JPS5961756A - 炭素測定装置 - Google Patents

炭素測定装置

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JPS5961756A
JPS5961756A JP17279982A JP17279982A JPS5961756A JP S5961756 A JPS5961756 A JP S5961756A JP 17279982 A JP17279982 A JP 17279982A JP 17279982 A JP17279982 A JP 17279982A JP S5961756 A JPS5961756 A JP S5961756A
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JP
Japan
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gas
carbon
measurement
measuring device
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JP17279982A
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JPS64656B2 (ja
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Yozo Morita
洋造 森田
Hideyuki Miki
三木 英之
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Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Publication date
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Publication of JPS5961756A publication Critical patent/JPS5961756A/ja
Publication of JPS64656B2 publication Critical patent/JPS64656B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、キャリアカス供給部、試料導入部。
燃’tX’t:部および非分散形赤外線式ガス分析部(
以下カス分析部という)からなる炭素測定装置で! #
¥にia+定終了後にカス分析部の測定セルにドライパ
ージガスを供給する回路を付設した炭素測定装Wtに関
する。
炭素測定装置には9例えば水中の全扇機性炭素(以下T
OCという)を測定するTOC測定装置や、あるいは汚
泥などの固体中の炭素を測定する装置Riとがある。
これら装置は9第1図に示した在来のTOC3111定
装置の基本的構成から明らかなように、酸化触媒5が充
填された燃焼管4を加熱炉6内に収容してなる燃焼部3
において、試料導入部2よジ導入した試料を1通常、6
00〜1000°Cの高温状態のもとに、キー? リア
ガス供給部1より供給した酸素を含むキャリアカス中で
反応させて試料中の炭素を炭酸ガスに変換させ、この炭
酸ガスを含む反応生成ガスをガス分析部9(測定セル1
0)に導いて炭酸ガス濃度を測定するものである。なお
、7は水分凝縮器、8はドレンボットである。
この反応生成ガス中には、炭酸カスの他に多量の水蒸気
と、試料中の共存成分から発生した種々のガスやミスト
が存在する。例えば、試料中に塩化物が含′まれている
場合には、この塩化物の熱分解物や酸化生成物9さらに
は塩化物と燃焼管4内充填物の石英ウールや酸化触媒と
の反応生成物として、塩素ガス、塩化水素カス、塩酸ミ
スト、塩化物のダストあるいは二酸化塩素などの塩素の
酸化物などが発生する。また、硫酸塩の場合にも。
同様に亜硫酸カスや硫酸ミストなどが発生する。
以上述べた水蒸気やその他aihの尼蝕性カスは炭酸ガ
スのように試料を燃焼部3に導入した時にのみ発生し9
発生したものはただちに測定セル10を通咥してしまう
といった一過性のものではなく次に述べる理由により長
時間にわたジ測定セル10に流入する。水蒸気の場合に
は、燃焼部3を出た後、そのほとんどがカス分析部9へ
いたるまでの配管中、あるいは水分凝縮器7内で凝集付
着する。
試料の燃焼部3への導入を停止しても、これらの凝集付
着した水分がなくなるまでキャリアガスを加湿するため
、測定セル10には長時間(通常30分〜1時間)にわ
たって加湿されたキャリアガスを流さなければならない
水分凝縮器7に電子式クーラを使用して1へ2°C程度
の低温に強制冷却する形式のものでは、加湿水分濃度が
1%以下と低いため問題はないが。
室温までしか下げない簡単な形式の水分凝縮器7では、
キャリアガス中の水分濃度は、その時の室温における飽
和水蒸気濃度に等しく、また、塩化物や硫酸塩、特にそ
のアルカリ塩やアルカリ土類塩は、燃焼部3内で徐々に
反応するため9反応生成物も長時間にわたって発生して
くる。海水をTOC測定装置で測定した場合2発生時間
が30分以上になることもある。
通常、測定を終了すると、装置の電源を切υキャリアガ
スの供給を停止させる。そうすると、先に述べた多量の
水蒸気や腐蝕性カスが測定セル10内に残っている状態
で停止することIc’;’zJ)、これらのガスは1次
回この装置を使用するまで滞溜したままである。装置の
使用中に比較して、装置を停止した夜間などには当然、
室温が低下するが。
測定セル10内には、装置の使用中の温度における飽和
水蒸気濃度の水分が滞溜しているため、室温が低下する
と水分が凝縮する。この凝縮した水分や腐蝕性カスの影
響により、測定セル10内部は汚れた9g蝕する。
測定セル10は1通常、セル窓とセル容器から構成され
ているが、いずれも汚れや腐蝕を最中+もきらう部分で
ある。セル窓は勿論のこと、セル容器内面も光源からの
光を反射光により有効に検出器へ伝えるため、金メツキ
仕上げ、あるいはアA−ミやステンレス鋼の鏡面仕上げ
などが施されているが、これらが汚れたり腐蝕すると、
検出器への光量が弱くなるため9ガス分析部9のゼロ点
のドリフトや感度の低下につながる。。
測定の終了後、上記の腐蝕性カスなどの発生が止まり、
測定セル10内にそれらがd% < iつでから装置の
運転を停止すれば以上の110題は防止できるが、その
ためには測定終了後長時間待−フてかも装置を停止しな
ければならない。
この発明は上記した従来の問題点を解決した炭素測定装
fViを提供することを目的とするもので。
測定セルにドライパージガスを供給する回路を旧設し、
測定セル内に上記の腐蝕性ガスなどが残溜しないように
した炭素測定装置である。
以下に、第2図のTOC測定測定装量1t施例によりこ
の発明を説明する。
11および12はギヤリアガス供給部1からのキャリア
カスを、試料測定時の1′!J回路(試料導入部2、燃
焼管4.水分凝縮器7および測定セル10)と測定終了
後に、バイパス回路13を通って測定セル10にキャリ
アガスを流通させる回路(ドライパージガス回路)に切
換えるための3万電磁弁である。この3方電磁弁J、 
]、 、 12はドライパージガス回路用始動装置14
により動作させられ、その内部に設けたタイマーにより
、予め定めた時間だけ測定セル10にキャリアガスを供
給する。タイマーにより設定される時間は、測定セル1
0内のガスをキャリアガスで置換するに必要な時間であ
るが9通常、測定セル10内の容積は50〜80m1で
あるからキャリアガスの流量にもよるが9例えば5QQ
 m 171n inとすれば、10〜20秒で11ぼ
置換される。
ドライパージガス回路に切換えるタイミングは測定終了
後の測定製置の停止時であるから、測定装置の停止装置
とこの始動装置14を連動させると効果的である。
なお第2図の実施例では、ドライパージガスにキャリア
ガスを使用しているが、キャリアガスとは別のガス供給
源を使用することもできる。
以上説明したように、この発明に。Lれば、、)(J交
的簡単なiX7成のカス供給回路を付加づることにより
、従来9問題となっていた炭素測定装置ガの1ll11
父ヒセルの汚れや腐蝕を効果的に防止すること75蓋で
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のTOC測定装置の基本的栴成を月モす図
、第2図はこの発明の実施例装置(TOC1tlll 
5辷装置)の基本的朴′i成を示す図である。 しく1中、lはキャリアガス供給部、2は試料ηf入部
、3は燃9′6部、9はカス分析部、10は演1j2;
て−ヒル、II、12は3方電磁切換弁、13はノくイ
ノくス回路、11iよ始動装置である。 特r「出願人 株式会社 高滓製作所1−・−″′r代
理人弁理士武石端彦□)・

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 l、キャリアガス供給部、試料導入部、燃焼部および非
    分散形赤外線式ガス分析部からなる炭素測定装置におい
    て、ガス分析部の測定セルにドライパージガスを供給す
    るための回路を付設したことを特徴とする炭素測定装量
    。 2前記ドライパ一ジガス回路を、キャリア−1jス供給
    部から切換パルプを通じてガス分析部の1IIII定セ
    ルにいたるバイパス回路でオjq成し、キャリアガスを
    ドライパージガスとして供給するようにした特許請求の
    範囲第1項記載の炭素測定装量。 3、前記切換パルプを電磁弁で構成し、その始動装置は
    タイマー回路を内蔵し5これにょp予め定めた時間だけ
    切換パルプを動作させてガス分析部の沖j定セルに一定
    時間ドライパージガスを供給するようにした特8′Fn
    ?j求の範囲第2項記載の府素測定装置。 4前記切換バルブの始動装置を炭素1Hす定装置の停止
    装置と運動させ、炭素測定装置による測定終了後席に、
    予め定めた時間たけカス分析部の測定セルにドライパー
    ジガスを供給するようにした特許請求の範囲第1項記載
    の炭素測定装置。
JP17279982A 1982-09-30 1982-09-30 炭素測定装置 Granted JPS5961756A (ja)

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JPS5961756A true JPS5961756A (ja) 1984-04-09
JPS64656B2 JPS64656B2 (ja) 1989-01-09

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020016607A (ja) * 2018-07-27 2020-01-30 国立研究開発法人産業技術総合研究所 光学計測器

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5188291A (ja) * 1974-12-19 1976-08-02

Patent Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5188291A (ja) * 1974-12-19 1976-08-02

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JP2020016607A (ja) * 2018-07-27 2020-01-30 国立研究開発法人産業技術総合研究所 光学計測器

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JPS64656B2 (ja) 1989-01-09

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