JPS594798B2 - 記憶の故障の検出をし記憶モジユ−ルの再編成をするデ−タ処理装置 - Google Patents

記憶の故障の検出をし記憶モジユ−ルの再編成をするデ−タ処理装置

Info

Publication number
JPS594798B2
JPS594798B2 JP48140405A JP14040573A JPS594798B2 JP S594798 B2 JPS594798 B2 JP S594798B2 JP 48140405 A JP48140405 A JP 48140405A JP 14040573 A JP14040573 A JP 14040573A JP S594798 B2 JPS594798 B2 JP S594798B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
module
storage
signal
circuit
address
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP48140405A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS49103539A (ja
Inventor
デイ− デボイ デ−ビツド
ジエイ バ−ロ− ジヨ−ジ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HANEIUERU INFUOOMEISHON SHISUTEMUSU Inc
Original Assignee
HANEIUERU INFUOOMEISHON SHISUTEMUSU Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HANEIUERU INFUOOMEISHON SHISUTEMUSU Inc filed Critical HANEIUERU INFUOOMEISHON SHISUTEMUSU Inc
Publication of JPS49103539A publication Critical patent/JPS49103539A/ja
Publication of JPS594798B2 publication Critical patent/JPS594798B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/76Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using address translation or modifications
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/06Addressing a physical block of locations, e.g. base addressing, module addressing, memory dedication
    • G06F12/0646Configuration or reconfiguration
    • G06F12/0669Configuration or reconfiguration with decentralised address assignment
    • G06F12/0676Configuration or reconfiguration with decentralised address assignment the address being position dependent

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は記憶装置に関連し、とくに記憶装置の保全を容
易にする方法に関連する。
一部の計算機システムでは、保全(mainte−na
nce)の目的で、記憶モジュールの追加及び除去によ
りモジユラー計算機システムの物理的構成ユニットの編
成を変える構成を従来から使つている。
これらのシステムでは、手操作スイッチを使い、システ
ムを隔離ざれたサブシステムに分割するか、又は記憶モ
ジュールにおけるアドレス割当ての修正手段を設け、シ
ステム全体の不可能化を伴わずにモジュールの保全操作
をしている。このような従来システムは、計算機の通常
操作に支障を与えることなく試験用のシステム再編成を
行う手段をもつが、しかしシステム再編成のためにはシ
ステムとして操作員の手操作スイツチの使用が必要であ
る。したがつて、この種の従来システムでは、操作員の
選択錯誤による操作誤りのおそれがある。さらに、これ
らの従来システムでは、故障モジユールを自動的に分離
する手段がなく、故障モジユールをその後の試験のため
に自動的にすべてオフ・ライン(0ff−11ne)に
切換えたり又はシステムの他の部分の操作に障害を与え
ずに交換する手段がない。また、他の従来システムでは
、冗長又は2重モジユールを使つて特定物理モジユール
の再編成をはかつている。
故障発生時の通常操作としては、操作員が2重モジユー
ルの交換をする。これらのシステムは、その主要部品を
2重設備にするのでコスト高となる。さらに、この場合
にもモジユールの交換は操作員が始動しなければならな
いので、選択錯誤による操作誤りは避けられない。した
がつて、本発明の目的は、データ処理装置システムにお
いて、その記憶装置の一部にある1以上の故障記憶モジ
ユールを自動的にシステムからパージして、システムの
即時復旧を確保する手段を提供するにある。
本発明の他の目的は、記憶装置内の残余記憶モジユール
を自動的に再編成して新しい連続アドレス空間を形成す
る技術を提供するにある。
本発明はさらに、操作員がシステムの利用可能記憶ソー
スの自動再編成を始動して連続アドレス空間を形成でき
るようにした装置の提供を自的とする。
本発明のさらに他の目的は、故障記憶モジユールをシス
テムから自動分離しかつ予備モジユールに接続して所要
量のアドレス可能記憶空間を確保する装置を提供するに
ある。
本発明の上記諸目的を達成するため、本発明の好ましい
実施例は、複数個の記憶モジユールからなる記憶装置を
使う。
本発明装置においては、各モジユールに対してアドレス
位置決め手段を設け、この手段によつてモジユールへの
アクセスに使われるアドレスを指定し、さらに、そのモ
ジユールが動作時に所定の最低信頼度基準を満足するか
否かの感知手段を設ける。好ましい実施例の感知手段は
、記憶装置からアクセスされる情報における個々の誤り
発生を感知する。したがつて、好ましい実施例で使われ
る信頼度基準は、アクセスされた情報の完全性を基礎に
するものである。複数のモジユールのアドレス位置決め
手段を適当に縦続接続し、1つのモジユールのアドレス
位置決め手段をして、先行するモジユールのアドレス位
置決め手段から受信したアドレス信号を修正させ、かつ
、その修正したアドレス信号を後続モジユールのアドレ
ス位置決め手段に加えさせる。
さらに、各アドレス位置決め手段は、自己が発生する修
正アドレス信号をモジユールへのアクセスに使われるそ
の関連モジユールへも加える。命令信号受信時には、感
知手段が、故障条件をもつと判断された夫々のモジユー
ルをして中央処理ユニツトから加えられるアドレス信号
に対する応答ができないように禁止する。このことは、
故障モジユールをシステムから論理的に分離する効果を
もつ。さらに感知手段は、各故障モジユールのアドレス
位置決め手段において、その入力に加えられかつ後続モ
ジユールの位置決め手段に転送ざれるアドレス信号の修
正を禁止し、そのことにより、残余の記憶モジユールに
加えられるア下レス信号の自動修正を行ない、新しい連
続アドレス空間を形成する。故障モジユールの分離はま
た、最後の記憶モジユールのアドレス位置決め手段をし
て、現在作動中のモジユールの数を表わすアドレス信号
を発生させる。
すなわち、最後のモジユールの位置決め手段がシステム
内の最大モジユール数に対応するものとして発生したア
ドレス信号を、その数値において故障モジユールの数だ
け減少させる。これらの信号は中央処理ユニツトへ伝送
される。中央処理ユニツトは、最後のモジユールの位置
決め手段からのモジユール数アドレス信号を使つて、シ
ステム内のアドレス可能記憶の最大境界を作り出す。中
央処理ユニツトがこうして作られた最大境界以上の語記
憶位置へアクセスしようとすると、中央処理ユニツト内
の装置が適当なチエツク信号(Checksignal
)を発生する。好ましい実施例の記憶システムは、小さ
な記憶モジユールの組合せからなる。本発明によれば、
記憶の小さな増分はモジユールの大きさに対して選ばれ
るが、これは故障の場合に失われ記憶空間を少くするた
めである。記憶装置の大きさは、とくに多重プログラミ
ング(MultiprOgran]Ming)の場合に
システム性能に直接に影警するので、記憶装置故障時に
記憶装置性能の劣化を比較的低くおさえる。小さな記憶
モジユールの使用による他の利点は、ハネイウエル計算
機ジヤーナル誌第5巻第2号、1971年のD.D.デ
ボイ及びD.W.ムーア著「ACasefOrIner
easingtheMOdularityOfLarg
ePerf−0rmanceDigita1Mem0r
ies]に記載されている。さらに、本発明は再編成に
当つて予備記憶モジユールの自動附加を提供し、モジユ
ール故障の際にも同一アドレス空間を保持するという利
点を使用者に与える。
このため、システムに対し一定数のモジユールを確保す
る手段を設け、この数があらかじめ定めたモジユール数
より少なくなつたときに予備記憶モジユールの位置決め
手段を可能化して動作させる条件づけをこの手段によつ
て行なつOこの予備モジユールのさらに他の利点は、上
記文献に記載されたような多文字インタリーブド・シス
テム(Multicharacterinterlea
vedsystem)において、単一モジユールの故障
時のインタニリーピングをその故障前と同範囲まで可能
化する。
小さな記憶装置増分をモジユールの大きさに選んでいる
から、予゛備モジユール機能を含めることのコストはこ
の目的のためにシステムヘモジユールを附加することの
コストを最少化する。以下添付図を参照して本発明を詳
細に説明する。5システム 第1図は本発明装置゛を含むデータ処理システムのプロ
ツク図を示す。
図示のように、このシステムは、可変長のキヤラクタ・
プロセツサ(文字処理器)10、及び主記憶システム2
0をもち、文字処理器10は従来設計のものである。た
とえば、M.M.ブルーム及びW.L.レチンの発明に
かかり本出願人に譲渡されたアメリカ合衆国特許第33
31056号に記載された中央処理ユニツトCPUを処
理器10に使用してもよい。主記憶システム20は2行
の記憶バンク22−1及び22−2を含むように構成さ
れる。記憶バンク22−1は4つの記憶モジユール24
−1ないし24−4の群を含み、記憶バンタ22−2は
ユニツト26−1ないし26−4を含む。各バンクは、
合計65,536個の36ビツト語からなるアドレス可
能記憶スペースを与える。各ユニツトは4文字幅の記憶
モジユールを含み、それらは、合計65,536個の9
ビツト文字からなるアドレス可能記憶空間を与え、その
増分は16,384文字である。各列において、図示の
記憶インターフエイ?.28−1ないし28−4に含ま
れる引出し(Drawers)29−1ないし29−8
の異る引出しに含まれるタイミング及び制御回路が、記
憶モジユールNφないし、N7を独立に操作する。各イ
ンターフエイスは、図示してない36ビツトの記憶ロー
カル・レジスタの1セクシヨンを介して処理器10と交
信する。各インターフエイスは、1つの引出し中の複数
の記憶モジユールの間の意図された1つの中の1文字位
置へのアクセスを可能にする。すなわち、1つの列のた
めの記憶インターフエイスは、所要の入力タイミングア
ドレス、情報及び制御信号を含む引出しを準備し、母線
30−1ないし30−4のうちの対応母線に含まれる導
体組を介してモジユールNO−N7の中の1つにおける
記憶位置のアドレスをし、かつ、読出し動作サイクルで
は同一母線内の他の導体組に対してその内容の読出しを
する。書込動作サイクルでは、読出されたと同じ内容を
記憶位置へ書込む代りに、他の導体組を介して加えられ
た情報を被アドレス記憶位置へ書込む。この構成によれ
ば、文字処理器10は、1文字当りの実効記憶アクセス
・タイムを低減させると共に4個までの文字に同時アク
セスできる。本発明によれば、各インターフエイス中の
第1引出しのモジユールは、次の引出しのモジユールに
対し、ケーブル32−1ないし32−4のうちの1つの
対応ケーブルを介してモジユール番号アドレス情報信号
を与える。モジユール番号信号はまた、各列の最終モジ
ユール(すなわち、モジユールN7)から対応ケーブル
34−1ないし34−4を介してCPUlOへ送られる
。これにより、CPUlOは、アドレス信号が利用可能
な最大記憶アドレス空間を超えた時を検出できるように
なる。第2図は、第1図の記憶引出し29−1内に含ま
れるエレメントを示すプロツク図であり、本発明装置と
ともに4つのモジユール群の通常動作を制御する諸エレ
メントをも示す。
他の引出し29−2ないし29−8は、引出し29−1
と同様な回路配置をもつので、その詳細説明は省略する
。第2図に示すように、記憶引出しインターフエイス2
9−1は、その主要構成部品として図示配置のセクシヨ
ン202−216をもつ。
各種タイミング信号、制御信号、アドレス信号、及びデ
ータ信号は、プロツク218−1ないし218−3内に
含まれる従来のケーブル・ドライバー・レシーバ一回路
を介して引出し29−1とCPUlOとの間で転送され
る。タイミング信号、選択信号、アドレス信号、及びデ
ータ信号は、記憶引−出し29−1とその引出しの4つ
の記憶モジユールの諸セクシヨンとの間に第2図に示す
ように転送される。各モジユールNOないしN3は、従
来設計の2つの8,192の9ビツト文字スタツクから
なる一致電流コア記憶からなる。
各記憶モジユールはまた、アドレスされた文字記憶位置
に関して9ビツト・データ文字の書込み又は9ビツト・
データ文字の読出しをするために16,358個の9ビ
ツト文字記憶位置の1つをアクセスするに必要なタイミ
ング及び制御回路、アドレス緩衝回路、選択回路、感知
増幅回路、禁止回路、ならびにインターフエイス回路を
もつ。本発明の好ましい実施例においては、第2図の4
つのa已憶モジユーノレNOないしN3のそれぞれがプ
ロツク210に含まれる対応数の位置決めユニツト21
0−1aないし210−1dの1つに個別に関連する。
通常動作では、各位置決めユニツトは、その関連モジユ
ールを示しかつそのモジユールにアクセスするための論
理アドレスを発生する。以下に詳細に説明するように、
各位置決めユニツトは、その入力端子lこ加えられたア
ドレス信号組を修正して論理アドレスを発生し、その修
正したアドレス信号を出力端子組に加える。モジユール
の位置決めユニツトは適当に縦続接続され、1つのモジ
ユールの位置決めユニツトは、先行モジユールの位置決
めユニツトから受取つたアドレス信号を修正し、その修
正したアドレス信号を後続モジユールの位置決めユニツ
トに加える。図示実施例では、モジユール1の位置決め
ユニツトが所定のアドレス組を受取り、これを使つて第
1論理アドレスを発生する。モジユール4の位置決めフ
ユニツトは、以下に説明するように、その出力端子組に
おけるアドレス信号をCPU又は他の位置決めユニツト
に加える。
さらに、各位置決めユニツトは、その修正アドレス信号
を、そのモジユールへのアクセスにおいて使われる関連
モジユールにも加える。
とくに、修正アドレス信号は、第2図のプロツク206
に含まれる複数個のモジユール選択回路のうちの1つの
対応回路に加えられる。以上説明した各回路は、CPU
によつて発生された16ビツトアドレス・コードの4つ
の高位アドレス・ビツトによる指示があつたときに、そ
の対応モジユールをアクセスに対して条件づけする。プ
ロツタ214中の回路は、各モジユールからアクセスさ
れた情報について奇偶検査を行なうことにより、各記憶
モジユールが最低信頼度基準を満足するか否かを感知す
る。誤りが預生した場合には、プロツク214の回路が
、セクシヨン212に含まれる記憶回路の1つを切換え
る。故障モジユールのシステムを「パージ(Purge
)]することが望ましいときには、命令信号がプロツク
208内の論理回路の条件づけをし、プロツク212に
よつて故障であると定められた(Deslgned)各
モジユールの位置決めユニツトに制御信号を加える。こ
れらの信号は、各位置決めユニツトがその入力端子に加
えられたアドレス信号の修正をすることを禁止する。そ
の同じ制御信号がまたプロツク206のモジユール選択
回路に加えられ、これらの回路がCPUから加えられた
アドレス信号に応答することを禁止する。各ユニツト間
で転送される信号の符号は、出力回路に付けられた符号
とその信号が肯定状態に関するか否定状態(補信号即ち
反転信号)に関するかを示す下位2桁の数字によつて決
定されている。
例えばアドレス信号MADOlφφはアドレスビツト1
信号が2進「零]又は補数にラツチされていることを示
し、MADl4lφはアドレスビツト14信号が2進「
l」にラツチされていることを示す。従つて各ユニツト
間における信号の対応は下位2桁の数字を除いた部分の
符号(例えばMADOllOならMADOlの部分)に
よつて判断すればよい。
そこで例えば信号MADOlllは信号MAD0110
と対応しており、信号MlADl5OはMlADllO
と対応しており、夫々何段かの論理回路を通過している
ことを示している。
アドレス選択回路202 第2図の各部を詳細に検討するに、第2a図に示すよう
に、アドレス回路部202は、複数個の記憶回路202
−1ないし202−14をもち、各回路は202−17
と同様のラツチング増幅器回路をもつ。
各ラツチ回路は、CPUlOから受信される下位の14
個のアドレビツト中の1ビツトを記憶する。第2図に示
すように、回路202−1ないし202−14のラツチ
回路出力信号MADOlllないしMADl4llは、
4つのモジユールの各々に同時に加えられ、選ばれた記
憶モジユールの文字記憶位置の内容のアクセスに供され
る。記憶回路202−1の動作を説明する。
ラツチ増幅器回路202−17は、入力データ信号MA
DOlφφ及び201−16からのタイミング信号MT
MRT3φの両者が共に2進1であるときに2進1に切
換わる。タイミング信号MTMRTlAが再ひ2進1に
なるまで信号MTMRTφφを保持することにより回路
202−17は2進1に保持される。
2進1にある信号MTMRTlAは、ゲ゛一ト・インバ
ータ回路202−15を条件づけして保持信号MTMR
Tφφを零へ強制し、かつ、ゲート・インバータ202
−16を条件づけして信号MTMRT3φを2進1へ強
制する。
逆に、2進0にある信号MADOlφφは、信号MTM
RTlAが2進1に強制されたときに、ラツチ回路20
2−17が2進1にあればそれを2進0に切換える。タ
イミング発生器及ひ位相回路部204 タイミング信号MTMRTlAその他の信号を送出する
タイミング発生器及び位相回路部204の詳細を第2b
図に示す。
この回路部分は、CPUlOが発生する入力タイミング
信号MARGOlRに応答して、読出し及び書込みサイ
クル操作中に各記憶モジユールに対し基本的タイミング
信号を与える。通常は、信号MTDLA3φ、MTDL
Blφ、MTDLB2Bl及びMTDLB2Cが2進0
である。
信号MARGOlRが2進1へ強制されると、信号MT
DLA2φが2進1から2進0へ強制される。信号MT
DLA2φのこの状態変化は遅延線202−2によつて
一定量だけ遅延されたのちゲート・インバータ回路20
4−3に加えられる。その遅延ののち、インバータ回路
204−3は信号MTDLA3φを2進1へ強制し、こ
れがラツチ回路204−4をして信号MTDLBlφを
2進1に変えさせる。このとき、信号MPROl2φ及
びMTDLB4Cがいずれも1である。信号MTDLB
4Aは常時2進1であるから、ゲート増幅器回路204
−7が信号MTDLB4A及びMTDLBlφによつて
可能化され、セツトーリセツト信号MTMRTlAを2
進1に強制し、これを第2a及び2h図にそれぞれ示す
アドレス及びデータ・ラツチ回路に加える。信号MTM
RTlAが2進1に切換わると、それがストローブ・ワ
ンシヨツト回路204−24をトリガし、信号MSTE
Nllを0へ強制する。
この信号はすべての記憶モジユールに加えられ、記憶サ
イクルの開始信号となる。信号MTMRTlAが2進0
から2進1に切換わると、それが第2a図のアドレス回
路を条件づけして、新しいアドレスビツトを受取りその
中に記憶させる。同時に信号MTMRTlAは、第2h
図のデータ・ラツチ回路をりセツトして2進0状態へ移
行させる。信号MTDLBlφの状態変化は、第2の遅
延線204−5によつて遅延され、その後、信号MTD
LB2BがOから2進1へ強制される。この信号がゲー
ト204−8及び204−12を可能化し、信号MRC
HIAB及びMRCHICDが2進1に切換えられる。
信号MRCHICDの状態の変化は、ワンシヨツト回路
204−14をトリガし、290ナノ秒パルス信号MR
CHllを発生させる。ワンシヨツト回路204−14
の出力端子はゲート204−8及び204−12の入力
端子へそれぞれ接続され、信号MRCHlllを加える
ことにより、信号MRCHIAB及びMRCHICDが
2進1をとる期間の長さを規定する。信号MRCHIA
B及びMRCHICDは、記憶モジユール1ないし4に
加えられ、記憶サイクルのうち読取部の長さを規定する
。2進1に切換えられた信号MRCHIABは、ワンシ
ヨツト回路204−22をトリガする。
回路204−22からの信号の否定は、ラツチ204−
4のセヅゝトを防止し、次の記憶サイクル開始までラツ
チ回路をその状態に保持する。200ナノ秒が終ると、
信号MTDLB4Cが零へ強制され、ラツチ回路204
−4は零へリセツトされる。
ワンシヨツト214−14が作動(Fire)すると、
それは第1奇偶検査ワンシヨツト回路204一28をト
リガし、これが350ナノ秒後に直列接続された奇偶ワ
ンシヨツト回路204−30を作動させる。
450ナノ秒信号MPCHK3lが、記憶サイクル中に
被選択記憶モジユールから読出されたデータについて奇
偶検査をすべき期間を定める。
ワンシヨツト204−14が与える290ナノ秒の期間
の後に、直列接続の2つのワンシヨツト回路204−1
6及び204−18が順次トリガし、書込命令信号MW
CHIlOを発生する。この信号はすべての記憶モジユ
ールへ送られ、記憶サイクルの書込み期間を定める。モ
ジユール再編成論理回路部210 第2c及び2d図に示すように、この部分は、記憶モジ
ユール1ないし4の各々に対する位置決めユニツト21
0−1aないし210−1dを含む。
すなわち、各記憶モジユールのユニツトは図示のように
縦続接続されるが、各第1ユニツトだけは、以下に説明
する態様で次のユニツトに割当てられるべきアドレスを
規定する。図示のように各位置決めユニツトの出力端子
FOないしF3は、プロツク210−6aないし210
−6dのインバータ回路群中の対応インバータを介して
第2e図のモジユール選択部へ結合される。各位置決め
ユニツト210−1aないし210一1dは、図示配置
の比較器回路及ひ加算器回路をもつ。
これらの回路210−4aないし2104d及び210
−2aないし210−2dのおのおのは従来設計のもの
でよい。たとえば、加算器及び比較器回路は、1971
年のテキサス・インスツルメント社マニユアル「TTL
集積回路カタログ」の9−315ないし9−320頁に
記載されたSN74l8l番の算術論理ユニツトによつ
て構成してもよい。第2c及び2d図の配置では、加算
器回路の算術論理ユニツトが2組の入力信号に対して算
術演算を行う。
同じユニツトを使つて比較器回路とし、2組の入力信号
について論理比較演算をし、従来の比較器回路として動
作させる。加算器及び比較器回路の端子に付けた丸印は
、これらの端子に加えられる信号に対しインバータ又は
コンプルメント操作が行われることを示す。これにより
、これらの回路の内部操作が以下に詳細に説明するよう
に入力信号とコンパチブル(COmpatible)に
なる。第2c及び2d図に示すように、各比較器回路2
10−4aないし210−4dは、プロツク210−8
に含まれるジアッパ及びインバータ回路から1組の入カ
デイジタル・アドレス信号を受取る。
ジアッパJPφ9ないしJPl2は任意のモジュールが
とり得る最大許容アドレスを定めるように接続され、換
言すれば、1つの記憶インターフエイス内で動作可能な
記憶モジユールの最大数を定めるようδこ接続される。
すなわち、各比較器回路210−4aないし210−4
dは、端子AOないしA3に加えられた最大許容確立ビ
ツト・パターン信号を、回路の端子BOないしB3に加
えられた一定の第2アドレス信号群と比較する。後者の
信号群はジアッパーJPφ1ないしJPφ8から得られ
プロツク210−5に含まれるインバータ回路によつて
インバートされる。第2群のアドレス信号は、その時に
記憶インターフエイス内の特定点で作動可能であるモジ
ユールの数を表わす。各比較器が行なう比較の結果によ
り、それに関連した加算器回路がその入力端子対AOな
いしA3及びBOないしB3に加えられたアドレス・ビ
ツト・パターンの和に対して1を加える修正を施すべき
か否かが定まる。
加算器の第2群入力端子BOないしB3は、それぞれ2
進1に相当する正電圧を受取るように接続される。これ
らの端子に加えられた信号はインバートされるから、各
加算器の入力BOないしB3は、全零ビツト・パターン
に対応する固定アドレスを、加算器回路が算術演算を加
えるべき第2の量として加える。比較器回路210−4
aないし210−4dのいずれにも真比較(Truec
OmparisOn)がない場合には、インバータ回路
210−3aないし210−3d内で発生される信号M
lBLKφφないしM4BLKφφはそれぞれ常時2進
1となる。したがつて、各加算器回路は、その出力端子
FOないしF3に、入力端子AOないしA3及びBOな
いしB3に加えられたアドレス・ビツト・パターンの和
である信号を発生する。この和は、各加算器回路の入力
BOないしB3がパターン0000にセツトされている
から、入力端子AOないしA3に加えられたアドレスビ
ツト・パターンを1だけ増したものになる。比較器回路
が真比較を感知した場合には、その比較回路は、信号M
AMXlφφないしMAMX4φφ中の対応するものを
2進1へ強制し、それにより信号MlBLKφφないし
M4BLKφφ中の1信号を零へ強制する。
桁上げ入力信号がない場合には、各加算器は、その入力
端子AOないしA3に加えられたアドレス・ビツト・パ
ターンに対応する和を、端子FOないしF3に与える。
この和は次いで、後続位置決めユニツトへ加えられる。
同時に、位置決めユニツトは信号MlOFL3φないし
M4OFL3φのうちの対応信号を強制して、第2e図
のモジユール選択回路がプロツク210一6aないし2
10−6dの回路を介して加えられるアドレス選択信号
に応答することを禁止する状態に移行させる。加算器が
その端子AOないしA3に加えられた入力信号を修正す
ることを禁止しかつ選択回路を加算器を介して禁止する
ことにより、対応モジユールを効果的にシステムから分
離することができる。
上記と同様なモジユール分離操作が、信号MlOFLl
φのいずれか1つが2進1へ強制されたときにも行われ
る。これらの信号は、以下に述べる特定検査基準にした
がつて第2図のモジユール・パージ論理回路部によつて
発生され、第1図の記憶システムに所要の再編成を自動
的に開始させる。モジユール再編成論理回路210の通
常動作を例に引いて簡単に説明する。
プロツク210−1a,210−1b,210−1c1
及び210−1dの比較器及ひ加算器回路は負論理にも
とづいて動作し、2進1はOボルト信号に等しく、2進
0は正電圧信号に等しい。これに対する例外は、比較器
回路出力端子におけるA=B信号、及び、加算器回路入
力端子におけるCn信号である。したがつて、端子A=
B又社COに加えられる信号を除き、これらの回路に出
入りする2進ビツト・パターン信号はすべて負論理(す
なわち、大地電圧=論理1、正信号=論理0)で表わさ
れる。プロツク210−8及び210−5の回路はイン
バータ回路であつて、比較器及び加算器回路に加えられ
た信号を、正論理(すなわち、2進0=大地零電圧、2
進1=正電王)から負論理へ変換し、比較器及び加算器
入力とする。プロツク210−6a,210−6b,2
10−6c1及び210−6dの回路もインバータ回路
であつて、システムの他の部分においてコンパチブルな
正論理への変換に使われる。モジユール1がサブシステ
ム内の最初のモジユールであり、したがつてこのモジユ
ールにはその位置決めユニツト210−1aを介してア
ドレス0000が割当てられるものと仮定する。
このアドレスは、入力アドレスを1だけ増したアドレス
に対応するから、加算器回路210−2aに入力アドレ
ス1111が与えられるようにジアッパーJPφ1ない
しJPφ8は接続されない。記憶モジユール2,3,4
にはそれぞれの位置決めユニツト210−1b,210
−1c,210−1dを介してアドレス0001,00
10,0011がそれぞれ割当てられる。さらに、この
記憶システムのもつ最大許容アドレス・ビツトコンフイ
ギユレーシヨンは48Kであると仮定する。ここに、K
は記憶スペースの1,024バイトに等しい。ジアッパ
ーJPφ9ないしJPl2は、各比較回路に対して入力
アドレス・ビツト・コンフイギユレーシヨン0010を
与えるように配置される。すなわち、ジアッパーJPφ
9,JP10、及びJPl2は接地される。各記憶モジ
ユールは16Kの記憶容量をもつから、インターフエイ
ス内で動作する記憶モジユールの数は3を超える必要は
ない。ジアッパーJPl3及びJPl4は、インターフ
エイスが16個の記憶モジユールをもち16個のコード
のすべてを使うことが必要とされる場合を考慮したもの
である。16個のモジユールがすべて含まれる場合には
、第1モジユールのプロツク210−8のジアッパーJ
Pl3が接地され、第16モジユールのプロツク210
−8(71)ジアッパーJPl4が非接続にされる。
これが、オーバライトされるべき第1記憶モジユールの
比較器210−1aによつて与えられる結果を可能化す
る。必要とされるのは3個のモジユールだけであるから
、ジアッパーJPl3及びJPl4は非接続のまま残さ
れる。プロツク210−5のインバータ回路のおのおの
に対するジアッパー端子は「浮動」であり、したがつて
、インバータ回路に2進1が加えられ、これが信号Ml
ADlφφないしM4AD4φφを2進0へ強制する。
加算器回路210−2a及び比較器回路210−4aは
、それぞれの端子組に加えられた2進ビツト・パターン
を上記のようにインバートする。比較器回路21−0−
4aの端子B3−BOに加えられた2進ビツト・パター
ン1111は、端子A3−AOに加えられた2進ビツト
・パターン0010と一致しないので、信号」MlBL
Kφφ内の桁上げが2進1へ強制される。加算器回路2
10−2aは、入力アドレス・ビツト・パターン111
1に1の増分を与え、その和φφφφを出力端子FO−
F3に与える。このビツト・パターンφφφφは、位置
決めユニツト210−1bの加算器回路210−2bの
入力端子AO〜A3及び比較器回路210−4bの入力
端子BO−B3に加えられる。
また、パターンφφφφ(負論理)がプロツク210−
6aのインバータ回路に加えられ、その結果アドレスビ
ツト・パターンφφφφ(正論理)が第2e図に示すモ
ジユール1の選択回路へ送られる。さらに、信号MlO
FLlφ及びMAMXlφφがモジユール1の選択回路
へ送られる。これらの信号の状態が、このモジユールを
選択すべきか否かを定める。そのモジユールが動作して
おりかつ最大許容アドレスが超過されていない通常の条
件のもとでは、信号MlOFLlφ及びMAMXlφφ
が2進0である。ここに説明するモジユール選択回路で
は、各位置決めユニツトから供給されるアドレス・パタ
ーンがCPUから受取られる高位4桁アドレス・パター
ンと比較され、両者の間に真比較がある場合にそのモジ
ユールが選択される。
すなわち、最初の位置決めユニツト210−1aは、ど
のアドレス・パターンを選択回路へ送つてCPUの発生
したパターンと比較すべきかを定めることによつてモジ
ユール1に対するアドレス割当てをする。第2位置決め
ユニツト210−1bの比較器回路210−4bは真比
較を行い得ないので(すなわち、A3−AO=φφ1φ
にしてB3−BO=φφφφ)、加算器回路210−2
bは入カビツトパターンφφφφに1の増分を与え、そ
の出力端子F3−FOに和φφφ1を与える。この和つ
は、記憶モジユール3の第3位置決めユニツト210−
1cの比較器回路210−4c及び加算器回路210−
2cの両者に加えられる。
位置決めユニツト210−1bが与えるパターンφφφ
1(負論理)はプロツク210−6bのインバータ回路
によつてコンプルメントさべ システムの他の部分にお
ける正論理とコンパチプルにされたのちパターンφφφ
1(正論理)は信号M2OFLlφ及びMAMX2φφ
と共にモジユール2の選択回路へ送られる。したがつて
、モジユール2の選択回路は、アドレス・パターンφφ
φ1(正論理)に対してのみ応答できる。次いで、パタ
ーンφφφ1(負論理)は、第3位置決めユニツト21
0−1cの加算器回路210−2cの入力端子AO−A
3に加えられる。
比較器回路210−4cは真比較ができず(すなわち、
A3−AO,二φφφ10,B3−BO一φφφ1)、
加算器回路210−2cは入力アドレス・パターンに1
の増分を与え、その和φφ1φを出力端子F3−FOに
供給する。このパターンφφ1φは、その後、第4位置
決めユニツト210−1dの比較器回路210−4d及
び加算器回路210−2dに加えられる。さらに、この
パターンはプロツク210−6cのインバータに加えら
れてコンプルメントされ、パターンφφ1φの正論理表
示となり、これが信号M3OFLlφ及びMAMX3φ
φと共にモジユール3の選択回路へ送られる。比較器回
路210−4dが、その入力端子AO−A3とBO−B
3に加えられたビツト・パターンの間に真比較(すなわ
ち、A3−AO=φφ1φ,B3−BO=φφ1φ)を
検出すると、信号M4BLKφφを2進0へ強制する。
これにより、第4位置決めユニツト210−1dの加算
器回路210−2dはその人カビツト・パターンを無修
正でその出力端子FO−F3へ転送する。この無修正ア
ドレス・パターンは、その後、CPU又は他の記憶モジ
ユールの位置決めユニツトに加えられる。さらに、位置
決めユニツト210−1dが発生し,たパターン001
0は、プロツク210−6dのインバータ回路によつて
コンプルメントされ、正論理で表わされたパターンφφ
1φとなり、この信号が信号M4OFLlφ及びMAX
4φφとともにモジユール4の選択回路へ送られる。
最大アドレス・パターンと位置決めユニツト210−1
cからのパターンとの間に真比較があつたので、両信号
M4OFLlφ及びMAX4φφはともに2進1である
。これらの信号がモジユール4の選択回路の条件づけを
して、CPUがその記憶モジユール内の記憶位置をアド
レスするのを防止する。ここで注意すべきことに、4ビ
ツト・アドレス・パターンをもつてすれば、16個まで
の記憶モジユールを直列接続できる。図示実施例におい
ては、記憶モジユールは64K(4記憶モジユール)を
増分として結合しており、物理的には記憶装置の各増分
が引出し内に配置されている。図示システムでは、各イ
ンターフエイスが2つの引出しをもつ。各インターフエ
イス引出しの第4モジユールのモジユール位置決め装置
は、母線32−1ないし32−4のうちの対応する1つ
の母線により直列接続される。加算器回路210−2d
により与えられた4ビツト・アドレス・コード・パター
ンは、上記母線を介して、第2引出しの最初の記憶モジ
ユールの位置決めユニツトの加算器回路へ転送される。
第2引出しでは、第1引出しの位置決めユニツト210
−1dからビツト・パターンを受取るために、JPφ2
,JPφ4,JPφ6、及びJPO8に対応するジアッ
パーを分離し、JPφ1,JPφ3,JPφ5、及びJ
Pφ7なるジアッパーを接続する。また、ジアッパーJ
Pφ9ないしJPφ12は、記憶モジユールがとり得る
最大許容アドレスに応じて適宜接続される。実施例の構
成においては、位置決めユニツトによつて次の4つのア
ドレスφ1φφ,φ1φ1,φ11φ、及びφ111が
それぞれ第2引出しの後続の4つの記憶モジユールに割
当てられる。
第2引出しの第4記憶モジユールの位置決めユニツトの
加算器回路によつて発生された4ビツト・アドレス・コ
ード・パターンは対応する母線34−1ないし34−4
の内の1つを介してCPUへ転送される。記憶モジユー
ル選択回路部206 第2e図に示す回路部分206は、各記憶モジユール1
ないし4を選択する回路を含む。
記憶モジユールIご対するプロツク206−1a内の選
択回路について詳細を示すが、モジユール2−3に対す
る他の選択回路も同様な回路構成をもち、その間の相違
は処理すべき特定信号が異なることだけである。このこ
とを、プロツク206−1a及ひ206−1dが受取る
信号にラベルを付して示した。第2e図から明らかなよ
うに、プロツク206−1aに含まれる比較回路部20
6−4は、高次4アドレス・ビツト(信号MADl8l
O一MADl5lO)を、第2c及び2d図のモジユー
ル再編成論理回路部に含まれる記憶モジユールの位置決
めユニツトからの4ビツト・アドレス信号(MlAD4
lO−MlADllO)と比較する。
この比較回路部は、図示のように配置されたインパータ
回路206−5,206−10,206−13,206
−16、及びANDゲート206−6ないし206−9
,206−11,206−12,206−14,206
−15をもつへ モジユール1の選択回路が真比較を検出すると、ラツチ
回路206−18内に.含まれるANDゲート206−
20が作動さ−れ、このラツチ回路がセツトされ、信号
MlSELlOが1へ強制される。
保持信号MlHLDlOが2進1状態にあるときには、
ラツチ回路206−18のセツト操作がANDゲート2
06−26の可能化によつてさらに条件づけられる。通
常は、両信号MlOFL3φ及びMAMXlφφがとも
に零であり、2組のアドレス信号の間に真比較があると
きにはラツチ回回206−18が2進1にセツトされる
。信号MlOFL3φ及びMAMXlφφのいずれか一
方がモジュール再編成部210によつて2進1へ強制さ
れたときには、保持信号MlHLDlOが零へ強制され
る。
これにより、たとえ2組のアドレス信号の間に真比較が
ある場合でも、ラツチ206−18の2進1へのセツト
操作が阻止される。したがつて、信号MlSElOが2
進1でない限り、CPUから記憶モジユールへ送られた
下位14ビツト・アドレス信号によつて指定される記憶
位置はアドレスされない。モジユール・パージ論理部2
08 第2f図に示すように、この回路部分208は、モジユ
ール1ないし4にそれぞれ対応する複数個のラツチ回路
208−1ないし208−4をもつ。
検査装置によつて与えられる最低信頼性基準を対応モジ
ユールが満足していないことが検査条件信号(たとえば
、信号MICHKlOが2進1)の存在により信号され
た場合には、ラツチ回路が2進0から2進1に切換えら
れる。命令が開始(すなわち、信号MPURGOTが2
進1)されると、与えられた最低動作標準を維持できな
かつたモジユールはいずれも記憶システムからパージさ
れる。換言すれば、信号MlCHKlOないしM4CH
KlOの状態は、各記憶モジユールの位置決めユニツト
に対して、そのモジユールの状態を通報する。
各モジユールの状態は、以下に説明する第2h図の奇偶
検査回路によつて規定される。信号MPURGOTは、
操作員が第3図の保全パネル論理回路により信号MPU
RlφTを2進1へ強制することにより発生させるか、
又はCPUが第4a図の連続モード回路により信号MM
PGOlφを2進1へ強制することにより発生させる。
すでに記したように、信号MPURGOTは特定の検査
条件をもつすべての記憶モジユールをオフライン状態へ
強制する。信号MMINTOTは、検査条件の表示を記
憶した各ラツチを2進0状態へリセツト又は初期化(I
nitjallze)するために使われる信号である。
信号MMIN丁0Tは、操作員が制御パネルの初期化押
しボタンを押すこと又はCPUによつて以下に説明する
態様で発生される。さらに、操作員は、その制御パネル
に取付けられたスイツチを操作することにより、任意の
記憶モジユールを手動でオフライン状態に切換えること
ができる。操作員が上記スイツチの1つをオフライン位
置へセツトすると、第2f図の信号MIFLφφφない
しM4FLφφφのうちの対応する1つの信号が2進1
状態へ強制され、これにより、第2f図のラツチ回路2
08〜1ないし208−4のうちの対応回路が2進1状
態へ切換えられる。システムが初期化されると、オフラ
インにおかれた記憶モジユールの第2f図に示すラツチ
回路はセツト状態に留まる。この構成により、操作員は
任意の記憶モジユールをその修理完了又は交換完了まで
オフラインに保つことができる。奇偶検査論理回路部2
14 第2g図は、各記憶モジユール1ないし4の最低信頼性
基準を規定する検査論理回路を示す。
従来設計による奇偶検査論理回路214−2は、選′ば
れたモジユールの被アドレス記憶位置から第2i図のデ
ータ・ラツチ増幅器回路部へ読み出された従来の9ビツ
トデータ出力信号について奇偶検査を行なう。
すなわち、回路214−2は、信号MMSAllOない
しMMSA8lOに対して1つの奇偶検査ビツト信号を
発生し、その結果を信号MMSA9lOと奇検査(0d
dparity)のために比較する。誤りが存在する場
合には、回路214−2が信号MMCHKlφを2進1
へ強制し、信号MPCHK3lが規定する記憶サイクル
中の一定期間中にいずれか1つの記憶モジユールが選択
された(すなわち、信号MMSELlOが2進1である
)ときに、MMCHKlφがANDゲート及び増幅器回
路214−6を2進1へ強制する。
信号MMCHK3φの状態で規定される検査結果は、第
21図のモジユール状態表示部の回路へ送られる。また
、その結果の表示はゲート及び増幅器回路214−8を
介してCPUへ送られ、以下に説明する処理のために使
われる。図示例ではアドレスのため一時に選択される記
憶モジユールは1つであるから、回路部214の誤り検
査回路は4つの記憶モジユールに対して共通になる。容
易に明らかなように、検査方式は、記憶装置の編成・機
能及び所要の検査水準に応じて変わる。たとえば、シス
テムの記憶モジユールの動作の信頼性を確保するために
は、ハミング・コード(HammingcOdes)な
どの他のコードの使用を含む誤り検査方法の採用が必要
となることもあろう。データ・ラツチ増幅器回路部21
6 第2g図の検査装置と同様に、回路部216は1つの引
出しの4つの記憶モジユールに対して共通とする。
第2h図に示すように、この回路部分は9つのラツチ2
16−1ないし216−9をτみ、選ばれたモジユール
の記憶位置における9ビツト内容のビツト表示を記憶す
る。ラツチ216一1は、他の8つのラツチ回路と同様
に、ラツチ回路の2進0出力端子からの信号(すなわち
、信号MMSAlφφ)と共に、各記憶モジユールの特
定データ出力線に加えられた信号(すなわち、信号Ml
DBlφφないしM4DBlφφ)を受取る。これらの
信号対は、ラツチ回路216−1のANDゲート216
−10ないし216−13により論理的に結合される。
選択信号MlSELφφないしM4SELφφは、それ
ぞれゲート216一14ないし216−17へ加えられ
る。1つのモジユールが選ばれると、その対応選択信号
が2進0状態へ強制され、他の信号は2進1に留まる。
信号MMSAlφφは1であるから、対応データ出力線
に加えられた信号が0へ強制された(たとえば、信号M
lDBlφφがOへ)ときには、ANDゲート及びイン
バータ回路が2進1に切換えられる。通常は、プロツク
216−1の信号MDRESφφは2進1であるから、
信号MMSAlφφが0に切換えられる。この信号MM
SAlφφはゲート216−10ないし216−13へ
送り還され、ラツチ回路216一1を2進1状態に保持
する。セツトーリセツト信号MTMRTlAが2進1に
切換えられたときに、ラツチ回路216−1はO状態へ
リセツトされる。他のラツチ回路もそれぞれ同様に動作
し、他のデータ出力線の1つについてビツト表示を記憶
する。モジユール状態表示部212第21図に示す回路
部分212は、プロツク212−2のりセツト論理回路
212−3ないし212−4、プロツク212−10の
誤り検査記憶ラツチ回路212−11ないし212−1
4、及びプロツク212−20の表示及び駆動回路をも
つ。
これらの回路は、1つの引出し内の各モジユールの状態
を表示するように動作する。たとえば、1つの記憶モジ
ユールが選択されると、モジユール選択信号MlSEL
lOないしM4SELlOのうちの対応信号が2進1状
態へ強制される。奇偶誤りが発生すると、信号MMCH
K3Oが2進1へ強制され、ラツチ回路212−11な
いし212−14のうちの対応回路が論理1へ切換えら
れる。切換えられたラツチ回路に接続された駆動回路は
、信号MlCHKlLないしM4CHKlLのうちの対
応信号を大地電位へ強制し、表示ランプ212−26な
いし212−29のうちの1つを照明する。
検査クリア信号MCHCLφφが0へ強制されると、セ
ツト・ラツチ回路がOにりセツトされる。
このことは、奇偶誤りりセツト・スイツチを押すか(す
なわち、信号MCKRSlOが1へ強制される)、又は
初期化(Initlallze)ボタンを押した(すな
わち、信号MMINTOTが2進1へ強制される)とき
に起る。データ書込論理回路220 第2j図に示すこの回路部分は、複数個のゲート増幅器
及びインバータ回路段220−1ないし220−9を含
み、これらが記憶モジユール1ないし4の禁止回路に出
力データ信号MWDOllφないしMWDO9lφをそ
れぞれ加える。
CPUが発生する書込アポート(WriteabOrt
)信号MABRTφφの制御下において、記憶モジユー
ルの被アドレス記憶位置から読み出された信号が選択的
に同一位置に復帰又は書きもどされる。たとえば、読出
し記憶サイクル中の書き込み部(すなわち書き込アポー
ト信号MABRT3φが2進1であるとき)においては
、記憶感知回路から読出されたデータ信号(すなわち、
信号MMSAllφ)と同じ信号が論理回路によつて被
アドレス位置へ書きもどされて。書込アポート信号MA
BRT3φが2進0のときには、CPUによつて母線に
加えられた信号が、アドレスされた記憶モジユール記憶
位置に書込まれる。ステージ220−1は図示のように
接続されたインバータ回路220−10ないし220−
12、ANDゲート220−16及び220−17、な
らびに増幅器回路220−18をもつ。
ステージ220−1に対する論理回路の動作は次式で表
わされる。MWDOllφ =MABRT3φ・MMSAllφ +MABRT2O・MDBOllR 残余のステージに対する回路も同様な動作をするので、
第2j図ではそれらの詳細は省略する。
保全パネル回路第3図は、信号MPURlOTの発生に
関連する論理回路を示し、この信号は各引出しの各記憶
モジユールの状態ラツチの状態のサンプル動作を始動す
る。
図示のように、第3図の回路は遂行スイツチ論理回路プ
ロツク200、モード・スイツチ復号論理回路プロツク
200−10、及びサンプル論理回路プロツク200−
20をもつ。保全パネルに配置したモード・スイツチの
1位置を選択すると、3ビツト・コードが発生し、それ
が所要の動作モードを選択する。すなわち、プログラマ
ー又は現場作業員が主記憶゛装置の「パージ」の必要性
を認めたときには、モード・スイツチをパージMM位置
にまわす。これにより信号SRMOlllS及びSRM
O2lSが2進1へ強制される。同時に、信号SRMO
3lSはOへ強制される。ANDゲート及び増幅器回路
200−14がこれらの信号を復号し、信号SPURl
Gを2進1へ切換え、操作員が保全パネルの遂行押しボ
タンを押したときに、プロツク200−20のANDゲ
ート及び増幅器回路200−22を2進1に切換える。
その結果、[パージ」信号MPURlOTないしMPU
R4OTが発生し、これらの信号がゲート及び増幅器回
路200一24ないし200−27を介して記憶インタ
ーフエイス1ないし4へ加えられる。さらに詳細に説明
すると、遂行押ボタンを押すと、信号SEXEC3φが
2進1へ強制される。
さらにタイミング信号T2TO3OOが2進1へ切換え
られたときに、クロツク信号PDAに応答して1対のク
ロツクトフリツプフロツプ200−1及び200−2が
1幀次切換えられる。フリツプフロツプ200−1は入
力信号T2TO3φφによつて1状態に保持される。こ
の信号は、CPUのフリーランニング主タイミング・ユ
ニツトによつて発生される。遂行押ボタンが解放され(
信号SEXEC3φがOに切換えられ)かつ信号T2T
O3lφが再び2進1に切換えられると、その後のPD
A発生時にフリツプフロツプ200一2はOへリセツト
される。CPU論理回路 本発明の動作を説明する前に、まず、本発明装置の制御
に使われるCPUの一部を示す第4a及び4b図につい
て説明する。
第4a図は、CPUが「コンテイニユ・インタラプト・
モード]で動作しているときに記憶奇偶誤りを処理する
CPU内の制御論理回路を示す。
このモードlこあるCPUは、ハードウエア故障による
ものやソフトウエアによるものなどのCPU動作中断の
原因となる誤り条件の発生について質関し、中断の要否
について判断する。図示のようにこの論理回路は、信号
MMPEDlO及びMNEMSlBによつて規定される
誤り条件の発生に応答して2進1に切換わるコンテイニ
ユ命令記憶クロツクト・フリツプフロツプ400−1を
含む。
信号MMPEDlOは、0R回路を介して記憶インター
フエイスの各々からの検査信号を結合することにより(
たとえば、各記憶インターフエイスの奇偶検査回路(第
2g図)によつて発生される信号MMCHKφT)誘導
され、システム内のいずれかの記憶モジユールにおける
奇偶誤りの発生を示す。
信号MNEMSlBは、アドレスされた記憶位置が以下
に説明する与えられた記憶装置サイズ内にないことを示
す。CPUがインタラプト・モードで動作しているとぎ
(すなわち、信号H″PBMAφφがO)、又はCPU
が未だこのモードにおかれていないが(すなわち、UC
IMOωが2進1)コンテイニユ一・モード許可表示が
命令を介してセツトされているとき(すなわち、信号U
CIMAlφが2進1)などの通常以外の処理が行われ
ているときに、信号MNEMSlBは、記憶装置内に存
在しない領域がアドレスされた場合に2進1へ切灼えら
れる。フリツプフロツプ400−1が2進1に切換えら
れると、CPUが発生するタイミング信号CT2lOが
2進1に切換わるときに、フリツプフロツプ400−2
がコンテイニユ一・インタラプト・モード動作フリツプ
フロツプ400−4を2進1に切換える。
フリツプフロツプ400−2は、CPUがインタラプト
・モードにおいて1つの命令を遂行したのちにセツトす
る。これにより、コンテイニユ一・モード処理へ進行す
る前に、状態情報を記憶することができる。フリツプフ
ロツプ400−2が切換えられると、一定のアドレス・
ビツト・コンフイギユレーシヨンが、ゲート及び増幅器
回路400−3を介して、CPUの制御記憶アドレス・
レジスタへ強制される。ついで、このことにより、CP
Uの制御記憶装置内の一定の記憶装置のアドレス操作が
行われ、その内容がシーケンス・プログラム・カウンタ
の内容と交換され、誤り処理に対するサブルーチンの第
1命令の開始が示される。この処理は、誤りの種類の判
定と、その後の動作の決定を含む。
誤りが記憶検査条件の結果による場合には、CPUが記
憶装置「パージ」の必要の有無について判断する。CP
Uが「パージ」は必要と判断した場合には、信号MPU
RGOTを2進1へ強制するような命令が遂行される。
第4a図に示すように、このことは、信号MMPURS
lOを2進1へ強制することによりインタラプト処理サ
イクル中に遂行される。
その後、CPUは他の命令(たとえば、通常モード再開
命令)により通常モードに復帰するが、それはインタラ
プト処理サイクル中に(すなわち、信号JET3C54
が2進1であるとき)信号URNMOlOをOへ強制す
る。これはフリツプフロツプ400−2を0にりセツト
し、同一のインタラプト記憶位置をアドレスさせ、シー
ケンス・カウンタ内容を交換して、CPUを以前の動作
モードへ復帰させる。上記命令の詳細及びそのCPU内
における用法については、1971年2月26日付の「
シリーズ200プログラマーズ・マニユアル・モデル2
00ないし4200」と題する刊行物(注文番号139
)を参照されたい。さらに第4a図で注意すべきことに
、CPUがインタラプト・モードで動作している場合に
(すなわち、信号HPBMAOO及ひPSTOPφφが
ともに1)、不存在記憶検査条件が発生したときも(す
なわち、信号MNMCPlAが2進1のとき)、コンテ
イニユ一命令記憶フリツプフロツプ400−1が2進1
に切換えられる。以下に説明する不存在記憶検査装置は
、主記憶装置に提示される各命令の割当記憶アドレスを
、システムが利用できる最大の記憶装置の値と比較する
。この割当てられたアドレスがその値に等しいか又はそ
れを超える場合には、装置は信号MNMCPlAを2進
1へ強制することにより、不存在記憶誤りの発生を示す
。不存在記憶検査部 第4b図は、不存在記憶検査誤りの発生を判断する論理
回路及びその表示を記憶する回路を示す。
この回路部分は、複数個の比較器論理回路400−52
ないし400−55を含み、これらは上記の諸部分と同
一のチツプから製造される。各比較器回路は、4ビツト
・アドレス信号の異なる組を比較し、CPUからの高位
4ビツト・アドレス信号が前記複数組の信号のいずれか
1つと等しいか又はそれ以上であるか判断する。図にお
いて、比較器回路400−52及び400−53はそれ
ぞれ最初の2つの記憶インターフエイスからのア下レス
・ビツトの組及び最後の2つの記憶インターフエイスか
らのアドレス・ビツトの組を比較する。
比較器回路400−54は、プロツク400−60及び
400−70内に含まれるゲート回路により転送されて
くる2組のアドレス信号を比較する。これらの回路40
0一60及び400−70は、それに関連した比較器回
路からのキャリーアウト出力信号及びその補信号(すな
わち、信号MNEBCφφ及びMNEBClφ)によつ
て条件づけられ、2組のアドレス信号の小さい方を次の
比較器回路へ転送する。
さらに、比較される2組の信号の値が等しい場合には、
各比較器回路に入力キャリーイン信号(Inputca
rrvlnsignal)が差し込まれ(すなわち、C
Nが2進1へ強制され)、1組の信号を次の比較器回路
へ転送する。各比較器回路は、式A−B−1で表わされ
る減算操作により算術的に比軟操作をし、ここにA及び
Bは入力端子AO−A3及びBO−B3にそれぞれ加え
られる信号に対応する。次いで、比較器回路400−5
4は、プロツク400−80のゲート回路を条件づけて
、γドレス信号の4組の内の最小の組を表わす2組の信
号の小さい方を比較器400−55へ転送し、記憶アド
レス・レジスタからの高位アドレス信号(MAU2Ol
O−MAUl7lO)と比較させる。
記憶アドレス・レジスタの高位ビツト内容によつて表わ
される数と等しいか又はそれ以下の数の記憶モジユール
の記憶位置へ情報を転送しようとする試みがなされたと
きには、装置はこの転送を禁止し、ANDゲート400
−82を介して信号MNMCPlAを2進1へ強制する
ことによりアドレス侵害を信号する。
すなわち、CPUが検査(Check)の発生を許容し
た場合(即ち、信号MNEMSlBが2進1であるとき
)には比較器400−55によつて信号MNESCφφ
が2進1へ強制されるときにその信号が、記憶サイクル
の読出し期間(すなわち、信号MWCCYφφが1)中
に信号MNMCPlAを2進1へ強制する。処理サイク
ル(すなわち、信号CT2lOが1)中に、CPUに対
する不存在記憶検査フリツプフロツプ400−84が2
進1に切換えられる。そのフリツプフロツプ400−8
4は、その後のPDAタイミング信号発生時に2進0に
りセツトされる。システム動作の詳細説明 上記各図及び第5aないし5h図を参照して、本発明に
よる記憶システムの動作を説明する。
第5a図は、第1図の記憶システムの各物理的ユニツト
又は引出しに対する記憶モジユールの割当てを図式的に
示す。記憶インターフエイスの32個の記憶モジユール
にアドレス操作用の番号をつけ、4文字モジユールへの
同時アクセスを可能にし、4つの連続文字の同時読出し
をする。
すなわち、文字アドレスを図示のように4インターフエ
イスのモジユール間でインターリーフし、単一記憶サイ
クル内において任意の4文字にアクセスできるようにす
る。第1図に示すように、文字アドレスは4つのインタ
ーフエイスの間で循環的にインターリーフされる。とく
に、第1インターフエイスは、MをOないし219−2
の語アドレスに対応させた場合に文字アドレスO+4M
に対応する。同様にして第2、第3及び4インターフエ
イスはそれぞれ1+4M,2+4M1及び3+4Mの文
字アドレスに対応する。各インターフエイスの記憶モジ
ユールはまた、第5a図に示すようにその対応位置決め
ユニツトによつて0000ないし0111のアドレスを
割当てられている。
各記憶インターフエイス内の最終モジユールは、CPU
に対し、利用可能な記憶モジユールの数即ち量を表わす
信号を与える。通常は、すべてのモジユールが利用可能
であつて、この数は信号表示0111に対応する。第5
b図は、通常動作で利用できるアドレス・スペースを図
式的に示す。
すでに述べたように、各モジユールは16K文字記憶増
分(16,384文字)をもち、各インターフエイスの
最大記憶スペースは131,072文字となり、全記憶
スペースは524,288文字又はバイトとなる。第5
b図において、各行表示文字(ROwdesIgnat
Or)は4文字語の16,384行を指定する。説明の
便宜上、最初は、第1図の記憶システムに予備記憶モジ
ユールはないものとする。
このことは、各引出じ1,3,5及び7に含まれる第2
c図のカード210−8に対応するジアッパー・カード
がその記憶システム内の各モジユール位置決めユニツト
に対し利用可能最大モジユール数ビツト・コンフイギユ
レーシヨン0111を指定するように接続されることを
示す。利用可能なモジユールの最小ビツト・コンフイギ
ユレーシヨンを返す(Return)インターフエィス
が第1図の記憶システムの最大境界を決定することがわ
かる。
第5b図に示すように、最大境界は、各インターフエイ
スの8記憶モジユール(すなわち、第5b図のモジユー
ル28−31)の最終記憶位置より大なる文字アドレス
を有する記憶位置に対応する。記憶システムに提示され
た初期語記憶?置アドレス(すなわち、アドレス中の4
連続文字記憶位置内の第1文字記憶位置を指定するアド
レス)が最大境界を超えたときには、CPUがさきに不
存在記憶検査として述べた例外条件を発生する。すでに
説明したように、この条件は、内部インタラプトを発生
させ、即ちCPUのその時点における動作モードに応じ
てその後の処理を中断又はストツプする。第5c図は、
モジユール故障時の記憶アドレス空間を図式的に示す。
図においては、モジユール12(第1引出しの第4モジ
ユール)が故障であると仮定する。すなわち、第2g図
の奇偶検査論理回路部214が、第2図の第4モジユー
ルの感知増幅器からデータ・ラツチ回路部216へ読み
出されたデータに奇偶誤りを検出したと仮定する。特定
モジユールの動作に関する誤り条件は、モジュール状態
表示部212によつて検査条件として記憶される。すな
わち、第21図を参照するに、奇偶誤り検査条件の存在
は、信号MMCHK3φを2進1へ強制し、これにより
ラツチ回路212一14が2進1状態へ強制される。し
たがつて、回路部212−20の表示ランプ212−2
9が照明される。第5c図から明らかなようlこ、1つ
のモジユールが故障になると、そのモジユール及び故障
モジユールと同一行に含まれる他の3つのモジユールに
含まれる情報はもはや無効とみなされる。
その理由は、その行内のモジユールの1つに記憶された
アクセス中の情報(AccesslnginfOrma
t一10n)が故障モジユール12を含むので、故障モ
ジユールと同一行内に位置するモジユールの情報内容は
もはや有効でないからである。しかし、故障モジユール
12を含む行cの上方又は下方に位置する情報はなお有
効であり、アクセスに利用できる。第5d図は、システ
ムの記憶モジユールが自動的に再編成されたが情報がり
ロード(RelOad)される前の第1図記憶システム
のアドレス空間を図式的に示す。
すでに説明したように、再編成は、操作員によつても或
いはCPUによつても開始させることができる。たとえ
ば、操作員による記憶再編成は、故障モジユールを含む
引出しに取付けた制御スイツチを使つて故障モジユール
をオフライン状態におくか、又は、保全パネルに取付け
たモード・スイツチをパージMM位置へセツトしたのち
そのパネルの遂行押しボタンを押すことによつて開始さ
せることができる。第2f図から明らかなように、モジ
ユール12のオフラインへの切換えは、信号M4FLO
φφを2進1に切換える。
これにより、ラツチ回路208−4が2進1状態に切換
えられ、信号M4OFLlφが2進1状態に切換えられ
る。第2d図から明らかなように、2進1状態にある信
号M4OFLlφは、ゲート及びインバータ回路210
−3dをして信号M4BLKφφを2進0状態へ強制さ
せる。したがつて、加算器回路210−2dに対する信
号Cnのキヤリーイン信号の発生が禁止され、この回路
が和をその出力端子FOないしF3に発生する。
この和は、加算器回路入力端子AOないしA3に加えら
れた無修正ビツト・パターン0010に対応する。第2
c及び2d図の他の位置決めユニツトはその入力端子A
OないしA3に加えられたビツト・パターンを修正する
ように動作し、第5c図の記憶モジユール0,4,8,
゛16,20,24,及び28をそれぞれモジユール・
アドレス0000ないし0110に割当てる。以上から
明らかなように、故障モジユールは、その列(すなわち
、R)内の後続モジユールをそのアドレスに割当てさせ
、全モジユール数を1だ゛け減少させる。故障記憶モジ
ユール12の位置決めユニツトは、CPUから転送され
たアドレス・パターンと同一であるアドレス・ビツト・
パターン0010をそのモジユール選択回路へ転送する
が、これらの回路は信号M4OFL3φによつてこれら
のアドレス信号に応答することを阻止される。
すなわち、信号M4OFL3φが2進1である場合には
、インターフエイス1の第4モジユール(すなわち、第
2e図のモジユール4)のモジユール選択回路は、その
選択回路が割当てられたアドレス信号とCPUから示さ
れたアドレス信号との間に真比較を検出したときにも選
択信号M4SELlOの発生を禁じられる。したがつて
、位置決めユニツトは自動的にインターフエイス1のモ
ジユール12を記憶システムから分離し、その列の後続
モジユールと入れ換え、第5d図の括弧に16,20,
24,28と示すようにその列において1つづつ大きな
アドレスをもつ残余モジユールの位置がシステム内の他
の部分に関して行の1位置だけシフトされる。残余のイ
ンターフエイスには故障モジユールがないから、これら
のインターフエイスの位置決めユニツトは第5d図の列
S,Tl及びUのモジユールに割当てた番号に示すよう
にそれぞれのモジユールの同一モジユール・アドレス割
当てを維持する。
インターフエイス1によつてCPUへ転送されるモジユ
ールの総数は他のインターフエイスにおけるそれより少
ないのであるから、この記憶システムにおける記憶空間
の最大境界は、第5d図にアドレス不能空間として示す
ように216(65,536)文字だけ減少する。最大
記憶境界の上方に位置する4文字語(すなわち、行Gの
モジユール)へアクセスしようとすると、列Rのモジユ
ールのモジユール選択回路(第2e図)がモジユール選
択信号(たとえば、M4SELlφ)の発生を禁止する
他の列のモジユール選択回路はなお選択信号を発生する
。しかし、第4b図のCPU論理回路が信号MNMCP
lAを2進1へ強制することにより不存在記憶検査信号
を出す。
すなわち、第4b図において、インターフエイス1及2
からの番号信号は比較器400−52によつて比較され
る。最も小さな値をもつ番号がプロツク400−60の
ゲート回路を介して比較器回路400−54へ転送され
、ここで、比較器400−53が行つたインターフエイ
ス3及び4の間の番号信号比較結果と比較ざれる。プロ
ツク400−70の回路が、比較器回路400−54に
よつて比較された2つの番号信号のうちの小なるものを
転送してCPUが処理中の記憶アドレスの高位ビツトと
比較する。処理中の初期アドレスが記憶インターフエイ
スから帰された複数のモジユール番号信号の内の最小の
ものよりも大である場合には、比較器回路400−55
がキヤリーアウト信号MNESCφφを2進1へ強制し
、これがCPUに対し不存在記憶検査条件を知らせる。
すでに説明したように、第4a図の論理回路がCPU処
理の割込みを発生させるように動作しCPUをして上記
検査条件の処理に当つているべき措置を決定させる。通
常は、CPUが故障記憶モジユールへのアクセスの発生
を阻止し、不存在記憶誤り条件をフラツグする。上記再
編成動作は上記態様でCPUにより自動的に開始され得
る。すなわち、いずれか1つの記憶インターフエイスか
ら奇偶誤り表示を受信すると、CPUは信号MPURG
lφTを2進1へ強制する。たとえば、奇偶検査論理回
路部214が第4モジユールに奇偶誤りを検出すると、
その回路は信号MMCHKOTを2進1状態へ強制し、
記憶奇偶誤り信号MMPEDlOを2進1へ強制する。
上記のように、記憶奇偶信号は0R回路(図示せず−)
を介して各記憶インターフエイスからの検査信号(たと
えば、各記憶インターフエイスからの信号MMCHKO
T)を結合することによつて得られる。CPUがコンテ
イニユ一・インタラプト・モードで動作している場合に
、検査条件を感知したときは、インタラプト要求信号を
発生し、これによりCPUは復旧管理プログラム・ルー
チンの最初の命令へ進む。
このプログラム・ルーチンの一部として、CPUは誤り
条件の処理に必要な補正手続の形式を定める。当業者に
は広く知られているように、この種の故障の影響を抑制
するために各種方法が使われる。
たとえば、CPUをして可能ならば問題の命令を再試行
させ、その再試行の後に信号MMPURSlOを2進1
へ強制して記憶装置の再編成にかかる。これにより、す
べての故障モジユールを記憶システムから自動的に「パ
ージ」し、残余の記憶モジユールを再編成して新しい連
続アドレス空間を形成する。その結果、第5d図に示す
アドレス空間配置ができる。
第5d図において、モジユール13ないし27に記憶さ
れた情報は使用不能(無効)と記されているが、その情
報を1文字ごとにアクセスすれば無効ではない。
しかし、モジユール12がアドレス空間から自動分離さ
れるので、アドレス空間は減縮されかつモジユール16
,20,24及びフ28に再分配され、文字アドレスの
割当ても再編成によつて変えられる。
王としてこの事実により、残余のモジユール内の情報が
無効として扱われる。したがつて、復旧管理プログラム
・ルーチンの一部として、記憶モジユールの内容をりロ
ードする必要がある。再編成によつて故障モジユールの
分離及び残余モジユールからなる連続アドレス空間形成
をして故障が修正されたのち、CPUは、故障前のプロ
グラムをどこから再開すべきか判断することが望ましい
時間的制限のため、又はすでに遂行ざれたプログラムに
より記憶装置内の所要データが修正されているなどのた
め、全プログラムセツトを最初からランするのは必ずし
も実用上可能ではない。このような場合には、遂行され
るプログラム中に複数個のロール・バツク点(たとえば
、チエツクポイント)を設け、一定のプログラム及びC
PU状態情報を自動的に保存することが望ましい事実が
見出されている。故障が検出され再編成が開始されたと
きに、CPUはプログラムを、情報状態が既知でありか
つ有効であると認められる先行チエツクポイントまでロ
ール・バツクする。
もちろん、このようなロールバツク点は、故障位置及び
その後は無視できる。また、手続きとして、記憶空間減
縮のため、一定ジヨブの遂行の除外又はその遂行の繰伸
べなどを要求してもよい。この復旧の実施には各種方法
を利用することができる。
たとえば、IEEE計算機論文集、第C一21巻、第6
号、1972年6月、K.M.チヤンデイ及びC.B.
ラマムールシ一著″「計算機プログラムのロールバツク
及び復旧戦略」を参照されたい。第5e図は、再編成及
び情報りロード後の記憶システムのアドレス空間を図式
的に示す。
第5f図は、再編成及び記憶システム・りロード後の第
2のモジユール故障(すなわち、モジユール22)発生
に伴うアドレス空間の状態を図式的に示す。第5f図か
ら明らかなように、本発明による再編成は、与えられた
1つのインターフエイス(列)のすべてのモジユールが
故障と判断されない限り、システムのインターリーフの
量を減少させない。このことに対処し、かつ、少なくと
も1つのモジユール故障に対しては記憶空間の大きさを
減縮させないため、各記憶インターフエイスのモジユー
ル再編成回路210を適当に構成して1つの予備モジユ
ールを設けることができる。この目的を達するため、各
モジユール再編成回路部内のジアッパー・カードをして
、アドレス空間に対して利用可能なモジユールの数より
も1少ない数を最大モジユール数として指定するように
させる。たとえば、各記憶インターフエイスの第2c図
のジアッパー・カード゛210−8を最大数コードが0
110になるように接続し、通常のアドレス空間が第5
g図のようになるようにする。したがつて、最大境界は
行Fの最終記憶位置に対応する。説明の便宜太再度第2
図の第4モジユール、すなわちモジユール12が故障し
、CPUが記憶システムの再編成が必要であると判断し
たと仮定する。
したがつて、CPUは制御信号MMPURSlOを2進
1へ強制し、記憶システムからすべての故障モジユール
を分離する。第5h図に示すように、故障モジユール1
2は分離され、列Rの後続モジユールがこれと入れ代り
、残余のモジユールが上記態様で適正位置へシフトされ
る。
しかし、予備モジユールが列Rに付加されており(位置
決めユニツトによりアドレス0110が割当てられてお
り)、最大記憶境界は変化しない。すなわち、再編成前
には、予備記憶モジユールの位置決めユニツトは、その
関連比較器回路によつでその加算器回路に加えられた入
力番号信号を1だけ増す操作を禁止されるので、記憶シ
ステムから有効に分離されている。さらに、それはその
記憶モジユールを選択するモジユール選択信号の発生を
禁止される。この禁止を行なうため、比較器回路は信号
MAMX4φφを2進1へ強制し、キヤリイン(Car
ry−1n)が加算器回路へ加えられるのを阻止する。
また、その信号はモジユール選択回路がモジユール選択
信号を発生して予備モジユールの記憶位置へアクセスす
るのを禁止する。この点をさらに詳細に説明すると、第
2d図の第4モジユールが予備モジユールに対応すると
仮定する。
再編成前には、比較器210−4dの入力端子AO−A
3に加えられたモジユール番号信号は、入力端子BO−
B3に加えられた信号と比較される。端子BOないしB
3を介してこの比較器に加えられる信号がビツト・パタ
ーンφ11φに対応するので、比較器回路210−4d
は真比較に応答する動作をし、信号MAMX4φφを2
進1へ強制するとともに信号M4BLKφφを2進0へ
強制する。したがつて、信号M4BLKφφは零キヤリ
インをその加算器回路へ送り、それが入力端子AO−A
3に加えられた信号を1だけ増すのを阻止する。第2e
図から明らかなように、信号MAMX4φφ及びM4B
LKφφは、M4HLDlφに対応する保持信号を2進
0へ強制し、第4モジユールに対応する記憶ラツチ回路
が2進1状態へ切換えられるのを阻止する(すなわち、
信号M4SELlφが2進1に切換えられるのを阻止す
る)。しかし再編成後には、同じ予備モジユールの入力
端子BO−B3を介して比較器回路210−4dに加え
られるモジユール番号信号が1だけ減少し、ビツト・パ
ターン0101に対応する。
したがつて、比較器回路210−4dは真比較を感知せ
ず、信号MAMX4φφの2進1への強制及び信号M4
BLKφφの2進0への強制をすることができない。し
たがつて、予備モジユールの位置決めユニツト210−
1dは、その加算器回路210一2dの入力端子AO−
A3に加えられたアドレス信号を1だけ増すように動作
し、記憶選択ラツチ回路を介してその記憶モジユールが
選択されるのを許容する。すでに説明したように、ビツ
ト・パターン0110に対応する予備モジユールからの
修正信号はCPUへ転送され、ここで第4d図の論理回
路が最大許容アドレス空間境界超過の有無を感知する。
残余のインターフエイスの記憶モジユールのアドレス割
当ては第5h図に示すものと変らない。任意の1列即ち
残余列におけるその後のモジユール故障はその列内の予
備モジユールを含むことになる。以上の説明から明らか
なように、本発明において各記憶インターフエイスに1
つの予備記憶モジユールを含めれ(!、各インターフエ
イスに単一記憶モジユール故障が発生したときにも、同
一記憶空間を維持できる。
もちろん、予備記憶モジユールの数は必要に応じて増し
てもよい。上記構成はたんにシステムの記憶空間の大き
さを保証する一手段を示すに過ぎない。
さらに、記憶システムのインターリーフ性能が一定数の
記憶故障によつてもそこなわれない利点がある。当業者
には明らかなように、本発明の技術的範囲を離れること
なく各種変更を加え得る。たとえば、他の形式の位置決
めユニツトを使つて各記憶モジユールに対する数字ビツ
ト・パターンの割当てをすることができる。記憶システ
ムに対する予備モジユールの付加に他の手段を使うこと
も可能である。記憶誤り検出に各種の利用可能方式があ
ること及び本発明の再編成装置とともに記憶モジユール
回路が使えることも当業者には明らかである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置のプロツク図、第2図は第1図の記
憶インターフエイス回路部分の説明図、第2a図は第2
図のアドレス回路部202の説明図、第2b図は第2図
のタイミング発生器及び位相回路部204の説明図、第
2c及び2d図は第2図のモジユール再編成論理回路部
210説明図、第2e図は第2図のモジユール選択回路
206の説明図、第2f図は第2図のモジユール・パー
ジ論理回路208の説明図、第2g図は第2図の奇偶検
査論理回路214の説明図、第2h図は第2図のデータ
・ラツチ増幅器回路部216の説明図、第21図は第2
図のモジユール表示状態部212の説−明図、第2』図
は第2図のデータ書込論理部220の説明図、第3図は
保全パネル回路の説明図、第4a及び4b図はCPU要
部の説明図、第5aないし5h図はアドレス空間の説明
図である。 10:データ処理装置、20:記憶システム、22:記
憶バンク、24:記憶モジュール、CPU:中央処理ユ
ニツト、202:アドレス回路部、204:タイミング
発生器及び位相回路部、206:モジユール選択部、2
08:モジユール・パージ論理販 210:モジユール
再編成論理回路部、212:モジユール表示状態部、2
14:奇偶検査論理回路部、216:データ・ラツチ増
幅器回路部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 独立にアドレスできる複数個の記憶モジュールと、
    複数個のモジュール位置決め手段を設け、それらの内の
    最初のモジュール位置決め手段は入力アドレス信号の所
    定の組を受信するように接続され、残りの各モジュール
    位置決め手段はそれぞれ先行する位置決め手段から入力
    信号を受信するように接続され、前記各位置決め手段は
    その入力信号を修正して後続の位置決め手段及び関連す
    る記憶モジュールに加えられるべき相異なる論理アドレ
    スに対応する出力アドレス信号を発生するための手段を
    含み、更に、前記各記憶モジュールに接続され、前記記
    憶モジュールに対する最低信頼度基準を感知する誤り検
    出手段であつて、アクセスされたモジュールが前記最低
    基準を満足していないことを感知したときには当該モジ
    ュールが故障していることを表示する誤り検出信号を発
    生する検査手段を含む、誤り検出手段214と、前記誤
    り検出手段に接続され、前記検査手段によつて条件付け
    られ、前記複数個の記憶モジュールのいずれかへアクセ
    スする間に感知された誤り検出信号の発生を示す状態信
    号を記憶する記憶手段212と、ならびに前記記憶手段
    に結合された論理手段であつて、命令信号に応答して、
    故障状態を有する記憶モジュールに関連した位置決め手
    段へ禁止制御信号を与え、その制御信号によつてその位
    置決め手段を条件づけて入力信号の修正を禁止させ、一
    定の割当てられた論理アドレスの発生に変更を加えてす
    べての故障記憶モジュールを分離させ、残余の記憶モジ
    ュールを再編成して連続アドレス可能なアドレス空間を
    与えるようにした論理手段208と、を有することを特
    徴とするデータ処理装置。
JP48140405A 1973-01-03 1973-12-18 記憶の故障の検出をし記憶モジユ−ルの再編成をするデ−タ処理装置 Expired JPS594798B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US320790 1973-01-03
US00320790A US3803560A (en) 1973-01-03 1973-01-03 Technique for detecting memory failures and to provide for automatically for reconfiguration of the memory modules of a memory system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS49103539A JPS49103539A (ja) 1974-10-01
JPS594798B2 true JPS594798B2 (ja) 1984-01-31

Family

ID=23247879

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP48140405A Expired JPS594798B2 (ja) 1973-01-03 1973-12-18 記憶の故障の検出をし記憶モジユ−ルの再編成をするデ−タ処理装置

Country Status (9)

Country Link
US (1) US3803560A (ja)
JP (1) JPS594798B2 (ja)
AU (1) AU476537B2 (ja)
CA (1) CA1002664A (ja)
DE (1) DE2400161A1 (ja)
FR (1) FR2226081A5 (ja)
GB (1) GB1451386A (ja)
IT (1) IT1000794B (ja)
NL (1) NL186783C (ja)

Families Citing this family (67)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1461245A (en) * 1973-01-28 1977-01-13 Hawker Siddeley Dynamics Ltd Reliability of random access memory systems
USRE31318E (en) * 1973-09-10 1983-07-19 Computer Automation, Inc. Automatic modular memory address allocation system
US4025903A (en) * 1973-09-10 1977-05-24 Computer Automation, Inc. Automatic modular memory address allocation system
US3872291A (en) * 1974-03-26 1975-03-18 Honeywell Inf Systems Field repairable memory subsystem
US3999051A (en) * 1974-07-05 1976-12-21 Sperry Rand Corporation Error logging in semiconductor storage units
US3928830A (en) * 1974-09-19 1975-12-23 Ibm Diagnostic system for field replaceable units
NL7415966A (nl) * 1974-12-09 1976-06-11 Philips Nv Werkwijze en inrichting voor het opslaan van binaire informatie-elementen.
US3917933A (en) * 1974-12-17 1975-11-04 Sperry Rand Corp Error logging in LSI memory storage units using FIFO memory of LSI shift registers
JPS52124826A (en) * 1976-04-12 1977-10-20 Fujitsu Ltd Memory unit
US4093985A (en) * 1976-11-05 1978-06-06 North Electric Company Memory sparing arrangement
US4296467A (en) * 1978-07-03 1981-10-20 Honeywell Information Systems Inc. Rotating chip selection technique and apparatus
DE2837709C2 (de) * 1978-08-30 1985-01-31 Standard Elektrik Lorenz Ag, 7000 Stuttgart Schaltungsanordnung zur Behandlung von Teilwörtern in Rechnersystemen
FR2453467A1 (fr) * 1979-04-06 1980-10-31 Cii Honeywell Bull Procede et systeme d'exploitation d'une memoire adressable permettant d'associer a volonte des extensions aux donnees contenues dans la memoire
US4303993A (en) * 1979-10-10 1981-12-01 Honeywell Information Systems Inc. Memory present apparatus
JPS5676859A (en) * 1979-11-26 1981-06-24 Nec Corp Memory device
JPS57155642A (en) * 1981-03-23 1982-09-25 Nissan Motor Co Ltd Computer capable of using correcting memory
US4468729A (en) * 1981-06-29 1984-08-28 Sperry Corporation Automatic memory module address assignment system for available memory modules
US4507730A (en) * 1981-10-01 1985-03-26 Honeywell Information Systems Inc. Memory system with automatic memory configuration
DE3278519D1 (en) * 1981-11-09 1988-06-23 Hewlett Packard Co Asynchronous interface
US4430727A (en) * 1981-11-10 1984-02-07 International Business Machines Corp. Storage element reconfiguration
US4468731A (en) * 1981-12-15 1984-08-28 Honeywell Information Systems Inc. Identification apparatus for use in a controller to facilitate the diagnosis of faults
US4464747A (en) * 1982-02-18 1984-08-07 The Singer Company High reliability memory
AU575182B2 (en) * 1984-06-28 1988-07-21 Wang Laboratories, Inc. Self extending memory file
US4598388A (en) * 1985-01-22 1986-07-01 Texas Instruments Incorporated Semiconductor memory with redundant column circuitry
US4740916A (en) * 1985-12-19 1988-04-26 International Business Machines Corporation Reconfigurable contiguous address space memory system including serially connected variable capacity memory modules and a split address bus
US4872166A (en) * 1986-09-10 1989-10-03 Nec Corporation Information processing system capable of reducing invalid memory operations by detecting an error in a main memory
US4922451A (en) * 1987-03-23 1990-05-01 International Business Machines Corporation Memory re-mapping in a microcomputer system
US4908789A (en) * 1987-04-01 1990-03-13 International Business Machines Corporation Method and system for automatically assigning memory modules of different predetermined capacities to contiguous segments of a linear address range
GB2203869B (en) * 1987-04-17 1991-10-23 Apple Computer Computer resource configuration method and apparatus
US4943966A (en) * 1988-04-08 1990-07-24 Wang Laboratories, Inc. Memory diagnostic apparatus and method
US5146574A (en) * 1989-06-27 1992-09-08 Sf2 Corporation Method and circuit for programmable selecting a variable sequence of element using write-back
US5287470A (en) * 1989-12-28 1994-02-15 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for coupling a multi-lead output bus to interleaved memories, which are addressable in normal and block-write modes
US5105425A (en) * 1989-12-29 1992-04-14 Westinghouse Electric Corp. Adaptive or fault tolerant full wafer nonvolatile memory
US5315708A (en) * 1990-02-28 1994-05-24 Micro Technology, Inc. Method and apparatus for transferring data through a staging memory
US5134619A (en) * 1990-04-06 1992-07-28 Sf2 Corporation Failure-tolerant mass storage system
US5212785A (en) * 1990-04-06 1993-05-18 Micro Technology, Inc. Apparatus and method for controlling data flow between a computer and memory devices
US5233618A (en) * 1990-03-02 1993-08-03 Micro Technology, Inc. Data correcting applicable to redundant arrays of independent disks
US5140592A (en) * 1990-03-02 1992-08-18 Sf2 Corporation Disk array system
US5388243A (en) * 1990-03-09 1995-02-07 Mti Technology Corporation Multi-sort mass storage device announcing its active paths without deactivating its ports in a network architecture
US5325497A (en) * 1990-03-29 1994-06-28 Micro Technology, Inc. Method and apparatus for assigning signatures to identify members of a set of mass of storage devices
US5202856A (en) * 1990-04-05 1993-04-13 Micro Technology, Inc. Method and apparatus for simultaneous, interleaved access of multiple memories by multiple ports
US5956524A (en) * 1990-04-06 1999-09-21 Micro Technology Inc. System and method for dynamic alignment of associated portions of a code word from a plurality of asynchronous sources
US5214778A (en) * 1990-04-06 1993-05-25 Micro Technology, Inc. Resource management in a multiple resource system
US5233692A (en) * 1990-04-06 1993-08-03 Micro Technology, Inc. Enhanced interface permitting multiple-byte parallel transfers of control information and data on a small computer system interface (SCSI) communication bus and a mass storage system incorporating the enhanced interface
US5414818A (en) * 1990-04-06 1995-05-09 Mti Technology Corporation Method and apparatus for controlling reselection of a bus by overriding a prioritization protocol
US5241665A (en) * 1990-08-31 1993-08-31 Advanced Micro Devices, Inc. Memory bank comparator system
US5428758A (en) * 1991-05-10 1995-06-27 Unisys Corporation Method and system for remapping memory from one physical configuration to another physical configuration
US5253357A (en) 1991-06-13 1993-10-12 Hewlett-Packard Company System for determining pluggable memory characteristics employing a status register to provide information in response to a preset field of an address
US5392292A (en) * 1991-06-27 1995-02-21 Cray Research, Inc. Configurable spare memory chips
JPH08500687A (ja) 1992-08-10 1996-01-23 モノリシック・システム・テクノロジー・インコーポレイテッド ウェハ規模の集積化のためのフォルトトレラントな高速度のバス装置及びバスインタフェース
US5455919A (en) * 1992-11-03 1995-10-03 International Business Machines Corporation Installation and use of plural expanded memory managers
US5867640A (en) * 1993-06-01 1999-02-02 Mti Technology Corp. Apparatus and method for improving write-throughput in a redundant array of mass storage devices
US20030088611A1 (en) * 1994-01-19 2003-05-08 Mti Technology Corporation Systems and methods for dynamic alignment of associated portions of a code word from a plurality of asynchronous sources
WO1995034860A1 (en) * 1994-06-10 1995-12-21 Sequoia Systems, Inc. Main memory system and checkpointing protocol for fault-tolerant computer system
JP3086779B2 (ja) * 1995-06-19 2000-09-11 株式会社東芝 メモリ状態復元装置
US5737514A (en) * 1995-11-29 1998-04-07 Texas Micro, Inc. Remote checkpoint memory system and protocol for fault-tolerant computer system
US5751939A (en) * 1995-11-29 1998-05-12 Texas Micro, Inc. Main memory system and checkpointing protocol for fault-tolerant computer system using an exclusive-or memory
US5745672A (en) * 1995-11-29 1998-04-28 Texas Micro, Inc. Main memory system and checkpointing protocol for a fault-tolerant computer system using a read buffer
US5864657A (en) * 1995-11-29 1999-01-26 Texas Micro, Inc. Main memory system and checkpointing protocol for fault-tolerant computer system
US6105156A (en) * 1996-01-23 2000-08-15 Nec Corporation LSI tester for use in LSI fault analysis
TW379298B (en) * 1996-09-30 2000-01-11 Toshiba Corp Memory updating history saving device and memory updating history saving method
TW405092B (en) * 1998-12-10 2000-09-11 Mitac Int Corp Automatic switching control device for DRAM
US7111190B2 (en) 2001-02-23 2006-09-19 Intel Corporation Method and apparatus for reconfigurable memory
US6567290B2 (en) * 2000-07-05 2003-05-20 Mosaic Systems, Inc. High-speed low-power semiconductor memory architecture
US20030226090A1 (en) * 2002-05-28 2003-12-04 Thayer Larry Jay System and method for preventing memory access errors
DE10343525B4 (de) 2002-09-27 2011-06-16 Qimonda Ag Verfahren zum Betreiben von Halbleiterbausteinen, Steuervorrichtung für Halbleiterbausteine und Anordnung zum Betreiben von Speicherbausteinen
US8195981B2 (en) * 2008-06-03 2012-06-05 International Business Machines Corporation Memory metadata used to handle memory errors without process termination

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS48101840A (ja) * 1972-04-03 1973-12-21

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3444526A (en) * 1966-06-08 1969-05-13 Ibm Storage system using a storage device having defective storage locations
US3432812A (en) * 1966-07-15 1969-03-11 Ibm Memory system
NL149927B (nl) * 1968-02-19 1976-06-15 Philips Nv Woordgeorganiseerd geheugen.

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS48101840A (ja) * 1972-04-03 1973-12-21

Also Published As

Publication number Publication date
CA1002664A (en) 1976-12-28
NL186783B (nl) 1990-09-17
IT1000794B (it) 1976-04-10
DE2400161C2 (ja) 1988-03-10
US3803560A (en) 1974-04-09
JPS49103539A (ja) 1974-10-01
AU6358773A (en) 1975-06-19
GB1451386A (en) 1976-09-29
NL186783C (nl) 1991-02-18
FR2226081A5 (ja) 1974-11-08
AU476537B2 (en) 1976-09-23
DE2400161A1 (de) 1974-07-18
NL7316782A (ja) 1974-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS594798B2 (ja) 記憶の故障の検出をし記憶モジユ−ルの再編成をするデ−タ処理装置
US4044337A (en) Instruction retry mechanism for a data processing system
US3544777A (en) Two memory self-correcting system
US5553263A (en) Cache memory system with fault tolerance having concurrently operational cache controllers processing disjoint groups of memory
US3533082A (en) Instruction retry apparatus including means for restoring the original contents of altered source operands
US5568380A (en) Shadow register file for instruction rollback
US4707784A (en) Prioritized secondary use of a cache with simultaneous access
US4527238A (en) Cache with independent addressable data and directory arrays
US3579199A (en) Method and apparatus for fault testing a digital computer memory
US4464747A (en) High reliability memory
EP0009412A2 (en) Block replacement in a high speed cache memory system
US5574874A (en) Method for implementing a checkpoint between pairs of memory locations using two indicators to indicate the status of each associated pair of memory locations
JPS6353571B2 (ja)
JPH0317133B2 (ja)
EP0136178A2 (en) Automatic memory board reconfiguration
US3887901A (en) Longitudinal parity generator for mainframe memories
US4805095A (en) Circuit and a method for the selection of original data from a register log containing original and modified data
US7346755B2 (en) Memory quality assurance
US5195101A (en) Efficient error detection in a vlsi central processing unit
JPH01137349A (ja) 記憶アドレス変換システム
US4338662A (en) Microinstruction processing unit responsive to interruption priority order
EP0040219B1 (en) Data processor having common monitoring and memory loading and checking means
US6032234A (en) Clustered multiprocessor system having main memory mapping shared expansion memory addresses and their accessibility states
US5408651A (en) Store "undo" for cache store error recovery
IE63461B1 (en) Improvements in and relating to stable memory circuits