一定に覆ると共に、案内壁
２３によっ（米粒を誘導しながら盤面高位側の一側に設
（］た排穀口２４を介して穀粒の供給口２６がら撮動送
穀樋３に設け、Ｉこ送穀用条溝２の供給側端部２５に搬
入され、該振動送穀樋３の撮動作用によって米粒をその
送穀用条溝２に縦走状に配列ツると共に、米粒を加速し
て傾斜流穀樋５の流穀用条溝４に流出し、該条溝４の適
度の傾斜により米粒は安定的に流下走行して透光部６を
イれぞれ通過し、該透光部６に位置覆る米粒は、下部の
光源７から照射された米粒両側部の透過光線を第１光主
検出装置△の受光素子’１７．１８がそれぞれ受光しＣ
その明暗度を比較して胴割粒を検出４ると共に、次の検
出しンリ−−３１にコー＞−’Ｃ通過した米粒数を検出
づる。そこで゛、第す図の籾粒の明１１Ｂ影について説
明する。本図は前記透光部６に籾粒が達した場合に、そ
の下ｈｈ＋ ｒう照射した籾影像を示し、イの各図ａ、
ｂ。
Ｃにおい（、中火の組状点線〈太線）は光源７からの照
射位置Ｑ、楕円形の閉曲線（点線）は籾粒内の米粒３１
、また米粒３１中に記した組状点線（細線）はｌｊ’１
割面１（をそれぞれ表わす。
射位置Ｑ、楕円形の閉曲線（点線）は籾粒内の米粒３１
、また米粒３１中に記した組状点線（細線）はｌｊ’１
割面１（をそれぞれ表わす。
また図ａにおい−４、Ｃ１（〕は前記受光素子１７゜１
８のノフイバが対向覆るそれぞれの視点位置ひ、この視
点位置において、前記光源７から籾粒に投光した透過光
線の籾粒像を光学レンズを透しし結ぶ籾像の米粒両側部
３２△、３２Ｂの光量をそれぞれ受光した場合、各受光
素子１７゜１８の受光！（明暗度）は共に等しく、その
光量差が挙準光最限界値（電圧）内になるので、この米
粒は胴割面のない整粒子として識別される。図すの米粒
３１′はその胴割面）（が照射位置Ｑの左側に位置し、
ために照射位置Ｑから射入した粒子内の透過光線は前記
１制割而Ｒひ散乱し粒子左側部の光量が低下してその光
量差が基準光量限界値外となるのぐ、この粒子は胴割粒
として識別される。図Ｃの米粒３１′は上記米粒３１′
と反対の明暗形を生じてその光量差が基準光量限界値外
となるのＣ′、この粒子も胴割粒としく識別される。そ
しＵ、Ｉｊｉ割面の有無を検出した各受光素子１７．１
８の検出信号と、前記検出センサー３１による米粒数の
検出信号とは、前記表示器１９にそれぞれ入力されて胴
割粒の粒数・米粒の総粒数およびその化率等をそれぞれ
表示する。また前記流穀用条溝４の透光部６を通過した
米粒は、傾斜流穀樋３の側端から流下軌跡Ｐ上を線状に
流下づ−る間に、第２光市検出装＠Ｂの光源２８から緑
色光が照射されると共に、その反射または透過光線と基
準色板３０からの反射光線を受光素子２９が受光し−Ｃ
被害粒を検出する。該被害粒く褐色）の検出は前記緑色
光（Ｘ）の照射によって濃い暗黒色〈２色が補色関係に
ある）の反射光を発して受光素子２９に直接に受光され
るのひ、前記緑色光（Ｘ）の特定波長の投射光により異
色粒子の濃淡および照麿の相異を鮮明に識別りることが
Ｃ′きる。そして着色粒の有無を検出した受光素子２９
の検出信号は、前記表示器１９に入力されて被害粒の粒
数およびその比率と整粒比率をそれぞれ表示器る。
８のノフイバが対向覆るそれぞれの視点位置ひ、この視
点位置において、前記光源７から籾粒に投光した透過光
線の籾粒像を光学レンズを透しし結ぶ籾像の米粒両側部
３２△、３２Ｂの光量をそれぞれ受光した場合、各受光
素子１７゜１８の受光！（明暗度）は共に等しく、その
光量差が挙準光最限界値（電圧）内になるので、この米
粒は胴割面のない整粒子として識別される。図すの米粒
３１′はその胴割面）（が照射位置Ｑの左側に位置し、
ために照射位置Ｑから射入した粒子内の透過光線は前記
１制割而Ｒひ散乱し粒子左側部の光量が低下してその光
量差が基準光量限界値外となるのぐ、この粒子は胴割粒
として識別される。図Ｃの米粒３１′は上記米粒３１′
と反対の明暗形を生じてその光量差が基準光量限界値外
となるのＣ′、この粒子も胴割粒としく識別される。そ
しＵ、Ｉｊｉ割面の有無を検出した各受光素子１７．１
８の検出信号と、前記検出センサー３１による米粒数の
検出信号とは、前記表示器１９にそれぞれ入力されて胴
割粒の粒数・米粒の総粒数およびその化率等をそれぞれ
表示する。また前記流穀用条溝４の透光部６を通過した
米粒は、傾斜流穀樋３の側端から流下軌跡Ｐ上を線状に
流下づ−る間に、第２光市検出装＠Ｂの光源２８から緑
色光が照射されると共に、その反射または透過光線と基
準色板３０からの反射光線を受光素子２９が受光し−Ｃ
被害粒を検出する。該被害粒く褐色）の検出は前記緑色
光（Ｘ）の照射によって濃い暗黒色〈２色が補色関係に
ある）の反射光を発して受光素子２９に直接に受光され
るのひ、前記緑色光（Ｘ）の特定波長の投射光により異
色粒子の濃淡および照麿の相異を鮮明に識別りることが
Ｃ′きる。そして着色粒の有無を検出した受光素子２９
の検出信号は、前記表示器１９に入力されて被害粒の粒
数およびその比率と整粒比率をそれぞれ表示器る。
特許請求の範囲第（２）項のものは、前記第２光電検出
装防の光源が、複数個の緑色発行ダインードＣ・あるの
で、流下軌跡上の米粒の全周に緑色光をほぼ均量的に照
射し−Ｃ高精度の被害粒検出を確実に実施でき、また光
電検出装置の構造を小形化Ｃ″さる等の効果がある。
装防の光源が、複数個の緑色発行ダインードＣ・あるの
で、流下軌跡上の米粒の全周に緑色光をほぼ均量的に照
射し−Ｃ高精度の被害粒検出を確実に実施でき、また光
電検出装置の構造を小形化Ｃ″さる等の効果がある。
このように本発明の穀粒の被害粒測定装置は、傾斜流穀
樋の流穀用条溝に設けた透光部を通過する米粒両側部の
透過光線をぞれぞれ受光しＣ胴割粒を検出し、また前記
条溝から流下する流Ｆ軌跡上の米粒に照射した緑色光の
反射または透過光線と基準色板からの反射光線を受光し
て被害粒を検出してその各異種粒数またはその比率を表
示するので、前記各異種粒の識別を電子光学的に自動化
して検出測定能率を向上できると共に、各異種粒の粒数
またはその比率ｄ３よび整粒比率を短時間に、かつ正確
に表示して被害粒等の鑑定作業を大幅に促進できる等の
効果を秦するものである。
樋の流穀用条溝に設けた透光部を通過する米粒両側部の
透過光線をぞれぞれ受光しＣ胴割粒を検出し、また前記
条溝から流下する流Ｆ軌跡上の米粒に照射した緑色光の
反射または透過光線と基準色板からの反射光線を受光し
て被害粒を検出してその各異種粒数またはその比率を表
示するので、前記各異種粒の識別を電子光学的に自動化
して検出測定能率を向上できると共に、各異種粒の粒数
またはその比率ｄ３よび整粒比率を短時間に、かつ正確
に表示して被害粒等の鑑定作業を大幅に促進できる等の
効果を秦するものである。
図面は本発明の実施例図である。、第１図は本装薗の側
断面図、第２図はその平面図、第３図は光の波長特性を
示ずグラノ、第４図は第２光電検出装置の断面図、第５
図は籾粒像の説明図である。 １・・・箱形機枠 ２・・・送穀用条溝３・・
・振動送穀樋 ４・・・流穀用条溝５・・・傾斜
流Ｍ樋 ６・・・透光部７・・・光１１ｉ
８・・・受光装置９・・・撮動装＠
１０・・・支脚１・・・排出樋 １２・・・支
持杆］３３・・・傾斜角調節装置 ′１４・・・集光レ
ンス′１５・・・オゾディノＪル・ファイバ １６・・・Δプｊイカリ・ファイバ １７・・・受光素子 １８・・・受光素子′）９
・・・デジタル用表示器 ２０・・・振！１！ＩＩ傾斜送穀板 ２１・・・低位側
受入部２２・・・供給ホッパー ２３・・・案内壁２
４・・・排穀Ｌ１ ２５・・・供給側端部２６・
・・供給１」 ２７・・・周壁２８・・・光源
２９・・・受光素子３０・・・基準色板
３１．３１’ 、３１″・・・米粒３２／＼、３２Ｂ
・・・米粒両側部 こ３３・・・緑色発行ダイオード Ａ・・・第１光電検出装置 Ｂ・・・第２光電検出装置
１）・・・流下軌跡 Ｘ・・・緑色光特許出願
人 第１図 第２図 第；３図 Ｉｌｋ長（ｎｍ） 第４図 第５図 手」売ン山ＩＥ円 （自弁） １．事件の表示 昭和５ε３年特訂願第０２０２５７号 ２、発明の名称 穀粒の被害粒測定装置３、補正をづ
る者 事件どの関係 特許出願人 住所 東京都台東区上野１丁目１９番１０号５、補正の
対象 明細内の１特許請求の範囲」 ［発明の詳細な説明」の
欄および１図面の簡単な説明」の欄、ならびに図面の１
第１図−１ ６、補正の内容 （１）、明細内の特許請求の範囲の欄を別紙のとｄ３り
補正する。 （２）、同上第６頁第２行［３１」を１３４」と補正す
る。 （３） 、同上第７頁第３行１−３１ Ｊを１３４」と
補正づる。 〈４）、同上第８頁第１１行［３１］を１３４」と補正
する。 （５）、同上第９頁第１１〜１２行［緑色発行ダイオー
ド］を１緑色発光ダイオードー１と補正づる。 ■）、同上第１１頁第１３行［緑色発行ダイオード−１
を１緑色発光ダイオード］と補正する。 り７〉、同上第１１頁第１３行に「３４・・・米粒数用
検出廿ンザー」を加入する。 （８）９図面の第１図に別紙のとおり符号６，３４を加
入する。 ２、特ｔ′１請求の範囲 （１）、縦走状に米粒を流下づる流穀用条溝を設【ノた
傾斜流穀樋を装設し、前記流穀用条溝の底部に胴割粒検
出用透光部を設（）ると共に、該透光部の上下位置に光
源と複数個の受光素子から成る第１光電検出装置を設け
て米粒の両側部９−透過光線を前記各受光素子にＪ：つ
てそれぞれ受光しｌ胴割粒を検出し、また前記流穀用条
溝を流下づる米粒の流下軌跡の周囲に緑色光の光源と受
光素子おＪ、び基準色板から成る第２光電検出装置を設
りて緑色光を照射した米粒の反射または透過光線と基準
色板からの反射光線を受光しＣ被害粒を検出し、また前
記各受光素子の受光信月を表示器に入力しＣ前記各異種
粒の粒数またはその比率を表示する穀粒の被害粒測定装
置。 （２）、前記第２光電検出装置の光源が、複数個の緑色
発光ダイオードである特許請求の範囲第＜１）項記載の
穀粒の被害粒測定装置。 第１図 （ （ （ （ （ （ （１２） （１０）
断面図、第２図はその平面図、第３図は光の波長特性を
示ずグラノ、第４図は第２光電検出装置の断面図、第５
図は籾粒像の説明図である。 １・・・箱形機枠 ２・・・送穀用条溝３・・
・振動送穀樋 ４・・・流穀用条溝５・・・傾斜
流Ｍ樋 ６・・・透光部７・・・光１１ｉ
８・・・受光装置９・・・撮動装＠
１０・・・支脚１・・・排出樋 １２・・・支
持杆］３３・・・傾斜角調節装置 ′１４・・・集光レ
ンス′１５・・・オゾディノＪル・ファイバ １６・・・Δプｊイカリ・ファイバ １７・・・受光素子 １８・・・受光素子′）９
・・・デジタル用表示器 ２０・・・振！１！ＩＩ傾斜送穀板 ２１・・・低位側
受入部２２・・・供給ホッパー ２３・・・案内壁２
４・・・排穀Ｌ１ ２５・・・供給側端部２６・
・・供給１」 ２７・・・周壁２８・・・光源
２９・・・受光素子３０・・・基準色板
３１．３１’ 、３１″・・・米粒３２／＼、３２Ｂ
・・・米粒両側部 こ３３・・・緑色発行ダイオード Ａ・・・第１光電検出装置 Ｂ・・・第２光電検出装置
１）・・・流下軌跡 Ｘ・・・緑色光特許出願
人 第１図 第２図 第；３図 Ｉｌｋ長（ｎｍ） 第４図 第５図 手」売ン山ＩＥ円 （自弁） １．事件の表示 昭和５ε３年特訂願第０２０２５７号 ２、発明の名称 穀粒の被害粒測定装置３、補正をづ
る者 事件どの関係 特許出願人 住所 東京都台東区上野１丁目１９番１０号５、補正の
対象 明細内の１特許請求の範囲」 ［発明の詳細な説明」の
欄および１図面の簡単な説明」の欄、ならびに図面の１
第１図−１ ６、補正の内容 （１）、明細内の特許請求の範囲の欄を別紙のとｄ３り
補正する。 （２）、同上第６頁第２行［３１」を１３４」と補正す
る。 （３） 、同上第７頁第３行１−３１ Ｊを１３４」と
補正づる。 〈４）、同上第８頁第１１行［３１］を１３４」と補正
する。 （５）、同上第９頁第１１〜１２行［緑色発行ダイオー
ド］を１緑色発光ダイオードー１と補正づる。 ■）、同上第１１頁第１３行［緑色発行ダイオード−１
を１緑色発光ダイオード］と補正する。 り７〉、同上第１１頁第１３行に「３４・・・米粒数用
検出廿ンザー」を加入する。 （８）９図面の第１図に別紙のとおり符号６，３４を加
入する。 ２、特ｔ′１請求の範囲 （１）、縦走状に米粒を流下づる流穀用条溝を設【ノた
傾斜流穀樋を装設し、前記流穀用条溝の底部に胴割粒検
出用透光部を設（）ると共に、該透光部の上下位置に光
源と複数個の受光素子から成る第１光電検出装置を設け
て米粒の両側部９−透過光線を前記各受光素子にＪ：つ
てそれぞれ受光しｌ胴割粒を検出し、また前記流穀用条
溝を流下づる米粒の流下軌跡の周囲に緑色光の光源と受
光素子おＪ、び基準色板から成る第２光電検出装置を設
りて緑色光を照射した米粒の反射または透過光線と基準
色板からの反射光線を受光しＣ被害粒を検出し、また前
記各受光素子の受光信月を表示器に入力しＣ前記各異種
粒の粒数またはその比率を表示する穀粒の被害粒測定装
置。 （２）、前記第２光電検出装置の光源が、複数個の緑色
発光ダイオードである特許請求の範囲第＜１）項記載の
穀粒の被害粒測定装置。 第１図 （ （ （ （ （ （ （１２） （１０）
Claims (2)
- （１）、縦走状に米粒を流下づる流穀用条溝を設けた傾
斜流穀樋を装設し、前記流穀用条溝の底部に胴割粒検出
用透光部を設けると共に、該透光部の−Ｆ下位置に光源
と複数個の受光素子から成る第１光電検出装置を設けて
米粒の両側部に透過光線を前記各受光素子によつ（それ
ぞれ受光して胴割粒を検出し、また前記流穀用条溝を流
下りる米粒の流下軌跡の周囲に緑色光の光源と受光素子
Ｊ５よび基準色板から成る第２光電検出装圃を設置）（
緑色光を照射した米粒の反射まｌ〔は透過光線と基準色
板からの反射光線を受光して被害粒を検出し、また前記
各受光素子の受光信号を表示器に入力し−Ｃ前記各異種
粒の粒数またはその比率を表示づる穀粒の被害粒測定装
置。 - （２）、前記第２光電検出装置の光源が、複数個の緑色
発光ダイＡ−ドＣ′ある特許請求の範囲第（１）項記載
の穀粒の被害粒測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2025783A JPS59145951A (ja) | 1983-02-08 | 1983-02-08 | 穀粒の被害粒測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2025783A JPS59145951A (ja) | 1983-02-08 | 1983-02-08 | 穀粒の被害粒測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59145951A true JPS59145951A (ja) | 1984-08-21 |
Family
ID=12022138
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2025783A Pending JPS59145951A (ja) | 1983-02-08 | 1983-02-08 | 穀粒の被害粒測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59145951A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN107993244A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-05-04 | 合肥市雅视智能科技有限公司 | 一种玉米自动检测方法 |
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-
1983
- 1983-02-08 JP JP2025783A patent/JPS59145951A/ja active Pending
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