JPS5946879A - せん孔調査装置 - Google Patents
せん孔調査装置Info
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- JPS5946879A JPS5946879A JP58144530A JP14453083A JPS5946879A JP S5946879 A JPS5946879 A JP S5946879A JP 58144530 A JP58144530 A JP 58144530A JP 14453083 A JP14453083 A JP 14453083A JP S5946879 A JPS5946879 A JP S5946879A
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 92
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 24
- 238000005553 drilling Methods 0.000 claims description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 14
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 12
- 239000000725 suspension Substances 0.000 claims description 3
- 238000012549 training Methods 0.000 claims description 3
- 238000011835 investigation Methods 0.000 claims 5
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims 4
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 18
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 241001519451 Abramis brama Species 0.000 description 1
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 240000000018 Gnetum gnemon Species 0.000 description 1
- 235000008612 Gnetum gnemon Nutrition 0.000 description 1
- 235000003976 Ruta Nutrition 0.000 description 1
- 240000005746 Ruta graveolens Species 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000002496 gastric effect Effects 0.000 description 1
- 210000004907 gland Anatomy 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 1
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 235000005806 ruta Nutrition 0.000 description 1
Classifications
-
- E—FIXED CONSTRUCTIONS
- E21—EARTH OR ROCK DRILLING; MINING
- E21B—EARTH OR ROCK DRILLING; OBTAINING OIL, GAS, WATER, SOLUBLE OR MELTABLE MATERIALS OR A SLURRY OF MINERALS FROM WELLS
- E21B47/00—Survey of boreholes or wells
- E21B47/02—Determining slope or direction
- E21B47/022—Determining slope or direction of the borehole, e.g. using geomagnetism
-
- E—FIXED CONSTRUCTIONS
- E21—EARTH OR ROCK DRILLING; MINING
- E21B—EARTH OR ROCK DRILLING; OBTAINING OIL, GAS, WATER, SOLUBLE OR MELTABLE MATERIALS OR A SLURRY OF MINERALS FROM WELLS
- E21B47/00—Survey of boreholes or wells
- E21B47/12—Means for transmitting measuring-signals or control signals from the well to the surface, or from the surface to the well, e.g. for logging while drilling
- E21B47/13—Means for transmitting measuring-signals or control signals from the well to the surface, or from the surface to the well, e.g. for logging while drilling by electromagnetic energy, e.g. radio frequency
- E21B47/135—Means for transmitting measuring-signals or control signals from the well to the surface, or from the surface to the well, e.g. for logging while drilling by electromagnetic energy, e.g. radio frequency using light waves, e.g. infrared or ultraviolet waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ぜん孔プローブ(探り部)が垂直なせん孔を
移動する際の該プローブの回転配向もしくは配位を測定
するための改良された手段を有するせん孔ffel査装
置ならびにせん孔の方位を測定する改良された方法に関
する。
移動する際の該プローブの回転配向もしくは配位を測定
するための改良された手段を有するせん孔ffel査装
置ならびにせん孔の方位を測定する改良された方法に関
する。
本特許願′の発明は、/9gθ年70月23日付は出願
のLiuの米国特許JiiQ SN 2θθ、096号
(BO/、)1.II−USA)ならびに/ワざ1年1
月73日付出願のHulθingの米国特許願SNコ2
ダ、7 g 9号(Boyグθo −ll5A )の明
細書に記載の発明に関係を有する。これら両特許願の明
m ?i’に開示されている内容は本明細書においても
参考のために援用している。
のLiuの米国特許JiiQ SN 2θθ、096号
(BO/、)1.II−USA)ならびに/ワざ1年1
月73日付出願のHulθingの米国特許願SNコ2
ダ、7 g 9号(Boyグθo −ll5A )の明
細書に記載の発明に関係を有する。これら両特許願の明
m ?i’に開示されている内容は本明細書においても
参考のために援用している。
典型的なせん孔調査装置は、ケーブルに吊下げられてぜ
ん孔内を、1lilJせしめられるブロードハウジング
を有している。例えば、直交関係で配列された3つの加
速度計から構成される傾斜1[が、プローブに対する局
部もしくは小域垂直線の角度を測定する。プローブはせ
ん孔を通って移動する間その縦軸線を中心に自由に回転
できる。せん孔の方位を決定するためには、傾斜計の測
定に対し基準を与えるためにプローブの配向もしくは配
位を測定する必要がある。ジャイロスコープまたは磁力
計を用いてこのような配向もしくは配位を測定すること
が知られている。しかしながらジャイロスコープおよび
磁力計は共に、(i頼性が阻害され精度が低いなどの動
作上の限界を有するばかりではなく、費用が高くつく。
ん孔内を、1lilJせしめられるブロードハウジング
を有している。例えば、直交関係で配列された3つの加
速度計から構成される傾斜1[が、プローブに対する局
部もしくは小域垂直線の角度を測定する。プローブはせ
ん孔を通って移動する間その縦軸線を中心に自由に回転
できる。せん孔の方位を決定するためには、傾斜計の測
定に対し基準を与えるためにプローブの配向もしくは配
位を測定する必要がある。ジャイロスコープまたは磁力
計を用いてこのような配向もしくは配位を測定すること
が知られている。しかしながらジャイロスコープおよび
磁力計は共に、(i頼性が阻害され精度が低いなどの動
作上の限界を有するばかりではなく、費用が高くつく。
上に引用したLiuおよびHulθingの特許願明+
?lB省には、プローブがせん孔を通って移動する際に
増分的な方位変化を決定もしくは測定するための手段と
共に複数部分からなるプローブを使用するせん孔調査装
置i′i、が開示されている。これら器具もしくは装置
は、ジャイロスコープオたは磁力削が不必要であるが、
プローブの寸法が長いことならびに測定誤差が累積して
測定1度が減少することを含め他の欠点を有している。
?lB省には、プローブがせん孔を通って移動する際に
増分的な方位変化を決定もしくは測定するための手段と
共に複数部分からなるプローブを使用するせん孔調査装
置i′i、が開示されている。これら器具もしくは装置
は、ジャイロスコープオたは磁力削が不必要であるが、
プローブの寸法が長いことならびに測定誤差が累積して
測定1度が減少することを含め他の欠点を有している。
本発明の器具もしくは装置は、直接、偏波もしくは偏光
されたtlLfji放射を用いてプローブの配位もしく
は配向を測定し、その結果得られた配向信号を、該信号
の偏波(偏光)軸線を維持する伝導部を介して地表に伝
送する。本装置もしくは器具は、ナA斜計では配向を測
定することができない垂直のぜん孔部分をプローブが横
切る際の該プローブの配向もしくは配位の尺度を得る上
に特に有用である。
されたtlLfji放射を用いてプローブの配位もしく
は配向を測定し、その結果得られた配向信号を、該信号
の偏波(偏光)軸線を維持する伝導部を介して地表に伝
送する。本装置もしくは器具は、ナA斜計では配向を測
定することができない垂直のぜん孔部分をプローブが横
切る際の該プローブの配向もしくは配位の尺度を得る上
に特に有用である。
本発明の1つの特徴によイア、ば、ぜん孔鯛査器具もし
くは装置は、改良されたプローブ配向決定手段を有し、
そしてこの手段は、プローブに対し同定の関係でプロー
ブの縦tliIl+ M!を横切る方向の偏光軸線を有
する偏光ビートを発生ずるブト1−ブ内の偏光光源と、
地表に偏光された光を□伝導するためのオプチカルファ
イバ光導管と、該光導管から受けた光の偏光面を検出す
るための手段とを有する。特に光源および(C4光フィ
ルタはプローブに固定さイ12、そしてオプチカル光フ
アイバ導管はプローブ懸持ケーブルの一部分をなす。
くは装置は、改良されたプローブ配向決定手段を有し、
そしてこの手段は、プローブに対し同定の関係でプロー
ブの縦tliIl+ M!を横切る方向の偏光軸線を有
する偏光ビートを発生ずるブト1−ブ内の偏光光源と、
地表に偏光された光を□伝導するためのオプチカルファ
イバ光導管と、該光導管から受けた光の偏光面を検出す
るための手段とを有する。特に光源および(C4光フィ
ルタはプローブに固定さイ12、そしてオプチカル光フ
アイバ導管はプローブ懸持ケーブルの一部分をなす。
本発明の他の特徴によれば、受信光の偏光面を検出する
だめの手段は、光センサと、オプチカル・フデイバ冗導
管および光セン→)間に介在配設さ(]、た114光フ
ィルタと、フィルタを回転してセン−りに入射する光を
変調するための手段と、第一の(tri光フィルタの回
転に対する変調光の位相角からグローブの配向もしくは
配位を決定するための手段とを含む。
だめの手段は、光センサと、オプチカル・フデイバ冗導
管および光セン→)間に介在配設さ(]、た114光フ
ィルタと、フィルタを回転してセン−りに入射する光を
変調するための手段と、第一の(tri光フィルタの回
転に対する変調光の位相角からグローブの配向もしくは
配位を決定するための手段とを含む。
本発明の別の様相によれば、相次いで行なわれる傾斜計
測定からせん北方位を決定するための改良され簡略され
た方法が提案される。
測定からせん北方位を決定するための改良され簡略され
た方法が提案される。
本発明のさらに他の特徴によイ1.ば、せん孔調査装置
は、せん孔内を移動可能なプローブと、該プローブに設
けられたfXi斜センサと、垂直なぜん孔部では高い精
度でそして水平なぜん孔部では減少した精度でぜん北方
位の第一の測定t14・を派生するための手段と、水平
のぜん孔部では高い精度でそして垂直のせん孔部では減
少した精度で第一のせん北方位測定↓L!、を派生する
ための手段と、上記第1およびM2のせん孔方位測別斯
をせん孔の傾斜にしたがって結合するための手段とを有
する。
は、せん孔内を移動可能なプローブと、該プローブに設
けられたfXi斜センサと、垂直なぜん孔部では高い精
度でそして水平なぜん孔部では減少した精度でぜん北方
位の第一の測定t14・を派生するための手段と、水平
のぜん孔部では高い精度でそして垂直のせん孔部では減
少した精度で第一のせん北方位測定↓L!、を派生する
ための手段と、上記第1およびM2のせん孔方位測別斯
をせん孔の傾斜にしたがって結合するための手段とを有
する。
本発明の他の0徴によれば、加速度計46号および他の
(i号は、イ(4光ビームの振幅変調によってプローブ
から地表に伝送される。
(i号は、イ(4光ビームの振幅変調によってプローブ
から地表に伝送される。
本発明の他の特徴および利点は添付図面を参照しての以
下の説明から容易に理解されるであろう。
下の説明から容易に理解されるであろう。
第1図の8)、1査装置において、プローブもしくは探
り部λθは、ぜん孔λ2を通して運ルリ可能なようにケ
ーブル、2/に懸持されている。該ブU−フ20は、そ
の縦軸線がせん孔内の中心に位12< t、てぜん孔の
軸線と一致するものと見做すことができるよ′)に、適
当なスペーサ23によりぜん孔内に心出しされている。
り部λθは、ぜん孔λ2を通して運ルリ可能なようにケ
ーブル、2/に懸持されている。該ブU−フ20は、そ
の縦軸線がせん孔内の中心に位12< t、てぜん孔の
軸線と一致するものと見做すことができるよ′)に、適
当なスペーサ23によりぜん孔内に心出しされている。
プローブ20は、せん孔内を運動する間自由に回転する
ことができる。ケーブルλ/は、プローブのせん孔内下
降距離を表す尺度1を発生する回転ホーf −ル上を通
る。プローブフθを下降および上昇するためのケーブル
・ホイスト機措は、図面の錯綜を避けるために図示を省
略した。
ことができる。ケーブルλ/は、プローブのせん孔内下
降距離を表す尺度1を発生する回転ホーf −ル上を通
る。プローブフθを下降および上昇するためのケーブル
・ホイスト機措は、図面の錯綜を避けるために図示を省
略した。
簡略に述べると、プローブ、20は、せん孔に清い相続
く点での垂直線または重力ベクトルに対するぜん孔の傾
斜を測定するための手段を備えている。自明なように、
傾余Iしたせん孔内でのこの測定は、点から点における
せん北方位における変化を決定するのに十分な情報を与
える・しかしながら、多くのせん孔は、特に地表下の最
初の部分に垂直な部分を有している。垂直なぜん孔部分
内でのプローブの配位は、後述の偏光装置;を用いて測
定される。プローブの傾余トおよび配向を表ず信号は、
ケーブル、2/を介して地表に伝送され検出器2Sに供
給さ、t’s、る。この検出器の出力は、装置にデータ
を入力したり4N報を取出すのに用いられるキー;jミ
ード兼表示装置コクに接続されているデータ・ブロセ゛
ン→t、2Aに供給される。
く点での垂直線または重力ベクトルに対するぜん孔の傾
斜を測定するための手段を備えている。自明なように、
傾余Iしたせん孔内でのこの測定は、点から点における
せん北方位における変化を決定するのに十分な情報を与
える・しかしながら、多くのせん孔は、特に地表下の最
初の部分に垂直な部分を有している。垂直なぜん孔部分
内でのプローブの配位は、後述の偏光装置;を用いて測
定される。プローブの傾余トおよび配向を表ず信号は、
ケーブル、2/を介して地表に伝送され検出器2Sに供
給さ、t’s、る。この検出器の出力は、装置にデータ
を入力したり4N報を取出すのに用いられるキー;jミ
ード兼表示装置コクに接続されているデータ・ブロセ゛
ン→t、2Aに供給される。
本発明によるプローブの措成要素は第2図に略示しであ
る。プローブはノ1ウジンク゛30を有しており、この
ハウジング30内には傾斜計37が配設されている。こ
の傾斜引は、それぞれX、Yおよび2で表した感知t1
’+ll 線を有する3つの直交加値度計、?、2 、
、?、、? 、J4’から114成するの力S好ましい
。なお、Z軸は、プローブの縦軸線と一致するものとし
て示しである。XおよびY軸は、Z軸に対して直角の平
面を画定する。開音6(小域)iJX、カベクトルを測
定する加速度計はサーボ・デバイスとするのが好ましい
。加速度計からの信号は、垂直線からのせん孔の傾き角
ならびに傾いたせん孔内ではフミローブの軸線を通る垂
16平面に対する該プローブの回転角を表わす。一つの
加速度計または他の角度関係を用いるこきもできるが、
図示の傾斜計の配列が好ましい。
る。プローブはノ1ウジンク゛30を有しており、この
ハウジング30内には傾斜計37が配設されている。こ
の傾斜引は、それぞれX、Yおよび2で表した感知t1
’+ll 線を有する3つの直交加値度計、?、2 、
、?、、? 、J4’から114成するの力S好ましい
。なお、Z軸は、プローブの縦軸線と一致するものとし
て示しである。XおよびY軸は、Z軸に対して直角の平
面を画定する。開音6(小域)iJX、カベクトルを測
定する加速度計はサーボ・デバイスとするのが好ましい
。加速度計からの信号は、垂直線からのせん孔の傾き角
ならびに傾いたせん孔内ではフミローブの軸線を通る垂
16平面に対する該プローブの回転角を表わす。一つの
加速度計または他の角度関係を用いるこきもできるが、
図示の傾斜計の配列が好ましい。
発光ダイオードのような光導3!;が、ブo −ブλθ
の上端に配設されている。プローブの縦ll−1ll線
を横切る軸に沿い光源、?!rからの光を偏光するため
にハウジング3θに偏光フィルり3乙が固定されている
。オプチカル・ファイバ光74管37はフィルタ36か
ら偏光さイア、た光を受けて地表に伝送する。オプチカ
ル・ファイノく光導管37は、吊下げケーブル、2/内
に組込むことができる。オプチカル・ファイバ光導管の
端、??PLはプローブ・ハウジング3θの端部に固定
するのが好ましい。しかしながら、せん孔を移動する際
のプローブ、70の回転が、ケーブル、2/の過度の捩
イ]7を生せしめる場合には、ケーブルおよびオプチカ
ル・ファイバ光導管37は、回りPK手(図示せず)を
介してプローブ・ノ\ウジング37に接続することがで
きる。
の上端に配設されている。プローブの縦ll−1ll線
を横切る軸に沿い光源、?!rからの光を偏光するため
にハウジング3θに偏光フィルり3乙が固定されている
。オプチカル・ファイバ光74管37はフィルタ36か
ら偏光さイア、た光を受けて地表に伝送する。オプチカ
ル・ファイノく光導管37は、吊下げケーブル、2/内
に組込むことができる。オプチカル・ファイバ光導管の
端、??PLはプローブ・ハウジング3θの端部に固定
するのが好ましい。しかしながら、せん孔を移動する際
のプローブ、70の回転が、ケーブル、2/の過度の捩
イ]7を生せしめる場合には、ケーブルおよびオプチカ
ル・ファイバ光導管37は、回りPK手(図示せず)を
介してプローブ・ノ\ウジング37に接続することがで
きる。
プローブユ0がそのSat線を中心に回転をすると、L
FiD (発光ダイオード)JSからの光の偏光面はプ
ローブと共に回転する。フィルタ36によって設定され
る偏光面は、光がオプチカル・ファイバ光導管37を通
る際の光の反射によっても、あるいはまたケーブル21
および光導管の捩イ1.によっても実質的に変更される
ことはない。したがって、地表で検出さイ1.る光の偏
光軸は、縦軸線を中心としたプローブの配位もしくは配
向を表す。
FiD (発光ダイオード)JSからの光の偏光面はプ
ローブと共に回転する。フィルタ36によって設定され
る偏光面は、光がオプチカル・ファイバ光導管37を通
る際の光の反射によっても、あるいはまたケーブル21
および光導管の捩イ1.によっても実質的に変更される
ことはない。したがって、地表で検出さイ1.る光の偏
光軸は、縦軸線を中心としたプローブの配位もしくは配
向を表す。
オプチカル・ファイバ光導管37を介して地表で受けら
れた偏光は、検出器、2りに接続されている光センサ<
10に指し向りられる。光フアイバ光導管3りとセン日
ノーりθとの間にはモークグコによ°つて回転される第
2の偏光フィルタyiが介在配設されている。
れた偏光は、検出器、2りに接続されている光センサ<
10に指し向りられる。光フアイバ光導管3りとセン日
ノーりθとの間にはモークグコによ°つて回転される第
2の偏光フィルタyiが介在配設されている。
偏光からのプローブ配位もしくは配向の決定は第3図お
よび第y図に図解されている。フィルタf/が回転する
に伴い、センサグθによって受けられる光は、フィルタ
の偏光軸が一致した時に最大となり、該偏光軸が90度
変位した時に最小になる。第3図およびfiT ”図に
示ず曲線は、フィルタグlの角度位置の関数として受イ
、1光またはセンザイII号振申;晶を表す。第3図の
場合には、フィルタ3Aの偏光軸線は0゛′のfi7:
fl″′(でフィルタグ/の偏光軸線と整列している
。111号最大値はθ0および/g00で生ずる。信号
最小イ1?1はフィルタグlの900および、270°
で生ずる。
よび第y図に図解されている。フィルタf/が回転する
に伴い、センサグθによって受けられる光は、フィルタ
の偏光軸が一致した時に最大となり、該偏光軸が90度
変位した時に最小になる。第3図およびfiT ”図に
示ず曲線は、フィルタグlの角度位置の関数として受イ
、1光またはセンザイII号振申;晶を表す。第3図の
場合には、フィルタ3Aの偏光軸線は0゛′のfi7:
fl″′(でフィルタグ/の偏光軸線と整列している
。111号最大値はθ0および/g00で生ずる。信号
最小イ1?1はフィルタグlの900および、270°
で生ずる。
第9図の場合には、プローブλθは第3図の回転位置か
らqo度変位している。フィルタ円板1I−7が00位
置にあるときには、インX号振幅は最小となり、この状
態はフィルタ円板の/1100位置で繰返さイア、る。
らqo度変位している。フィルタ円板1I−7が00位
置にあるときには、インX号振幅は最小となり、この状
態はフィルタ円板の/1100位置で繰返さイア、る。
信号最大値は9θ0と、27θ0で生ずる。
せん孔の調査においては、プローブ20は、せん孔22
・の頂部でQ知の方位シ(塾に配向さイ1゜る。そこで
センサグθの出力と回転フィルタlI/(:の角度関係
をヂエツクする。プローブがぜA]孔を通って移動する
間、該プローブの回転配位を、せん孔に沿うプローブの
距離夕と相関させる。この、鴨合、回転フィルタ4t/
の角速度をブ[j−ブコθの角速度よりも相当大きくす
るこ吉だけが必要である。
・の頂部でQ知の方位シ(塾に配向さイ1゜る。そこで
センサグθの出力と回転フィルタlI/(:の角度関係
をヂエツクする。プローブがぜA]孔を通って移動する
間、該プローブの回転配位を、せん孔に沿うプローブの
距離夕と相関させる。この、鴨合、回転フィルタ4t/
の角速度をブ[j−ブコθの角速度よりも相当大きくす
るこ吉だけが必要である。
センサ//、0の出力ならびlごソ/rルタ円4fj、
’ltの角度位1dを表す信号は、イ火出器、2.5−
に供給さイ1.る。この検出器は、フィルタグ/の角度
位置に対する信号の位相/’Jを訓うびしでプtj−ブ
コθの回転付(1″V、ヲ決定する。イ11りのピーク
値と零との間の相対差は、シスデム状態によって変り得
るが、しかしながら位相角は変イつることはない。
’ltの角度位1dを表す信号は、イ火出器、2.5−
に供給さイ1.る。この検出器は、フィルタグ/の角度
位置に対する信号の位相/’Jを訓うびしでプtj−ブ
コθの回転付(1″V、ヲ決定する。イ11りのピーク
値と零との間の相対差は、シスデム状態によって変り得
るが、しかしながら位相角は変イつることはない。
伯−けは〕1″、:木的にDCバイアスを含む半波整流
さイア、た正弦波曲線である。(f↓1]−旨::’I
’夕は、例えば、検出器官′+jlこパ;1したフー
リエ曲ffi’J!を供給する1−タ・ブ1コレツサを
有するこLができる。イri号の基本周波数成分はホイ
ールの回転の周波数の2倍である。信号のフーリエ式に
おける「J変、II′lは無視することができる。fi
l→ゴの位相角が’l& Y’ik的にプローブの配位
もしくは配向を同定する。
さイア、た正弦波曲線である。(f↓1]−旨::’I
’夕は、例えば、検出器官′+jlこパ;1したフー
リエ曲ffi’J!を供給する1−タ・ブ1コレツサを
有するこLができる。イri号の基本周波数成分はホイ
ールの回転の周波数の2倍である。信号のフーリエ式に
おける「J変、II′lは無視することができる。fi
l→ゴの位相角が’l& Y’ik的にプローブの配位
もしくは配向を同定する。
次に、縦+ll+線を中心としてのブ1m−ブの配位も
しくは配向を表ず信号、ぜん孔下降距陥およひfl、i
’i斜計、?/からの重力ベクトル−こ対するプローブ
の配位を表す信号に基きプローブのせん孔下降位1斤を
決定する仕方について第3゛図および第7図を参照して
説明する。第左図においては、ぜん孔ノコは地表から下
向きに延びるように昂′1かイ1.ている。三次元序標
系N(北)、E(東)、G (’jf4力)の原点はせ
ん孔と地表との交点に位置する。局部的な地表面は扁平
である。!:見鍛すことができる。プローブ、2Qが点
jに位置する筒所て、傾余fiz/は、プローブの、1
1゛・j方向基準軸線、即ちフィルタ36の1晶光11
+111と、プローブの縦軸線を含む垂直平面qsとの
間の角度Fを測定する。この角度Fは、フィルタJ6の
1113光軸(時々してプローブの横方向基準軸とも称
する)(!:、プローブの縦軸線に対して垂直であって
垂16平面11.を内に在る線11.6との間に示さイ
している。点iにおけるプローブおよびせん孔の傾き角
工は、プローブの縦軸ダ7の延長線と千面lI左内の垂
直線りgとの間の角度として示されている。
しくは配向を表ず信号、ぜん孔下降距陥およひfl、i
’i斜計、?/からの重力ベクトル−こ対するプローブ
の配位を表す信号に基きプローブのせん孔下降位1斤を
決定する仕方について第3゛図および第7図を参照して
説明する。第左図においては、ぜん孔ノコは地表から下
向きに延びるように昂′1かイ1.ている。三次元序標
系N(北)、E(東)、G (’jf4力)の原点はせ
ん孔と地表との交点に位置する。局部的な地表面は扁平
である。!:見鍛すことができる。プローブ、2Qが点
jに位置する筒所て、傾余fiz/は、プローブの、1
1゛・j方向基準軸線、即ちフィルタ36の1晶光11
+111と、プローブの縦軸線を含む垂直平面qsとの
間の角度Fを測定する。この角度Fは、フィルタJ6の
1113光軸(時々してプローブの横方向基準軸とも称
する)(!:、プローブの縦軸線に対して垂直であって
垂16平面11.を内に在る線11.6との間に示さイ
している。点iにおけるプローブおよびせん孔の傾き角
工は、プローブの縦軸ダ7の延長線と千面lI左内の垂
直線りgとの間の角度として示されている。
垂16平面夕3と地表面との文f11が、点ilこおけ
るせん孔の方位に対応する配位もしくは配向を有するP
Jlグ9を画定する。方位角Aは、地表面を見下ろして
、北から時計方向に測定された角度である。
るせん孔の方位に対応する配位もしくは配向を有するP
Jlグ9を画定する。方位角Aは、地表面を見下ろして
、北から時計方向に測定された角度である。
ナーqき角■は傾斜計37からの加速度計信号を基に算
出される。同様にして、せん孔の軸線が垂直でない地点
においては、角度Vは加速度計信号から勢、出される。
出される。同様にして、せん孔の軸線が垂直でない地点
においては、角度Vは加速度計信号から勢、出される。
しかしながらぜん孔の軸線が垂i代である場合には、特
殊なもしくは特徴的な垂直平面はなく、角度Wは定毅さ
イ1.ない。
殊なもしくは特徴的な垂直平面はなく、角度Wは定毅さ
イ1.ない。
典型的なぜん孔は初期垂直部を有しており、そして偏光
回転配向検出器が用いられるのはこのような垂直部を通
る時である。既に述べたように、調査動作の開始、プロ
ーブの配位もしくは配向および偏光信号の位相角のチェ
ックが行なイ)れる。プローブが垂直せん孔部を通って
下降される際における該プローブの回転配向もしくは配
位の変化が記録される。プローブがせん孔の垂直部を去
るさ、その配位もしくは配向が既知となって、爾後せん
孔の方位を決定する上の基礎を与える。
回転配向検出器が用いられるのはこのような垂直部を通
る時である。既に述べたように、調査動作の開始、プロ
ーブの配位もしくは配向および偏光信号の位相角のチェ
ックが行なイ)れる。プローブが垂直せん孔部を通って
下降される際における該プローブの回転配向もしくは配
位の変化が記録される。プローブがせん孔の垂直部を去
るさ、その配位もしくは配向が既知となって、爾後せん
孔の方位を決定する上の基礎を与える。
既に述べたよ・うに、角度Fは加速吸計(=1号から決
定される。前に掲げたLiuの米国特許願明細;1)゛
には、角度Vおよびせん孔方位との間に関係がある旨の
開示がある。この関係は、上記米国/i〒n′「明細書
の発明において、せん孔の軌道の表示を導出するために
行わ21.ている一連のマトリックス動作に暗黙のうち
に含才イ1ている。本発明によるぜん孔方位を決定する
方法の基礎は、この関係の明確な表現(式)である。
定される。前に掲げたLiuの米国特許願明細;1)゛
には、角度Vおよびせん孔方位との間に関係がある旨の
開示がある。この関係は、上記米国/i〒n′「明細書
の発明において、せん孔の軌道の表示を導出するために
行わ21.ている一連のマトリックス動作に暗黙のうち
に含才イ1ている。本発明によるぜん孔方位を決定する
方法の基礎は、この関係の明確な表現(式)である。
第7図を参照するに、この図゛にはコつの相続くぜん孔
の点1および1−1−/が示されており、ぞしてこイ1
.らコつの点間におりるせん孔断面は平面曲綜であると
仮定している。この事はせん孔内において必ずしも常に
真であるとは限らないが、合理的な近似であることは確
かであって、点間に非常に小さい距離を選択することに
より所望の正確さを期することができる。平面Pよは点
1におけるプローブの縦軸線を含む垂直平面である。平
面P1は方位角Aiを有しており、点1におりるプロー
ブの傾きは工、である。平面Pi+1は、点i+7にお
けるブ狛−ブの縦軸線を9む1F直平面である。平面R
は、点1から点i+lに至る平面せん孔部NjN k含
む。
の点1および1−1−/が示されており、ぞしてこイ1
.らコつの点間におりるせん孔断面は平面曲綜であると
仮定している。この事はせん孔内において必ずしも常に
真であるとは限らないが、合理的な近似であることは確
かであって、点間に非常に小さい距離を選択することに
より所望の正確さを期することができる。平面Pよは点
1におけるプローブの縦軸線を含む垂直平面である。平
面P1は方位角Aiを有しており、点1におりるプロー
ブの傾きは工、である。平面Pi+1は、点i+7にお
けるブ狛−ブの縦軸線を9む1F直平面である。平面R
は、点1から点i+lに至る平面せん孔部NjN k含
む。
ベクトルjは、初期におい゛C大域もしくは地球座標系
のE軸と整列したプローブ座標系における単位ベクトル
である。オイラー角の方法を用いて、地球座標系(gl
obal coordina、te system)に
16ける単位ベクトルjの成分は次のように表せること
が判る。
のE軸と整列したプローブ座標系における単位ベクトル
である。オイラー角の方法を用いて、地球座標系(gl
obal coordina、te system)に
16ける単位ベクトルjの成分は次のように表せること
が判る。
ii = −coeA C08I oinF−5in
A coeリパ1ij = −5inA cos l
sin W 十cosA coo V’G= ei
nI einす′ m 7図において、単位ベクトル、プは、一つの点iお
よびl十lにおけるベクトルがぜん孔部線の平面に対し
て垂直となるようにそイ’Lぞれの垂直平面P1および
P1→、から角度θだけ回転して示されている。このよ
うにした場合、上記aつの単位ベクトルは同じ方向を治
し、したがってttwu座標系において同じ成分を有す
ることになる。即ち N = −cos ACoe II日in 01−5i
rlA4 cos (71C悄θ1ll =−cos A1+、 cos工1++ 8111
θ1H−81nAi+−+ %B = −sin A1
cos工18inθ1+(!08 A1008θ1=
gin Ai++ coo ■i−1+ 5J−
n θi++−1−cos ”i+t C0Qei」
−5G=sin工1 ein 01==sin工1−1
−+ sin 01−1−+A1からi+/への方位角
の変化は次のように表すことができる。
A coeリパ1ij = −5inA cos l
sin W 十cosA coo V’G= ei
nI einす′ m 7図において、単位ベクトル、プは、一つの点iお
よびl十lにおけるベクトルがぜん孔部線の平面に対し
て垂直となるようにそイ’Lぞれの垂直平面P1および
P1→、から角度θだけ回転して示されている。このよ
うにした場合、上記aつの単位ベクトルは同じ方向を治
し、したがってttwu座標系において同じ成分を有す
ることになる。即ち N = −cos ACoe II日in 01−5i
rlA4 cos (71C悄θ1ll =−cos A1+、 cos工1++ 8111
θ1H−81nAi+−+ %B = −sin A1
cos工18inθ1+(!08 A1008θ1=
gin Ai++ coo ■i−1+ 5J−
n θi++−1−cos ”i+t C0Qei」
−5G=sin工1 ein 01==sin工1−1
−+ sin 01−1−+A1からi+/への方位角
の変化は次のように表すことができる。
Δ1=Ai−1−+ ’1
NおよびE方程式の線形結合により、Δ1を用いて次の
2つの新しい式を導き出すことができる。
2つの新しい式を導き出すことができる。
COsΔICOs工I Sinθ1−81nΔ・CoF
3θ1=coe工1−)、sinθ1+。
3θ1=coe工1−)、sinθ1+。
Elin Δ1. CO8工181nθ1+ 008
ΔIQORθ1=COθθ1+。
ΔIQORθ1=COθθ1+。
角度γ1は次のように定義される。
7’i ” ’i+1’i =01+1−01上の方程
式は、単位ベクトルのG成分に対する方程式で次のよう
に結合することができる。
式は、単位ベクトルのG成分に対する方程式で次のよう
に結合することができる。
(coθ工1 sin、Ig+、 sin γ1
)cos Δ1−(sin 11− B1n1i++
Cog 71)sin Δ1 =sin工1008
工1++ sin rl(81n工1−ein 工i
++ cosγ1) (!OFJ △1+(cos 工
I Elin工1−1−+ sin rl )si
n △1 =θ1n工ICoθγ、(i in I 1
++これらの方程式をθinΔ1およびcos△1 に
ついて解きそしてtanΔ1を得るために一方を他方で
割ると、次の関係式が導出される。
)cos Δ1−(sin 11− B1n1i++
Cog 71)sin Δ1 =sin工1008
工1++ sin rl(81n工1−ein 工i
++ cosγ1) (!OFJ △1+(cos 工
I Elin工1−1−+ sin rl )si
n △1 =θ1n工ICoθγ、(i in I 1
++これらの方程式をθinΔ1およびcos△1 に
ついて解きそしてtanΔ1を得るために一方を他方で
割ると、次の関係式が導出される。
Δ1” Ai+I Ai ” tan −’上から明
らかなように、せん孔の相続く点間における方位角の変
化は、これらλつの点における傾斜計測定値から決定す
ることができる。
らかなように、せん孔の相続く点間における方位角の変
化は、これらλつの点における傾斜計測定値から決定す
ることができる。
既に述べたようにプローブコθの配向は直接地表で測定
される。次いでプローブをぜん孔を通して下降する。せ
ん孔の軸線が垂直である限りにおいて、縦軸線を中心と
するプローブの配向は偏光装置を用いて測定される。せ
ん孔が垂直線から偏差する地点で、方位変化は、Δ1お
よび方位角増分を加算するこ♂によって決定さイ1゜る
fE意点jこおける方位角を連続的に泪3′択すること
lこよって求めらイア、る。プローブがさらに他の垂直
なぜん孔部分に入ると、該プローブが当該jri; i
F4.部分を通るLきの縦軸線を中心とするプローブの
配向は(l;i光装置によりモニタされる。
される。次いでプローブをぜん孔を通して下降する。せ
ん孔の軸線が垂直である限りにおいて、縦軸線を中心と
するプローブの配向は偏光装置を用いて測定される。せ
ん孔が垂直線から偏差する地点で、方位変化は、Δ1お
よび方位角増分を加算するこ♂によって決定さイ1゜る
fE意点jこおける方位角を連続的に泪3′択すること
lこよって求めらイア、る。プローブがさらに他の垂直
なぜん孔部分に入ると、該プローブが当該jri; i
F4.部分を通るLきの縦軸線を中心とするプローブの
配向は(l;i光装置によりモニタされる。
さらに1点間におけるせん孔部腺が円滑であると仮定し
、しかもこれらの点は’1 ”J++が小さな角度と
なるように非常に接近するようにB択する。即ぢ、[j
j”14−+とすると、この間係は、調査装置の挙動を
可視化するのに有用であり、成る種の事例における実際
の調査において十分な417度を保障する。
、しかもこれらの点は’1 ”J++が小さな角度と
なるように非常に接近するようにB択する。即ぢ、[j
j”14−+とすると、この間係は、調査装置の挙動を
可視化するのに有用であり、成る種の事例における実際
の調査において十分な417度を保障する。
上に述べた装置は、一つではなく唯一っの傾斜計が用い
られている点ならびにプローブが、−けん孔の軸線に浴
って屈曲するようにたわみ性でありしかもぜん孔の軸線
全中心とするハウジング間の回転に対し抵抗するような
接続部によって結合されたλつのハウジングを有するの
ではなく、単一のコンパクトなハウジングから41り成
されている点で、先Cζ掲げたLll」の米国特許前明
細書記載のものより単純である。これらの点が、機械的
検地からの有意味な差異である。しかしながら、本発明
によるセん孔1i11査機具および方法におkjるより
lR要な差6′4は、せん孔方位を導出する仕方自体ζ
こ見らイ1.る。従来のLiuおよびI(ulθing
の米[151特許願に記述されているような装置におい
ては、測定誤差は累オノ【性であって、そのために測定
のfiv度は測定第行わiするにつれて減少する。本発
明の装置Iこおいては、11呉差は消去され5、したが
って任意の方位測定における誤差は初期方位と最終測定
値との差の関数となる。ぜん孔を調査する際に7000
回行う測定のうち70回の測定を行えば、本発明による
装置と従来装置における精度の差は顕著になる。
られている点ならびにプローブが、−けん孔の軸線に浴
って屈曲するようにたわみ性でありしかもぜん孔の軸線
全中心とするハウジング間の回転に対し抵抗するような
接続部によって結合されたλつのハウジングを有するの
ではなく、単一のコンパクトなハウジングから41り成
されている点で、先Cζ掲げたLll」の米国特許前明
細書記載のものより単純である。これらの点が、機械的
検地からの有意味な差異である。しかしながら、本発明
によるセん孔1i11査機具および方法におkjるより
lR要な差6′4は、せん孔方位を導出する仕方自体ζ
こ見らイ1.る。従来のLiuおよびI(ulθing
の米[151特許願に記述されているような装置におい
ては、測定誤差は累オノ【性であって、そのために測定
のfiv度は測定第行わiするにつれて減少する。本発
明の装置Iこおいては、11呉差は消去され5、したが
って任意の方位測定における誤差は初期方位と最終測定
値との差の関数となる。ぜん孔を調査する際に7000
回行う測定のうち70回の測定を行えば、本発明による
装置と従来装置における精度の差は顕著になる。
別の重要な差異は、従来のLiuおよびHulθing
装置の精度が垂1αまたは近垂直せん孔部で減少するこ
とである。本発明の装置では、W期方位測定は非常に正
確に行うことができ、そしてプローブ回転を測定するた
めの偏光装置が、プローブが垂直なぜん孔部を通る間に
i、す、入さ2する誤差を最小限I、11に抑える。
装置の精度が垂1αまたは近垂直せん孔部で減少するこ
とである。本発明の装置では、W期方位測定は非常に正
確に行うことができ、そしてプローブ回転を測定するた
めの偏光装置が、プローブが垂直なぜん孔部を通る間に
i、す、入さ2する誤差を最小限I、11に抑える。
しかしながら本発明の装置の精度は、せん孔が、coa
lが零になる水平線に近づくにつイ1.て減少する。し
たがって°、水平部分を有するせん孔を調査する場合に
は、第1図の装置はHuloingの米国/r!j許願
SN、22グ、7t?号明細−((に記載の装置?′t
と第3図に示すように結合さイ1.る。この場合にも、
ブL3−ブS3はケーブルS6からせん孔!i7内に懸
持される。プローブSSは、同上米国特許願明4(11
書に記述されている性質のたわみ性に1に手60によっ
て結合された一つの部分sg。
lが零になる水平線に近づくにつイ1.て減少する。し
たがって°、水平部分を有するせん孔を調査する場合に
は、第1図の装置はHuloingの米国/r!j許願
SN、22グ、7t?号明細−((に記載の装置?′t
と第3図に示すように結合さイ1.る。この場合にも、
ブL3−ブS3はケーブルS6からせん孔!i7内に懸
持される。プローブSSは、同上米国特許願明4(11
書に記述されている性質のたわみ性に1に手60によっ
て結合された一つの部分sg。
j9を有する。上側のプローブ部分5gは第2図゛に示
ずような傾斜側および偏光諒を収容している。たわみ性
継手60には、2つのプローブ部分間における角度を表
ず46号を発生するための手段が設けられる。いろいろ
な(?T号がケーブル36を介して地表に伝達されて受
信器、検ttS器およびプロセツセ(ブロック62)に
供給さイ1.る。偏光系および傾斜旧信号は処理されて
そイLにより、jli: i(、i、’せん孔部におい
U l’l’d度のオ°17度を有する第1の方位測定
−1・IAがすIう生さイ1.る。傾斜計および継手乙
0からのイ1【号も49−1.理さイア、て、そfV7
により、水平のせん孔i1;て高13’l: (4)
frV度を有しくrr白ぜん孔部で低い精度を有すイ)
第2の方位測定b’t A Iが発生される。方位信号
AおよびA′はフ“ローブの仙きもしくは傾斜■に従っ
て平均化回路63で結合されて合成方位イハ号A8Vθ
が発生される。ここで、 Aave−Δcoti K −トΔ’(/−Coθ1
)プローブ内のいろいろなセンサからの信号は、偏光
ビームの変調によりディジクル形態で地表に伝送するの
が好ましい。こ、!15=達成するための装置が第9図
にブτ〕ツク・タイアゲラムで示されている。いろいろ
なセン−り例えば加速度唱32.3.3および3qなら
びに紺二手60の角度(:ンサ(第3図)はブロック4
5で示されている。
ずような傾斜側および偏光諒を収容している。たわみ性
継手60には、2つのプローブ部分間における角度を表
ず46号を発生するための手段が設けられる。いろいろ
な(?T号がケーブル36を介して地表に伝達されて受
信器、検ttS器およびプロセツセ(ブロック62)に
供給さイ1.る。偏光系および傾斜旧信号は処理されて
そイLにより、jli: i(、i、’せん孔部におい
U l’l’d度のオ°17度を有する第1の方位測定
−1・IAがすIう生さイ1.る。傾斜計および継手乙
0からのイ1【号も49−1.理さイア、て、そfV7
により、水平のせん孔i1;て高13’l: (4)
frV度を有しくrr白ぜん孔部で低い精度を有すイ)
第2の方位測定b’t A Iが発生される。方位信号
AおよびA′はフ“ローブの仙きもしくは傾斜■に従っ
て平均化回路63で結合されて合成方位イハ号A8Vθ
が発生される。ここで、 Aave−Δcoti K −トΔ’(/−Coθ1
)プローブ内のいろいろなセンサからの信号は、偏光
ビームの変調によりディジクル形態で地表に伝送するの
が好ましい。こ、!15=達成するための装置が第9図
にブτ〕ツク・タイアゲラムで示されている。いろいろ
なセン−り例えば加速度唱32.3.3および3qなら
びに紺二手60の角度(:ンサ(第3図)はブロック4
5で示されている。
センサの出力は個々にマルチブレク→ノ゛によって選択
されてブロック66でアナログ形態からディジタル形態
に変換される。IU列ディジクル信号はランプ3jに供
給さイア、て光ビームの輝度を変AIIJする。光セン
サaOからの信号は67で示すような波形を有する。し
、j)1シながら実際には、ディジタル信号の繰返し速
度は図示のものよりも何倍も大きくすることができる。
されてブロック66でアナログ形態からディジタル形態
に変換される。IU列ディジクル信号はランプ3jに供
給さイア、て光ビームの輝度を変AIIJする。光セン
サaOからの信号は67で示すような波形を有する。し
、j)1シながら実際には、ディジタル信号の繰返し速
度は図示のものよりも何倍も大きくすることができる。
光センサqθからの(M号はプローブ角度検出器6gな
らびにディジタル信号検出器A9に結合さ、れる。
らびにディジタル信号検出器A9に結合さ、れる。
これら検出器の出力はプロセラ→)7Qに供給さイア、
る。整流された正弦波およびディジタル・パルスの相対
振幅が、ディジタル信号がアナログ信号の零点て消える
ような関係にある場合には、ディジタル・データは正弦
波のピーク点でしか読出ずことができない。このような
状況下では、各センサ出力を表すディジタル信号を、セ
ンサ情報の損失を回避するために反復することができよ
う。
る。整流された正弦波およびディジタル・パルスの相対
振幅が、ディジタル信号がアナログ信号の零点て消える
ような関係にある場合には、ディジタル・データは正弦
波のピーク点でしか読出ずことができない。このような
状況下では、各センサ出力を表すディジタル信号を、セ
ンサ情報の損失を回避するために反復することができよ
う。
第1図は、プローブ(探り部)が位置するせん孔の部分
を含め、本発明によるせん孔訓査装置を示すダイアグラ
ム、第2図は、プ[コー、ブの部分略図であってイ1.
4光源およびゃ41斜計を示す略図、第3図および2a
y図はブ■」−ブの角度配向もしくは配位の検出を・図
解する略図、第3図ないし第7図はせん孔の方位の決定
を説明する上に用いられる幾例学的グラフを示す図1.
aBg図はぜん孔の方位の2つの測定111:をシji
出し結合する手段を備えたせん孔+11m Effl:
装置のダイアグラム、そして第)図はセンサ情報を、偏
光ビームの振幅変調により地表・に伝達するだめの装置
を示すブロック・ダイアグラムである。 20−會ブローブ、2/−−ケーブル、2.2・・せん
孔、23・・スペーサ、2!i・・検出器、26・・デ
ータ・ブロセツ→ノ゛、27・・キーボード/表示装置
、30・・ハウジング、J/−−傾斜計、J2.JJ、
Jy ・−1rj文加速度口1゛、J5・・光源、36
・・イ(、,1光フイルタ、37・・オプチカル・ファ
イバ光導管、グθ・・光センサ、lI/ ・・偏光フィ
ルタ、lI2・・モーフ、55・拳フ0ローフ゛、36
・・ケーフ゛ル、60・・たわみ性継手、6g・・角度
検出器、6り・・ディジタル信号検出器、70・・プロ
セッサ。 I ] 特許出願人代理人 曽 我 道 照′ 1FIG、
3 FIG、 4 アメリカ合衆国ワシントン州ベ ルビュー・ワンハンドレッドフ オーティフォース・アベニュー ・サウスイースト4556
を含め、本発明によるせん孔訓査装置を示すダイアグラ
ム、第2図は、プ[コー、ブの部分略図であってイ1.
4光源およびゃ41斜計を示す略図、第3図および2a
y図はブ■」−ブの角度配向もしくは配位の検出を・図
解する略図、第3図ないし第7図はせん孔の方位の決定
を説明する上に用いられる幾例学的グラフを示す図1.
aBg図はぜん孔の方位の2つの測定111:をシji
出し結合する手段を備えたせん孔+11m Effl:
装置のダイアグラム、そして第)図はセンサ情報を、偏
光ビームの振幅変調により地表・に伝達するだめの装置
を示すブロック・ダイアグラムである。 20−會ブローブ、2/−−ケーブル、2.2・・せん
孔、23・・スペーサ、2!i・・検出器、26・・デ
ータ・ブロセツ→ノ゛、27・・キーボード/表示装置
、30・・ハウジング、J/−−傾斜計、J2.JJ、
Jy ・−1rj文加速度口1゛、J5・・光源、36
・・イ(、,1光フイルタ、37・・オプチカル・ファ
イバ光導管、グθ・・光センサ、lI/ ・・偏光フィ
ルタ、lI2・・モーフ、55・拳フ0ローフ゛、36
・・ケーフ゛ル、60・・たわみ性継手、6g・・角度
検出器、6り・・ディジタル信号検出器、70・・プロ
セッサ。 I ] 特許出願人代理人 曽 我 道 照′ 1FIG、
3 FIG、 4 アメリカ合衆国ワシントン州ベ ルビュー・ワンハンドレッドフ オーティフォース・アベニュー ・サウスイースト4556
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (11せん孔を通るようにケーブルから懸持されたプロ
ーブを有するせん孔訓育装Mlこおいて、該プローブは
縦軸線を有しておって前記せん孔を通る際に該縦軸線を
中心に回転可能であり、該プローブの縦軸線を中心とす
る配向を決定するための手段を有し、該配向決定手段は
、前記プローブ内に設けられて前記プローブに対し固定
の関係で該プローブの縦軸線を横切る方向の偏波軸線を
有する偏波信号を発生ずる偏波電磁放射源と、該偏波(
g号を地表に伝導するだめの信号伝導部と、該伝導部か
ら受けた信号の偏波面を検出するための手段とを有する
せん孔訓査装置。 (2)偏波信号源が、プローブに固定された光源と偏光
フィルタとを含む特許請求の範囲第1項記載のせん孔調
査装置。 (3)信号伝導部がプローブ懸持ケーブルの一部である
特許請求の範囲第1項記載のせん孔調査装置。 (4)受信光の偏光面を検出するための手段が、光セン
サと、信号伝導部の端および該光センサ間に介在配設さ
れた偏光フィルタと、該フィルタを回転させて前記セン
サに入射する光を変調するための手段と、前記偏光フィ
ルタの回転に対する変=+fA光の位相角からプローブ
の配向を決定するための手段とを含む特許請求の範囲第
ユ項記載のぜん孔訓査装置。 (5)プローブ内に少なくとも1つのセンサを有し、該
センサは検知された状態を表わす出力(,4号を発生し
、さらに前記セン→)゛出力信号に応じて光ビームの輝
度を変調するための手段と、前記光フアイバ導管から受
けた光ビームの輝度変調を検出するだめの手段とを有す
る特許請求の範囲第1項記載のせん孔調査装置。 (6)センサの出力信号がアナログ信号であり、さらに
、該アナログ信号に応答するアナログ−ディジタル変換
器と、ディジタル・センサ信号に従って光ビームの輝度
を振幅変調するだめの手段とを有する特許請求の範囲第
S項記載のせん孔調査装置。 (7) 複数のセン日ノ゛と、逐次選択されたセンサ
出力(Ft号にしたがって前記光ビームの輝度を変調す
るためのマルチプレクサとを有する特許Ii?4求の範
囲第3項記載のぜん孔調査装置。 (8)センサの出力信号がアナログ信号であり、さらに
、マルチプレクサにより逐次コ■択されるアナログ・セ
ンサ出力信号に応答するアナログ−ディジタル変換器を
備えている特許請求の範囲第7項記載のせん孔調査装置
。 (9)縦軸線を有し、ぜん孔を通る際に該縦軸線を中心
としてランダムに回転可能であるせん孔を通るように適
応されたハウジングと、該ハウジング内に設けられた傾
斜計と、該ハウジングに固定されて該ハウジングの縦軸
線に直交する偏光軸を有する偏光信号を発生するための
偏波電磁放射源とを有し、前記信号の偏光11線が前記
傾斜計に対する基準として前記ハウジングの配向の尺度
となるせん孔v、1査プローブ。 00 偏光軸線を維持しつつ偏光信号を地表に伝達する
ための手段を含む特許請求の範囲第9項記載のせん孔調
査プローブ。 +111 偏光電磁放射源が、ハウジングに固定され
た光源と偏光フィルタとを含み、信号伝送手段が光学的
ファイバ導管である特許請求の範囲第1O項記載のせん
孔調査プローブ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/406,431 US4434654A (en) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Borehole orientation detection system employing polarized radiation |
US406431 | 1982-08-09 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5946879A true JPS5946879A (ja) | 1984-03-16 |
Family
ID=23607962
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58144530A Pending JPS5946879A (ja) | 1982-08-09 | 1983-08-09 | せん孔調査装置 |
Country Status (13)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4434654A (ja) |
JP (1) | JPS5946879A (ja) |
AU (3) | AU539669B2 (ja) |
CA (1) | CA1196494A (ja) |
DE (1) | DE3328722C2 (ja) |
FR (1) | FR2531482B1 (ja) |
GB (3) | GB2124758B (ja) |
IT (1) | IT8348818A0 (ja) |
MX (1) | MX153421A (ja) |
NL (1) | NL8302768A (ja) |
NO (1) | NO832814L (ja) |
SE (1) | SE8304214L (ja) |
ZA (1) | ZA835694B (ja) |
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- 1983-08-01 SE SE8304214A patent/SE8304214L/ not_active Application Discontinuation
- 1983-08-01 GB GB08320720A patent/GB2124758B/en not_active Expired
- 1983-08-02 AU AU17512/83A patent/AU539669B2/en not_active Ceased
- 1983-08-03 CA CA000433734A patent/CA1196494A/en not_active Expired
- 1983-08-03 ZA ZA835694A patent/ZA835694B/xx unknown
- 1983-08-04 NO NO832814A patent/NO832814L/no unknown
- 1983-08-04 NL NL8302768A patent/NL8302768A/nl not_active Application Discontinuation
- 1983-08-05 IT IT8348818A patent/IT8348818A0/it unknown
- 1983-08-08 FR FR8313036A patent/FR2531482B1/fr not_active Expired
- 1983-08-09 MX MX198326A patent/MX153421A/es unknown
- 1983-08-09 DE DE3328722A patent/DE3328722C2/de not_active Expired
- 1983-08-09 JP JP58144530A patent/JPS5946879A/ja active Pending
-
1984
- 1984-02-08 GB GB08403297A patent/GB2135450B/en not_active Expired
- 1984-02-08 GB GB08403296A patent/GB2135449B/en not_active Expired
- 1984-09-28 AU AU33719/84A patent/AU553276B2/en not_active Ceased
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1986
- 1986-10-10 AU AU63687/86A patent/AU6368786A/en not_active Abandoned
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SE8304214L (sv) | 1984-02-10 |
GB8403296D0 (en) | 1984-03-14 |
GB8320720D0 (en) | 1983-09-01 |
GB2124758A (en) | 1984-02-22 |
NO832814L (no) | 1984-02-10 |
FR2531482B1 (fr) | 1986-12-26 |
AU553276B2 (en) | 1986-07-10 |
SE8304214D0 (sv) | 1983-08-01 |
MX153421A (es) | 1986-10-07 |
DE3328722A1 (de) | 1984-02-16 |
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GB2135450B (en) | 1985-10-16 |
IT8348818A0 (it) | 1983-08-05 |
AU539669B2 (en) | 1984-10-11 |
NL8302768A (nl) | 1984-03-01 |
US4434654A (en) | 1984-03-06 |
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AU1751283A (en) | 1984-03-01 |
AU3371984A (en) | 1985-01-31 |
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