JPS5951625A - 温度補償回路 - Google Patents
温度補償回路Info
- Publication number
- JPS5951625A JPS5951625A JP16098582A JP16098582A JPS5951625A JP S5951625 A JPS5951625 A JP S5951625A JP 16098582 A JP16098582 A JP 16098582A JP 16098582 A JP16098582 A JP 16098582A JP S5951625 A JPS5951625 A JP S5951625A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- circuit
- level
- base
- turned
- Prior art date
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00369—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters
- H03K19/00376—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters in bipolar transistor circuits
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、温度補償回路に関し、特にTTL(Tran
sistor−Transistor Logic)回
路に用いて好適なものである。
sistor−Transistor Logic)回
路に用いて好適なものである。
TTLu路は、位相反転トランジスタと、この位相反転
トランジスタのエミッタからベース1(L流を供給され
る接地側出力トランジスタ、更に上記位相反転トランジ
スタのコレクタ電圧によって駆動されるダーリントン接
続された出力トランジスタとを有している。
トランジスタのエミッタからベース1(L流を供給され
る接地側出力トランジスタ、更に上記位相反転トランジ
スタのコレクタ電圧によって駆動されるダーリントン接
続された出力トランジスタとを有している。
上記T ’I’ L回路に関する本発明者の検討によれ
ば、人カイJ号に対するスレッシ−ホールド電圧vTH
の温度依存性が高く2、ノイズマージンが周囲温度によ
って変動することが判明した。本発明者が更に検討を進
めたところ、位相反転トランジスタ及び接地側出力トラ
ンジスタの各ベース電圧vBE が、周囲温度の変化に
よって一2mV/Cも変動することが明らかにされた。
ば、人カイJ号に対するスレッシ−ホールド電圧vTH
の温度依存性が高く2、ノイズマージンが周囲温度によ
って変動することが判明した。本発明者が更に検討を進
めたところ、位相反転トランジスタ及び接地側出力トラ
ンジスタの各ベース電圧vBE が、周囲温度の変化に
よって一2mV/Cも変動することが明らかにされた。
そして、上記スレッシュホールド電圧vTHの温度依存
性は、上記各ベース電圧■BF、の変動に起因すること
が判明した。
性は、上記各ベース電圧■BF、の変動に起因すること
が判明した。
依って5本発明の目的とするところは、電子回路、特に
TTL回路を安定に動作させるための温度補償回路を提
供することにある。
TTL回路を安定に動作させるための温度補償回路を提
供することにある。
以下、第1図を参照して本発明の一実施例を述べる。
第1図はT ’I” L回路の回路構成を示し、これに
は本発明を適用した温度補償回路1が設けられている、
+VC6電源が供給されると、抵抗R3+ダイオードD
Iを介してアースラインへfiiLが流れる、ダイオー
ドD、の順方向電圧■Fl によって、トランジスタ
Q+にベース電圧■B E 1が供給される。なお、ト
ランジスタQ□は接合型トランジスタであるが、後述す
る他のトランジスタはすべてショットキーバリアダイオ
ードを具備しているものとする。
は本発明を適用した温度補償回路1が設けられている、
+VC6電源が供給されると、抵抗R3+ダイオードD
Iを介してアースラインへfiiLが流れる、ダイオー
ドD、の順方向電圧■Fl によって、トランジスタ
Q+にベース電圧■B E 1が供給される。なお、ト
ランジスタQ□は接合型トランジスタであるが、後述す
る他のトランジスタはすべてショットキーバリアダイオ
ードを具備しているものとする。
トランジスタQ1がオン状態に動作すると、抵抗R,,
I化7.トランジスタQ1を介し1.アースラインへ′
乱流12が流れる。上記%:流■、と12とは、互いに
等しい電+7i1.値となるように、抵抗I℃2゜R8
の抵抗値が調整される。これらの抵抗値は、例えば+v
cc 電流が5Vで、入力信号vin に対するスレ
ッシュホールド電圧vT□ を例えば1.4vにしたい
時、R2/′R,+ 0.2 K ’ij3定される。
I化7.トランジスタQ1を介し1.アースラインへ′
乱流12が流れる。上記%:流■、と12とは、互いに
等しい電+7i1.値となるように、抵抗I℃2゜R8
の抵抗値が調整される。これらの抵抗値は、例えば+v
cc 電流が5Vで、入力信号vin に対するスレ
ッシュホールド電圧vT□ を例えば1.4vにしたい
時、R2/′R,+ 0.2 K ’ij3定される。
なお、本実施Vすに示すTTL回路は、半心体集積回路
化される。この場合、R,/R3==0.2の抵抗比を
得ることは容易に行われる。
化される。この場合、R,/R3==0.2の抵抗比を
得ることは容易に行われる。
上述の状態で、入力端子TIに1ルベルの入力信+3v
in が供給されると、ショットキーバリアダイオード
D2 、Ds 、D4がすべて逆方向バイアスとな
り、位相反転トランジスタQ、がオン状態に動作する。
in が供給されると、ショットキーバリアダイオード
D2 、Ds 、D4がすべて逆方向バイアスとな
り、位相反転トランジスタQ、がオン状態に動作する。
+vcC11も源から、負荷抵抗Ruを流れる電流によ
って、位相反転トランジスタQ。
って、位相反転トランジスタQ。
のコレクタ電圧が低下する。ダーリントン接絞された出
力用トランジスタQ3 、Q4がオフ状態になる。しか
し1位4目反転トランジスタQ2のエミッタ電流によっ
て、接地側出力トランジスタQ!lがオン状態にil、
il)作する。電流■3が流れ、出力端子Ttの電l]
ニレベル、b゛い換えれば出力信号■。utがLレベル
に低下する。
力用トランジスタQ3 、Q4がオフ状態になる。しか
し1位4目反転トランジスタQ2のエミッタ電流によっ
て、接地側出力トランジスタQ!lがオン状態にil、
il)作する。電流■3が流れ、出力端子Ttの電l]
ニレベル、b゛い換えれば出力信号■。utがLレベル
に低下する。
なお、抵抗1心121 R+s + トランジスタQ6
は放電回路を4:・’j成し、トランジスタQ、がオフ
状態に切換えられた時、ペースに蓄積された電荷を放電
するためのものである。
は放電回路を4:・’j成し、トランジスタQ、がオフ
状態に切換えられた時、ペースに蓄積された電荷を放電
するためのものである。
一方、入力情号vin がLレベルの時は、ショットキ
ーバリアダイオードD2 、Dsが導通状態になる。+
vcc 電源から、抵抗R1+ショクトキーバリアダイ
オードD、#D31入力端子TIを介して111シが流
れる。A点の電圧VAが低下し。
ーバリアダイオードD2 、Dsが導通状態になる。+
vcc 電源から、抵抗R1+ショクトキーバリアダイ
オードD、#D31入力端子TIを介して111シが流
れる。A点の電圧VAが低下し。
位相反転トランジスタQ、がオフ状態に動作する。
抵抗Rt+を流れる電流が減少し、位相反転トランジス
タQ、のコレクタ電圧が上昇する。トランジスタQ3が
オン状態に動作し、次いでトランジスタQ4がオン状態
に動作する。負荷抵抗RI4を介し、出力端子T、に電
流■4が流れる。出力端子T、の1B、圧レベル、言い
換えれば出力信号V。utがHレベルに上昇する。
タQ、のコレクタ電圧が上昇する。トランジスタQ3が
オン状態に動作し、次いでトランジスタQ4がオン状態
に動作する。負荷抵抗RI4を介し、出力端子T、に電
流■4が流れる。出力端子T、の1B、圧レベル、言い
換えれば出力信号V。utがHレベルに上昇する。
以上の如<TTL回路の回路動作が行われるのであるが
、この間において以下に述べる如き温度補償動作が行わ
れる。
、この間において以下に述べる如き温度補償動作が行わ
れる。
ずなわぢ、温度補償回路1を設けることによってスレッ
シュホールド電圧vTHは、 VTH=2VB、 +R2/RsX (Vcc−VF、
)−2VF8・(1)で決定される。上記(11におい
て、■BF、は位相反転トランジスタQ、と接地側出力
トランジスタQ。
シュホールド電圧vTHは、 VTH=2VB、 +R2/RsX (Vcc−VF、
)−2VF8・(1)で決定される。上記(11におい
て、■BF、は位相反転トランジスタQ、と接地側出力
トランジスタQ。
との各ベース・エミッタ間電圧VBF、であり、V、1
はダイオードD、の)IyJ4方向電圧を示し、vFs
はショットキーバリアダイオードD2+D3の順方向
電圧を示している。ここで注目すべきは、上記(1)式
ニオけるV B E+ VF 1 + VF Bは、そ
れぞれ−2m V / ’Cの温度係数を有しているこ
とである。
はダイオードD、の)IyJ4方向電圧を示し、vFs
はショットキーバリアダイオードD2+D3の順方向
電圧を示している。ここで注目すべきは、上記(1)式
ニオけるV B E+ VF 1 + VF Bは、そ
れぞれ−2m V / ’Cの温度係数を有しているこ
とである。
上記(1)式から、周囲温度Tの変化に対するスレッシ
ュボールド電圧vTHの変化を求めると、2VTH/2
T=)=2− (−2mV/U ) −Rt/R3−
(−2mVA::)−2拳(−2mV/l:; ) =−2−R,/’Rs(mV/C) −・−・・
(2+となる。ここで、Rt/Re =PO,2とする
と、上記(2)式から一〇、’04mV/Uを得る。す
なわち、スL/ y シ5ホールド電圧VTHは−0,
04mv、’Cとな)、温度依存性が著しく低下する。
ュボールド電圧vTHの変化を求めると、2VTH/2
T=)=2− (−2mV/U ) −Rt/R3−
(−2mVA::)−2拳(−2mV/l:; ) =−2−R,/’Rs(mV/C) −・−・・
(2+となる。ここで、Rt/Re =PO,2とする
と、上記(2)式から一〇、’04mV/Uを得る。す
なわち、スL/ y シ5ホールド電圧VTHは−0,
04mv、’Cとな)、温度依存性が著しく低下する。
ちなみに、上記温度補償回路1を設けない場合のスレッ
シュホールド電圧v、Hは、vTl(=2VBE
VFB で決定される。なお、vBF、は上記(1)
式と同様であり、vFs はショットキーバリアダイオ
ードD3のra方向電圧である。そして。
シュホールド電圧v、Hは、vTl(=2VBE
VFB で決定される。なお、vBF、は上記(1)
式と同様であり、vFs はショットキーバリアダイオ
ードD3のra方向電圧である。そして。
スレッシュホールド電圧■7□1は−2m V /Cと
なシ1本発明を適用した温度補償回路1を設けた場合と
の差はりjらかである。
なシ1本発明を適用した温度補償回路1を設けた場合と
の差はりjらかである。
上述の如く、本発明の温度補償回路を適用したTTL回
路は、スレッシュホールド電圧vT)lの温度依存性が
低下するので、極めて安定した論理出力が得られる。
路は、スレッシュホールド電圧vT)lの温度依存性が
低下するので、極めて安定した論理出力が得られる。
第1図は本発明の温度補償回路を適用したTTL回路の
回路図である。 1・・・温度補償回路、D、・・・温度補償回路におい
てカレンミラー動作を行うダイオード、Ql・・・同上
のトランジスタ、D、・・・位相反転トランジスタと接
地側出力トランジスタの各ベース電圧とのオ11の電圧
陣下分を得るダイオード□ 第 1 図 //
回路図である。 1・・・温度補償回路、D、・・・温度補償回路におい
てカレンミラー動作を行うダイオード、Ql・・・同上
のトランジスタ、D、・・・位相反転トランジスタと接
地側出力トランジスタの各ベース電圧とのオ11の電圧
陣下分を得るダイオード□ 第 1 図 //
Claims (1)
- 1、その入力端が電源に接続され、その出力端がTTL
回路を構成する位相反転トランジスタのベースに接続さ
れたカレントミラー回路と、上記位相反転トランジスタ
のベースと入力端子との間に接続され、上記位相反転ト
ランジスタとこれにより駆動される接地側出力トランジ
スタの各ベース電圧の和の電圧降下分を得るためのダイ
オードとをそれぞれ設けたことを特徴とする温度補償回
路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16098582A JPS5951625A (ja) | 1982-09-17 | 1982-09-17 | 温度補償回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16098582A JPS5951625A (ja) | 1982-09-17 | 1982-09-17 | 温度補償回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5951625A true JPS5951625A (ja) | 1984-03-26 |
Family
ID=15726371
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16098582A Pending JPS5951625A (ja) | 1982-09-17 | 1982-09-17 | 温度補償回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5951625A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60254823A (ja) * | 1984-05-30 | 1985-12-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
-
1982
- 1982-09-17 JP JP16098582A patent/JPS5951625A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60254823A (ja) * | 1984-05-30 | 1985-12-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
US4705968A (en) * | 1984-05-30 | 1987-11-10 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor integrated circuit device with high breakdown voltage level |
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