JPS5982336U - 光デイスク検査装置 - Google Patents
光デイスク検査装置Info
- Publication number
- JPS5982336U JPS5982336U JP17759382U JP17759382U JPS5982336U JP S5982336 U JPS5982336 U JP S5982336U JP 17759382 U JP17759382 U JP 17759382U JP 17759382 U JP17759382 U JP 17759382U JP S5982336 U JPS5982336 U JP S5982336U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- error information
- optical disk
- optical
- information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図a、 bは光ディスクの構造を示す図で、同図
aは斜視図、同図すは部分拡大斜視図、第2図は光学式
ピックアップの構成を概略的に示す斜視図、第3図は本
考案の一実施例を示すブロック図、第4図は本考案の他
の実施例を示すブロック図である。 1・・・再生用光ディスク、5・・・ピット列、20・
・・光学式ピックアップ、32・・・移動テーブル、3
3・・・テーブル送りモータ、100,100A。 100B・・・CPU、101・・・ピックアップ回路
、102・・・信号処理回路、104・・・テーブル移
動座標検出器、105・・・回転座標検出器。
aは斜視図、同図すは部分拡大斜視図、第2図は光学式
ピックアップの構成を概略的に示す斜視図、第3図は本
考案の一実施例を示すブロック図、第4図は本考案の他
の実施例を示すブロック図である。 1・・・再生用光ディスク、5・・・ピット列、20・
・・光学式ピックアップ、32・・・移動テーブル、3
3・・・テーブル送りモータ、100,100A。 100B・・・CPU、101・・・ピックアップ回路
、102・・・信号処理回路、104・・・テーブル移
動座標検出器、105・・・回転座標検出器。
Claims (3)
- (1)記録面に情報ピット列等を形成された光ディスク
を所定の回転速度で回転駆動する回転機構と、この回転
機構により回転駆動される前記ディスクの記録面に対向
配置され前記ピット列等の情報を光学的にピックアップ
する光学式ピックアップと、この光学式ピッ、クアツブ
を前記ディスクの半径方向へ移動させる移動機構と、こ
の移動機構および前記回転機構にそれぞれ取付けられた
移動座標検出器および回転座標検出器と、前記光学式ピ
ックアップにより検出された信号に含まれているフオー
カツシングエラー情報およびトラッキングエラー情報を
検出するエラー情報検出器と、このエラー情報検出器で
検出されたフオーカツシングエラー情報およびトラッキ
ングエラー情報と前記移動座標検出器および回転座標検
出器で検出されたピックアップ位置座標情報とを演算処
理することによりデ、イスクのうねり量とピット列等の
真円度とを出力する演算装置とを具備してなる光デイス
ク検査装置。 - (2)演算装置は電子計算機の中央演算処理装置である
ことを特徴とする実用新案登録請求の範囲第(1)項記
載の光デイスク検査装置。 - (3)前記回転機構は光ディスクを規定速度より低速度
で回転駆動させるものであることを特徴法する実用新案
登録請求の範囲第(1)項記載の光デイスク検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17759382U JPS5982336U (ja) | 1982-11-24 | 1982-11-24 | 光デイスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17759382U JPS5982336U (ja) | 1982-11-24 | 1982-11-24 | 光デイスク検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5982336U true JPS5982336U (ja) | 1984-06-04 |
JPH04248Y2 JPH04248Y2 (ja) | 1992-01-07 |
Family
ID=30385790
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17759382U Granted JPS5982336U (ja) | 1982-11-24 | 1982-11-24 | 光デイスク検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5982336U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0783619A (ja) * | 1993-09-13 | 1995-03-28 | Nec Corp | レーザ変位計 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57105832A (en) * | 1980-12-19 | 1982-07-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Detector for optical position |
-
1982
- 1982-11-24 JP JP17759382U patent/JPS5982336U/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57105832A (en) * | 1980-12-19 | 1982-07-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Detector for optical position |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0783619A (ja) * | 1993-09-13 | 1995-03-28 | Nec Corp | レーザ変位計 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04248Y2 (ja) | 1992-01-07 |
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