JPS5834767B2 - 測光回路の温度補償回路 - Google Patents

測光回路の温度補償回路

Info

Publication number
JPS5834767B2
JPS5834767B2 JP11467182A JP11467182A JPS5834767B2 JP S5834767 B2 JPS5834767 B2 JP S5834767B2 JP 11467182 A JP11467182 A JP 11467182A JP 11467182 A JP11467182 A JP 11467182A JP S5834767 B2 JPS5834767 B2 JP S5834767B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
operational amplifier
circuit
photometric
temperature compensation
photoelectric conversion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP11467182A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5837528A (ja
Inventor
十九一 恒川
哲也 田口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP11467182A priority Critical patent/JPS5834767B2/ja
Publication of JPS5837528A publication Critical patent/JPS5837528A/ja
Publication of JPS5834767B2 publication Critical patent/JPS5834767B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Exposure Control For Cameras (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は温度補償を広範囲に行なうようにした測光回路
の温度補償回路に関するものである。
従来温度変化に伴い、測光回路に於ける温度補償を行な
う種々の提案が為されているが、いずれも広範囲の温度
変化に対して、十分な補償が行われず、正確な測光出力
が得られない欠点を有している。
この理由は、温度補償用として回路的に付加されるサー
ミスタ、ダイオード等がその特性上温度の変化に対して
、相補的な補償を行うに十分な特性を広範囲の温度変化
範囲にわたって、具備していないからである。
本発明は上記実情に鑑みなされたもので入力端子間に光
電変換素子を接続し、該光電変換素子の光電流を対数圧
縮する対数圧縮素子を帰還路に接続した測光用演算増幅
回路及び、光電流を対数圧縮する対数圧縮素子と同じ特
性の温度補償用対数圧縮素子を帰還路に接続した第1の
演算増幅器と抵抗を帰還路に接続した第2の演算増幅器
とを有し、該第1、第2の演算増幅器の非反転入力端子
に定電圧回路から同じバイアス電圧を印加し、第1の演
算増幅器の出力端子を測光用演算増幅回路の入力端子に
接続し、該測光用演算増幅回路の出力端子を正の温度特
性を有する抵抗体を介して、第2の演算増幅器の反転入
力端子に接続し、更に第1の演算増幅器の反転入力端子
と定電圧回路の間に抵抗を接続し、温度補償の基準輝度
に於いて、該光電変換素子より生ずる光電流に相当する
電流を温度補償用対数圧縮素子に流すように該抵抗を選
択することにより、第2の演算増幅器の出力に温度補償
された測光出力を得るようにしようとするものである。
以下図面によって本発明の詳細な説明するが、第1図は
本発明による過渡応答特性改善方式を用いた測光回路の
一実施例を示す回路接続図である。
図において、1は受光素子で例えばシリコンフォトダイ
オードの如き光応答特性の良好な光電変換素子を用いる
2はFETを入力段とする高入力インピーダンスの直流
演算増幅器で、3は2の出力段を構成するトランジスタ
でありこれらは一体としてIC化されている。
4は出力段3のエミッタ抵抗、5は帰還路に接続された
対数圧縮素子で、これらにより被写体輝度の対数値(B
V)に対して直線的出力電圧が得られる。
点線で接続された6は演算増幅器の入力端子(反転)と
アース間に生ずる浮遊容量成分であり、回路素子の製造
過程等において必然的に生ずるものである。
つぎに7は比較回路の演算増幅器、8はスイッチングト
ランジスタ、9は放電回路を構成するスイッチングトラ
ンジスタ、10,11および12はバイアスレベル設定
用抵抗で以上の7〜12により本発明の応答特性改善回
路が構成されている。
つぎに13〜18および19は本測光回路をより実用性
あるものにするための温度補償回路を構成する素子で、
13はバイアスレベル設定用定電圧源、16は演算増幅
器、18は温度補償用ダイオードで抵抗14゜15およ
び17により温度補償の基準輝度に於いて受光素子4に
生ずる光電流に等しいバイアス電流をダイオード18に
流して温度補償する。
また19は正の温度係数を有する抵抗素子である。
20〜22は光電変換素子4が極めて高速の応答特性を
有する場合に被写体を照明する螢光灯の如き明滅光源に
よるノイズ(フリッカノイズ)を防止するための防止用
回路で、20は演算増幅器、21,22は帰還回路に設
けたフリッカノイズ除去用時定回路のC,Rである。
23は露光情報演算制御回路、24は電源スィッチ、2
5は電源電池である。
つぎに第1図の回路の動作について説明する。
一般にバイポーラ−トランジスタは電界効果トランジス
タより過渡応答特性がよいためにFETが作動する前に
バイポーラ−トランジスタ回路が作動し、これによって
異常チャージが生ずる事がある。
図において電源スィッチ24をオンすると、高入力イン
ピーダンス演算増幅器を構成する2および3のFET入
力段2が作動する前にトランジスタ3が導通状態になり
対数変換素子5を通して増幅器入力における浮遊容量成
分6に異常チャージが生ずる。
その後FETが動作状態になると演算増幅器の入力は、
非反転入力より反転入力の方が高電位にあるため、トラ
ンジスタ3はオフに転じ、これにより出力電圧は増幅器
の下方飽和レベル、すなわちほぼ零電位になる。
これにより浮遊容量6への異常チャージは、対数圧縮素
子5および光電変換素子1が共にこのチャージに対して
逆方向接続となっているため、これらの回路を通して放
電することができず、光電変換素子1に生ずる光電流に
よって放電することになる。
被写体の輝度が低い場合は光電変換素子1に生ずる光電
流は極めて小さいので異常チャージのこれによる放電に
は可成りの時間(数秒)がかかることになりカメラ操作
上不都合なことになる。
本発明の方式は上記の如き異常チャージをFETの作動
開始後瞬間的に解消させるための放電回路を設け、これ
によって測光回路の過渡応答特性を改善するものである
図の回路において演算増幅器2゜3が作動開始後浮遊容
量6への異常チャージが続いている間はトランジスタ3
はオフの状態にあり、コンパレーター7の非反転入力が
反転入力電位より低く、トランジスタ8はオフ、トラン
ジスタ9はオンとなる。
従って6の異常チャージはトランジスタ9を通して瞬間
的に放電される。
異常チャージが解消されて演算増幅器2が正常作動状態
に移ると、トランジスタ3はオンし、コンパレーター7
は非反転入力が反転入力電位より高くなり、トランジス
タ8がオン、9がオフとなる。
これによりトランジスタ9による放電回路は開放される
ことになる。
低輝度の場合は光電変換素子1の光電流は極めて小さく
、トランジスタ9のリーク電流により露出誤差を生ずる
恐れがあるので、トランジスタ8の飽和電圧を考慮して
、トランジスタ9のベース電圧が演算増幅器2,3の反
転入力電位に等しくなるように抵抗io、i1を設定す
るようにする。
なお図の13乃至18は対数圧縮素子5の温度特性を補
償するための回路で、13は定電圧回路、19は正の温
度特性を有する抵抗、18は温度補償用ダイオ−下であ
る。
つぎに温度補償作用について説明する。
温度補償の基準輝度における光電変換素子1の光電流を
ipsとし、対数圧縮素子5と温度補償用ダイオド18
とに同じ特性の素子を使用し、ダイオード18に光電流
ipsに相当するバイアス電流を流すように抵抗17を
選択する。
この状態で演算増幅器16および20の非反転入力バイ
アスVcは定電圧源13の出力を抵抗14.15で分圧
した電圧が印加されている。
演算増幅器16の出力電圧■1は増幅器のオフセット電
圧を無視すると で表わされる。
ここにi。はダイオード18の逆方向飽和電流、Kはボ
ルツマン係数、Tは絶対温度、qは電荷である。
被写体輝度の任意の値の時の光電流ipとすると、演算
増幅器2,3の出力電圧■2は となる。
この出力電圧■2 は出力トランジスタ3のエミッタ抵
抗4の両端に生じ、これと温度補償抵抗19の電圧が演
算増幅器20へ入力される。
抵抗19の基準温度T。
の時の抵抗値をR6とじ、20の帰還抵抗をRFとする
と、ips/io並びにip/ioが共に1よりはるか
に犬であるから、演算増幅器20の出力電圧は となり、温度変動に対して20の出力電圧■3は一定値
を取り得る。
つぎに演算増幅器2,3が定常状態となった後測光回路
にフリッカ−ノイズ(例えば正弦波)の混入した信号が
入力した場合は、光電変換素子の光応答速度が極めて速
いために演算増幅器2,3の出力電圧■2 は のような交流成分を含むことになる。
この出力電圧は上記の如く演算増幅器20へ入力される
演算増幅器20はその負帰還路が抵抗21とコンデンサ
ー22の並列接続により構成されており、帰還路のイン
ピーダンスが高周波に対して低下する特性を有する。
従って演算増幅器20の利得は高周波数で低くなる。
例えば帰還路のCR時定数を5 m SeCに選んだと
すると、交流電源による螢光灯等のフリッカ−周波数1
00Hzに対して直流利得たら100Hzの利得を約1
0dB減衰させることができる。
従って演算増幅器の出力においてフリッカ−は約0.3
倍に減少することになる。
以上の如く本発明の回路においては、上記の如く温度に
対して充分に補償され、かつフリッカ−ノイズの影響を
少なくなし得ることになり、また過渡応答特注も著しく
改善された測光出力が得られる。
第2図および第3図は本発明の回路による過渡応答特性
の改善効果を示す曲線図である。
第2図において、横軸は電源スィッチ24をオンにして
からの時間経過を示し、縦軸は演算増幅器2,3の反転
入力電圧を示す。
VMSは正常動作レベルであり、曲線Q1が本発明の放
電回路を用いた場合、Plが放電回路のない場合を表わ
している。
時刻tSにおいてFETが作動を開始し、トランジスタ
3がオフし、浮遊容量6への異常チャージが停止すると
共に、本発明の放電回路がない場合には、光電変換素子
1の光電流による異常チャージの放電が曲線P1のよう
に行なわれる。
特に低輝度の場合は演算増幅器の過渡応答特性が悪く増
幅器が正常動作レベルVMSに達するまでに長い時間(
tN)を要する。
本発明の放電回路がある場合には、放電用トランジスタ
12がオンするので曲線Q□で示すように異常チャージ
が短時間(tp’ )で解消され増幅器の過渡応答性が
著しく改善される。
第3図は温度補償され、フリッカ−防止回路を通った後
の輝度情報の応答特性曲線図で、演算増幅器20の出力
信号を表わし、横軸は電源スイツチオンからの時間経過
、縦軸は増幅器の出力電圧である。
なおVBH2■BLは増幅器20の上側および下側飽和
レベルであり、■えは正常出力動作レベルである。
その他については第2図と同様であり同一符号で示しで
ある。
第4図は本発明の他の実施例を示す回路接続図で、第1
図と同じ部分は同一符号で示しである。
図の実施例ではトランジスタ3およびダイオード5を通
したオーバーチャージを避けるために、光電変換素子1
および対数圧縮素子5を逆極性にしである。
この回路においてはFETが作動開始する前にトランジ
スタ8がオンしても、対数圧縮素子5が逆方向に接続さ
れているため、浮遊容量6への異常チャージは生じない
しかし被写体輝度が低く光電流が極めて小さいと浮遊容
量6を充分に充電し増幅器2が正常動作レベルに遅する
までに可成りの時間がかかるので、これをさけるために
浮遊容量6を強制的に充電するようにしたものである。
第5図および第6図は第4図の回路における過渡応答特
性改善効果を示す曲線図で、第2図、第3図と同一符号
を用いである。
第4図において電源スィッチ24をオンすると、演算増
幅器2の入力段FETが作動する前にトランジスタ3が
オンするが、対数圧縮素子5が逆極性に接続しであるた
め、トランジスタ3からの異常チャージは行なわれない
この時コンパレーター7の反転入力電位は非反転入力電
位より高いので出力段トランジスタ8はオフ、充電用ト
ランジスタ12はオンとなって浮遊容量6への充電が強
制的に行なわれる。
第5図における時刻tp□以前にFETが作動を開始す
ると演算増幅器2の反転入力端子はQ3 の如き過渡
応答特性を示すことになる。
また時刻tS2でFETが作動を開始すると曲線Q4の
如く6には一時的にオーバーチャージが生ずるが、この
異常チャージは光電変換素子1および対数圧縮素子5を
通して瞬間的に放電される。
なお第4図において本発明の過渡応答特性改善回路がつ
いていない場合には曲線P3のようにして被写体輝度?
砿じた光電流で浮遊容量6が充電されるために長時間t
Nの過渡状態が生ずることになる。
第6図は演算増幅器20の出力を示す曲線図で図のQi
=、Q6およびpJJSそれぞれ第5図のQs 、Q4
およびP3に対応する。
以上の如く本発明は、演算増幅器、温度補償用対数圧縮
素子及び正の温度特性を有する抵抗体を用いて、対数圧
縮素子を有する測光回路の温度補償を相補的に行ってい
るので、極めて広範囲の温度変化及び、被写体輝度の変
化にわたって温度補償が可能であり、効果は極めて犬で
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による過渡応答特性改善方式の一実施例
を示す回路接続図、第2図、第3図は第1図における過
渡応答特性の改善を示す曲線図、第4図は本発明の他の
実施例を示す回路接続図、第5図、第6図は第4図にお
ける過渡応答特性の改善を示す曲線図である。 1・・・光電変換素子、2・・・測夫用演算増幅器、5
・・・対数圧縮素子、13・・・定電圧源、16・・・
温度補償用演算増幅器、17・・・抵抗、18・・・温
度補償用ダイオード、19・・・抵抗素子、20・・・
演算増幅器、21・・・抵抗。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 入力端子間に光電変換素子を接続し、該光電変換素
    子の光電流を対数圧縮する対数圧縮素子を帰還路に接続
    した測光用演算増幅回路及び、光電流を対数圧縮する対
    数圧縮素子と同じ特性の温度補償用対数圧縮素子を帰還
    路に接続した第1の演算増幅器と抵抗を帰還路に接続し
    た第2の演算増幅器とを有し、該第1、第2の演算増幅
    器の非反転入力端子に定電圧回路から同じバイアス電圧
    を印加し、第1の演算増幅器の出力端子を測光用演算増
    幅回路の入力端子に接続し、該測光用演算増幅回路の出
    力端子を、正の温度特性を有する抵抗体を介して、第2
    の演算増幅器の反転入力端子に接続し、更に第1の演算
    増幅器の反転入力端子と定電圧回路間に抵抗を接続し、
    温度補償の基準輝度に於いて、該光電変換素子より生ず
    る光電流に相当する電流を温度補償用対数圧縮素子に流
    すように該抵抗を選択することにより、第2の演算増幅
    器の出力に温度補償された測光出力を得ることを特徴と
    する測光回路の温度補償回路。
JP11467182A 1982-07-01 1982-07-01 測光回路の温度補償回路 Expired JPS5834767B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11467182A JPS5834767B2 (ja) 1982-07-01 1982-07-01 測光回路の温度補償回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11467182A JPS5834767B2 (ja) 1982-07-01 1982-07-01 測光回路の温度補償回路

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP50082116A Division JPS5949528B2 (ja) 1974-12-28 1975-07-02 測光回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5837528A JPS5837528A (ja) 1983-03-04
JPS5834767B2 true JPS5834767B2 (ja) 1983-07-28

Family

ID=14643683

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11467182A Expired JPS5834767B2 (ja) 1982-07-01 1982-07-01 測光回路の温度補償回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5834767B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3581898B1 (de) * 2018-06-13 2020-07-29 E+E Elektronik Ges.M.B.H. Elektronische anordnung, optischer gassensor umfassend eine solche elektronische anordnung und verfahren zur kombinierten fotostrom- und temperaturmessung mittels einer solchen elektronischen anordnung

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5837528A (ja) 1983-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4085411A (en) Light detector system with photo diode and current-mirror amplifier
US5363000A (en) Solid-state image sensing apparatus
US4076977A (en) Light measuring circuit with stray capacitance compensating means
US4188551A (en) Amplifier circuit having photoelectric converter
US4100407A (en) Photoelectric conversion circuit
JPS5834767B2 (ja) 測光回路の温度補償回路
US3793522A (en) Temperature compensating circuits for photo-conductive cells
JPS5949528B2 (ja) 測光回路
JP3534209B2 (ja) 受光回路
JPS6136606B2 (ja)
KR0185382B1 (ko) 증폭기 및 캐패시터를 포함하는 필터 회로
US4498753A (en) Photometric apparatus for cameras
JPH01163632A (ja) 測光回路
JP2998805B2 (ja) 積分回路
JP2950885B2 (ja) 測光装置
US4868594A (en) Light measuring device for flash exposure system
KR910005570Y1 (ko) 카메라의 노출 자동 조절장치
EP0153250A1 (fr) Amplificateur intégré à étage de sortie réalisé en technologie CMOS
JPS5853294B2 (ja) ソクコウカイロ
KR950000413Y1 (ko) Ccd 자동조리개 구동회로
RU1836671C (ru) Непрерывный стабилизатор посто нного напр жени
SU1046749A1 (ru) Вторичный источник питани
JPH0474881B2 (ja)
JPH0414740B2 (ja)
JPS59768B2 (ja) ソツコウカイロ