JPS594792B2 - MOS Gata Bucket Brigade Te - Google Patents
MOS Gata Bucket Brigade TeInfo
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- JPS594792B2 JPS594792B2 JP49034308A JP3430874A JPS594792B2 JP S594792 B2 JPS594792 B2 JP S594792B2 JP 49034308 A JP49034308 A JP 49034308A JP 3430874 A JP3430874 A JP 3430874A JP S594792 B2 JPS594792 B2 JP S594792B2
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- mos transistor
- mos
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- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明(コMOS型パケット・ブリゲード・デバイス(
BBD)に関し、 リーク電流によるバイアス電荷の転
送途中での流出を補償することにより転送5 信号のダ
イナミツクレノジを広く保つことを目的とするものであ
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention (co-MOS type packet brigade device)
Regarding BBD), the purpose is to maintain a wide dynamic range of the transfer signal by compensating for the leakage of bias charge during transfer due to leakage current.
一般に、MOS型BBD(コpもしく(In型シリコノ
基板上に基板と異なる導電型の不純物を島状に形成し、
これを電荷蓄積層として利用するもの“0 である。In general, impurities of a conductivity type different from that of the substrate are formed in the form of islands on a MOS type BBD (copper or in type silicon substrate).
This is "0" which utilizes this as a charge storage layer.
このようなBBDを高温状態において動作させたり、低
周波クロックで動作させたりすると、島状電荷蓄積層と
シリコン基板との接合面を通してのリーク電流が大きく
なり、バイアス電荷が多量05にもれてしまつて転送信
号電荷の途中段でのダイナミツクレノジの減少をもたら
した。When such a BBD is operated at high temperatures or with a low frequency clock, the leakage current through the bonding surface between the island-like charge storage layer and the silicon substrate increases, and a large amount of bias charge leaks into 05. This also resulted in a reduction in the dynamics of the transfer signal charge in the middle stage.
本発明(コこのような問題点を除去しようとするもので
、以下その一実施例を図面とともに説明する。The present invention aims to eliminate these problems, and one embodiment thereof will be described below with reference to the drawings.
第1図ι」本発明の一実施例のBBDの回路構0 成を
示すものである。第1図において、1、2(」クロック
電圧端子、3(コ電荷転送段を構成するnチヤノネルM
05トラノジスタでそれぞれソース、ドレインが複数個
縦続されたものである。FIG. 1 shows a circuit configuration of a BBD according to an embodiment of the present invention. In FIG.
05 transistors each having a plurality of sources and drains connected in cascade.
4ι」リーク電流補償用の5nチャンネルM05トラン
ジスタ、5(1補償用クロックパルス端子、6(1−定
の電源電圧の印加される電源端子である。4ι'' 5n channel M05 transistor for leakage current compensation, 5 (1 clock pulse terminal for compensation), 6 (1- power supply terminal to which a constant power supply voltage is applied).
1(コ入力信号印加端子、8(コ電源電圧印加端子、9
(」出力端子、10ιば出力用のMOSトランジスタで
ある。1 (input signal application terminal, 8 (power supply voltage application terminal, 9
(' output terminal, 10ι is a MOS transistor for output.
20(」転送用ク MOSトラノジスタ3のドレインと
補償用トラノジスタ4のソースとを接続した内部信号段
点でこの部分にてリーク電流を補償しようとするもので
ある。20 (') This is an internal signal stage point where the drain of the transfer transistor 3 and the source of the compensation transistor 4 are connected, and the leakage current is compensated for at this part.
この回路の動作を第2図を用いて説明する。The operation of this circuit will be explained using FIG.
5 第2図A−Eは第1図の回路の各部の信号波形を示
すもので、各図の右の番号は第1図の各点の波形を示し
ている。5. FIGS. 2A to 2E show signal waveforms at various parts of the circuit in FIG. 1, and the numbers on the right of each figure indicate the waveforms at each point in FIG. 1.
A、Bιコそれぞれデユテイ25%の2相クロツクを示
し、端子1,2に印加されるものである。Cは端子5に
印加される補償用クロツクパルスであつて、上記2相の
クロツクパルスと周波数を同一とするとともに丁度2相
クロツクパルスの間隙に現われるものである。これは転
送されてくる信号を乱さないために必要な条件である。
D(1内部信号段点20の手前の信号段部21での転送
波形を示す。今、内部信号段点20の両側の転送用MO
Sトランジスタ3にクロツクパルスが印加されていない
状態すなわち、両側のMOSトランジスタ3が遮析状態
のとき補償用トランジスタ4の端子5にCのクロツクパ
ルスが加わると、転送段点20の電位がCのクロツクパ
ルスの電圧値からMOSトランジスタ4のしきい値電圧
を差し引いた値まで光電される。こうすれば、内部信号
段点20が一定の時間間隔でもつて一定電圧となるため
に、転送されてくる信号電圧を乱すことなく転送電荷の
一定量の引き上げが行われ、バイアス電荷の補光が行わ
れることになる。ところで、内部転送段点20の電荷の
一定量の引上げを行うために(1、端子5に加えるクロ
ツクパルスの振幅をドレイン端子6に印加される電圧よ
り高くすればMOSトランジスタ4が導通し、バイアス
電荷の補光ができる。Each of A and B indicates a two-phase clock with a duty of 25%, which is applied to terminals 1 and 2. C is a compensating clock pulse applied to the terminal 5, which has the same frequency as the two-phase clock pulses and appears exactly in the gap between the two-phase clock pulses. This is a necessary condition in order not to disturb the transmitted signal.
D (1 shows the transfer waveform at the signal stage section 21 before the internal signal stage point 20. Now, the transfer MO on both sides of the internal signal stage point 20
When a clock pulse of C is applied to the terminal 5 of the compensation transistor 4 when no clock pulse is applied to the S transistor 3, that is, when the MOS transistors 3 on both sides are in a shielded state, the potential of the transfer stage point 20 changes to the level of the clock pulse of C. Photovoltaic voltage is applied to a value obtained by subtracting the threshold voltage of MOS transistor 4 from the voltage value. In this way, since the internal signal stage point 20 remains at a constant voltage at constant time intervals, a certain amount of the transferred charge is raised without disturbing the transferred signal voltage, and the bias charge is supplemented. It will be done. By the way, in order to raise a certain amount of charge at the internal transfer stage point 20 (1. If the amplitude of the clock pulse applied to the terminal 5 is made higher than the voltage applied to the drain terminal 6, the MOS transistor 4 becomes conductive and the bias charge is increased. It can provide supplementary light.
すなわち、本発明は第1のMOSトランジスタのソース
を入力,ドレインを出力として、上記第1のMOSトラ
ンジスタと上記第1のMOSトランジスタのゲート・ド
レイン間に接続したバケツ容量とからなる1つの組を多
数個縦続接続し、上記第1のMOSトランジスタのゲー
トに印加する2相のクロツタパルスを用いて上記縦続接
続回路中を通して信号電荷を転送する装置において、上
記第1のMOSトランジスタの任意個のドレイン端子に
それぞれ1個の第2のMOSトランジスタのソースを接
続し、上記第2のMOSトランジスタのドレイン端子6
(J一定電源に接続し、上記第2のMOSトラノジスタ
のゲート端子に上記第1のMOSトランジスタのゲート
に印加する2相のクロックパルスと同じ周波数でしかも
位相のずれたクロツクパルスを印加するとともに、第1
のMOSトラノジスタと第2のMOSトランジスタのし
きい値電圧を変えるかもしく(1第1のMOSトラノジ
スタと第2のMOSトランジスタのゲート・ソース間寄
生容量を変えるかもしくは第1のMOSトラノジスタの
ゲートに加えるパルス振幅と第2のMOSトランジスタ
に加えるパルス振幅を違えることにより上記第2のMO
Sトランジスタの接続された上記第1のMOSトラノジ
スタのドレイン電圧.を周期的に一定時刻に一定電圧と
するものであり、MOS型バケツト・ブリゲード・デバ
イスにおけるバイア名電荷のリーク電流による減少を補
償することができる。That is, the present invention provides one set consisting of the first MOS transistor and a bucket capacitor connected between the gate and drain of the first MOS transistor, with the source of the first MOS transistor as an input and the drain as an output. In a device for transferring signal charges through the cascade-connected circuit using a two-phase clotter pulse applied to the gate of the first MOS transistor in which a large number of MOS transistors are connected in cascade, an arbitrary number of drain terminals of the first MOS transistor; The source of one second MOS transistor is connected to the drain terminal 6 of the second MOS transistor.
(J is connected to a constant power supply, and applies a clock pulse having the same frequency but out of phase with the two-phase clock pulse applied to the gate of the first MOS transistor to the gate terminal of the second MOS transistor, and 1
The threshold voltage of the MOS transistor and the second MOS transistor may be changed (1) The parasitic capacitance between the gate and source of the first MOS transistor and the second MOS transistor may be changed, or the gate of the first MOS transistor may be changed. By changing the pulse amplitude applied to the second MOS transistor and the pulse amplitude applied to the second MOS transistor,
Drain voltage of the first MOS transistor connected to the S transistor. is periodically set to a constant voltage at a constant time, and can compensate for a decrease in via charge due to leakage current in a MOS type bucket brigade device.
従つて、本発明によりダイナミツクレンジが途中段で狭
くなることを防止できる。Therefore, the present invention can prevent the dynamic range from becoming narrower in the middle.
第1図は本発明の一実施例のMOS型バケツトブリゲー
ド・デバイスの回路構成図である。
第2図A−Eは第1図の各部の電圧波形図である。1,
2・・・・・・転送用クロツクパルス印加端子、3・・
・・・・電荷転送用MOSトランジスタ、4・・・・・
・り一ク電流補償用トランジスタ、5・・・・・・クロ
ツク印加端子、20・・・・・・内部信号段点。FIG. 1 is a circuit diagram of a MOS type bucket brigade device according to an embodiment of the present invention. FIGS. 2A to 2E are voltage waveform diagrams of various parts in FIG. 1. 1,
2... Transfer clock pulse application terminal, 3...
...Charge transfer MOS transistor, 4...
- Current compensation transistor, 5...Clock application terminal, 20...Internal signal stage point.
Claims (1)
の第1のMOSトランジスタのゲート・ドレイン間にそ
れぞれバケツ容量を接続し、上記第1のMOSトランジ
スタに2相の第1のクロックパルスを印加するとともに
、さらに上記第1のMOSトランジスタの少なくとも1
つの任意のドレイン端子に第2のMOSトランジスタの
ソースを接続し、この第2のMOSトランジスタのゲー
トに上記2相の第1のクロックパルスと同じ周波数でし
かも位相のずれた第2のクロックパルスを印加すること
により、上記第2のMOSトランジスタの任意のドレイ
ン電圧を周期的に上記第2のクロックパルスに対応した
一定電荷量まで引き上げることにより、バイアス電荷の
補充を行なうことを特徴とするMOS型バケット・ブリ
ゲード・デバイス。1 A plurality of first MOS transistors are connected in cascade, a bucket capacitor is connected between the gate and drain of each of the first MOS transistors, and a two-phase first clock pulse is applied to the first MOS transistor. In addition, at least one of the first MOS transistors
The source of a second MOS transistor is connected to any one of the two drain terminals, and a second clock pulse having the same frequency as the two-phase first clock pulse but out of phase with the second clock pulse is applied to the gate of the second MOS transistor. MOS type, characterized in that bias charge is replenished by periodically raising an arbitrary drain voltage of the second MOS transistor to a certain amount of charge corresponding to the second clock pulse. Bucket brigade device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP49034308A JPS594792B2 (en) | 1974-03-26 | 1974-03-26 | MOS Gata Bucket Brigade Te |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP49034308A JPS594792B2 (en) | 1974-03-26 | 1974-03-26 | MOS Gata Bucket Brigade Te |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS50127584A JPS50127584A (en) | 1975-10-07 |
JPS594792B2 true JPS594792B2 (en) | 1984-01-31 |
Family
ID=12410517
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP49034308A Expired JPS594792B2 (en) | 1974-03-26 | 1974-03-26 | MOS Gata Bucket Brigade Te |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS594792B2 (en) |
-
1974
- 1974-03-26 JP JP49034308A patent/JPS594792B2/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS50127584A (en) | 1975-10-07 |
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