JPS5944581B2 - 磁気圧力式酸素分析計 - Google Patents
磁気圧力式酸素分析計Info
- Publication number
- JPS5944581B2 JPS5944581B2 JP52090934A JP9093477A JPS5944581B2 JP S5944581 B2 JPS5944581 B2 JP S5944581B2 JP 52090934 A JP52090934 A JP 52090934A JP 9093477 A JP9093477 A JP 9093477A JP S5944581 B2 JPS5944581 B2 JP S5944581B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pressure
- gas
- tube
- measurement
- analyzer
- Prior art date
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- Expired
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、界面圧力差を利用して酸素濃度を分析する磁
気圧力式酸素分析計に関する。
気圧力式酸素分析計に関する。
例えば、混合ガス中の酸素濃度測定には酸素特有の常磁
性磁化率を利用する方法が採用されている。
性磁化率を利用する方法が採用されている。
磁気圧力式酸素分析計は酸素の常磁性磁化率を、測定ガ
スと補助ガスとの酸素成分の差によつて生ずる界面圧力
差の測定により求める分析計で、例えば特許出願公告昭
４９−１０２８０号によつて公知である。第１図はこの
磁気圧力式酸素分析計の原理構成図を示す。
スと補助ガスとの酸素成分の差によつて生ずる界面圧力
差の測定により求める分析計で、例えば特許出願公告昭
４９−１０２８０号によつて公知である。第１図はこの
磁気圧力式酸素分析計の原理構成図を示す。
図において数気圧の補助ガスは、導管Ｚの主絞りＢを介
して数ｍｌ／ｍｉｎの流速に調整され、脈流のない定常
流として、導管Ｄ１、Ｄ２、差圧導管ＯＰＩ、ＤＰ２を
経て、長く延びた長方体に形成された測定室ＭＫの両側
の長側面から測定室ＭＫに導入される。この際に、差圧
導管ＤＰＩの測定室ＭＫへの開口部に、電磁石ヨークＪ
が測定ガスに磁気的影響を与えるように設けられる。ま
た差圧導管ＤＰＩ、ＤＰ２から分岐した差圧導管ＤＶＩ
、ＤＶ２は再び結合導管ＶＬにより結合されている。こ
の結合導管ＶＬ内には、熱線式流量検出素子ＳＭよりな
る検出部Ｍが設置される。測定ガスは測定ガス導入口Ｍ
Ｇから、測定室内に長手方向に沿つて導入され、排出口
ＧＡから排出される。いま、測定室ＭＫに測定ガスと補
助ガスとを導入すると、測定室ＭＫ内には、差圧導管Ｄ
ＰＩを介してこの測定室ＭＫ内に導入される補助ガスと
測定ガスとの間に、この測定ガス中の酸素濃度に応じて
界面圧力が発生し、補助ガスの導入を阻止しようとする
。一方、差圧導管ＤＰ２からは何の制約も受けることな
く測定室ＭＫ内に補助ガスが導出される。従つて、その
界面圧力の影響は結合導管ＶＬ内の補助ガスの流れとな
つて現われる。この補助ガスの流れは差圧導管ＤＶ２、
結合導管ＶＬ）差圧導管ＤＶＩ、ＤＰ２へと流れ、検出
素子ＳＭによつて検出される。この流量検出素子ＳＭは
２枚の小さい格子状の金属板（ギツタ）である。この金
属板は流れに対して直角に、極く僅かな間隔をもつて設
置される。この検出素子ＳＭを一定電流で加熱しておく
と、補助ガスの流れによつてその金属板が冷却され、そ
れにより抵抗変化を生じる。この抵抗変化をブリッジ回
路により検出することにより、測定ガス中の酸素濃度を
測定することができる。なお、この測定原理については
、上述した詳細に記載されている。いま交番磁界を発生
する磁気回路により、磁界を周期的に変化させると、周
期的な圧力変動を生じ、検出部Ｍにおける交流的なガス
の流れが流量検出素子ＳＭにより検出される。この際、
この検出素子ＳＭの構造上から、流体の圧力損失はほぼ
測定圧力に相当する値を示す。従つてこの検出素子ＳＭ
により流量測定することは、測定ガスと補助ガスとの間
の酸素含有量の差により生ずる圧力測定とみなすことが
できる。ところで、この分析計の界面圧力はＯ〜２％の
酸素濃度において、数μＢａｒの極めて、微弱な圧力で
ある。従つて、測定圧ＭＫから検出素子ＳＭに至る差圧
導管ＤＰｌ，ＤＰ２，ＤＶｌ，ＤＶ２および結合導管Ｖ
Ｌはすべて対称的な構造に構成され、電磁石ヨークＪに
よる界面圧力以外の検出素子ＳＭに及ぼす外部的影響を
極力排除しているが、これを全く取除くことは製作上不
可能であつた。外部圧力の影響、例えば測定ガス排出口
ＧＡに作用する雰囲気内の大きな風圧または騒音による
音圧（音波）によつて、測定室ＭＫ内の界面圧力が外部
的圧力変動を受け、そのためこの分析計の最終出力信号
がふらつきを生じ、不安定になることをさけられなかつ
た。本発明は上述の点に鑑み、従来技術の欠点を除き安
定した出力信号が得られる磁気圧力式酸素分析計を提供
することを目的とする。
して数ｍｌ／ｍｉｎの流速に調整され、脈流のない定常
流として、導管Ｄ１、Ｄ２、差圧導管ＯＰＩ、ＤＰ２を
経て、長く延びた長方体に形成された測定室ＭＫの両側
の長側面から測定室ＭＫに導入される。この際に、差圧
導管ＤＰＩの測定室ＭＫへの開口部に、電磁石ヨークＪ
が測定ガスに磁気的影響を与えるように設けられる。ま
た差圧導管ＤＰＩ、ＤＰ２から分岐した差圧導管ＤＶＩ
、ＤＶ２は再び結合導管ＶＬにより結合されている。こ
の結合導管ＶＬ内には、熱線式流量検出素子ＳＭよりな
る検出部Ｍが設置される。測定ガスは測定ガス導入口Ｍ
Ｇから、測定室内に長手方向に沿つて導入され、排出口
ＧＡから排出される。いま、測定室ＭＫに測定ガスと補
助ガスとを導入すると、測定室ＭＫ内には、差圧導管Ｄ
ＰＩを介してこの測定室ＭＫ内に導入される補助ガスと
測定ガスとの間に、この測定ガス中の酸素濃度に応じて
界面圧力が発生し、補助ガスの導入を阻止しようとする
。一方、差圧導管ＤＰ２からは何の制約も受けることな
く測定室ＭＫ内に補助ガスが導出される。従つて、その
界面圧力の影響は結合導管ＶＬ内の補助ガスの流れとな
つて現われる。この補助ガスの流れは差圧導管ＤＶ２、
結合導管ＶＬ）差圧導管ＤＶＩ、ＤＰ２へと流れ、検出
素子ＳＭによつて検出される。この流量検出素子ＳＭは
２枚の小さい格子状の金属板（ギツタ）である。この金
属板は流れに対して直角に、極く僅かな間隔をもつて設
置される。この検出素子ＳＭを一定電流で加熱しておく
と、補助ガスの流れによつてその金属板が冷却され、そ
れにより抵抗変化を生じる。この抵抗変化をブリッジ回
路により検出することにより、測定ガス中の酸素濃度を
測定することができる。なお、この測定原理については
、上述した詳細に記載されている。いま交番磁界を発生
する磁気回路により、磁界を周期的に変化させると、周
期的な圧力変動を生じ、検出部Ｍにおける交流的なガス
の流れが流量検出素子ＳＭにより検出される。この際、
この検出素子ＳＭの構造上から、流体の圧力損失はほぼ
測定圧力に相当する値を示す。従つてこの検出素子ＳＭ
により流量測定することは、測定ガスと補助ガスとの間
の酸素含有量の差により生ずる圧力測定とみなすことが
できる。ところで、この分析計の界面圧力はＯ〜２％の
酸素濃度において、数μＢａｒの極めて、微弱な圧力で
ある。従つて、測定圧ＭＫから検出素子ＳＭに至る差圧
導管ＤＰｌ，ＤＰ２，ＤＶｌ，ＤＶ２および結合導管Ｖ
Ｌはすべて対称的な構造に構成され、電磁石ヨークＪに
よる界面圧力以外の検出素子ＳＭに及ぼす外部的影響を
極力排除しているが、これを全く取除くことは製作上不
可能であつた。外部圧力の影響、例えば測定ガス排出口
ＧＡに作用する雰囲気内の大きな風圧または騒音による
音圧（音波）によつて、測定室ＭＫ内の界面圧力が外部
的圧力変動を受け、そのためこの分析計の最終出力信号
がふらつきを生じ、不安定になることをさけられなかつ
た。本発明は上述の点に鑑み、従来技術の欠点を除き安
定した出力信号が得られる磁気圧力式酸素分析計を提供
することを目的とする。
このような目的は本発明によれば、ところで、本発明者
達は数多くの研究および実験の結果、界面圧力がわずか
に数μＢａｒの極めて微弱な圧力であるから、外部圧力
の影響を受け易く、この外部圧力変動を除くためには、
単なる絞りまたは緩衝器の使用では十分な結果が得られ
なかつた。
達は数多くの研究および実験の結果、界面圧力がわずか
に数μＢａｒの極めて微弱な圧力であるから、外部圧力
の影響を受け易く、この外部圧力変動を除くためには、
単なる絞りまたは緩衝器の使用では十分な結果が得られ
なかつた。
そこで、排気ガス圧の安定化のための各種の機器を組合
わせることにより、相乗的効果が得られることが判明し
た。従つて、このような目的は本発明によれば、測定ガ
スの排出流路に、排気ガスの圧力変動を防止するように
細管と、デミスタおよびＨ管との組合わせからなる排気
ガス圧保持機構を設けることにより達成される。
わせることにより、相乗的効果が得られることが判明し
た。従つて、このような目的は本発明によれば、測定ガ
スの排出流路に、排気ガスの圧力変動を防止するように
細管と、デミスタおよびＨ管との組合わせからなる排気
ガス圧保持機構を設けることにより達成される。
次に本発明の実施例を図面に基づき、詳細に説明する。
第２図は本発明の一実施例の概略構成図を示す。
第１図に示した磁気圧力式酸素分析計１は測定ガスが導
入口ＭＧより導入され、排出口ＧＡから排出される。Ｚ
は補助ガス導管である。この測定ガス排出口ＧＡに接続
された測定ガス流出口Ｑには、排気ガス圧保持機構であ
るデミスタ（コンデンサポツト）２、細管３およびＨ管
４が配管されている。このうち、細管３は本実施例では
外径を３ｍも内径を２７ｘ１１長さ６５０泪程度のチユ
ーブである。なお、排出口ＧＡ等を含むガス導管は内径
４７７！ｌの導管が一般的に使用されている。次に第３
図はデミスタの概略構成図を示す。
入口ＭＧより導入され、排出口ＧＡから排出される。Ｚ
は補助ガス導管である。この測定ガス排出口ＧＡに接続
された測定ガス流出口Ｑには、排気ガス圧保持機構であ
るデミスタ（コンデンサポツト）２、細管３およびＨ管
４が配管されている。このうち、細管３は本実施例では
外径を３ｍも内径を２７ｘ１１長さ６５０泪程度のチユ
ーブである。なお、排出口ＧＡ等を含むガス導管は内径
４７７！ｌの導管が一般的に使用されている。次に第３
図はデミスタの概略構成図を示す。
図においてデミスタ２は円筒状容器５と配管６および配
管７から形成される。本実施例では円筒状容器５は板厚
が約１．６ｍ１程度、外径ｄ１が約６０ｍｍ１長さ１１
が約２００ｍｍ程度で、円板側板に配管６および配管７
が設けられる。配管６は外径１０７７Ｚ１１内径６ｍ７
Ｌ１配管７は外径１０龍、内径６７ｍ１で、円筒状容器
５内の挿入長１２は約１８０ｍ７１Ｌ程である。しかし
て、たとえば配管７を計器の測定ガス流出口Ｑに接続し
、配管６を細管２に接続する。次に第４図はＨ管の概略
構成図を示す。図においてＨ管４は、３つのＴ字管８，
９，１０と結合管１１，１２，１３とにより形成される
。このＨ管４は本実施例ではＴ字管８，９，１０の内径
Ｄ２をそれぞれ１８Ｗ！１１外径Ｄ３をそれぞれ２４ｍ
ｍ１結合管１１，１２，１３の内径をそれぞれＤ４を１
２ｍｊ外径Ｄ５をそれぞれ２４ｍ１とする。また長さ１
４，１５は約１００７７！７！程度である。しかして、
たとえば結合管１３が細管３に接続される。次に第５図
は各種の排気ガス圧保持機構の配管系統図を示し、Ａは
保持機構を取付けない場合の配管図、Ｂは保持機構を取
付けないが、配管の先端を彎曲させた場合の配管図、Ｃ
は配管の先端彎曲部にＨ管を取付けた場合の配管図、Ｄ
はデミスタを取付けた場合の配管図、Ｅは細管を取付け
た場合の配管図、Ｆは細管およびＨ管を取付けた場合の
配管図、ＧはデミスタおよびＨ管を取付けた場合の取付
配管図、Ｈはデミスタおよび細管を取付けた場合の配管
図、Ｉはデミスタ、細管およびＨ管をそれぜれ取付けた
本発明の一実施例の場合の配管図、ＪはＩと同一の本発
明の一実施例の取付配管図で、ただし風圧が零の場合で
ある。
管７から形成される。本実施例では円筒状容器５は板厚
が約１．６ｍ１程度、外径ｄ１が約６０ｍｍ１長さ１１
が約２００ｍｍ程度で、円板側板に配管６および配管７
が設けられる。配管６は外径１０７７Ｚ１１内径６ｍ７
Ｌ１配管７は外径１０龍、内径６７ｍ１で、円筒状容器
５内の挿入長１２は約１８０ｍ７１Ｌ程である。しかし
て、たとえば配管７を計器の測定ガス流出口Ｑに接続し
、配管６を細管２に接続する。次に第４図はＨ管の概略
構成図を示す。図においてＨ管４は、３つのＴ字管８，
９，１０と結合管１１，１２，１３とにより形成される
。このＨ管４は本実施例ではＴ字管８，９，１０の内径
Ｄ２をそれぞれ１８Ｗ！１１外径Ｄ３をそれぞれ２４ｍ
ｍ１結合管１１，１２，１３の内径をそれぞれＤ４を１
２ｍｊ外径Ｄ５をそれぞれ２４ｍ１とする。また長さ１
４，１５は約１００７７！７！程度である。しかして、
たとえば結合管１３が細管３に接続される。次に第５図
は各種の排気ガス圧保持機構の配管系統図を示し、Ａは
保持機構を取付けない場合の配管図、Ｂは保持機構を取
付けないが、配管の先端を彎曲させた場合の配管図、Ｃ
は配管の先端彎曲部にＨ管を取付けた場合の配管図、Ｄ
はデミスタを取付けた場合の配管図、Ｅは細管を取付け
た場合の配管図、Ｆは細管およびＨ管を取付けた場合の
配管図、ＧはデミスタおよびＨ管を取付けた場合の取付
配管図、Ｈはデミスタおよび細管を取付けた場合の配管
図、Ｉはデミスタ、細管およびＨ管をそれぜれ取付けた
本発明の一実施例の場合の配管図、ＪはＩと同一の本発
明の一実施例の取付配管図で、ただし風圧が零の場合で
ある。
図においてｕ字管式圧力計１４は磁気圧力式酸素分析計
１の測定ガス排出口に向う風速５ｍ／Ｓｅｃの風圧Ｗの
測定用である。各接続導管１５，１６，１７，１８，１
９の概略寸法は第１表の通りである。次に、第６図は第
５図に基づく風圧影響試験特性図を示す。図において横
軸は第５図の排気ガス圧保持機構の配管系統Ａないし１
１縦軸はフルスケールに対する出力の振れ巾（５）であ
る。第２表は本分析計の試験条件を示す。第６図の特性
１はデミスタ、細管およびＨ管が組合された本発明の排
ガス圧保持機構の配管系統で、風圧Ｗの影響による出力
の振れ巾は約２％程度である。
１の測定ガス排出口に向う風速５ｍ／Ｓｅｃの風圧Ｗの
測定用である。各接続導管１５，１６，１７，１８，１
９の概略寸法は第１表の通りである。次に、第６図は第
５図に基づく風圧影響試験特性図を示す。図において横
軸は第５図の排気ガス圧保持機構の配管系統Ａないし１
１縦軸はフルスケールに対する出力の振れ巾（５）であ
る。第２表は本分析計の試験条件を示す。第６図の特性
１はデミスタ、細管およびＨ管が組合された本発明の排
ガス圧保持機構の配管系統で、風圧Ｗの影響による出力
の振れ巾は約２％程度である。
この振れ巾には特性Ｊにおける風圧零のとき、すなわち
本分析計の増巾器などによる電気的ノイズによる振れ約
１，２％ないし１．４％程度が含まれている。従つて、
電気的ノイズ分を差引くと約０．７７０程度が風圧Ｗの
影響のみによる風圧の真の振れ巾である。特性Ａにおけ
る出力の振れ巾は約１６．８％であるが、特性Ｊの電気
的ノイズによる出力の振れ約１．２％ないし１．４％を
差引くと、約１５．５％が風圧Ｗの影響のみによる出力
の真の振れ巾である。従つて、本発明による分析計にお
いては、排気ガス圧保持機構すなわちデミスタ２、細管
３およびＨ管の組合せを設けることにより、風圧Ｗの影
響が約１／２０倍に減少している。このために、本分析
計の電気回路に発生する通常±０．５％のノイズレベル
まで風圧の影響を減少させることができた。なお、分析
計盤などにおいて、この磁気圧力式酸素分析計の測定ガ
ス排出口を他のガス分析計の排気ガス出口導管に合流さ
せて、測定ガスを排出させ一るように配管することがあ
る。
本分析計の増巾器などによる電気的ノイズによる振れ約
１，２％ないし１．４％程度が含まれている。従つて、
電気的ノイズ分を差引くと約０．７７０程度が風圧Ｗの
影響のみによる風圧の真の振れ巾である。特性Ａにおけ
る出力の振れ巾は約１６．８％であるが、特性Ｊの電気
的ノイズによる出力の振れ約１．２％ないし１．４％を
差引くと、約１５．５％が風圧Ｗの影響のみによる出力
の真の振れ巾である。従つて、本発明による分析計にお
いては、排気ガス圧保持機構すなわちデミスタ２、細管
３およびＨ管の組合せを設けることにより、風圧Ｗの影
響が約１／２０倍に減少している。このために、本分析
計の電気回路に発生する通常±０．５％のノイズレベル
まで風圧の影響を減少させることができた。なお、分析
計盤などにおいて、この磁気圧力式酸素分析計の測定ガ
ス排出口を他のガス分析計の排気ガス出口導管に合流さ
せて、測定ガスを排出させ一るように配管することがあ
る。
このとき他のガス分析計の排気ガスに脈流があると、こ
の脈流によるガス圧力変化が本分析計に影響して出力の
振れを生ずるおそれがある。そこで、この排気ガス圧保
持機構を取付けることにより、排気ガスの脈流による出
力の変動を、分析計の電気回路が有するノイズレベルま
で減少することができる。以上に説明するように本発明
によれば、測定ガス中の酸素濃度と補助ガス中の酸素濃
度との差により生ずる界面圧力がわずかに数μＢａｒの
極めて微弱な圧力であるから、この界面圧力に悪影響を
及ぼす測定ガス排出口の大きな風圧、１騒音による音圧
（音波）、さらに他のガス分析計の排気ガス導管に合流
したために生ずる他のガス分析計の脈流の影響を測定ガ
ス排出流路に設けたデミスタ、細管およびＨ管との組合
わせによる相乗的な効果を有する排気ガス圧保持機構に
より減少させたので、安定した出力信号が得られる。な
お、本発明による排気ガス圧保持機構は、デミスタ、細
管およびＨ管の一実施例について述べが形状、寸法など
これに限るものでない。
の脈流によるガス圧力変化が本分析計に影響して出力の
振れを生ずるおそれがある。そこで、この排気ガス圧保
持機構を取付けることにより、排気ガスの脈流による出
力の変動を、分析計の電気回路が有するノイズレベルま
で減少することができる。以上に説明するように本発明
によれば、測定ガス中の酸素濃度と補助ガス中の酸素濃
度との差により生ずる界面圧力がわずかに数μＢａｒの
極めて微弱な圧力であるから、この界面圧力に悪影響を
及ぼす測定ガス排出口の大きな風圧、１騒音による音圧
（音波）、さらに他のガス分析計の排気ガス導管に合流
したために生ずる他のガス分析計の脈流の影響を測定ガ
ス排出流路に設けたデミスタ、細管およびＨ管との組合
わせによる相乗的な効果を有する排気ガス圧保持機構に
より減少させたので、安定した出力信号が得られる。な
お、本発明による排気ガス圧保持機構は、デミスタ、細
管およびＨ管の一実施例について述べが形状、寸法など
これに限るものでない。
なおまた、デミスタ２および細管３は、分析計１のケー
ス内において、測定室ＭＫの排出口ＧＡと計器の測定ガ
ス流出口Ｑとの間の流路に配設してもよい。
ス内において、測定室ＭＫの排出口ＧＡと計器の測定ガ
ス流出口Ｑとの間の流路に配設してもよい。
第１図はこの磁気式酸素分析計の原理構成図、第２図は
本発明の一実施例の概略構成図、第３図はデミスタの概
略構成図、第４図はＨ管の概略構成図、第５図は各種の
排気ガス圧保持機構の配管系統図を示し、Ａ排気ガス圧
保持機構がない場合の配管図、Ｂは排気ガス圧保持機構
がないが、配管の先端を彎曲させた場合の配管図、Ｃは
配管の先端彎曲部にＨ管取付配管図、Ｄはデミスタを取
付けた場合の配管図、Ｅは細管を取付けた場合の配管図
、Ｆは細管およびＨ管を取付けた場合の配管図、Ｈはデ
ミスタおよび細管を取付けた場合の配管図、Ｉはデミス
タ、細管およびＨ管を取付けた本発明の一実施例の場合
の配管図、ＪはＩと同一の本発明の一実施例の配管図で
、ただし風圧が零、第６図は第５図に基づく風圧影響試
験線図である。 １：磁気式酸素分析計、２：デミスタ、３：細】、４：
Ｈ管、ＭＧ：測定ガス導入口、ＧＡ：測―ガス排出口。
本発明の一実施例の概略構成図、第３図はデミスタの概
略構成図、第４図はＨ管の概略構成図、第５図は各種の
排気ガス圧保持機構の配管系統図を示し、Ａ排気ガス圧
保持機構がない場合の配管図、Ｂは排気ガス圧保持機構
がないが、配管の先端を彎曲させた場合の配管図、Ｃは
配管の先端彎曲部にＨ管取付配管図、Ｄはデミスタを取
付けた場合の配管図、Ｅは細管を取付けた場合の配管図
、Ｆは細管およびＨ管を取付けた場合の配管図、Ｈはデ
ミスタおよび細管を取付けた場合の配管図、Ｉはデミス
タ、細管およびＨ管を取付けた本発明の一実施例の場合
の配管図、ＪはＩと同一の本発明の一実施例の配管図で
、ただし風圧が零、第６図は第５図に基づく風圧影響試
験線図である。 １：磁気式酸素分析計、２：デミスタ、３：細】、４：
Ｈ管、ＭＧ：測定ガス導入口、ＧＡ：測―ガス排出口。
Claims (1)
- １ 界面圧力差を利用して、測定ガス中の酸素濃度を分
析する分析計において、測定ガスの排出流路に、排気ガ
スの圧力変動を防止するように細管と、デミスタおよび
Ｈ管との組合わせからなる排気ガス圧保持機構を設けた
ことを特徴とする磁気圧力式酸素分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52090934A JPS5944581B2 (ja) | 1977-07-30 | 1977-07-30 | 磁気圧力式酸素分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52090934A JPS5944581B2 (ja) | 1977-07-30 | 1977-07-30 | 磁気圧力式酸素分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5426798A JPS5426798A (en) | 1979-02-28 |
| JPS5944581B2 true JPS5944581B2 (ja) | 1984-10-30 |
Family
ID=14012267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52090934A Expired JPS5944581B2 (ja) | 1977-07-30 | 1977-07-30 | 磁気圧力式酸素分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5944581B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2552937Y2 (ja) * | 1991-05-18 | 1997-11-05 | 株式会社堀場製作所 | 磁気式酸素分析装置 |
| JP4761204B2 (ja) * | 2006-05-26 | 2011-08-31 | 横河電機株式会社 | 磁気式酸素測定方法および磁気式酸素計 |
| JP6255916B2 (ja) * | 2013-11-07 | 2018-01-10 | 富士電機株式会社 | 磁気式酸素分析計用センサユニット |
| JP6497062B2 (ja) * | 2014-12-22 | 2019-04-10 | 富士電機株式会社 | 磁気式酸素分析方法及び磁気式酸素分析計 |
-
1977
- 1977-07-30 JP JP52090934A patent/JPS5944581B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5426798A (en) | 1979-02-28 |
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