JPS5992420A - 磁気ヘツドコアのトラツク位置寸法測定方法及び装置 - Google Patents
磁気ヘツドコアのトラツク位置寸法測定方法及び装置Info
- Publication number
- JPS5992420A JPS5992420A JP20128082A JP20128082A JPS5992420A JP S5992420 A JPS5992420 A JP S5992420A JP 20128082 A JP20128082 A JP 20128082A JP 20128082 A JP20128082 A JP 20128082A JP S5992420 A JPS5992420 A JP S5992420A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic head
- core
- scale
- head
- microscope
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は磁気ヘッドコアのトランク位置寸法迎］足力法
及び装置に関する。
及び装置に関する。
従米技術
ＶＴＲの映像化気ヘッドは、磁気へッドコアンホルタ上
に貼付固定してなる構造であり、ホルダ乞固定されてシ
リンダに取付けられる。このため、ホルダの一面からト
ラック位置までの寸法は、磁気テーク“上の記録パター
ンに直接影響ケ及ぼす寸法であり、精度良く定める必要
があり、これに関連してこの寸法の測定も１ミクロン以
下の高精度で行なう必要がある。
に貼付固定してなる構造であり、ホルダ乞固定されてシ
リンダに取付けられる。このため、ホルダの一面からト
ラック位置までの寸法は、磁気テーク“上の記録パター
ンに直接影響ケ及ぼす寸法であり、精度良く定める必要
があり、これに関連してこの寸法の測定も１ミクロン以
下の高精度で行なう必要がある。
従来は、映像磁気ヘッドンそのホルダケＸ−Ｙステージ
上に１司定された基準ブロックの端面にネジ止めして固
定し、ステージの土力に配しである顕微鏡乞調整して基
準ブロックの端面の縁に焦点ケ合わせ、その後ステージ
を移動させ、顕微鏡の鋭筒乞上昇させて磁気ヘッドコア
のトランクｉｆｉに焦点乞合わせ、ステージの移動部よ
りｉ・ランク位置の寸法を測定していた。しかし、この
側足方法では、一旦設定した顕微鏡とこれと一体の１Ｔ
Ｖカメラと乞途中で動かして再設冗する必要があり、顕
微鏡ケ動かすことにより測定誤差を招き、測定乞１ミク
ロン以下の高精度でしかも信申自性良く行なうことに不
可能であった。また基準ブロックの端面が減耗すると、
基準位置を正確に判定することが困時となり、この点で
も正確な測定（ｑ不可能であつ女。また、上記の測定力
法では、測定途中で顕微鏡ケ再設定する関係よ、時間的
にも長くかかるものであり、作業能率が慈かった。
上に１司定された基準ブロックの端面にネジ止めして固
定し、ステージの土力に配しである顕微鏡乞調整して基
準ブロックの端面の縁に焦点ケ合わせ、その後ステージ
を移動させ、顕微鏡の鋭筒乞上昇させて磁気ヘッドコア
のトランクｉｆｉに焦点乞合わせ、ステージの移動部よ
りｉ・ランク位置の寸法を測定していた。しかし、この
側足方法では、一旦設定した顕微鏡とこれと一体の１Ｔ
Ｖカメラと乞途中で動かして再設冗する必要があり、顕
微鏡ケ動かすことにより測定誤差を招き、測定乞１ミク
ロン以下の高精度でしかも信申自性良く行なうことに不
可能であった。また基準ブロックの端面が減耗すると、
基準位置を正確に判定することが困時となり、この点で
も正確な測定（ｑ不可能であつ女。また、上記の測定力
法では、測定途中で顕微鏡ケ再設定する関係よ、時間的
にも長くかかるものであり、作業能率が慈かった。
問題点ン解決するための手段
本発明は上記問題点ケ解決した磁気ヘットコアのトラン
ク位置寸法測定方法及び装ｆｆｆｊ馨提供するものであ
り、問題点を解決するための手段に、磁気ヘッドコアが
基板十に同定さ才した構造の磁気ヘッドの該基板の一面
である基準面に対する該磁気ヘッドコアのトランク位置
の寸法ヶ顕微鱒を使用して測定する方法において、該磁
気ヘッドをその基板の基準面ケ保持体の保持面に当接さ
せて保持し、該保持面に対する寸法娑既知の寸法とされ
て配しである目盛板乞調整してその基準目盛紺が該磁気
へラドコアのトランク面に焦点ケ合わせて設定しである
該顕微鏡の焦点位負に一致するように嘩整し、−該基準
目盛＃ＩＩケ基準としてトランク位（財）の寸法製測定
するものである。
ク位置寸法測定方法及び装ｆｆｆｊ馨提供するものであ
り、問題点を解決するための手段に、磁気ヘッドコアが
基板十に同定さ才した構造の磁気ヘッドの該基板の一面
である基準面に対する該磁気ヘッドコアのトランク位置
の寸法ヶ顕微鱒を使用して測定する方法において、該磁
気ヘッドをその基板の基準面ケ保持体の保持面に当接さ
せて保持し、該保持面に対する寸法娑既知の寸法とされ
て配しである目盛板乞調整してその基準目盛紺が該磁気
へラドコアのトランク面に焦点ケ合わせて設定しである
該顕微鏡の焦点位負に一致するように嘩整し、−該基準
目盛＃ＩＩケ基準としてトランク位（財）の寸法製測定
するものである。
実施例
次に本発明の一実施例について説明する。
第１図及び第２図に示すように、磁気ヘッドのトランク
位１＾乞ｊｌｌｌ＋定する測定装置１は、顕微鏡との関
係で固定しである基台２土に移動ステージ３乞設け、こ
の上面に基準ブロック４及び加圧神格。
位１＾乞ｊｌｌｌ＋定する測定装置１は、顕微鏡との関
係で固定しである基台２土に移動ステージ３乞設け、こ
の上面に基準ブロック４及び加圧神格。
構５乞■接して配し、更には基準ブロック４の上方に顕
微鏡の鏡筒６欠配して大略構成しである。
微鏡の鏡筒６欠配して大略構成しである。
基準ブロック４に、第３図に併せて示￥ように、加圧棒
様構５に対向する面乞映１！＄！磁気ヘッド保持面４８
とされたブロックであり、土面側に基準目盛純１１ガラ
ス＋１ｉ ７が設けである。このガラス板ＴＩ’Ｊ、一
端を基準ブロック４にネジ止め固定された細長支抽根８
の自由水仙ｊに押え板９により押圧されて接漸固定して
あり、俊速するように支持板８の５甲性伽みに応じて上
下方向に変位する。なおこのカラス板７には基準目盛線
１０が刻設してあり、カラス＆Ｔは、特別の治具乞使用
して、基準目盛＠ｉ１１ Ｇが上記ヘソ・−Ｆ保持面４
ａと平行とされて且つヘッド保持面４ａより予定された
寸法Ｘ離れた関係とされて同定しである。従って、飾気
ヘッドのトラック位置は上記の基準目盛線１０ケ基準に
測定し、測定値乞逸宜袖止することによＶ求めることが
可能となる。
様構５に対向する面乞映１！＄！磁気ヘッド保持面４８
とされたブロックであり、土面側に基準目盛純１１ガラ
ス＋１ｉ ７が設けである。このガラス板ＴＩ’Ｊ、一
端を基準ブロック４にネジ止め固定された細長支抽根８
の自由水仙ｊに押え板９により押圧されて接漸固定して
あり、俊速するように支持板８の５甲性伽みに応じて上
下方向に変位する。なおこのカラス板７には基準目盛線
１０が刻設してあり、カラス＆Ｔは、特別の治具乞使用
して、基準目盛＠ｉ１１ Ｇが上記ヘソ・−Ｆ保持面４
ａと平行とされて且つヘッド保持面４ａより予定された
寸法Ｘ離れた関係とされて同定しである。従って、飾気
ヘッドのトラック位置は上記の基準目盛線１０ケ基準に
測定し、測定値乞逸宜袖止することによＶ求めることが
可能となる。
また基準ブロック４内にはカラス板１をよ下方向に微小
変位させるガラス板上下変位枳構１１が設けである。こ
の機構１１は、第４図に併せて示すように、マイクロメ
ータ榛・構１２と、ビン１３に軸支してありマイクロメ
ータｖ）構ｔｚのロンド１２ａにより押されて回動する
Ｌ字形レバー１４と。
変位させるガラス板上下変位枳構１１が設けである。こ
の機構１１は、第４図に併せて示すように、マイクロメ
ータ榛・構１２と、ビン１３に軸支してありマイクロメ
ータｖ）構ｔｚのロンド１２ａにより押されて回動する
Ｌ字形レバー１４と。
このＬ字形レバー１４０回動に応じて小球１５による支
持部ケ中心に回動し小球１６を介して支持鈑８乞押し上
げるレバー１７とよりなる。支持板８に小球１６により
押し上げられて皆み変形し、ガラス板Ｔは微小上昇する
。こ＼で、支持鈑８の固定部よりガラス板Ｔまでの寸法
ｔは十分に長いため、カラス板１が上昇しても、基準目
盛線１０のヘッド保持面４ａよＶの寸法の変化は十分に
小さく無視出来る。
持部ケ中心に回動し小球１６を介して支持鈑８乞押し上
げるレバー１７とよりなる。支持板８に小球１６により
押し上げられて皆み変形し、ガラス板Ｔは微小上昇する
。こ＼で、支持鈑８の固定部よりガラス板Ｔまでの寸法
ｔは十分に長いため、カラス板１が上昇しても、基準目
盛線１０のヘッド保持面４ａよＶの寸法の変化は十分に
小さく無視出来る。
次ＶＣ十記堵成になる測定装置す１により映像磁気ヘッ
ドのトラック位負の寸法ン測足する操作等について、第
５１友ひか２６図（Ａ１．（ＢＪ乞０Ｆゼ滲照して説明
する。
ドのトラック位負の寸法ン測足する操作等について、第
５１友ひか２６図（Ａ１．（ＢＪ乞０Ｆゼ滲照して説明
する。
映欅仏気ヘッド２０は、第３しＩに拡大して示すように
、快気へラドコア２１ケホルダ２２の−ｉｆ＋２２ａに
貼付１司Ｗしてなる構造であり１この面２２ａからのト
ランク２１ａまでの高さ寸法が軍警である。
、快気へラドコア２１ケホルダ２２の−ｉｆ＋２２ａに
貼付１司Ｗしてなる構造であり１この面２２ａからのト
ランク２１ａまでの高さ寸法が軍警である。
測定に除して、ます被側足物である吠撫破気ヘンド２０
：￥、第１ト１．第２図及び第３図に示すように、基準
フロック４の保持面４ａｆにセツティングする。即ち、
映ＩＩ！磁気ヘッド２０ン保持而４ａ上に１１いｆＣ，
状態でレバー２３を士面位１−まで１拘することにより
、カム２４．ロンド２５による係止が解除甥れて、力１
１圧捧２６が圧縮コイルはね２７により矢印Ｘ１力回に
架位し、映携研気ヘッド２０は、ホルダ２２のＩｌｕ
２２ｂ ’ｌ加圧棒２６によりシリングへの耳！イ」肋
と等しい押圧力により抑圧され、ｉｕ ２２ａ Ｙヘッ
ド保持面４ａに圧着してセツティングされる。この状縛
で、鏡筒６７￥工ＴＶカメラ１８と一体的に上下動させ
て磁気ヘッドコア２１のトラック部２１ａに焦点ン合わ
せ、この状態にロックする。以後測定完了までは鏡筒６
に動かさない。
：￥、第１ト１．第２図及び第３図に示すように、基準
フロック４の保持面４ａｆにセツティングする。即ち、
映ＩＩ！磁気ヘッド２０ン保持而４ａ上に１１いｆＣ，
状態でレバー２３を士面位１−まで１拘することにより
、カム２４．ロンド２５による係止が解除甥れて、力１
１圧捧２６が圧縮コイルはね２７により矢印Ｘ１力回に
架位し、映携研気ヘッド２０は、ホルダ２２のＩｌｕ
２２ｂ ’ｌ加圧棒２６によりシリングへの耳！イ」肋
と等しい押圧力により抑圧され、ｉｕ ２２ａ Ｙヘッ
ド保持面４ａに圧着してセツティングされる。この状縛
で、鏡筒６７￥工ＴＶカメラ１８と一体的に上下動させ
て磁気ヘッドコア２１のトラック部２１ａに焦点ン合わ
せ、この状態にロックする。以後測定完了までは鏡筒６
に動かさない。
これが測定の信頼性及び筒精度ン保証する。
次に、マイクロメータ機構１２ケ操作して、支持板８乞
押しよけガラス板７ケ微小士下勤させて基準目盛＃ｊｌ
ｔｏン鋭筒６の対物レンズの無産に一致させ、ガラス板
上下変位機構１１ンこの状態にロックする。なお、基準
目盛＃１０げカラス板Ｔの先端近傍にあり、基準目盛線
１０と？＋６気へラドコア２１とに同−視野内に入って
いる。第５図は、このときでのＴＶモニタ画面３０ヶ示
す。
押しよけガラス板７ケ微小士下勤させて基準目盛＃ｊｌ
ｔｏン鋭筒６の対物レンズの無産に一致させ、ガラス板
上下変位機構１１ンこの状態にロックする。なお、基準
目盛＃１０げカラス板Ｔの先端近傍にあり、基準目盛線
１０と？＋６気へラドコア２１とに同−視野内に入って
いる。第５図は、このときでのＴＶモニタ画面３０ヶ示
す。
この状態で測定開始スイッチをオンとすると、１動マイ
クロメータ３１が作刺し、移動ステージ３が矢印ｘ１方
回に移動する。このとｐＴＶモニタ画面３０上では、基
準目盛＃ｔＵ及び磁気ヘッドコア２１のトランク部２１
ａが矢印ｘ１方向に移ルυする。
クロメータ３１が作刺し、移動ステージ３が矢印ｘ１方
回に移動する。このとｐＴＶモニタ画面３０上では、基
準目盛＃ｔＵ及び磁気ヘッドコア２１のトランク部２１
ａが矢印ｘ１方向に移ルυする。
またＴＶモニタ画面３０内での画像の移ポｌＩにより１
モニタ画面中左寄りの位置に対応した位置にあるＩＴＶ
カメラ１８内の検出スリット３２は第５図中破線間の帯
状部ケ相対的に走査し、工ＴＶカメラ１８よりの出力は
、第６図（４）で示す如くになる。即ち、モニタ画面は
、４準目ｍ＃１０．袖強カラス部３３．３４の個所の輝
度が低く、トラック部（ギャンプ部）２１ａの輝度が高
いものとなＶ（基準目ａ線１０．トランク部２１ａの両
端はコントラストが明瞭となる）、画面中ａに対応して
立上り信号部ａ１、ｂに対応して立下！ｌｌ信号部ｂ１
、Ｃに対応して立よ！７信七都Ｃ１、ｄに対応して立下
ジ信号都ｄＩＳｅに対応して立上り信号部ｅ１となる。
モニタ画面中左寄りの位置に対応した位置にあるＩＴＶ
カメラ１８内の検出スリット３２は第５図中破線間の帯
状部ケ相対的に走査し、工ＴＶカメラ１８よりの出力は
、第６図（４）で示す如くになる。即ち、モニタ画面は
、４準目ｍ＃１０．袖強カラス部３３．３４の個所の輝
度が低く、トラック部（ギャンプ部）２１ａの輝度が高
いものとなＶ（基準目ａ線１０．トランク部２１ａの両
端はコントラストが明瞭となる）、画面中ａに対応して
立上り信号部ａ１、ｂに対応して立下！ｌｌ信号部ｂ１
、Ｃに対応して立よ！７信七都Ｃ１、ｄに対応して立下
ジ信号都ｄＩＳｅに対応して立上り信号部ｅ１となる。
！！、た隼動マイクロメータ３１が作動すると、これに
内蔵しであるロータリーエンコーダ３５よりＮＬ６図Ｉ
Ｊ３）に示す繰り返しパルス信号３６が出力される。こ
のパルス信号３６はマイクロメ−１３１のＩ＋、１１転
と同期しており、ステージ３の移動ちと比例している。
内蔵しであるロータリーエンコーダ３５よりＮＬ６図Ｉ
Ｊ３）に示す繰り返しパルス信号３６が出力される。こ
のパルス信号３６はマイクロメ−１３１のＩ＋、１１転
と同期しており、ステージ３の移動ちと比例している。
そこで、基準目盛線１０よりトラック部２１ａ壕での寸
法は、第４図（ＡＪ、（ＢＪ中、立よＶ信号部ａ１と立
上り信号部Ｃ１、及び立下り信号部ｄ１の間に含まれる
繰り返しパルス１ｇ号３６の数ケ計数し、これンステー
ジ３の移動−１ｉ１ｉＫ換算して求められる。
法は、第４図（ＡＪ、（ＢＪ中、立よＶ信号部ａ１と立
上り信号部Ｃ１、及び立下り信号部ｄ１の間に含まれる
繰り返しパルス１ｇ号３６の数ケ計数し、これンステー
ジ３の移動−１ｉ１ｉＫ換算して求められる。
更には、上記の寸法Ｘよりこ＼で求められた移動距離ケ
減して、映像磁気ヘッド２ｏの基準量２２ａＬ９トラ７
り都２１ａまでの寸法が求められる。なお、これらの処
理が全て短気的に行なわれ、人的費因での測定誤差は無
い。
減して、映像磁気ヘッド２ｏの基準量２２ａＬ９トラ７
り都２１ａまでの寸法が求められる。なお、これらの処
理が全て短気的に行なわれ、人的費因での測定誤差は無
い。
こ＼で、基準目盛線１０はカラス＆７の上面でになく下
面に描いである。このため−、カラス板７に第３図に示
すようにその下面がセツティングされた映隙磁気ヘッド
２０の磁気ヘッドコア２１のトランク面より多少上刃に
位置、する高声に配してあり、映像磁気ヘッド２０欠セ
ツテイングする際に、快気ヘッドコア２１がガラス板γ
の先端面に衝突してガラス板７及び磁気ヘッドコア２１
を損傷する事故に避けられる。
面に描いである。このため−、カラス板７に第３図に示
すようにその下面がセツティングされた映隙磁気ヘッド
２０の磁気ヘッドコア２１のトランク面より多少上刃に
位置、する高声に配してあり、映像磁気ヘッド２０欠セ
ツテイングする際に、快気ヘッドコア２１がガラス板γ
の先端面に衝突してガラス板７及び磁気ヘッドコア２１
を損傷する事故に避けられる。
効果
上述の如く、本発明になる磁気ヘッドコアのトランク位
随測定力法及び装置によれば以下に４シける特長を有す
る。
随測定力法及び装置によれば以下に４シける特長を有す
る。
（Ｖ 顕倣椰の調整が測定途中では不要となり。
？１１１Ｉ定開始陥に設定すると測定終了佐までそのま
＼となり、測定誤差の大きな費因ケなす顕微鏡の移動が
無くなり、測定な１ミクロン以下の高精度で且つ信粕性
良く行なうことが出来る。
＼となり、測定誤差の大きな費因ケなす顕微鏡の移動が
無くなり、測定な１ミクロン以下の高精度で且つ信粕性
良く行なうことが出来る。
＠ 卵倣鋭の再設定操作が不安となったことに伴ない、
測定乞迅速に行なうことが出来る。
測定乞迅速に行なうことが出来る。
■ 基準目盛糾乞透明な板桐に描くことにより基準目＆
森はコントラストが良好となり、ＩＴＶカメラによる撮
像上も好都合となる。
森はコントラストが良好となり、ＩＴＶカメラによる撮
像上も好都合となる。
■ 基準目盛線は透明板材の下面に描いであるため、透
明ｆ！相タケセツティングれた磁気ヘッドと段差ケも７
ｊぜて配することが出来、セツティング時等での磁気ヘ
ソ′ドと透明機との衝突乞確実に１！２１ギｔし得、使
い勝手が良い。
明ｆ！相タケセツティングれた磁気ヘッドと段差ケも７
ｊぜて配することが出来、セツティング時等での磁気ヘ
ソ′ドと透明機との衝突乞確実に１！２１ギｔし得、使
い勝手が良い。
【図面の簡単な説明】
第１図及び第２図に夫々本発明になる測定装置の一実施
例の正面図及び平面図、第３図にセツティングされＺｊ
Ｍ＆気ヘッドとガラス板との関係ン拡大して示す斜讃８
図、第４図はガラス板士下変位機栴乞示す第２図中ＩＶ
−ＩＶ脚（（６９断面矢視図、第５図にＴＶモニタ画
面の一例ケ示す図、第６区１（支）。 ■Ｊは夫々Ｉｊｌｌｌ定助にＩＴＶカメラＪシイ＋４１
つ肛る信号の波形及びロータリーエンコータより由られ
る繰り返しパルス信号の波形ｌ第５図ｃｏＴＶモニタ画
面と対応さゼて示す１ン１である。 １・・・測定装置、２・・・基台、３・・移Ｗ〃ステー
ジ、４・・・基準ブロフク、４ａ・・・映１家画気−ヘ
ッド保持面、５・・・加圧棒機構、６・・・鏡筒、γ・
・華１―目盛卿付カラス板、８・・・支持板、１０・・
基準目盛侍、＋ Ｉ ゛＝カラス取上下変位機構、１２
・・・マイクロメータ機構、１２ａ・・・ロンド、１４
・・Ｌ字形レバー、１５・１６・・・小球、１１・・レ
バー、１Ｂ・・ＩＴＶカメラ、２０・・・映像６ｂ気ヘ
ッド、２１・・・磁気ヘッドコア。 ２２・・・ホルダ、３０・・ＴＶモニタ画面、３１・・
霜動マイクロメータ、３２・・・検出スリット、３３゜
３４・・・Ｍ＋強カラス都、３５・・・ロータリーエン
コーダ、３６・・・繰り返しパルス信号。 第３図 ４ 第１１図 １０５− イ’ ５ ＰＩ 肌 □×１ 第６図
例の正面図及び平面図、第３図にセツティングされＺｊ
Ｍ＆気ヘッドとガラス板との関係ン拡大して示す斜讃８
図、第４図はガラス板士下変位機栴乞示す第２図中ＩＶ
−ＩＶ脚（（６９断面矢視図、第５図にＴＶモニタ画
面の一例ケ示す図、第６区１（支）。 ■Ｊは夫々Ｉｊｌｌｌ定助にＩＴＶカメラＪシイ＋４１
つ肛る信号の波形及びロータリーエンコータより由られ
る繰り返しパルス信号の波形ｌ第５図ｃｏＴＶモニタ画
面と対応さゼて示す１ン１である。 １・・・測定装置、２・・・基台、３・・移Ｗ〃ステー
ジ、４・・・基準ブロフク、４ａ・・・映１家画気−ヘ
ッド保持面、５・・・加圧棒機構、６・・・鏡筒、γ・
・華１―目盛卿付カラス板、８・・・支持板、１０・・
基準目盛侍、＋ Ｉ ゛＝カラス取上下変位機構、１２
・・・マイクロメータ機構、１２ａ・・・ロンド、１４
・・Ｌ字形レバー、１５・１６・・・小球、１１・・レ
バー、１Ｂ・・ＩＴＶカメラ、２０・・・映像６ｂ気ヘ
ッド、２１・・・磁気ヘッドコア。 ２２・・・ホルダ、３０・・ＴＶモニタ画面、３１・・
霜動マイクロメータ、３２・・・検出スリット、３３゜
３４・・・Ｍ＋強カラス都、３５・・・ロータリーエン
コーダ、３６・・・繰り返しパルス信号。 第３図 ４ 第１１図 １０５− イ’ ５ ＰＩ 肌 □×１ 第６図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｔｌ＋ 磁気へラドコアが基板上に固定された構造の
磁気ヘッドの該基鈑の一面である基準面に対する該磁気
へラドコアのトラック位置の寸法ン顕微鏡ケ使用して測
定する方法において、該磁気ヘッドンその基鈑の基準面
ケ保持体の保持面に当接させて保持し、該保持面に対す
る寸法を既知の寸εとされて配しである目盛＆ケ調整し
てその基準目盛線が該磁気ヘッドコアのトラック面に焦
点ケ合わせて設定し−Ｃある該顕微鏡の焦点位ｔハに一
致するように調整（〜、該基準目盛糾乞基準としてトラ
ンク位Ｉ麹の寸法欠副定すること乞特徴とする磁気ヘッ
ドコアのトランク位嬢寸法測足方法。 （２１０気ヘツドコアが基板上に固定されｌｔ構造の磁
気ヘッドの該基板の−ｍ１である基準面に対する該快気
ヘッドコアのトランク位置の寸法ケ顕微＠ｌ使用して測
定する装置において、該僻気ヘンドケその基板の基準面
を当接させて保持する値気ヘンド保持面乞有し、４１１
１定時に移動する移動台と、該磁気ヘッド保持面に対す
る寸法ケ既知の寸法とされて該移動台に設けである目盛
板と、ｇ炙目盛也欠その基準目盛線が該磁気へラドコア
のトランク面に焦点ケ合わせて設定しである該顕＠柿の
焦点に一致するように調整する手段とよＶなυ、該移動
参を移動させて該基準目盛線を基準として上記トラック
位置の寸法を測定すゐことン特徴とする磁気ヘッドコア
のトラック位埴寸法測定装協、。 （３） 該目盛板に、光学的に透明な仮相であり、該
基準目ｇ＆線ケ下面に描いてなる構成であることン特徴
とする％肝請求の範囲第２項記載の１１１１１ ’ｎｉ
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20128082A JPS5992420A (ja) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | 磁気ヘツドコアのトラツク位置寸法測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20128082A JPS5992420A (ja) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | 磁気ヘツドコアのトラツク位置寸法測定方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5992420A true JPS5992420A (ja) | 1984-05-28 |
| JPS6412005B2 JPS6412005B2 (ja) | 1989-02-28 |
Family
ID=16438343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20128082A Granted JPS5992420A (ja) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | 磁気ヘツドコアのトラツク位置寸法測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5992420A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5284808U (ja) * | 1975-12-20 | 1977-06-24 | ||
| JPS537314A (en) * | 1976-07-09 | 1978-01-23 | Hitachi Ltd | Magnetic head adjustment and its device |
-
1982
- 1982-11-17 JP JP20128082A patent/JPS5992420A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5284808U (ja) * | 1975-12-20 | 1977-06-24 | ||
| JPS537314A (en) * | 1976-07-09 | 1978-01-23 | Hitachi Ltd | Magnetic head adjustment and its device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6412005B2 (ja) | 1989-02-28 |
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