JPS5949528B2 - 測光回路 - Google Patents

測光回路

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JPS5949528B2
JPS5949528B2 JP50082116A JP8211675A JPS5949528B2 JP S5949528 B2 JPS5949528 B2 JP S5949528B2 JP 50082116 A JP50082116 A JP 50082116A JP 8211675 A JP8211675 A JP 8211675A JP S5949528 B2 JPS5949528 B2 JP S5949528B2
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JP
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circuit
photoelectric conversion
stray capacitance
transistor
operational amplifier
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JP50082116A
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JPS525241A (en
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十九一 恒川
哲也 田口
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は直流増幅回路、特に被写体光を測光する測光回
路に使用する直流増幅回路の過渡応答特性を改善し低輝
度においても極めて短時間に安定な測光をなし得るよう
にした測光回路に関するものである。
従来カメラ等に用いられる被写体光の測光回路において
は、被写体光を受光する光電変換素子、対数圧縮素子、
演算増幅器等により測光回路が構5 成されている。
このような測光回路の光応答特性は受光素子として応答
特性の良好なシリコンフォトセル等を用いた場合でも低
輝度の被写体を測光する場合には、圧縮特性素子、並び
に測光回路に内在する浮遊容量成分による応答特性の遅
れが著10しく装置の実用上に支障があつた。詳述する
と上記の如き測光回路では演算増巾器の光電変換素子と
対数圧縮素子とが接続される入力端とアース間に浮遊容
量が存在し、この容量に対し異常チャージ等がなされ測
光回路が安定化す15るまで長時間を要しその応答性が
悪くなる欠点がある。
本発明は上述の事項に鑑みなされたもので、その構成と
して、入力端子間に光電変換素子(実施例の1に相当す
る。
)を接続すると共にその帰還20路に前記光電変換素子
の光電流を対数圧縮する対数圧縮素子(実施例の5に相
当する。)が接続される測光用演算増巾回路(実施例の
2、3に相当する。)と、該増巾回路の前記光電変換素
子と対数圧縮素子とが接続される入力端に接続されるス
25イツチング素子(実施例の9に相当する。)と、該
増巾回路の前記入力端の浮遊容量等の影響による前記増
巾回路の異常出力レベルを検知し増巾回路出力が所定レ
ベルの時検知出力を発生する検知回路(実施例の7に相
当する。)とを設け、該検30知出力に前記スイッチン
グ素子を応答させオンとなし、該スイッチング素子を介
して前記浮遊容量の異常チャージを放電又は浮遊容量へ
強制充電することにて上記浮遊容量の影響を除去すると
共に測光回路が安定化したら直ちに通常の測光動作を3
5自動的に実行する様なした測光回路を提供せんとする
ものである。以下図面によつて本発明を詳細に説明する
第1図は本発明による過渡応答特性改善方式を用いた測
光回路の一実施例を示す回路接続図である。
図において、1は受光素子で例えばシリコンフオトダイ
オードの如き光応答特性の良好な光電変換素子を用いる
。2はFETを入力段とする高入力インピーダンスの直
流演算増幅器で3は2の出力段を構成するトランジスタ
でありこれらは一体としてIC化されている。
4は出力段3のエミツタ抵抗、5は帰還路に接続された
対数圧縮素子で、これらにより被写体輝度の対数値(B
v)に対して直線的出力電圧が得られる。
点線で接続された6は演算増幅器の入力端子(反転)と
アース間に生ずる浮遊容量成分であり、回路素子の製造
過程等において必然的に生ずるものである。つぎに7は
比較回路の演算増幅器、8はスイツチングトランジスタ
、9は放電回路を構成するスイツチングトランジスタ、
10,11および12はバイアスレベル設定用抵抗で以
上の7〜12により本発明の応答特性改善回路が構成さ
れている。つぎに13〜18および19は本測光回路を
より実用性あるものにするための温度補償回路を構成す
る素子で、13はバイアスレベル設定用定電圧源、16
は演算増幅器、18は温度補償用ダイオードで抵抗14
,15および17により温度補償の基準輝度に於いて受
光素子4に生ずる光電流に等しいバイアス電流をダイオ
ード18に流して温度補償する。また19は正の温度係
数を有する抵抗素子である。20〜22は光電変換素子
1が極めて高速の応答特性を有する場合に被写体を照明
する蛍光灯の如き明減光源によるノイズ(フリツカノイ
ズ)を防止するための防止用回路で、20は演算増幅器
、21,22は帰還回路に設けたフリツカノイズ除去用
時定回路のC,Rである。
23は露光情報演算制御回路、24は電源スイツチ、2
5は電源電池である。
つぎに第1図の回路の動作について説明する。
一般にバイポーラ−トランジスタは電界効果トランジス
タより過渡応答特性がよいためにFETが作動する前に
バイポーラ−トランジスタ回路が作動し、これによつて
異常チヤージが生ずる事がある。図において電源スイツ
チ24をオンすると、高入力インピーダンス演算増幅器
を構成する2および3のFET入力段2が作動する前に
トランジスタ3が導通状態になり対数変換素子5を通し
て増幅器入力における浮遊容量成分6に異常チヤージが
生ずる。その後FETが動作状態になると演算増幅器の
入力は、非反転入力より反転入力の方が高電位にあるた
め、トランジスタ3はオフに転じ、これにより出力電圧
は増幅器の下方飽和レベル、すなわちほぼ零電位になる
。これにより浮遊容量6への異常チヤージは、対数圧縮
素子5および光電変換素子1が共にこのチヤージに対し
て逆方向接続となつているため、これらの回路を通して
放電することができず、光電変換素子1に生ずる光電流
によつて放電することになる。被写体の輝度が低い場合
は光電変換素子1に生ずる光電流は極めて小さいので異
常チヤージのこれによる放電には可成りの時間(数秒)
がかかることになりカメラ操作上不都合なことになる。
本発明の方式は上記の如き異常チヤージをFETの作動
開始後瞬間的に解消させるための放電回路を設け、これ
によつて測光回路の過渡応答特性を改善するものである
。図の回路において演算増幅器2,3が作動開始後浮遊
容量6への異常チヤージが続いている間はトランジスタ
3はオフの状態にあり、コンパレーター7の非反転入力
が反転入力電位より低く、トランジスタ8はオフ、トラ
ンジスタ9はオンとなる。従つて6の異常チヤージはト
ランジスタ9を通して瞬間的に放電される。異常チヤー
ジが解消されて演算増幅器2が正常作動状態に移ると、
トランジスタ3はオンし、コンパレーター7は非反転入
力が反転入力電位より高くなり、トランジスタ8がオン
、9がオフとなる。これによりトランジスタ9による放
電回路は開放されることになる。低輝度の場合は光電変
換素子1の光電流は極めて小さく、トランジスタ9のリ
ーク電流により露出誤差を生ずる恐れがあるので、トラ
ンジスタ8の飽和電圧を考慮して、トランジスタ9のベ
ース電圧が演算増幅器2,3の反転入力電位に等しくな
るように抵抗10,11を設定するようにする。なお図
の13乃至18は対数圧縮素子5の温度特性を補償する
ための回路で、13は定電圧回路、19は正の温度特性
を有する抵抗、18は温度補償用ダイオードである。
つぎに温度補償作用について説明する。
温度補償の基準輝度における光電変換素子1の光電流を
IpSとし、対数圧縮素子5と温度補償用ダイオ一ド1
8とに同じ特性の素子を使用し、ダイオード18に光電
流1psに相当するバイアス電流を流すように抵抗17
を選択する。この状態で演算増幅器16および20の非
反転入力バイアスVcは定電圧源13の出力を抵抗14
,15で分圧した電圧が印加されている。演算増幅器1
6の出力電圧V,は増幅器のオフセツト電圧を無視する
とで表わされる。ここにI。はダイオード18の逆方向
飽和電流、kはボルツマン係数、Tは絶対温度、qは電
荷である。被写体輝度の任意の値の時の光電流をIpと
すると、演算増幅器2,3の出力電圧V2はとなる。
この出力電圧V2は出力トランジスタ3のエミツタ抵抗
4の両端に生じ、これと温度補償抵抗19の電圧が演算
増幅器20へ入力される。抵抗19の基準温度T。の時
の抵抗値を現とし、20の帰還抵抗をRFとすると、I
ps/IO並びにIp/IOが共に1よりはるかに大で
あるから、演算増幅器20の出力電圧はとなり、温度変
動に対して20の出力電圧V3は一定値を取り得る。
つぎに演算増幅器2,3が定常状態となつた後測光回路
にフリツカーノイズ(例えば正弦波)の混入した信号が
入力した場合は、光電変換素子の光応答速度が極めて速
いために演算増幅器2,3の出力電圧V2はのような交
流成分を含むことになる。
この出力電圧は上記の如く演算増幅器20へ入力される
。演算増幅器20はその負帰還路が抵抗21とコンデン
サー22の並列接続により構成されており、帰還路のイ
ンピーダンスが高周波に対して低下する特性を有する。
従つて演算増幅器20の利得は高周波数で低くなる。例
えば帰還路のCR時定数を5msec!こ選んだとする
と、交流電源による蛍光灯等のフリツカ一周波数100
Hzに対して直流利得から100Hzの利得を約10d
B減衰させることができる。従つて演算増幅器の出力に
おいてフリツカ一は約0.3倍に減少することになる。
以上の如く本発明の回路においては、上記の如く温度に
対して充分に補償され、かつフリツカーノイズの影響を
少なくなし得ることになり、また過渡応答特性も著しく
改善された測光出力が得られる。第2図および第3図は
本発明の回路による過渡応答特性の改善効果を示す曲線
図である。
第2図において、横軸は電源スイツチ24をオンにして
からの時間経過を示し、縦軸は演算増幅器2,3の反転
入力電圧を示す。VMSは正常動作レベルであり、曲線
Q1が本発明の放電回路を用いた場合、P1が放電回路
のない場合を表わしている。時刻TsにおいてFETが
作動を開始し、トランジスタ3がオフし、浮遊容量6へ
の異常チヤージが停止すると共に、本発明の放電回路が
ない場合には、光電変換素子1の光電流による異常チヤ
ージの放電が曲線P1のように行なわれる。特に低輝度
の場合は演算増幅器の過渡応答特性が悪く増幅器が正常
動作レベルVMSに達するまでに長い時間(TN)を要
する。本発明の放電回路がある場合には、放電用トラン
ジスタ12がオンするので曲線Q1で示すように異常チ
ヤージが短時間(TF)で解消され増幅器の過渡応答特
性が著しく改善される。第3図は温度補償され、フリツ
カ一防止回路を通つた後の輝度情報の応答特性曲線図で
、演算増幅器20の出力信号を表わし、横軸は電源スイ
ツチオンからの時間経過、縦軸は増幅器の出力電圧であ
る。
なおVBH,VBLは増幅器20の上側および下側飽和
レベルであり、VBMは正常出力動作レベルである。そ
の他については第2図と同様であり同一符号で示してあ
る。第4図は本発明の他の実施例を示す回路接続図で、
第1図と同じ部分は同一符号で示してある。
図の実施例ではトランジスタ3およびダイオード5を通
したオーバーチヤージを避けるために、光電変換素子1
および対数圧縮素子5を逆極性にしてある。この回路に
おいてはFETが作動開始する前にトランジスタ8がオ
ンしても、対数圧縮素子5が逆方向に接続されているた
め、浮遊容量6への異常チヤージは生じない。しかし被
写体輝度が低く光電流が極めて小さいと浮遊容量6を充
分に充電し増幅器2が正常動作レベルに達するまでに可
成りの時間がかかるので、これをさけるために浮遊容量
6を強制的に充電するようにしたものである。第5図お
よび第6図は第4図の回路における過渡応答特性改善効
果を示す曲線図で、第2図、第3図と同一符号を用いて
ある。第4図において電源スイツチ24をオンすると、
演算増幅器2の入力段FETが作動する前にトランジス
タ3がオンするが、対数圧縮素子5が逆極性に接続して
あるため、トランジスタ3からの異常チヤージは行なわ
れない。この時コンパレーター7の反転入力電位は非反
転入力電位より高いので出力段トランジスタ8はオフ、
充電用トランジスタ9はオンとなつて浮遊容量6への充
電が強制的に行なわれる。第5図における時刻TFl以
前にFETが作動を開始すると演算増幅器2の反転入力
端子はQ3の如き過渡応答特性を示すことになる。また
時刻TS2でFETが作動を開始すると曲線αの如く6
には一時的にオーバーチヤージが生ずるが、この異常チ
ヤージは光電変換素子1および対数圧縮素子5を通して
瞬間的に放電される。なお第4図において本発明の過渡
応答特性改善回路がついていない場合には曲線P3のよ
うにして被写体輝度に応じた光電流で浮遊容量6が充電
されるために長時間TNの過渡状態が生ずることになる
。第6図は演算増幅器20の出力を示す曲線図で図のQ
,,Q6およびP4がそれぞれ第5図のQ3,Q4およ
びP,に対応する。以上の如く本発明による過渡応答特
性の改善方式を用いれば、光応答速度の速い光電変換素
子と高入力インピーダンス演算増幅器との組合せによる
増幅器の過渡応答特性を著しく改善することができ、特
に低輝度域の被写体の撮影において回路の動作を急速に
安定させることができるものである。
また本発明の改善方式を利用すると、特に低輝度におけ
るモータードライブ等を利用して連続撮影を行なう場合
に測光回路の応答特性の改善に極めて効果大なるもので
ある。なお上記における浮遊容量成分は演算増幅器の製
造課程において必然的に生ずるものの他、増幅器をプリ
ント板等に実装する場合に生ずる浮遊容量成分をも含ま
れるものでありこれらの容量成分による過渡応答特性の
改善も同様にしてなし得るものであることは言うまでも
ない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による過渡応答特性改善方式の一実施例
を示す回路接続図、第2図、第3図は第1図における過
渡応答特性の改善を示す曲線図、第4図は本発明の他の
実施例を示す回路接続図、第5図、第6図は第4図にお
ける過渡応答特性の改善を示す曲線図である。 1・・・・・・光電変換素子、2〜4・・・・・・測光
用演算増幅器、5・・・・・・対数圧縮素子、6・・・
・・・浮遊容量成分、7〜12・・・・・・過渡応答特
性改善回路、13〜19・・・・・・定電圧源および温
度補償回路、20〜22・・・・・・フリツカノイズ防
止回路、23・・・・・・露光情報演算制御回路、24
・・・・・・電源スイツチ、25・・・・・・電源電池

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 入力端子間に光電変換素子を接続すると共にその帰
    還路に前記光電変換素子の光電流を対数圧縮する対数圧
    縮素子が接続される測光用演算増巾回路と、該増巾回路
    の前記光電変換素子と対数圧縮素子とが接続される入力
    端に接続されるスイッチング素子と、該増巾回路の前記
    入力端の浮遊容量等の影響による前記増巾回路の異常出
    力レベルを検知し増巾回路出力が所定レベルの時検知出
    力を発生する検知回路とを設け、該検知出力に前記スイ
    ッチング素子を応答させオンとなし、該スイッチング素
    子を介して前記浮遊容量の異常チャージを放電又は浮遊
    容量へ強制充電することを特徴とする測光回路。
JP50082116A 1974-12-28 1975-07-02 測光回路 Expired JPS5949528B2 (ja)

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DE2558155A DE2558155C3 (de) 1974-12-28 1975-12-23 Lkhtmeßschaltung
US05/644,317 US4076977A (en) 1974-12-28 1975-12-24 Light measuring circuit with stray capacitance compensating means
FR7539756A FR2296169A1 (fr) 1974-12-28 1975-12-24 Circuit photometrique a reponse rapide

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JPS5443402U (ja) * 1977-08-30 1979-03-24

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