JPS5965705A - Device for measuring size of processed parts - Google Patents
Device for measuring size of processed partsInfo
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- JPS5965705A JPS5965705A JP17540682A JP17540682A JPS5965705A JP S5965705 A JPS5965705 A JP S5965705A JP 17540682 A JP17540682 A JP 17540682A JP 17540682 A JP17540682 A JP 17540682A JP S5965705 A JPS5965705 A JP S5965705A
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- G—PHYSICS
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/022—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、加工物等の寸法測定装置に関するものである
。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a dimension measuring device for workpieces and the like.
従来、この独の寸法測定装置には、万能投影機がある。Conventionally, this German dimension measuring device includes a universal projector.
万能投影機は2点間の距離を測定する場合、直交挫標系
のx、y方向に移動可能な載物台に置かれた被測定物の
像をスクリーン上に拡大投影し、測定点を順次スクリー
ン上の基準線に正確に一致させるべくx、yテーブルを
移動し、その移動量を計数化し表示することで測定が行
なわれてきた。この様な万能投影機には次のような欠点
がある。When measuring the distance between two points, a universal projector enlarges and projects the image of the object placed on a stage that can be moved in the x and y directions of an orthogonal standalone system onto a screen to determine the measurement point. Measurements have been carried out by sequentially moving an x and y table to accurately match a reference line on a screen, and then quantifying and displaying the amount of movement. Such a universal projector has the following drawbacks.
(a) 作業者は、目視によりスクリーンの基準線に
像の測定端部を正確に一致させるべく載物台を微動調整
しなければならないため測定時間がかかる。(a) The operator must make fine adjustments to the stage to visually align the measurement end of the image with the reference line of the screen, which takes time for measurement.
(b) 作業者の目視測定による人為的な測定誤差が
発生しやすい。(b) Artificial measurement errors due to visual measurements by workers are likely to occur.
(C) 被測定物は、X% 7% Zテーブルで構成
される載物台上に置かれるだめに、x、y、zテーブル
の移動による振動で、被測定物が移動しないように固定
しなければならない。(C) Since the object to be measured is placed on a stage consisting of an There must be.
(d) 被測定物の多数点を連続的に且つ自動的に測
定したい場合には、目視による微動調整作業があるため
、自動計測できない。(d) When it is desired to continuously and automatically measure multiple points on the object to be measured, automatic measurement is not possible because fine adjustment work is required by visual inspection.
本発BAは、前記万能投影機の欠点を解消するべく、光
電スキャナと映像モニタを用いて機械化したもので次の
ような特長がある。The BA of this invention is a mechanized version using a photoelectric scanner and a video monitor in order to eliminate the drawbacks of the above-mentioned universal projector, and has the following features.
(a) 被測定物の測定点の場所を指示することで、
エツジの自動認識による測定を可能にした。(a) By indicating the location of the measurement point of the object to be measured,
This enables measurement by automatic edge recognition.
(b) 計算機と光電スキャナとx、y、Xテーブル
の組合せにより連続自動計測a−可能とした。(b) Continuous automatic measurement a- was made possible by a combination of a computer, photoelectric scanner, and x, y, and X tables.
(c、l 前6己機械化により入局的測定誤差の介入
を防止した。(c, l The mechanization of the front 6 parts prevented the interference of internal measurement errors.
(d) 載物台の固定方式の採用により測定中の振動
等による被測定物の移動を角イ消した。(d) By adopting a fixed method for the stage, movement of the object to be measured due to vibrations during measurement is completely eliminated.
本発明は、読み込みが可能である全体光電スキャナ(7
)により被測定物(1)の全体を読み込み、被測定物(
1)の全体像を全体映像モニタ(12)に与し、さらに
、十字マーク等の手段によシ測定端部を指示し、基準点
との距離を計数する。測定精度を保証するために、被測
定物(1)の測定端部のみを拡大光電スキャナ(8)に
より読み込み、この測定端部像の測定点が拡大映像モニ
タ(14)の画面中心に結像するように、X% Y%
Xテーブル(9)、(10)、(11)を自動的に移
動できるようにした。The present invention utilizes an entire photoelectric scanner (7
) to read the entire object to be measured (1), and
The overall image of step 1) is presented to the overall image monitor (12), and furthermore, the measuring end is indicated by means such as a cross mark, and the distance from the reference point is counted. In order to ensure measurement accuracy, only the measurement end of the object to be measured (1) is read by the magnifying photoelectric scanner (8), and the measurement point of this measurement end image is focused on the center of the screen of the magnification video monitor (14). so that X% Y%
The X tables (9), (10), and (11) can now be moved automatically.
父、X % Y % Xテーブル(9)、00)、(1
1)に全体光電スキャナ(7)および拡大光電スキャナ
(8)が固定連結されて移動し、載物台2上の被測定物
(1+の移動を必袂としない測定装置である。Father, X % Y % X table (9), 00), (1
This is a measuring device in which a whole photoelectric scanner (7) and an enlarged photoelectric scanner (8) are fixedly connected to and move to 1), and the object to be measured (1+) on the stage 2 does not necessarily move.
被測定物(1)は、立体形状を有し、その測定端部(d
、直線又は曲線形状を有するものとする。載物台(2)
は透明であり、被測定物(1)か搭載される。被測定物
(1)の測定端部の拡大像は、載物台(2)をはさんで
反対1μりにあるハーフミラ(4)を透して拡大光電ス
キャナ(8)により行い、2値化回路(15)と処理回
路+lli+を弁して拡大映像モニタ(14)に表示さ
れる。寸だ、被」り宝物(++の全体像は、ハーフミラ
(4) Kよって反身」した1沫を全反射ミラグ(5)
により反射させ、全体=
光電スキャナ7 E読2ト込み、 回路(13)を介
して全体映像モニタ(12)に表示する。処理回路(1
6)は、第5図に示すような水平輝緋(421と垂直輝
線(41)を拡大(14)
映像モニタ側に第3図のように示すと同時に、2値化像
のノイズ除去処理を行うものである。The object to be measured (1) has a three-dimensional shape, and its measurement end (d
, shall have a straight or curved shape. Loading table (2)
is transparent, and the object to be measured (1) is mounted thereon. An enlarged image of the measuring end of the object to be measured (1) is obtained by an enlarged photoelectric scanner (8) through a half mirror (4) located 1μ opposite to the stage (2), and then binarized. The circuit (15) and the processing circuit +lli+ are operated to display the image on the enlarged video monitor (14). The whole image of the treasure (++ is half mirror (4)).
The entire image is reflected by the photoelectric scanner 7 and displayed on the overall image monitor (12) via the circuit (13). Processing circuit (1
6) is an enlargement of the horizontal bright line (421) and vertical bright line (41) as shown in Figure 5 (14). At the same time, the image is shown on the video monitor as shown in Figure 3, and the noise removal process of the binarized image is performed. It is something to do.
電
全体光電スキャナ(7)および拡大光寝スキャナ(8)
は、Xテーブル(9)と強固に連結されている。Xテー
ブル(9)はXテーブル(10)に、Xテーブル(10
)はXテーブル(印に固定されているため、と71.ら
のテーブルの合成M1作が、Xテーブル(9)に取り伺
けられた全体光電スキャナ(7)と拡大光電スキャナ(
8)の動きとなる。Full-body photoelectric scanner (7) and enlarged photoelectric scanner (8)
is firmly connected to the X table (9). X table (9) is added to X table (10),
) is fixed to the X table (marked), so the composite M1 work of the tables of and 71. et al.
8).
全体光電スキャナ(7)および拡大光電スキャナ(8)
の主要素子は、公知のものとして押々存在しているが、
ここでは2次元のダイオードマトリックスから成る2次
元のエリアセンサを説明−ヒ適用する。Whole photoelectric scanner (7) and enlarged photoelectric scanner (8)
Although there are many known main elements,
Here, a two-dimensional area sensor consisting of a two-dimensional diode matrix will be explained and applied.
2値化回路(15)は、映1ボの濃淡情報を光電スキト
すから=素kに電圧として出力されてくるものを、ロウ
レベルカハイレベルかに分けるもので、拡大吠塚モニタ
(]=Il +’こは白か黒のいラーれかの組合せ像と
してのみ表示する回路であり、これも公知のものか存在
する。照明装置(3)ハ、全体光電スキャナ(7)1、
・よひ拡大光電スキャナ(8)に、適当な光電を与える
もので捗る。The binarization circuit (15) photoelectrically converts the grayscale information of the video 1-bore, so it separates what is output as a voltage into the low level and high level, and the magnified Hozuka monitor (]= Il+'This is a circuit that displays only a combination image of white or black, and this is also a known circuit or exists.Lighting device (3) c. Whole photoelectric scanner (7) 1.
・Providing appropriate photoelectric power to the magnifying photoelectric scanner (8) will work.
インターフェース+231・ば、十字マーク発生回路、
水平師線元生回路、垂直輝線先生回路から成り、2値化
回路(15)、処理回路06)からの情報の中央処理装
ft (241への受渡し等を行なうものである。X、
y、Xテーブル(9)、(10)、(11)の駆動回路
(17)、08)、(19)は、それぞれの制御回路(
氾、(2I)、ci21により制御されている。全体光
電スキャナ(7)に」:り読み込まれ全体映像モニタ(
12)に写し出される映像の光軸中心すなわち原点0と
、拡大光電スキャナ(8)により読み込1れ拡大映像モ
ニタ(1=l)に写し出される映像の光軸中心すなわち
原点0′の視点は、同一軸上にある。Interface +231・B, cross mark generation circuit,
It consists of a horizontal master line source circuit and a vertical bright line teacher circuit, and is responsible for transferring information from the binarization circuit (15) and processing circuit 06) to the central processing unit ft (241).
The drive circuits (17), 08), and (19) of the y,
Flood, (2I), is controlled by ci21. The entire image is loaded into the photoelectric scanner (7) and the entire image monitor (
The viewpoints of the optical axis center, or origin 0, of the image projected in 12) and the optical axis center, or origin 0', of the image read by the enlarged photoelectric scanner (8) and displayed on the enlarged image monitor (1=l) are as follows: are on the same axis.
コノソール(25)は、谷オ車のスイッチか自装置され
ている。(図示せず)。これらのコンソールスイッチの
操作により、Xテーブル(9)に固定された拡大光電ス
キャナ(8)、全体光電スキャナ(力を、X、y、z
!I!I+1方向に自由に移動することが可能である。The conosole (25) is equipped with a switch on the car. (not shown). By operating these console switches, the enlarged photoelectric scanner (8) fixed to the X table (9), the entire photoelectric scanner (force, X, y, z
! I! It is possible to move freely in the I+1 direction.
第2図と第4図に示す全体映像モニタ(12)上の十字
マーりt3/l、 (381の移動は、十字マーク移動
用スイッチ等(図示せず)を操作することにより自由に
できる。十字マーク(37)、(38)の全体映像モニ
タ上にある位置か、水平輝線(32jと、垂直輝線(3
5)の交点0からどれだけX’、3’テーブル(9)、
(10)の移動量に換算して離れているかは、中央処理
装置(24)により知ることが可能でるる。The cross marks t3/l, (381) on the overall video monitor (12) shown in FIGS. 2 and 4 can be moved freely by operating a switch for moving the cross marks (not shown) or the like. The positions of the cross marks (37) and (38) on the overall video monitor, the horizontal bright line (32j) and the vertical bright line (3
5) How far is X' from the intersection 0 of 3' table (9),
The central processing unit (24) can determine whether the object is far away in terms of the amount of movement (10).
首だ、コンソール(25)のスイッチ操作なしでも、中
央処理装置(、!、+1のプログラム命令に従い測定を
実行しながら、全体光電スキャナ(7)および拡大光電
スキャナ(8)を、X%3’%Z方向に移動することも
可能である。全体映像モニタ(12)上の被測定物(1
)の611j定端部をライトペン等で指示すること1f
こより、x、y、Xテーブル(9)、(1(11、(1
1)を移動させ、全体光電スキャナ(7)および拡大光
電スキャナ(8)を移動することも可能である。The entire photoelectric scanner (7) and the enlarged photoelectric scanner (8) can be controlled by X%3' while executing measurements according to the program instructions of the central processing unit (,!, +1) without operating any switches on the console (25). % It is also possible to move in the Z direction.The object to be measured (1) on the overall video monitor (12)
) 611j fixed end part with a light pen etc. 1f
From this, x, y, X table (9), (1 (11, (1
1), it is also possible to move the overall photoelectric scanner (7) and the enlarged photoelectric scanner (8).
本発明の寸法測定の原理について(′i、第7図、第8
図に従い更に詳+1+11]に説明する。第8図は、第
1図の直接il1足に関係する被測定物(1)と、拡大
光′亀スキャナ(8)内における2次元配列のグイオー
トマトリックス(8)の説明を簡単にするために取り出
したもので、実際には中間に拡大レンズ、ノ・−フミン
がある。本ダイオードマトリックス(8)は、Xテーブ
ル、Xテーブル、Xテーブルと同期して移動する。被測
定物1のX方向の具の長さSは、X!
テーブル(9)の移動量が半で、ダイオードマトリック
ス(8)′の中心O′から2値化像として対応する白黒
の変化点の座標をそれぞれaybとしたとき、S−ホー
(a −b ) −−−(])で表わされる。Xテーブ
ルは被カ1]定物の像をグイオートマトリックス(8)
上Vこ結像するへ〈移動する。Regarding the principle of dimension measurement of the present invention ('i, Figs. 7 and 8)
This will be explained in more detail according to the figures. FIG. 8 is for the purpose of simplifying the explanation of the object to be measured (1) directly related to the IL1 foot in FIG. There is actually a magnifying lens in the middle. This diode matrix (8) moves in synchronization with the X table, the X table, and the X table. The length S of the tool in the X direction of the object to be measured 1 is X! When the amount of movement of the table (9) is half, and the coordinates of the corresponding black and white changing points as a binary image from the center O' of the diode matrix (8)' are ayb, then S-ho (a - b ) --- Represented by (]). X table is subject to 1] The image of a constant object is a guiotomatrix (8)
Move up to form an image.
第7図は、ダイオードマドl)ノクス(8(の水平輝線
(42)の近くのダイオードマドl)ノクスの1行から
’t44られた出力信号と、画定端部(q)・・こ相当
する部分のd11]定を行なう場合の関係を表わす。ダ
イオードマトリックス(8)からの出力信号は、点線で
示したスレン7ヨルトレベルで「0」か11」かに仕分
けられる(rOJfはロウレベル電圧、「1」はハイレ
ベル電圧)。すなわち像の2値化が行なわれる。原点0
′位置に相当する時間か、水平走査のスタートハルス元
生後to時間後であると定められていると、その以前に
発生したn個の2値化信号パ1′01
ハスは、被測定物(1)の#の距離に相当する。測定端
部pの信号処理も同様であり、y軸方向の測定もほとん
ど同様の原理および方式の適用が可能であるだめ、説明
を省略する。Figure 7 shows the output signal from the first row of the diode node (near the horizontal bright line (42) of the diode node (8)) and the output signal corresponding to the defined end (q)... d11] of the part. The output signal from the diode matrix (8) is sorted into "0" or "11" at the thren7jort level shown by the dotted line (rOJf is the low level voltage, "1 " is a high level voltage). In other words, the image is binarized. Origin 0
If it is determined that the time corresponding to the position ' or after the start of horizontal scanning is to time after the start of the horizontal scanning, the n binary signals P1'01 generated before that time are Corresponds to the # distance in 1). The signal processing at the measurement end p is also similar, and since almost the same principle and method can be applied to the measurement in the y-axis direction, the explanation will be omitted.
以下、測定順序に従い動作を説明する。測定の開始時に
おいては、Xテーブル(91If(取付された全体光電
スキャナ(7)、拡大光電スキャナ(8)ハスタート位
置(図示せず)にあり、載物台(2)に搭載され ゛た
被測定物(1)の塚は、第2図に示す左下半分に現われ
ている。すなわちXテーブル(1))、Xテーブル(1
0)のそれぞれの動作しb始基準位置か最左端にあるこ
とケ示している。この様に、十字マーク(371、(3
81等の指示による寸法計測は、被測定物(1)か全体
映塚モニタuzrの1/4の面積的に写し出された場合
に全て可能になる。The operation will be explained below according to the measurement order. At the start of the measurement, the X-table (91If) (attached entire photoelectric scanner (7), enlarged photoelectric scanner (8)) was at the start position (not shown) and was mounted on the stage (2). The mound of the object to be measured (1) appears in the lower left half of FIG.
It is shown that each operation of 0) is at the starting reference position or the leftmost position. In this way, the cross mark (371, (3
Dimension measurement according to instructions such as 81 is possible when the object to be measured (1) is projected in an area of 1/4 of the entire mound monitor uzr.
第2図に寂いて測定端部l)、qのX方向の距離Sを測
定する場合には、十字マーり[37)を捷す測定端i1
+ p Ul)近くに移動する。この時の十吋二マーク
(37)の位置は被…]j宝物の測定端部p t、tC
元全知一致させる必安ばない。十字マーク(38)も同
様に測定端部qの近くに移動する。第4図(atは、こ
の千手マーり(371,(3alを被測定物端部に移動
し7た状態を示す。次にコンソール(2つ)上のスイッ
チ(図示せず)から測定開始の指令を与えると、中央処
理装置(24)の命令に従い全体光電スキャナ7と拡大
光電スキャナ(8)が移動し、第4図(b)の状態を全
体映像モニタfil(写し出す。When measuring the distance S in the X direction of the measuring end l) and q shown in Fig. 2, the measuring end i1 is used to cut off the cross mark [37].
+ p Ul) move closer. At this time, the position of the 1.2 mark (37) is...]j Treasure measuring end p t, tC
It is not necessary to make the former omniscient. The cross mark (38) also moves close to the measuring end q. Figure 4 (at shows the state in which this Senju Marri (371, (3al) has been moved to the end of the object to be measured.Next, start measurement from the switch (not shown) on the console (2). When a command is given, the entire photoelectric scanner 7 and the enlarged photoelectric scanner (8) move in accordance with the instructions from the central processing unit (24), and the state shown in FIG. 4(b) is displayed on the entire image monitor fil.
ここて前記のグイオートマトリックスス(8)の動作に
より、前記のダイオードマトリックス(8)の中心を原
点O′とした」場合の座標aか開側される。この時の拡
大映像モニタ(1=jlに(は、第5図(b)に斜線で
示す様に被測定物(1)の測定端部pが写し出される。By the operation of the above-mentioned goo-auto matrix (8), the coordinate a when the center of the above-mentioned diode matrix (8) is set as the origin O' is opened. At this time, the measurement end p of the object to be measured (1) is projected on the enlarged image monitor (1=jl) as shown by diagonal lines in FIG. 5(b).
(41)
第5図(b)では、垂直輝線赴よりわずか右側に画定端
部pか表われているか、これに第4図(b)において十
字マーク(37)か被測定物(1)の端部pより紙面の
左IUIIに指示されたことを示す。(41) In Fig. 5(b), the defining end p appears slightly to the right of the vertical emission line, and this is accompanied by the cross mark (37) or the object to be measured (1) in Fig. 4(b). This indicates that the direction is directed to the left IUII of the page from the end p.
第6図(a)・は、拡大映像モニタ(l I)に第5図
(b)に示す被111111定物の像が現われたときの
、拡大光電スキャナ(8)内の2次元配列ダイオードマ
トリンクス(8)との対応を示す。X方向の寸法測定に
関係する場合は、2次元配列ダイオードマトリックス(
8)の水(42)
平輝MM近くの1行のダイオードマトリックスの素子を
利用する(ここでは寸法測定の原理説明を(42)
簡単化するために、水平輝線件の近くの1行のグイオー
トマトリックスの利用を取シ上げたが、2次元配列のダ
イオードマトリノクヌ(8)′の全素子の2値化情報全
てを、中央処理装置24て処理してもよい)。FIG. 6(a) shows the two-dimensionally arrayed diode matrix in the enlarged photoelectric scanner (8) when the image of the object 111111 shown in FIG. 5(b) appears on the enlarged image monitor (I). Correspondence with Lynx (8) is shown. When related to dimension measurement in the X direction, a two-dimensional array diode matrix (
Water (42) of 8) is used in one row of diode matrix elements near Hiraki MM. Although the use of an automatrix has been discussed, all the binarized information of all elements of the two-dimensional array of diode matrices (8)' may be processed by the central processing unit 24).
前記2次元配列ダイオードマ) l)ソクス(8)′の
1行のうち光が尚る部分を「1」、光が当らない部分を
10」と中央処理装置24が認識する場合、「1」の連
続から「0」の連続する部分の変化点が被1141足物
(1)の測定端部pであると、中央処理装置ρ・1)に
より認識する。測定時には、この変化点が原点O′から
どれだけ離れているかを計数しその距al
離−を求める。第4図(C)およO・第5図(c)は、
中al
央処理装置(2・1)が測定端部pの測定により血を記
憶した体、X、、y、、Xテーブル(9)、(10)、
(11)が動作し、q点が原点O′の近くに米だ時の、
全体映像モニタ(12)と拡大映像モニタ04)の状態
をそれぞれ示す。1) If the central processing unit 24 recognizes that the part of one row of the two-dimensional array diode matrix (8)' that is illuminated by light is "1" and the part that is not illuminated by light is "10", then "1" is set. The central processing unit ρ·1) recognizes that the change point of the continuous part of "0" from the series of "0" is the measurement end p of the foot 1141 to be measured (1). At the time of measurement, the distance this change point is from the origin O' is counted and the distance al distance is determined. Figure 4(C) and O/Figure 5(c) are
Body, X,, y,, X table (9), (10), where the central processing unit (2.1) has memorized the blood by measuring the measurement end p.
When (11) operates and point q is near the origin O',
The states of the overall video monitor (12) and enlarged video monitor 04) are shown respectively.
第6図(b)は、拡大光電スキャナ(8)内の二次元配
列ダイオードマトリックス(8)の1行に光が当る部分
と当らない部分の関係を示したものである。第6図(a
)について説明した原理と同様の原理から、中(41)
央処理装置C,241:は垂直輝線癖と測定端部q1で
の距離韮を、認識することができる。ここで、X1!
7%、Xテーブル(9)、(10)、(11)のX方向
の移動量が半であるとき、被測定物(1)のX方向の距
離Sを前述!
のS=ホー(a−b)から求めることが可能である。FIG. 6(b) shows the relationship between the portions that are illuminated by light and the portions that are not illuminated in one row of the two-dimensional array diode matrix (8) in the enlarged photoelectric scanner (8). Figure 6 (a
), the central processing unit C, 241: can recognize the vertical bright line habit and the distance difference at the measuring end q1. Here, X1! 7%, when the amount of movement in the X direction of the X tables (9), (10), and (11) is half, the distance S in the X direction of the object to be measured (1) is as described above! It is possible to obtain it from S=ho(a-b).
X方向の寸法測定についても同様の原理に基づいて測定
することが可能である。第6図(c)は、拡大光電スキ
ャナ(8)内の二次元配列ダイオードマトリックスの1
列に、光が当る部分と当らない部分の関係を示したもの
である。It is also possible to measure dimensions in the X direction based on the same principle. Figure 6(c) shows one of the two-dimensional array diode matrix in the magnifying photoelectric scanner (8).
The columns show the relationship between areas that are exposed to light and areas that are not.
以上までの測定は、測定時に被測定物の端部を測定者か
、十字マーク(37)、(381等によりその近くを指
示して測定を行なうものである。しかし、被測定物の加
工にあたっては、加工すべき形状寸法があらかじめ与え
られているので、その情報、すなわち加工寸法データを
、本発明に基つく寸法測定データとして利用することか
可能である。すなわち中央処理装置(24)に被測定物
(1)の測定端部データを与え、順次測定端部と拡大光
電スキャナ(8)のほぼ中心部を一致させて寸法計61
1]を行なう方法である。この場合は、作業者が十字マ
ーク等により測定端部を指示する8喪ばない。The measurements described above are performed by pointing the edge of the object to be measured by the measurer or by indicating the vicinity using a cross mark (37), (381, etc.).However, when processing the object to be measured, Since the shape and dimensions to be machined are given in advance, it is possible to use that information, that is, the machined dimension data, as the dimension measurement data based on the present invention. Give the measurement edge data of the object to be measured (1), align the measurement edge with the approximate center of the enlarged photoelectric scanner (8) one after another, and use the dimension meter 61.
1]. In this case, the operator does not have to indicate the measurement end using a cross mark or the like.
この様な多数の測定点を一括して測定できるのは、本発
つ」では概略の位置指示による高精度の寸法測定ができ
る方式を採用しているためである。The reason why such a large number of measurement points can be measured at once is that Honjutsu employs a method that allows for highly accurate dimension measurements based on rough positional instructions.
以上のt況りJからも明らかなように、本発明てよる加
工物の寸法測定装置は、拡大光電スキャナの視野内に被
d1;]定物の測定端部を入れるへ< X % 3’、
Xテーブルを移動するため、拡大光電スキャナで走査し
読み込みできない大きい被測定物の寸法測定が可能であ
る。また、被測定物を移動することなく測定できるため
、振動等による測定誤りを生ずることはない。さらに、
測定に関しては、測定者の判断工程がないため、寸法測
定品質の向上が計れるばかりでなく、加工情報を利用す
ることにより、多点間の自動寸法測定が可能となる。As is clear from the above situation, the workpiece size measuring device according to the present invention allows the measurement end of the workpiece to be placed within the field of view of the enlarged photoelectric scanner. ,
Since the X-table is moved, it is possible to measure the dimensions of large objects that cannot be scanned and read by an enlarged photoelectric scanner. Furthermore, since measurements can be made without moving the object to be measured, measurement errors due to vibrations and the like do not occur. moreover,
Regarding measurement, since there is no judgment process by the measurer, not only can the quality of dimension measurement be improved, but also automatic dimension measurement between multiple points is possible by using processing information.
第1図は本発明の全体構成図である。
第2図は全体映像モニタ(12)の画面である。
第6図は第2図と同一状態のときの拡大映像モニタ(I
4)の画面である。
第4図(a) (b) (c)は全体映像モニタ(12
jの画iruピタでの゛ 測定経過に伴う被測定物1の
動きを示す図である。
第5図(a) (b) (clは第4図の全体映像モニ
タ12の画面に対応する拡大モニタ04)の画面像の図
である。
第6図(a) (bl (c) fd被測定物の端面測
定方法を詳細に説明するだめの図である。
第7図は拡大光電スキャナ(8)からの信号から測定端
部の位置を計数する方法の説明図である。
第8図は測定原理説明図である。
(1) 被測定物 (2)載物台 (3)、照明装置
(4)ハーフミラ (5)全反射ミラ (7)全体光電
スキャナ (8)゛拡大光電スキャナ (9)Xテーブ
ル (IIJI : yテーブル 旧) Xテーブル
(12)全体映像モニタ (14)拡大映像モニタ (
15) : 2値化回路 (13)と(I6)処理回路
07)と(18jと09)1駆動回路(2t11と(
21)と(2り、制御回路 (23) インターフェ
ース(24) :中央処理装置 (25) コンノー
ル (35)と(41) 垂直輝線 (37Jと(4
21:水平輝線 (37)と(38)十字マークである
。
ヌ7−トl!ル又
や7図FIG. 1 is an overall configuration diagram of the present invention. FIG. 2 shows the screen of the overall video monitor (12). Figure 6 shows the enlarged video monitor (I) in the same state as Figure 2.
This is the screen of 4). Figure 4 (a) (b) (c) shows the overall video monitor (12
FIG. 3 is a diagram showing the movement of the object to be measured 1 as the measurement progresses in the image of J. FIGS. 5(a) and 5(b) are diagrams of screen images of the enlarged monitor 04 (cl is the enlarged monitor 04 corresponding to the screen of the overall video monitor 12 in FIG. 4). Fig. 6(a) (bl(c) fd) These are diagrams for explaining in detail the method of measuring the end face of the object to be measured. Fig. 7 shows the position of the measuring end from the signal from the enlarged photoelectric scanner (8). Fig. 8 is an explanatory diagram of the counting method. Fig. 8 is an explanatory diagram of the measurement principle. (1) Object to be measured (2) Stage (3) Illumination device (4) Half mirror (5) Total reflection mirror (7 ) Entire photoelectric scanner (8) Enlarged photoelectric scanner (9) X table (IIJI: Y table old) X table
(12) Overall video monitor (14) Enlarged video monitor (
15): Binarization circuit (13) and (I6) processing circuit 07) and (18j and 09) 1 drive circuit (2t11 and (
21) and (2), control circuit (23) interface (24): central processing unit (25) connor (35) and (41) vertical emission line (37J and (4)
21: Horizontal bright line (37) and (38) are cross marks. Nu7-tl! Rumataya figure 7
Claims (1)
込まれた被測定物の映像モニタ像に、概略測定点を指示
する手段と、指示点を十字マーク等によp映像モニタ上
に表示する手段と、測定端部を常に光電スキャナの中心
部に移動する手段を有する寸法測定装置。 (2、特許請求の範囲第1項に基づく寸法測定装置にお
いて、全体光電スキャナ及び拡大光電スキャナを有し、
被測定物を移動しない寸法測定装置。(1) Means for indicating a rough measurement point on a video monitor image of the object to be measured read by a photoelectric scanner that scans the object to be measured, and means for displaying the indicated point on the p-video monitor with a cross mark or the like. , a dimension measuring device having means for always moving the measuring end into the center of the photoelectric scanner. (2. The dimension measuring device according to claim 1, which includes an entire photoelectric scanner and an enlarged photoelectric scanner,
A dimension measuring device that does not move the object to be measured.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17540682A JPS5965705A (en) | 1982-10-07 | 1982-10-07 | Device for measuring size of processed parts |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17540682A JPS5965705A (en) | 1982-10-07 | 1982-10-07 | Device for measuring size of processed parts |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5965705A true JPS5965705A (en) | 1984-04-14 |
Family
ID=15995532
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17540682A Pending JPS5965705A (en) | 1982-10-07 | 1982-10-07 | Device for measuring size of processed parts |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5965705A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0528910U (en) * | 1991-09-28 | 1993-04-16 | 住友ゴム工業株式会社 | Automatic dimension measuring device |
-
1982
- 1982-10-07 JP JP17540682A patent/JPS5965705A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0528910U (en) * | 1991-09-28 | 1993-04-16 | 住友ゴム工業株式会社 | Automatic dimension measuring device |
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