JPS59791B2 - Micro-hakiyori-sokutei-souchi - Google Patents

Micro-hakiyori-sokutei-souchi

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Publication number
JPS59791B2
JPS59791B2 JP4913875A JP4913875A JPS59791B2 JP S59791 B2 JPS59791 B2 JP S59791B2 JP 4913875 A JP4913875 A JP 4913875A JP 4913875 A JP4913875 A JP 4913875A JP S59791 B2 JPS59791 B2 JP S59791B2
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JP
Japan
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signal
output
obstacle
distance
delay circuit
Prior art date
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Application number
JP4913875A
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Japanese (ja)
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JPS51124392A (en
Inventor
正生 西
耕二 中島
淳男 武田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yaskawa Electric Corp
Original Assignee
Yaskawa Electric Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS59791B2 publication Critical patent/JPS59791B2/en
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S13/00Systems using the reflection or reradiation of radio waves, e.g. radar systems; Analogous systems using reflection or reradiation of waves whose nature or wavelength is irrelevant or unspecified
    • G01S13/02Systems using reflection of radio waves, e.g. primary radar systems; Analogous systems
    • G01S13/06Systems determining position data of a target
    • G01S13/08Systems for measuring distance only
    • G01S13/32Systems for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated
    • G01S13/36Systems for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated with phase comparison between the received signal and the contemporaneously transmitted signal

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
  • Noise Elimination (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、2周波のマイクロ波干渉計を用いて干渉の位
相差から距離を測定するマイクロ波距離測定装置に係り
、特に、測定路に障害物が存在する際の補償乃至は警報
装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a microwave distance measuring device that measures distance from the phase difference of interference using a two-frequency microwave interferometer. It relates to compensation or warning devices.

従来、この種の装置はアンテナと被測定体との間の測定
路に障害物が介在すると、障害物までの距離を測定して
誤まつた情報を出力する結果となつていた。
Conventionally, when an obstacle is present in the measurement path between the antenna and the object to be measured, this type of device measures the distance to the obstacle and outputs erroneous information.

このため、制御系が乱されるという問題があつた。本発
明は、上記欠点を除去せんがために成されたものであり
、障害物の介在によつて制御系が乱されるようなことが
なく、また障害物の存在を警報し得るマイクロ波距離測
定装置を提供することを目的とする。
Therefore, there was a problem that the control system was disturbed. The present invention was made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks, and the control system is not disturbed by the presence of obstacles, and the microwave distance is such that it is possible to warn of the presence of obstacles. The purpose is to provide a measuring device.

本発明の目的は、2周波のマイクロ波干渉計を用い干渉
の位相差から距離を測定する装置において、距離に比例
する信号の急峻な変化から測定装置と被測定体間の障害
物の存在を検出し、且つ障害物の存在する間は測定装置
の出力を障害物の存在する直前の測定信号に保持するよ
うにして達成される。
An object of the present invention is to detect the presence of an obstacle between the measuring device and the object to be measured from a steep change in the signal proportional to the distance in a device that measures distance from the phase difference of interference using a two-frequency microwave interferometer. This is accomplished by detecting and maintaining the output of the measuring device at the measurement signal immediately before the obstacle exists while the obstacle is present.

以下、添付図面に従つて本発明の実施例を説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

第1図は本発明の実施例を示すものである。FIG. 1 shows an embodiment of the invention.

装置から被測定体までの距離をマイクロ波によつて測定
するマイクロ波距離測定装置IBの出力信号50は3つ
に分離される。1つはアナログスイッチISWへ、1つ
は時間遅れ回路IDELへ、1つは減算器ISVBへ送
られる。
The output signal 50 of the microwave distance measuring device IB, which measures the distance from the device to the object to be measured using microwaves, is separated into three signals. One is sent to the analog switch ISW, one to the time delay circuit IDEL, and one to the subtracter ISVB.

減算器ISUBは、装置IBの出力50と時間遅れ回路
IDELの出力Sとを減算してその出力52を比較器I
COM、2COMへ与える。
The subtracter ISUB subtracts the output 50 of the device IB and the output S of the time delay circuit IDEL and sends the output 52 to the comparator I.
Give to COM, 2COM.

時間遅れ回路IDELの出力51はサンプルホールド回
路ISHを介してアナログスイッチISWへ送られる。
比較器ICOMは減算出力52が設定値V1を越えたと
き論理信号を出力し、フリップフロップIFFをセット
状態とする。
The output 51 of the time delay circuit IDEL is sent to the analog switch ISW via the sample and hold circuit ISH.
The comparator ICOM outputs a logic signal when the subtraction output 52 exceeds the set value V1, and sets the flip-flop IFF.

また、比較器2COMは減算出力52が設定値V2を下
まわるとき論理信号を出力し、初期信号乃至はマニュア
ルリセット信号MSとのOR論理をオア回路IORでと
り、フリップフロップIFFをリセット状態とする。
In addition, the comparator 2COM outputs a logic signal when the subtraction output 52 is less than the set value V2, performs OR logic with the initial signal or manual reset signal MS using the OR circuit IOR, and resets the flip-flop IFF. .

フリツプフロツプ1FFの出力S3が存在する時刻t1
からT2の間、サンプルホールド回路1SHは保持状態
となり、アナログスイツチ1SWはサンプルホールド回
路1SHの出力を選択するように作動して出力S4を与
える。
Time t1 when the output S3 of flip-flop 1FF exists
During the period from T2 to T2, the sample and hold circuit 1SH is in a holding state, and the analog switch 1SW operates to select the output of the sample and hold circuit 1SH to provide an output S4.

また、フリツプフロツプ1FFの出力S3はアナログス
イツチ2SWを1駆動し、一定電源(電圧又は電流)V
Oを選択して積分器11NTに入力する。
In addition, the output S3 of the flip-flop 1FF drives the analog switch 2SW by 1, and the constant power supply (voltage or current) V
O is selected and input to the integrator 11NT.

この積分器1NTの出力と設定値3とを比較器3C0M
において比較し、一定値を越える信号に対して警報信号
S5を与える。以下、第2図と共に本発明の動作を説明
する。
The output of this integrator 1NT and the set value 3 are connected to the comparator 3C0M.
A warning signal S5 is given to a signal exceeding a certain value. The operation of the present invention will be explained below with reference to FIG.

測定装置の1Bの出力S。と時間遅れ回路1DELの出
力S1とが夫々第2図aに示すようであり、障害物があ
る時間Tの間距離信号は夫々不連続となる。
1B output S of the measuring device. and the output S1 of the time delay circuit 1DEL are as shown in FIG. 2a, and the distance signals become discontinuous during the time T when there is an obstacle.

この信号S。This signal S.

とS1との差を減算器1SVBによつてとることにより
、障害物の介在する前後の信号の変化量に対応する信号
S2を得る(同図b)。信号S2を比較器1C0M,2
C0Mの設定値Vl,V3と比較し、信号値が設定値1
を越えたときにフリツプフロツプ1FFをセツト状態と
し、設定値V2を越えたときにフリツプフロツプ1FF
をりセツト状態とする。フリツプフロツプ1FFがセツ
トされている時間t1〜T2は障害物の存在している時
間であり(同図c)、この信号S3で時間遅れ信号をサ
ンプル中のサンプルホールド回路1SHを保持状態とす
ると共に、回路1SHを選択するようにアナログスイツ
チ1SWを駆動して、障害物が介在する以前の距離信号
を出力信号S4として与える(同図d)。
By taking the difference between and S1 using a subtractor 1SVB, a signal S2 corresponding to the amount of change in the signal before and after the presence of the obstacle is obtained (FIG. 2b). Signal S2 is connected to comparator 1C0M,2
Comparing with the C0M set values Vl and V3, the signal value is set to 1.
When the set value V2 is exceeded, the flip-flop 1FF is set, and when the set value V2 is exceeded, the flip-flop 1FF is set.
into the reset state. The time t1 to T2 during which the flip-flop 1FF is set is the time when an obstacle exists (c in the same figure), and this signal S3 causes the sample-and-hold circuit 1SH, which is currently sampling the time-delayed signal, to be held in a holding state. The analog switch 1SW is driven to select the circuit 1SH, and the distance signal before the presence of the obstacle is provided as the output signal S4 (d in the figure).

障害物を除去した後フリツプフロツプ1FFの出力S3
はなくなるため、アナログスイツチ1SWは信号S。を
直接出力信号S4とする様に駆動される。また、障害物
が長時間存在すると保持信号と実際の被測定体との距離
が離れすぎることがある。
After removing the obstacle, the output S3 of flip-flop 1FF
Since the signal disappears, the analog switch 1SW becomes the signal S. is directly driven as the output signal S4. Furthermore, if an obstacle exists for a long time, the distance between the held signal and the actual object to be measured may become too large.

また、長時間障害物の存在することが危険に連がる可能
性もある。このため一定時間以上障害物が存在した場合
警報信号を出す。すなわち、フリツプフロツプ1FFの
出力S3によつてスイツチ2SWを駆動して一定電源V
。を選択して積分器11NTに送込んで時間に比例した
出力を得る。この出力と設定値V3とを比較器3C0M
で比較して設定値V3を越えるとき警報信号S5を与え
ることとする。本発明においては上記実施例の他に各種
の変形例を考えることができる。
Furthermore, the presence of obstacles for a long period of time may lead to danger. Therefore, if an obstacle exists for a certain period of time, a warning signal will be issued. That is, the switch 2SW is driven by the output S3 of the flip-flop 1FF to maintain a constant power supply V.
. is selected and sent to the integrator 11NT to obtain an output proportional to time. Comparator 3C0M compares this output with set value V3.
When the set value V3 is exceeded, an alarm signal S5 is given. In the present invention, various modifications can be considered in addition to the above embodiments.

第3図はアナログスイツチ2SWを省略した変形例を示
すものである。
FIG. 3 shows a modification in which the analog switch 2SW is omitted.

第1図の本発明実施例においては、障害物のあるときだ
け時間遅れ信号を保持して出力しているが、通常時も遅
れ信号の検出でよい場合アナログスイツチ1SWを省略
してもよい。同図の変形例において、通常はサンプルホ
ールド回路1SHがサンプル状態にあるため時間遅れ回
路1DELで遅れた信号を出力する。
In the embodiment of the present invention shown in FIG. 1, the time-delayed signal is held and output only when there is an obstacle, but the analog switch 1SW may be omitted if it is sufficient to detect the delayed signal even in normal times. In the modification shown in the figure, since the sample and hold circuit 1SH is normally in the sampling state, it outputs a signal delayed by the time delay circuit 1DEL.

障害物が入るとサンプルホールド回路1SHは保持状態
となり、障害物が取除かれたときサンプル状態に切換わ
るが時間遅れ回路1DELで遅れがあるので障害物信号
が遅れ分だけ残る。これを除去するために、比較器2C
0Mの後に第2の時間遅れ回路2DELを入れてフリツ
プフロツプ1FFのりセツト信号の到来を遅らせ、サン
プルホールド回路1SHの保持時間を障害物信号がなく
なるまで延ばす。第4図は、時間遅れ回路1DELを省
略した他の変形例を示す。
When an obstacle enters, the sample and hold circuit 1SH enters a holding state, and when the obstacle is removed, it switches to a sample state, but since there is a delay in the time delay circuit 1DEL, the obstacle signal remains by the amount of the delay. To remove this, comparator 2C
A second time delay circuit 2DEL is inserted after 0M to delay the arrival of the flip-flop 1FF reset signal and extend the holding time of the sample and hold circuit 1SH until the obstruction signal disappears. FIG. 4 shows another modification in which the time delay circuit 1DEL is omitted.

本変形例においては、クロツク1CLによつて、正常時
はサンプルホールド回路1SHが定期的にサンプルとホ
ールドを繰返すようにする。このサンプルホールド回路
1SHの出力と測定装置の出力S。とを減算して信号の
変化量を検出する。障害物が存在するとき比較器1C0
Mが信号を出し、インバータ11NVを介してナンドゲ
ート1NAに反転入力Qを与える。
In this modification, the clock 1CL causes the sample and hold circuit 1SH to periodically repeat sampling and holding during normal operation. The output of this sample hold circuit 1SH and the output S of the measuring device. The amount of change in the signal is detected by subtracting the Comparator 1C0 when an obstacle exists
M outputs a signal and provides an inverted input Q to the NAND gate 1NA via the inverter 11NV.

この反転入力によつてクロツク1CLのクロツク信号は
サンプルホールド回路1SHに行くのを阻止される。同
時に、回路1SHは障害物が入る前の信号を保持する。
このとき、比較器1C0Mの出力によつてアナログスイ
ツチ1SWは回路1SH側に切換えられているため、前
記保持した信号を出力信号S4とする。また、障害物が
存在する間比較器1C0Mは信号を与える。
This inverting input prevents the clock signal of clock 1CL from going to sample and hold circuit 1SH. At the same time, circuit 1SH holds the signal before the obstacle entered.
At this time, since the analog switch 1SW is switched to the circuit 1SH side by the output of the comparator 1C0M, the held signal is used as the output signal S4. Additionally, comparator 1C0M provides a signal while an obstacle is present.

このため、第1図及び第3図におけるフリツプフロツプ
1FFは不要となる。この方法では、サンプルホールド
回路1SHがサンプル中に障害物が入ると減算器1SU
B出力は偏差がないので、障害物を検出し損ねる可能性
がある。
Therefore, the flip-flop 1FF in FIGS. 1 and 3 becomes unnecessary. In this method, when the sample hold circuit 1SH detects an obstacle during sampling, the subtracter 1SU
Since there is no deviation in the B output, there is a possibility that an obstacle may not be detected.

このため、第5図に示すように2つのサンプルホールド
回路1SH,2SHによつて交互にサンプルすることと
すればよい。第6図及び第7図は夫々第1図及び第4図
における演算をデイジタル化した変形例を示す。
For this reason, as shown in FIG. 5, two sample and hold circuits 1SH and 2SH may be used to alternately sample. FIGS. 6 and 7 show modified examples in which the calculations in FIGS. 1 and 4 are digitized, respectively.

測定装置1Bの出力信号はAD変換器1ADでデイジタ
ル化されシフトレジスタ1SRを介して遅れ信号を形成
する。遅れ信号はAD変換器1ADの出力信号と減算器
1SVBで減算され、比較器1C0M,2C0Mに出力
を与える。第6図の変形例では、比較器1C0Mで障害
物が介在した立上りを検出してフリツプフロツプ1FF
をセツト状態とする。また、りセツトは障害物のなくな
つた点を比較器2C0Mで検出してこの検出信号と初期
又はマニユアルリセツト信号MSとのオア論理をオア回
路10Rでとることによつて行う。フリツプフロツプ1
FFの出力はレジスタ1REGの読み込みを行ない、レ
ジスタ1REGの内容をDA変換器1DAを介してアナ
ログ化することにより所望の信号を得る。
The output signal of the measuring device 1B is digitized by an AD converter 1AD and then passed through a shift register 1SR to form a delayed signal. The delayed signal is subtracted from the output signal of the AD converter 1AD by a subtracter 1SVB, and outputs are provided to comparators 1C0M and 2C0M. In the modified example shown in FIG.
is in the set state. Further, the reset is performed by detecting the point where the obstacle disappears with the comparator 2C0M and performing an OR logic between this detection signal and the initial or manual reset signal MS in the OR circuit 10R. flipflop 1
The output of the FF reads the register 1REG and converts the contents of the register 1REG into analog via the DA converter 1DA to obtain a desired signal.

第7図の変形例では、減算器1SVBの出力が設定値1
を越えた状態が障害物の存在を示すので、比較器1C0
Mの出力をインバータ11NVで反転してナンドゲート
1NAに入れ、クロツク1CLを阻止してシフトレジス
タ1SRのシフト動作を停止させる。
In the modified example shown in FIG. 7, the output of the subtracter 1SVB is set to 1.
Since a state exceeding 1C0 indicates the presence of an obstacle, the comparator 1C0
The output of M is inverted by an inverter 11NV and inputted to a NAND gate 1NA to block the clock 1CL and stop the shift operation of the shift register 1SR.

本発明は、以上の如く、遅延した距離信号と現在の距離
信号とを減算することによつて得られる信号の急峻な変
化から障害物の存在を検出し、且つサンプルホールド回
路で障害物の存在する直前の測定信号を障害物の存在す
る間保持するようにすることで、障害物の介入を検出し
又は警報を与え、障害物の存在が制御系を大きく乱すこ
となく信頼性の高いマイクロ波距離測定装置を提供する
ことができる。
As described above, the present invention detects the presence of an obstacle from a sharp change in a signal obtained by subtracting a delayed distance signal and a current distance signal, and detects the presence of an obstacle using a sample and hold circuit. By retaining the measurement signal just before an obstacle exists, the intervention of the obstacle can be detected or a warning can be given, and the presence of the obstacle can prevent the control system from being significantly disturbed. A distance measuring device can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例の説明図、第2図は第1図実施
例の各部の信号波形図、第3図乃至第5図はアナログ型
の変形例説明図、第6図及び第7図はデイジタル型の変
形例説明図である。 1B・・・・・・測定装置、1DEL,2DEL・・・
・・・時間遅れ回路、1SUB・・・・・・減算器、1
C0M,2C0M,3C0M・・・・・・比較器、1S
H,2SH・・・・・・サンプルホールド回路、1FF
・・・・・・フリツプフロツプ、1SW,2SW,3S
W・・・・・・アナログスイツチ、11NT・・・・・
・積分器、10R・・・・・・オア回路、KL・・・・
・・クロツク、1NA,2NA・・・・・・ナンドゲー
ト、11NV・・・・・・インバータ、1AD・・・A
D変換器、1SR・・・・・・シフトレジスタ、1RE
G・・・・・ルジスタ、1DA・・・・・・DA変換器
FIG. 1 is an explanatory diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a signal waveform diagram of each part of the embodiment in FIG. FIG. 7 is an explanatory diagram of a modification of the digital type. 1B...Measuring device, 1DEL, 2DEL...
...Time delay circuit, 1SUB...Subtractor, 1
C0M, 2C0M, 3C0M...Comparator, 1S
H, 2SH...Sample hold circuit, 1FF
...Flip-flop, 1SW, 2SW, 3S
W...Analog switch, 11NT...
・Integrator, 10R...OR circuit, KL...
...Clock, 1NA, 2NA...NAND gate, 11NV...Inverter, 1AD...A
D converter, 1SR...Shift register, 1RE
G...Lujistar, 1DA...DA converter.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 2周波のマイクロ波干渉計を用い干渉の位相差から
距離を測定する装置において、前記測定位置の出力であ
る距離信号を一定時間遅延させる遅延回路と、遅延手段
の出力信号と距離信号との信号差を得るための減算器と
、減算器出力と別途与える設定値とを比較する比較器と
、減算器出力が前記設定値を越えることで与えられる比
較器の出力で前記遅延回路の出力を保持する保持回路と
を具えて成るマイクロ波距離測定装置。
1. In a device that measures distance from the phase difference of interference using a two-frequency microwave interferometer, there is a delay circuit that delays a distance signal that is the output of the measurement position for a certain period of time, and a delay circuit that delays the distance signal that is the output of the measurement position, and a delay circuit that delays the output signal of the delay means and the distance signal. A subtracter for obtaining a signal difference, a comparator for comparing the subtracter output with a separately given set value, and an output of the delay circuit that is given when the subtracter output exceeds the set value. A microwave distance measuring device comprising: a holding circuit for holding.
JP4913875A 1975-04-24 1975-04-24 Micro-hakiyori-sokutei-souchi Expired JPS59791B2 (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6135190U (en) * 1984-08-02 1986-03-04 岐阜プラスチック工業株式会社 Food containers for ice cream, etc.
JPH0296819U (en) * 1989-01-20 1990-08-01

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6135190U (en) * 1984-08-02 1986-03-04 岐阜プラスチック工業株式会社 Food containers for ice cream, etc.
JPH0296819U (en) * 1989-01-20 1990-08-01

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