JPS5961756A - 炭素測定装置 - Google Patents
炭素測定装置Info
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- JPS5961756A JPS5961756A JP17279982A JP17279982A JPS5961756A JP S5961756 A JPS5961756 A JP S5961756A JP 17279982 A JP17279982 A JP 17279982A JP 17279982 A JP17279982 A JP 17279982A JP S5961756 A JPS5961756 A JP S5961756A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、キャリアカス供給部、試料導入部。
燃’tX’t:部および非分散形赤外線式ガス分析部(
以下カス分析部という)からなる炭素測定装置で! #
¥にia+定終了後にカス分析部の測定セルにドライパ
ージガスを供給する回路を付設した炭素測定装Wtに関
する。
以下カス分析部という)からなる炭素測定装置で! #
¥にia+定終了後にカス分析部の測定セルにドライパ
ージガスを供給する回路を付設した炭素測定装Wtに関
する。
炭素測定装置には9例えば水中の全扇機性炭素(以下T
OCという)を測定するTOC測定装置や、あるいは汚
泥などの固体中の炭素を測定する装置Riとがある。
OCという)を測定するTOC測定装置や、あるいは汚
泥などの固体中の炭素を測定する装置Riとがある。
これら装置は9第1図に示した在来のTOC3111定
装置の基本的構成から明らかなように、酸化触媒5が充
填された燃焼管4を加熱炉6内に収容してなる燃焼部3
において、試料導入部2よジ導入した試料を1通常、6
00〜1000°Cの高温状態のもとに、キー? リア
ガス供給部1より供給した酸素を含むキャリアカス中で
反応させて試料中の炭素を炭酸ガスに変換させ、この炭
酸ガスを含む反応生成ガスをガス分析部9(測定セル1
0)に導いて炭酸ガス濃度を測定するものである。なお
、7は水分凝縮器、8はドレンボットである。
装置の基本的構成から明らかなように、酸化触媒5が充
填された燃焼管4を加熱炉6内に収容してなる燃焼部3
において、試料導入部2よジ導入した試料を1通常、6
00〜1000°Cの高温状態のもとに、キー? リア
ガス供給部1より供給した酸素を含むキャリアカス中で
反応させて試料中の炭素を炭酸ガスに変換させ、この炭
酸ガスを含む反応生成ガスをガス分析部9(測定セル1
0)に導いて炭酸ガス濃度を測定するものである。なお
、7は水分凝縮器、8はドレンボットである。
この反応生成ガス中には、炭酸カスの他に多量の水蒸気
と、試料中の共存成分から発生した種々のガスやミスト
が存在する。例えば、試料中に塩化物が含′まれている
場合には、この塩化物の熱分解物や酸化生成物9さらに
は塩化物と燃焼管4内充填物の石英ウールや酸化触媒と
の反応生成物として、塩素ガス、塩化水素カス、塩酸ミ
スト、塩化物のダストあるいは二酸化塩素などの塩素の
酸化物などが発生する。また、硫酸塩の場合にも。
と、試料中の共存成分から発生した種々のガスやミスト
が存在する。例えば、試料中に塩化物が含′まれている
場合には、この塩化物の熱分解物や酸化生成物9さらに
は塩化物と燃焼管4内充填物の石英ウールや酸化触媒と
の反応生成物として、塩素ガス、塩化水素カス、塩酸ミ
スト、塩化物のダストあるいは二酸化塩素などの塩素の
酸化物などが発生する。また、硫酸塩の場合にも。
同様に亜硫酸カスや硫酸ミストなどが発生する。
以上述べた水蒸気やその他aihの尼蝕性カスは炭酸ガ
スのように試料を燃焼部3に導入した時にのみ発生し9
発生したものはただちに測定セル10を通咥してしまう
といった一過性のものではなく次に述べる理由により長
時間にわたジ測定セル10に流入する。水蒸気の場合に
は、燃焼部3を出た後、そのほとんどがカス分析部9へ
いたるまでの配管中、あるいは水分凝縮器7内で凝集付
着する。
スのように試料を燃焼部3に導入した時にのみ発生し9
発生したものはただちに測定セル10を通咥してしまう
といった一過性のものではなく次に述べる理由により長
時間にわたジ測定セル10に流入する。水蒸気の場合に
は、燃焼部3を出た後、そのほとんどがカス分析部9へ
いたるまでの配管中、あるいは水分凝縮器7内で凝集付
着する。
試料の燃焼部3への導入を停止しても、これらの凝集付
着した水分がなくなるまでキャリアガスを加湿するため
、測定セル10には長時間(通常30分〜1時間)にわ
たって加湿されたキャリアガスを流さなければならない
。
着した水分がなくなるまでキャリアガスを加湿するため
、測定セル10には長時間(通常30分〜1時間)にわ
たって加湿されたキャリアガスを流さなければならない
。
水分凝縮器7に電子式クーラを使用して1へ2°C程度
の低温に強制冷却する形式のものでは、加湿水分濃度が
1%以下と低いため問題はないが。
の低温に強制冷却する形式のものでは、加湿水分濃度が
1%以下と低いため問題はないが。
室温までしか下げない簡単な形式の水分凝縮器7では、
キャリアガス中の水分濃度は、その時の室温における飽
和水蒸気濃度に等しく、また、塩化物や硫酸塩、特にそ
のアルカリ塩やアルカリ土類塩は、燃焼部3内で徐々に
反応するため9反応生成物も長時間にわたって発生して
くる。海水をTOC測定装置で測定した場合2発生時間
が30分以上になることもある。
キャリアガス中の水分濃度は、その時の室温における飽
和水蒸気濃度に等しく、また、塩化物や硫酸塩、特にそ
のアルカリ塩やアルカリ土類塩は、燃焼部3内で徐々に
反応するため9反応生成物も長時間にわたって発生して
くる。海水をTOC測定装置で測定した場合2発生時間
が30分以上になることもある。
通常、測定を終了すると、装置の電源を切υキャリアガ
スの供給を停止させる。そうすると、先に述べた多量の
水蒸気や腐蝕性カスが測定セル10内に残っている状態
で停止することIc’;’zJ)、これらのガスは1次
回この装置を使用するまで滞溜したままである。装置の
使用中に比較して、装置を停止した夜間などには当然、
室温が低下するが。
スの供給を停止させる。そうすると、先に述べた多量の
水蒸気や腐蝕性カスが測定セル10内に残っている状態
で停止することIc’;’zJ)、これらのガスは1次
回この装置を使用するまで滞溜したままである。装置の
使用中に比較して、装置を停止した夜間などには当然、
室温が低下するが。
測定セル10内には、装置の使用中の温度における飽和
水蒸気濃度の水分が滞溜しているため、室温が低下する
と水分が凝縮する。この凝縮した水分や腐蝕性カスの影
響により、測定セル10内部は汚れた9g蝕する。
水蒸気濃度の水分が滞溜しているため、室温が低下する
と水分が凝縮する。この凝縮した水分や腐蝕性カスの影
響により、測定セル10内部は汚れた9g蝕する。
測定セル10は1通常、セル窓とセル容器から構成され
ているが、いずれも汚れや腐蝕を最中+もきらう部分で
ある。セル窓は勿論のこと、セル容器内面も光源からの
光を反射光により有効に検出器へ伝えるため、金メツキ
仕上げ、あるいはアA−ミやステンレス鋼の鏡面仕上げ
などが施されているが、これらが汚れたり腐蝕すると、
検出器への光量が弱くなるため9ガス分析部9のゼロ点
のドリフトや感度の低下につながる。。
ているが、いずれも汚れや腐蝕を最中+もきらう部分で
ある。セル窓は勿論のこと、セル容器内面も光源からの
光を反射光により有効に検出器へ伝えるため、金メツキ
仕上げ、あるいはアA−ミやステンレス鋼の鏡面仕上げ
などが施されているが、これらが汚れたり腐蝕すると、
検出器への光量が弱くなるため9ガス分析部9のゼロ点
のドリフトや感度の低下につながる。。
測定の終了後、上記の腐蝕性カスなどの発生が止まり、
測定セル10内にそれらがd% < iつでから装置の
運転を停止すれば以上の110題は防止できるが、その
ためには測定終了後長時間待−フてかも装置を停止しな
ければならない。
測定セル10内にそれらがd% < iつでから装置の
運転を停止すれば以上の110題は防止できるが、その
ためには測定終了後長時間待−フてかも装置を停止しな
ければならない。
この発明は上記した従来の問題点を解決した炭素測定装
fViを提供することを目的とするもので。
fViを提供することを目的とするもので。
測定セルにドライパージガスを供給する回路を旧設し、
測定セル内に上記の腐蝕性ガスなどが残溜しないように
した炭素測定装置である。
測定セル内に上記の腐蝕性ガスなどが残溜しないように
した炭素測定装置である。
以下に、第2図のTOC測定測定装量1t施例によりこ
の発明を説明する。
の発明を説明する。
11および12はギヤリアガス供給部1からのキャリア
カスを、試料測定時の1′!J回路(試料導入部2、燃
焼管4.水分凝縮器7および測定セル10)と測定終了
後に、バイパス回路13を通って測定セル10にキャリ
アガスを流通させる回路(ドライパージガス回路)に切
換えるための3万電磁弁である。この3方電磁弁J、
]、 、 12はドライパージガス回路用始動装置14
により動作させられ、その内部に設けたタイマーにより
、予め定めた時間だけ測定セル10にキャリアガスを供
給する。タイマーにより設定される時間は、測定セル1
0内のガスをキャリアガスで置換するに必要な時間であ
るが9通常、測定セル10内の容積は50〜80m1で
あるからキャリアガスの流量にもよるが9例えば5QQ
m 171n inとすれば、10〜20秒で11ぼ
置換される。
カスを、試料測定時の1′!J回路(試料導入部2、燃
焼管4.水分凝縮器7および測定セル10)と測定終了
後に、バイパス回路13を通って測定セル10にキャリ
アガスを流通させる回路(ドライパージガス回路)に切
換えるための3万電磁弁である。この3方電磁弁J、
]、 、 12はドライパージガス回路用始動装置14
により動作させられ、その内部に設けたタイマーにより
、予め定めた時間だけ測定セル10にキャリアガスを供
給する。タイマーにより設定される時間は、測定セル1
0内のガスをキャリアガスで置換するに必要な時間であ
るが9通常、測定セル10内の容積は50〜80m1で
あるからキャリアガスの流量にもよるが9例えば5QQ
m 171n inとすれば、10〜20秒で11ぼ
置換される。
ドライパージガス回路に切換えるタイミングは測定終了
後の測定製置の停止時であるから、測定装置の停止装置
とこの始動装置14を連動させると効果的である。
後の測定製置の停止時であるから、測定装置の停止装置
とこの始動装置14を連動させると効果的である。
なお第2図の実施例では、ドライパージガスにキャリア
ガスを使用しているが、キャリアガスとは別のガス供給
源を使用することもできる。
ガスを使用しているが、キャリアガスとは別のガス供給
源を使用することもできる。
以上説明したように、この発明に。Lれば、、)(J交
的簡単なiX7成のカス供給回路を付加づることにより
、従来9問題となっていた炭素測定装置ガの1ll11
父ヒセルの汚れや腐蝕を効果的に防止すること75蓋で
きる。
的簡単なiX7成のカス供給回路を付加づることにより
、従来9問題となっていた炭素測定装置ガの1ll11
父ヒセルの汚れや腐蝕を効果的に防止すること75蓋で
きる。
第1図は従来のTOC測定装置の基本的栴成を月モす図
、第2図はこの発明の実施例装置(TOC1tlll
5辷装置)の基本的朴′i成を示す図である。 しく1中、lはキャリアガス供給部、2は試料ηf入部
、3は燃9′6部、9はカス分析部、10は演1j2;
て−ヒル、II、12は3方電磁切換弁、13はノくイ
ノくス回路、11iよ始動装置である。 特r「出願人 株式会社 高滓製作所1−・−″′r代
理人弁理士武石端彦□)・
、第2図はこの発明の実施例装置(TOC1tlll
5辷装置)の基本的朴′i成を示す図である。 しく1中、lはキャリアガス供給部、2は試料ηf入部
、3は燃9′6部、9はカス分析部、10は演1j2;
て−ヒル、II、12は3方電磁切換弁、13はノくイ
ノくス回路、11iよ始動装置である。 特r「出願人 株式会社 高滓製作所1−・−″′r代
理人弁理士武石端彦□)・
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 l、キャリアガス供給部、試料導入部、燃焼部および非
分散形赤外線式ガス分析部からなる炭素測定装置におい
て、ガス分析部の測定セルにドライパージガスを供給す
るための回路を付設したことを特徴とする炭素測定装量
。 2前記ドライパ一ジガス回路を、キャリア−1jス供給
部から切換パルプを通じてガス分析部の1IIII定セ
ルにいたるバイパス回路でオjq成し、キャリアガスを
ドライパージガスとして供給するようにした特許請求の
範囲第1項記載の炭素測定装量。 3、前記切換パルプを電磁弁で構成し、その始動装置は
タイマー回路を内蔵し5これにょp予め定めた時間だけ
切換パルプを動作させてガス分析部の沖j定セルに一定
時間ドライパージガスを供給するようにした特8′Fn
?j求の範囲第2項記載の府素測定装置。 4前記切換バルブの始動装置を炭素1Hす定装置の停止
装置と運動させ、炭素測定装置による測定終了後席に、
予め定めた時間たけカス分析部の測定セルにドライパー
ジガスを供給するようにした特許請求の範囲第1項記載
の炭素測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17279982A JPS5961756A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 炭素測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17279982A JPS5961756A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 炭素測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5961756A true JPS5961756A (ja) | 1984-04-09 |
JPS64656B2 JPS64656B2 (ja) | 1989-01-09 |
Family
ID=15948577
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17279982A Granted JPS5961756A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 炭素測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5961756A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020016607A (ja) * | 2018-07-27 | 2020-01-30 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 光学計測器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5188291A (ja) * | 1974-12-19 | 1976-08-02 |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP17279982A patent/JPS5961756A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5188291A (ja) * | 1974-12-19 | 1976-08-02 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020016607A (ja) * | 2018-07-27 | 2020-01-30 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 光学計測器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS64656B2 (ja) | 1989-01-09 |
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