JPS5941545B2 - 受動的光学式距離シミユレ−タ装置 - Google Patents

受動的光学式距離シミユレ−タ装置

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JPS5941545B2
JPS5941545B2 JP53025099A JP2509978A JPS5941545B2 JP S5941545 B2 JPS5941545 B2 JP S5941545B2 JP 53025099 A JP53025099 A JP 53025099A JP 2509978 A JP2509978 A JP 2509978A JP S5941545 B2 JPS5941545 B2 JP S5941545B2
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optical fiber
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は受動的光学式距離シミュレータ装置に関する。
近代的な電気光学的兵器照準システムは測定精度を確実
にするため高度の試験法を必要とする。
即ち光学的レーダの正確な距離合わせ、光学器の正しい
軸合せ、および反復システム性能を確認するための技術
が必要とされる。このようなシステムを試験するため簡
明かつ便利な手段が望まれている。従来このようなシス
テムの性能は主として下記の二方法、即ち(1)既知特
性の標的を有する屋外光学レーダ試験場、及び(2)被
験システムに直結された光学的能動トランスポンダによ
り行なわれていた。方法(1)は相当の面積及び固定施
設を要し、かつ天候及び安全性の問題を有する。方法(
2)は特に光軸合わせについて厳密な光学的干渉を必要
とし、トランスポンダは真の標的からの反射をシミユレ
ートすることは困難である。全系の性能に対する受信機
感度の寄与分を求めようとする場合には伝送反射信号の
大きさを知らねばならない。この値は希望の波長に於て
は、特に短パルスの場合及び光学受信機の閾値付近の信
号値の場合には、容易に較正しえない。伝達された反射
波のタイミングは距離の正確度に重要であり、例えば安
価な放射源を用いて所要の精度を達成維持することは容
易ではない。本発明の目的は既知技術の欠点を克服する
新規な受動的光学式距離シミユレータ装置を提供するこ
とにある。
本発明の受動的光学式距離シミユレータ装置は光学レー
ダビームが光路に平行に出入するアパーチユアを有する
光学レーダ測距システムと機械的に結合されるアダプタ
と、ビームを平行光束と共通面上の収斂焦点との間で変
換するため光路内に配置された収斂レンズ系と、光学フ
アイバコイルとを備え、その一端が共通面内にあつて収
斂焦点に位置合わせされかつ他端に反射器が設けられて
フアイバコイルが光学遅延媒体として作用する点を特徴
とする。
本発明に従えば、被験測距システムと光学的干渉を行な
うコリメータ系は不要である。
距離シミユレータ装置はアダプタにより被験測距システ
ムに直結しうる。この直接結合により光学的軸合わせ作
業が大巾に簡易化され、ぼやけの危険が除かれる。収斂
レンズは大口径のものでビームをフアイバ入射面に直接
焦点合わせさせる。本発明の好ましい一実施態様に於て
は傾斜の一次減衰器により一次面反射による被験システ
ムへのエネルギー逆流を防いでビーム光路に「自由空間
」特性を与え、また微調整減衰器内に設けられた逆角度
の平面ガラスがビーム通過時に卦けるビーム位置の移動
を防止する。
距離シミユレータ装置は光学フアィバによる遅延線コイ
ルを有し、その両端の反射面間に於て複数回の反射が誘
起される。この入射面は対象波長に於て一部反射性で一
部透過性であり、従つてコイル内に貯蔵されたエネルギ
ーは一部反射性面から取出され、測路システムには光学
フアィバ一遅延コイルの光学路長の整数倍の間隔を有す
る一連の「標的エコー」が与えられる。以下本発明を付
図に示す実施態様につき説明する。
本発明の好ましい実施態様を示す付図に於て、本受動的
光学式距離シミユレータ装置は試験さるべき光学レーダ
ー測距システム2の補足部と組合わされる外形を有する
アダプタ1を備える。
このアダプタ1は本発明の距離装置のハウジング5の前
部に突出して設けられる位置合わせピン4を受入れる開
口部3を有する。アダプタ1は使用時に於て距離シミユ
レータ装置の試験入カアパーチユアが被験測距システム
のアパーチユア7と一致しかつ(または)軸合わせされ
るように構成される。被験測距システムの物理的特性が
著しく変化する場合にはアダブタ1はこれに合うように
変更され、従つて類似したシステムの反復試験の準備及
び実施を迅速に行ないうる。被1験測距システムのアパ
ーチユア7からは光学レーザパルスが照準軸8に沿つて
発射され、平行な軸9または10に沿つて戻りアパーチ
ユア7VC再入射する。平行軸9,10の他者は図示し
ないテレビカメラへの光学情報の入力路として使用しう
る。アダプタ1に付属するネジ11は位置合わせピン4
が開口部3内に入れられた場合にこの位置合わせピンを
固定するのに用いられる。測距システム2にアダブタ1
を着脱可能に接続するため図示しない固定手段を使用し
てもよい。位置合わせピン4は試験されるべき測距シス
テムに取付けられアダプタ1内に挿入された場合に距離
シミユレータ装置のハウジング5の位置合わせを行ない
、測距システム2のビームが完全にアパーチユア内に来
るようにし、従つてボケるのを防止する。照準軸8シよ
び平行軸9,10に沿つて測距システム2IfC出入す
るビームはすべて例えば角度45ムの傾斜ガラス減衰器
12による一次減衰を受け、一次表面反射は下方に反射
され、第二の平行傾斜ガラス吸収板14及び光学的黒色
板15,16から成る放射吸収器に送られ、吸収板14
からの透過成分及び反射成分が吸収される。
この一次減衰器は距離シミユレータ装置の入力部に於て
このような距離シミユレータ装置を被験測距システム2
に対して「自由空間」のように挙動させ、これによつて
測距システムへの再入力過負荷を生じレーザ源に損傷を
生じる可能性のある「衝撃」反射波を最少限に止める作
用を果す。照準軸8卦よび平行軸9,10に沿うビーム
はすべて収斂レンズ17を通過し、この収斂レンズが測
距システム2に出入する平行ビームから光学フアイバ2
0のコイル19の一端18に出入する収斂ビームへの変
換を行なう。
光学フアイバ20はその他端22にミラー21を有する
。収斂レンズ17は良好な光学的性能を有し、対象波長
に卦ける焦点ボケ円が充分小さく光学フアイバ20の端
面18との効率的結合を行ないうると共に、被験測距シ
ステムに使用される光学波長例えば測距用レーザパルス
ビーム及びテレビカメラ用可視スペクトル光線に対し色
収差を有さないものでなくてはならない。実際には前者
に対する一周波数及び後者に対する定格周波数のみで多
くの場合充分である。収斂レンズ17の焦点距離は光学
フアイバ20の開度に良く適合すると共に光学フアイバ
端面18に於て効率的エネルギー結合を行なうため充分
小さな焦点スポツトを形成するよう選択される。焦点距
離の選択はこれら二要素の妥協として行なわれることが
多い。即ちレーザ送信ビームの拡散度が一定の場合、短
い焦点距離を選択することにより焦点スポツトを小さく
し入力結合効率を上昇させうるが、同時にフアイバの開
度の大部分は入力結合に使用され、従つて測距システム
の受信入力部へ供給される出力結合は減少する。妥協点
として一実施態様に卦ける焦点距離は27.94cm(
11インチ)(IC選択された。収斂レンズ17と光学
フアイバ端面18との間の光路内には微調整減衰ユニツ
ト24が設けられる。
この減衰ユニツトは光学フアィバ端面18に出入する収
斂ビームが通過する一対の逆方向に傾斜した減衰ガラス
板25,26から成る。この傾斜は一次表面反射が被験
測距システム2に達することを防ぐ。傾斜の方向は照準
軸移動を零とするよう自己補償型に設計される。この減
衰ユニツトの機能は異なる吸収値を有する同様なユニツ
トとの交換により調整可能である。光学フアイバ端面す
なわち入力端面18は光学研磨され、部分的にエポキシ
接着剤31が充填された短いポリスチレン管端末器30
に置かれる。
この端末器は移動部材32内に設置され、これに例えば
ネジ33,34,35が係動してフアイバ端部位置を独
立の三方向X,Y,Zに調整可能としている。ハウジン
グ5と移動部材32の間には圧縮スプリング36が設け
られ、移動部材がネジに応動することを可能とする。移
動部材32のガイド手段は図示してない。X−Y軸方向
の調整によりフアイバ端面18を焦点面に於て照準軸8
卦よび平行軸9,10に沿うビームの共通焦点に一致さ
せることが出来、またZ軸方向の調整により正確な焦点
合わせが可能である。光学フアイバ20のコイルは典型
的には1/2乃至1キロの長さを有し、光学フ了イバの
歪を最少としかつ光学的損失を最少とするため所定張力
で離れた単層巻としてスブール40上に巻かれる。
光学フアイバ自身は例えばコーニング、ガラス、ワーク
ス社提供の低損失段階屈折率型フアイバであり、典型的
には波長1064ナノメータに於て約2.5db/bの
損失を示す。中心部及び被覆部の直径はそれぞれ85及
び125ミクロンである。開度は0.14乃至0.18
の範囲内にあり、パルス拡散宇は代表的には10ナノ秒
/!Cmである。光学フアイバはその全長にわたり厚さ
0.127mm(0.005インチ)の柔軟なウレタン
「バツフア」被覆により機械的に保護されて居り、従つ
て光学フアイバの全直径は0.381mm(0.015
インチ)となる。光学フアイバの反射端は光学フアイバ
端面18と事実上同一であるが研磨された光学フアイバ
端面18は図示しないセパレータによりミラー(平面鏡
)21の表面から0.025mm(0.001インチ)
の距離に置かれ、このような反射端面は調節可能である
必要はない。
ミラー21は対象波長に於て一次表面反射庵99.9(
f)を有し同時に可視波長に対し高い透過率を呈するこ
とが出来る。この結果レーザ送信パルスを低損失で反射
し、しかもミラーの背後に設けられた電球または可視光
源からの光線を光学フアイバに伝達することめ′−可能
となる。減衰器12、減衰ガラス板25,26は対象波
長に於て吸収性を有ししかも可視光波長に於で比較的透
過性がよいように選択される。この光線は光学フアイバ
端面18から放射されるため、可視光源41から光学フ
アイバに入つた光線と被験測距システムのテレビモニタ
上で見ることが可能となる。この照射されたフアィバ端
面は殆んど点光源として作用するため照準軸8の位置合
わせ及びその後の微調整が非常に容易となる。上述した
距離シミユレータ装置は光学フアイバ遅延線を用いて唯
一の標的エコーを発生し、測距システムの距離較正及び
照準精度の確認を可能にしている。
距離シミユレータ装置の距離較正は、遅延線長を測定し
これを光学フアイバの既知の屈折率により有効光路長に
換算する方法、性能既知の測距システムを使用して屋外
測距場での標的による較正結果を較正中の距離シミユレ
ータ装置に換算する方法、または光学フアイバ遅延線を
一方向に伝播する光学パルスの時間を測定して有効長を
求める方法、のいずれかにより行ないうる。実際にはこ
れらの方法はいずれも簡単ではなく、大多数の距離シミ
ユレータ装置の較正は第二の方法によつて行なわれて来
た。既知の一距離からの標的エコーは、測距システムの
距離スケールが正確でありかつ直線的に挙動するとすれ
ば、測距システムの零距離調整を行なうのに充分である
。このような条件下に於ては測距システムが一距離のみ
に於て較正されても較正は他の距離に対しても有効であ
る。但し多くの場合距離スケールは初めに独立の電気的
測定により決定されても距離の直線性には確信が得られ
ない。従つて対象距離範囲をカバーするためには距離の
はなれた数個の標的エコーのシミユレーシヨンを行なう
ことが望ましい。
零点設定と距離スケール調整を区別しかつシステムが測
距タイミングを正確に時間則定する能力を評価するため
には最低3個の標的エコーが必要である。即ち被験シス
テムの零点はいずれか一つの標的エコーにより設定また
は確認出来、必要ならば第二のエコーにより距離スケー
ルを調整して正しい距離読取値を与えることが出来、ま
た第三の標的エコーにより正しい距離読取値の確認を行
ないうる。また複数標的に対する及び最遠標的の距離変
化に対する測距システムの動的レスポンスを試験するた
めにも複数個の標的エコーが必要とされる。
上記の三種の[独立」な較正技術の所要時間及び手数か
ら生じる経費を回避するため複数標的シミユレータが自
己の較正を実質的に確認しうることが望ましい。また上
記の希望性能を達成する際には照準精度を確認しうる能
力を維持することが重要である。第2図は第1図の距離
シミユレータ装置の一変形を示す。
これは光学フアイバ20の端面18VC部分反射鏡を使
用することにより前述した諸目的を達成するものであり
、コイル各端面の反射面により光学フアイバ内に於て複
数回の反射が誘起される。部分反射鏡37は移動部材3
2に装着された入力窓38の中間面39VC.より構成
され、この中間面上に誘電層を被着することにより部分
反射性とされる。入力窓の外面には反射防止コーティン
グが施される。部分反射性の中間面39と光学フアイバ
端を直接接触させることにより低損失接合が形成される
。被験測距システム2からレーザパルスを部分反射性中
間面39の光学フアイバ端に導入すると、このようなパ
ルスぱコイル19を含む光学フアイバ20内を伝達され
て他端22の全反射ミラー21に到達し、光学フアイバ
入力端部分反射鏡37に送り戻される。各レーザパルス
はコイル19を経て部分反射鏡37と全反射ミラー21
の間で多数回往復する。反射波が部分反射鏡37に到達
する度にこれが充分な強度を有する限り測距システム2
内の平行軸9または10に沿つて設けられる図示しない
受信機により観測しうる。好ましくは部分反射性中間面
39は対象のレーザパルス周波数に於て63(f)の反
射率を有する。入力面は対象波長に於て部分反射性かつ
部分透過性であるため、コイルに貯えたエネルギーの一
部を部分反射性中間面から取出して光学フアィバ遅延線
の光路長の整数倍に等距離に分布した一連の「標的エコ
ー」を得ることが出来る。この入力面の部分透過性は被
験測距システム内の発信機からコイル内への光パルスの
伝達を防げない。最大限のエコー振巾を必要とする場合
には遅延線の他端に全反射器が必要である。第1図の実
施態様に於けるように、規準されそして平行なビームは
すべて収斂レンズにより光学フアイバ端面と一致するよ
うな調整された共通面内の一点に集中する。入力端の部
分反射器の反射面も共通面と一致し、第1図の実施態様
について説明したように所定圧力で光学フアィバ端と物
理的に接触される。複数回の反射を行なうため入力端に
部分反射器を付加しても照準確認を行ないうる特性は保
存されるため上記の共通焦点特性が損なわれることはな
い。両反射器は光学発信機により発生される高エネルギ
ー密度を受容すると共に列象波長に於て希望の特性を与
えしかも焦点面内での位置合わせを容易にするため光学
フアイバを介してその入力端面を照明する外部光源の可
視光の伝達性を維持するよう可視波長に対する有効な透
過性を維持するために誘電性層構成とされる。得られる
標的エコーの反射回数は、反射性遅延線外部に調整可能
な減衰器を設けて光学路を変えることにより、あるいは
光学フアイバ端と端部反射器との間隔を制御することに
より変化さビうる。
両方法のうち前者は減衰度を較正されたレベルで段階的
に変化させる場合に好ましく、後者は減衰度の連続的変
化に適する。どちらの方法に於ても減衰度が大きくなる
とシステムが認識しうる標的エコーの数は減少する。シ
ミユレート可能な標的エコーの数はすべての損失源を差
引いたのちに卦けるシステムの全残留動的レンジとして
定義されるシミユレータの利用可能動的レンジの関数で
ある。この利用可能動的レンジは入力端反射器等の光学
面に対する損害を防ぐため通常入力量に限定されて居り
、焦点に集中される出力密度を限定するため光路内に挿
入される減衰度は前記の損失の主要部を占める。従つて
典型的な被験システムは130db以上の動的レンジを
示し得、そのうち卦そらく50dbがシミユレータに利
用しうる形となる。パルス拡散効果の補正を行なつた場
合にn番目の標的エコーを確認しうるため必要な利用可
能動的レンジを推定する論理的モデルが製作された。遅
延線0.5!C!rl(対象波長に於て損失2.5db
/b)に反射率63%の入力鏡及び端部全反射鏡を組合
わせて使用した場合、推測値は下記の通りである。上記
によれば利用可能動的レンジ50dbの場合には一次エ
コー(n=1)に対しDb差で示すように振巾が順次減
少する5個の標的エコーが得られる。
従つて比較的短い(即ち安価な)光学フアィバ遅延線コ
イルを使用して空気中に於て約3600m(12000
フイート)迄の距離をシミユレート出来、かつその間の
5の等間隔距離により距離スケールの直線性を確認しう
る。また、等間隔標的エコーは、被験システムが正確な
距離スケールを有する場合には遅延線の長さ及び測路の
較正確認にも利用しうる。
もし正確な時間源または周波数源により基準タイミング
間隔が与えられ、距離間隔タイミングが直線的に行なわ
れ、かつ電気的測定により正確な距離読取スケール倍率
が予め定められれば正確度の要求は満される。距離間隔
のタイミングの良好な直線性は標的エコーの間隔の均一
性により示され、これはスケール倍率または零点設定の
誤差には影響されない。
即ち各標的エコーの「見掛け」の距離だけで間隔の均一
性を試験することが可能である。このような条件下に於
て標的エコー間隔に対応する距離読取値は光学フアイバ
遅延線の有効長の尺度となり、即ち遅延線は距離スケー
ルの精度の範囲内で較正される。実際には距離間隔タイ
ミング直線性からのずれにより標的エコー間隔の均一性
にはわずかなランダム誤差が発生しうる。この誤差の効
果は第1番目の標的エコーと第n番目の標的エコーの間
隔をn−1で割つた値により平均間隔を求めることによ
つて最少限に止めることが出来、その精度はnの値と共
に増加する。光学フアィバ遅延線長が決定されると、被
験システムの零点設定の精度を決定することが出来る。
第1標的エコーの距離とそれ以降の標的エコーの距離と
の間に正確な倍数関係が成立しない場合には、これは明
らかに零距離設定の誤差を示している。この誤差の大き
さ及び方向はn番目の標的エコーの真の距離を与える下
記の式から求めることが出来る:括弧内の値は零点設定
誤差の値と符号を示し、この値は被験システムの零距離
設定の補正に使用しうる。
これが完了すれば距離表示値と計算値(真の値)は一致
し、被験システム及び光学フアィバ遅延線の両者が較正
される。基本的な較正の基準手段は被験システム内の正
確な時間源または周波数源であるが、複数個の標的エコ
ーを発生する能力が本較正方法にとつて不可欠であるこ
とが理解されよう。各標的エコーは先行する標的エコー
に比べて光学フ了イバ一内の伝播距離が長いため拡散度
(パルス巾)が大となる。
特定の標的エコーを選択すればこの挙動は真の標的に対
して斜方向から測距した場合に光学レーダ・エコーに生
じるパルス巾拡大の程度をシミユレートするのに利用し
うる。第1図の距離シミユレータ装置に於ては、パルス
拡大のシミユレーシヨンには適当な光学フ了イバ性質の
選択即ち光学フアイバのコイルの変更が必要となる。無
論第2図の実施態様では標的エコーの選択は比較的簡単
に達成しうる。第2図の実施態様はより広範囲の拡散度
をシミユレーシヨンできる。第1図の距離シミユレータ
装置に0.57cjnの光学フアイバ遅延線を使用した
場合、単一標的エコーは通常光学受信機力Z「主衝撃」
による感度低下から回復しつつある間に受信機に到達し
、従つて受信機の閾値感度は低下する。
従つて遅延線長を増加させ受信機の完全機能回復を可能
とするのでない限りこのような距離シミユレータ装置を
送受信等機能の測定に使用することは出来ない。他方第
2図に示す複数反射型距離シミユレータ装置は0.5k
t!zの光学フアィバ遅延線を使用した場合に閾値感度
が完全な状態に於て数個の標的エコーを発生する。被験
システムの送受信性能(または全システム動的レンジ)
は送信機の出力と受信機の感度の直接の関数となる。
第1図の距離シミユレータ装置に於ては光路内の全減衰
量はこの動的レンジの尺度として使用しうる。従つて光
路内の光学的減衰度が一定の場合、n番目の標的エコー
の感度はシステム全体の性能の基準として使用する。入
力減衰器により減衰度を段階的に増加させると標的エコ
ーの動的レンジ差を求めることが出来る。標的エコーの
動的レンジ差が小さいことは光学フアイバ遅延線内Vc
卦ける光学的損失が小さいことを示して居り、従つてこ
の測定は第2図の複数反射型距離シミユレータ装置に自
己試験機能を与えるものである。逆にコイル内の損失が
大きい場合には一回の反射毎にほぼ同一量の動的レンジ
が失われ、利用可能な動的レンジが急速に消費され標的
エコーの数が減少する。観測しうる標的エコー数は全シ
ステムの利用可能な動的レンジにも依存して居り従つて
距離シミユレータ装置の性能の唯一の基準として用いる
ことは出来ない。標的エコーの動的レンジ差はシステム
の動的レンジとは無関係であり光学フアィバ遅延線の性
能の直接の関数である。従つてこの値は直ちに測定可能
であり信頼性ある性能基準でありかつ自己試験特性であ
る。最初に複数反射型距離シミユレータ装置は全動的レ
ンジ既知の測距システムと組合わせ、特定のエコー感度
を得るため光路内に設けられた固定減衰器の調整を行な
わずに使用する。この状態で標的エコーの動的レンジ差
を前述したように測定し、理論的予測値ならびに利用可
能動的レンジ内に予想される標的エコー数と比較する。
もし両者が充分に一致すればこれは距離シミユレータ装
置が正常に作動していることを示し、測定された差はこ
の距離シミユレータ装置による今后の測定の基準として
使用しうる。利用可能な動的レンジ内で最大限の標的エ
コー数を得るためコイル内の損失を最少限にしようとす
る場合には複数反射型距離シミユレータ装置の設計に特
別の注意が必要となる。
即ち標的エコーが最大となるのは:光学フアィバ入力端
の部分反射器が低次標的エコーを犠性にして高次標的エ
コーを増強するような透過/反射比に選択される場合、
コイル内に使用される光学フアイバが対象波長に於て最
低限の損失を有し、しかもこのような損失度を維持する
ような無歪状態で保存される場合:及びフ了イバ終端法
、端面形成ならびに光学フアイバと反射器の接合設計に
充分留意して光学フアイバ入出力端及び反射時の損失を
最少限とした場合、に得られる。
高密度の光学出力を受容しうる能力は端末器の設計によ
り可能であり、従つてこれを距離シミユレータ装置に内
蔵すれば第1図の距離シミユレータ装置の場合よりはる
かに高い入力エネルギーを使用しうる。
前述したように利用可能な動的レンツ ジは入力に制限
されて居り、従つてより高い入力エネルギーを受容する
ことが可能となれば動的レンジが増加し最大エコー収率
を増加させる。この機構によるエコー収率の増大はコイ
ル内損失の減少によるエコー収率の増大と無関係である
。複数反射型距離シミユレータ装置が実用的に成功する
ためには最大エコー収率を得るよう両者の機構を採入れ
る必要がある。これは単にエネルギーを与えるのみでは
エコー収宇を改善し得ない限界が存在するためである。
第一の障壁は光学フ了イバが高エネルギーに於て非直線
的挙動を示すため(誘導ラマン散乱)であり、さらに重
要な面に光学的損傷が起るためである。第2図の距離シ
ミユレータ装置は第1図の距離シミユレータ装置の重要
な特徴をすべて妥協なしに含んで居り、さらに下記の付
加的な機能を有するため第1図の距離シミユレータ装置
の改良である。
第2図の距離シミユレータ装置は光学フアイバ遅延線内
に於て複数回の反射を行なわせて複数個の標的エコーを
発生することが出来、平面反射鏡を反対端に有する光学
フアイバのコイル入力端に一致して部分反射性平面を設
けることにより行なわれる。
各標的エコーの遅延は一定長の光学フアイバの使用によ
り高い安定性及び精度を示す。また前述したように標的
エコー数を制御する手段力く設けられ、最遠標的距離の
変化のシミユレーシヨンを行ないうる。また比較的短い
光学フアィバ遅延線を用いてその何倍もの距離のシミユ
レーシヨンが可能なるためコスト節減が可能でありしか
も光学受信機の感度閾値の完全回復が可能である。
また正確な距離スケールを有する測距システムと組合わ
せて使用することにより自己の光学フアイバ遅延線長の
較正が可能であり、これによつて被験システムすべての
測距機能の較正が可能となる。
この方法により光学フ了イバ遅延線長を別個に較正する
必要がなくなり、システムの測距の直線性を独立に検査
しうる〇さらに適当な標的エコーの選択により真の標的
エコーのパルス拡大の範囲のシミユレーシヨンが可能で
ある。
また標的エコーの動的レンジ差の測定により自己試験機
能を有する。
この差値は距離シミユレータ装置の使用中にその挙動を
検査する機能基準として使用しうる。またコイル内損失
を最少限にする技術を用いることにより利用可能動的レ
ンジの範囲内に於て最大数の標的エコーが得られる。
さらに利用可能動的レンジを増加させる技術を用いるこ
とにより最大数の標的エコーが得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の受動的光学式距離シミユレータ装置の
部分断面略図である。 第2図は第1図の実施態様に於て光学フアイバ遅延線の
入射端に部分反射鏡を使用した一変形の部分図である。
1・・・アダブタ、2・・・被験測距システム、17・
・・収斂レンズ、20・・・光学フアィバ、21・・・
ミラー37・・・部分反射鏡である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光学レーダビームが光路に沿つて平行に出入するア
    パーチュアを有する光学レーダ測距システムと機械的結
    合を行なうためのアダプタと、前記光路内に設けられて
    前記ビームを平行光束と一共通面上の収斂焦点との両状
    態間で相互に変換する収斂レンズ系と、一端に於て前記
    共通面の前記収斂焦点に位置合わせされかつ他端に於て
    反射器を有して光学遅延媒体として作用する光学ファイ
    バコイルとを備えた受動的光学式距離シミュレータ装置
    。 2 光学ファイバコイルが完全に離間された複数個の単
    層巻としてスプールに巻回された低損失段階屈折率型バ
    ッファ塗布光学ファイバから成る特許請求の範囲第1項
    記載の受動的光学式距離シミュレータ装置。 3 光学レーダビームが光路に沿つて平行に出入するア
    パーチュアを有する光学レーダ測距システムと機械的結
    合を行なうためのアダプタと、前記光路内に設けられて
    前記ビームを平行光束と一共通面上の収斂焦点との両状
    態間で相互に変換する収斂レンズ系と、一端に於て前記
    共通面の前記収斂焦点に位置合わせされかつ他端に於て
    反射器を有して光学遅延媒体として作用する光学ファイ
    バコイルと、この光学ファイバコイルの前記一端に設け
    られた光学レーダパルス部分反射器とを備え、これによ
    り前記測距システムからの光学レーダパルスが前記光学
    ファイバコイル内に於て複数回反射されて前記測距シス
    テムにより観測される受動的光学式距離シミュレータ装
    置。 4 光学ファイバコイルが完全に離間された複数個の単
    層巻としてスプールに巻回された低損失段階屈折率型バ
    ッファ塗布光学ファイバから成る特許請求の範囲第3項
    記載の受動的光学式距離シミュレータ装置。
JP53025099A 1977-03-07 1978-03-07 受動的光学式距離シミユレ−タ装置 Expired JPS5941545B2 (ja)

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US05/775,061 US4189233A (en) 1977-03-07 1977-03-07 Passive optical range simulator device
US0000SN775061 1977-03-07
US05/837,067 US4167328A (en) 1977-09-28 1977-09-28 Passive optical range simulator device
US0000SN837067 1977-09-28

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JPS53110865A JPS53110865A (en) 1978-09-27
JPS5941545B2 true JPS5941545B2 (ja) 1984-10-08

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DE (1) DE2809812A1 (ja)
DK (1) DK99178A (ja)
ES (1) ES467514A1 (ja)
GB (1) GB1572148A (ja)
GR (1) GR64458B (ja)
IL (1) IL54201A (ja)
NL (1) NL7802432A (ja)
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Cited By (1)

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JPS6241067A (ja) * 1985-08-20 1987-02-23 Sanyo Electric Co Ltd 熱転写記録装置

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DK99178A (da) 1978-09-08
NL7802432A (nl) 1978-09-11
NO145358B (no) 1981-11-23
GB1572148A (en) 1980-07-23
DE2809812A1 (de) 1978-09-14
NO780765L (no) 1978-09-08
JPS53110865A (en) 1978-09-27
ES467514A1 (es) 1979-09-01
NO145358C (no) 1982-03-03
GR64458B (en) 1980-03-24
IL54201A (en) 1980-11-30

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