JPS5932848A - 濁質計測装置 - Google Patents

濁質計測装置

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Publication number
JPS5932848A
JPS5932848A JP14305382A JP14305382A JPS5932848A JP S5932848 A JPS5932848 A JP S5932848A JP 14305382 A JP14305382 A JP 14305382A JP 14305382 A JP14305382 A JP 14305382A JP S5932848 A JPS5932848 A JP S5932848A
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JP
Japan
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tape
turbid substance
magnetic
water
measuring device
Prior art date
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Pending
Application number
JP14305382A
Other languages
English (en)
Inventor
Toru Yamauchi
徹 山内
Norio Shioji
塩地 則夫
Kiyoshi Sugata
清 菅田
Toshio Hirata
平田 俊雄
Junichi Yano
純一 矢野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daido Steel Co Ltd
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Daido Steel Co Ltd
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
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Priority to JP14305382A priority Critical patent/JPS5932848A/ja
Publication of JPS5932848A publication Critical patent/JPS5932848A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は検水中に含まれる濁質を計測する装置に係わる
ものである。
近年、各種産業の活発化、都市人口の集中化等に伴って
自然環境の破壊が進み、公害の発生を見るに至りその防
止対策の強化が叫ばれつつある。
特に、河川、湖沼、海岸といった水における自然水とし
の水質を維持することは水質源あるいは水産資源の確保
といった観点からも必須のことであり、これら水域に流
される工場廃水、生活廃水については各種法規制が行わ
れているところである。水質チェックの1として、水中
の汚濁成分即ち、濁質を検査することが行われる。濁質
を含む廃水としては例えば製紙工場、バルブ工場、醗酵
工場、食品工場、皮革工場等からの廃水、高炉スクラバ
ー廃水、転炉スクラバー廃水のような磁性成分含有産業
廃水等が挙げられ、これらを自然環境中に流すには何等
かの方法で浄化処理しなければならないがそのためには
除去装置、例えば濁質濾過器の運転管理上からも予め廃
水中の濁質の性質、含有量等を知ることが必要である。
例えば上記各種廃水のうち、高炉スクラバー廃水や転炉
スクラバー廃水は磁性成分からなる濁質を含んでおり、
生活廃水にマグネタイト(Fe3O4)シード法を適用
してそれら廃水中の有機SSを強固に結合させた磁性フ
ロックを形成させた液は該フロックを主体とする濁質を
含んでいる。そしてこれら廃水は磁気フィルターに導通
することによって磁性成分を磁気フィルター内に内装さ
れる磁性材料からなるフィルターメディアに捕捉するこ
とによって浄化される。又、フィルターメディアを通過
した浄化水中にはフィルターメディアに捕捉されなかっ
た磁性成分あるいは有機SSが残存しているために混濁
している場合がある。従って磁気フィルターに導通する
廃水中の濁質を予め計測し、あるいはフィルターメディ
アに磁性成分を捕捉したあとの濾過水の濁質を計測する
ことは、磁気フィルターの運転管理、例えばフィルター
メディアに加えられる磁場の制御を行う上に必要である
本発明は廃水中の濁質を計測することにより、あるいは
濁質除去処理後の浄化水中に残存する濁質を計測するこ
とにより、より硬化的な濁質除去機器の稼動を行う上に
有効な計測装置を提供することを目的とするものである
。即ち、本発明は、連続して一方向に繰り出される乾燥
した帯状体上に、濁質を含む検水を滴化する装置及び滴
下された該検水中の濁質を光学的手段により検査する装
置を備えてなる濁質計測装置と、連続して一方向に繰り
出される乾燥した帯状体上に濁質を含む検水を滴下する
装置、滴下された該検水中の濁質を光学的手段により検
査する装置及び濁質中の磁性成分を測定する装置を備え
てなることを特徴とする濁質計測装置とを要旨とするも
のである。
以下、濁質中に磁性成分が残存する検水の濁質計測装置
の一実施例を示す図面に基づいて本発明を説明する。
第1図及び第2図はそれぞれ側面略示図及び斜視略示で
、4は布、濾過等の繊維状吸水性材料又はアルミ箔のよ
うな金属薄膜からなる無端のテープで、ローラー2、戻
りローラ2a間を矢印方向へ移動する。3,3aはテー
プ1を表裏から挟んで設けられるエアーヒータで、特に
テープ1が布濾紙等の給水性材料の場合には、その上に
滴下又は散布される検水の拡散面積が均一となるように
するために加熱して水分を除去する作動をなすものであ
る。4は移動するテープ41に供試験水を連続的又は間
欠的に滴下又は散布するノズルで、その量が常に一定と
なって拡散面積が等しくなるようになされている。これ
によって、テープ1が布又は濾紙のような給水性材料か
らなるものである場合、検水中の濁質は痕跡(しみ)1
aとなって残り、水分は布又は濾紙の繊維質内へ拡散す
る尚、テープ4が金属箔又はプラスチックフィルムのよ
うな疎水性の材料の場合は水滴となる。5は公知の全波
長投光器で一定の波長の光線がテープ44に、痕跡とし
て、又は水滴中に残っている濁質に照射され、透過した
通過光がテープ1裏側の相対する位置に設けられる透過
光計測器6によって測定され、これにより濁質の濃度(
含有量)が計測される。尚、テープ1が光線を透過させ
ない材料例えばアルミ箔のような金属箔からなる場合は
、透過光計測器6の代わりにテープ4の表側に反射光計
測器(図示せず)を設けることによりテープ上に残る濁
質の量を光学的に測定するようにしてもよい。
即ち、検水に混濁を与える物質例えば有機SS、磁性成
分、有機SSと磁性成分とが結合した磁性フロック、着
色ダスト等の含有量が推定される。
7はテープ4上に残る濁質の色彩を看守するため、テー
プ上の表面に向けられるテレビモニターで必要に応じて
設けられるものである。8はテープ1の裏側に位置して
設けられる磁石で永久磁石又は電磁石であり、テープ4
上に痕跡として残る濁質中の磁性成分の性質に応じてこ
れを磁力を与えて飽和時下させるものである。更に、9
は残留計測器で、移動するテープ4の表面に位置してお
り、磁石8によって磁化された濁質の残留磁気を測定す
ることによりその中に含まれる磁性成分の含有量を知る
ことができる。
尚、以上の磁石8及び残留磁気計測器9は検水中に含ま
れる濁質に磁性成分が存在してないことが明らかな場合
はこれらの設置は必要がない。10は戻りローラー2a
を経て矢印方向へ戻るテープ1の表裏両側に位置して設
けられる洗浄装置でテープ1に対して、洗剤と洗浄水の
散布を行い、計測の終わった濁質の痕跡を消去する作動
をなすものである。濁質の痕跡が消去されたテープ4は
ローラーを経て再度エアヒーター3、3aにより乾燥さ
れ以下、前記のような計測が繰り返される。
本発明の装置が適用される濁質を含む検水としては種々
製紙工場からの廃水、生活廃水の処理水といった種々の
水があるが代表例は、磁気フィルターに導入して磁性成
分を捕捉し非磁性成分と分離される工場廃水、磁性成分
を含む高炉スクラバー廃水、磁性フィルターで磁性成分
を捕捉したあとの濾過水等が挙げられる。しかして、本
発明の計測装置による測定結果を受けた制御装置からの
司令により例えば磁気フィルターの励磁コイルの通電を
電気的に制御するようにすれば、磁気フィルターを効率
よく運転することができる。
次にマイクロコンピュータを利用して本装置の制御を行
う例を示す。第3図はマイクロコンピュータを組み込ん
だ制御装置11及びそれと関係がある部分を示すブロッ
ク図である。ここにおいて12は各センサ、メータ、計
測器より出力されるデータを、クロック15から発生す
るパルスのタイミングに従って、制御プログラムに基づ
き入力及び演算すると共に、回転モータ23、滴下パル
プ24、警報装置25、状態表示器26を作動制御する
ための処理を行うマイクロプロセッシングユニット(以
下単にMPUと呼ぶ)、13は前記制御プログラム及び
初期データが格納されるリードオンリメモリ(以下単に
ROMと呼ぶ)、14は制御装置11に入力されるデー
タや演算制御に必要なデータが読み書きされるランダム
アクセスメモリ(以下単にRAMと呼ぶ)、16が回転
各センサ19等からバッファ27を介してデータを入力
する入力ポート、17は回転モータ23と滴下バルブ2
4の駆動回路28、29及び警報装置25と状態表示器
26信号を出力する出力ポート、18は入力ポート16
、出力ポート17、MPU12、ROM13及びRAM
14を結び、MPU12、ROM13及びRAM14を
結び各種データが送られているパルラインを表わしてい
る。
第4図は上記制御装置の処理の一例を示すフローチャー
トである。ここにおいて、最初に実行されるステップ3
1はROM中のデータにより初期設定を実行する処理を
表わし、検水滴下ノズル4の開閉バルブを閉塞、エアヒ
ータ3、3aのオン、透過光計測器6の投光器5のオン
、残留磁気計測器9の電磁石8のオン等の処理を表わす
、次いで処理はステップ32に移り、検水滴下ノズル4
の開閉バルブを開く処理を実行し、ステップ33の判定
にて滴下量が、予め定めた規定量以上になるまでバルブ
は開放のままになっている。滴下量が規定量以上となっ
た時ステップ34にてバルブを閉塞する処理がなされて
、テープ1上への検水の滴下が停止される。次いで、ス
テップ35にてテープ1が移動し、スラップ36にて移
動量変換Aがその規定量未満と判定されれば処理はステ
ップ35に戻ってテープ1の移動を続け、移動量が規定
量以上になれば、処理はステップ37へ移り、テープ1
は停止する。
次に、ステップ38にて透過光計測器6の計測がなされ
、その結果が状態表示器26に表示される。このとき、
光の透過量が予め定めた基準値以下であった場合、ステ
ップ40にて警報が発せられ検水の以上を知らせる。次
にステップ41の判定にてテープ1のもう1つの移動量
変数Bが規定量以上になっていないか否か判定され、な
っていない場合はテープ1上の検水滴部分が未だ残留磁
器計測9のところまで達していないので、処理はステッ
プ46に移り、テープ1の移動量Aをクリアする。次い
でステップ32へ戻る。
次に移動量Bが規定量以上となった場合、処理はステッ
プ42へ移り、テープ4上の検水滴下部分が電磁石8を
通過した再に与えられた磁器の残留量を調べ、状態表示
器に表示し、ステップ43の判定にて残留磁器が基準値
以上であればステップ44で警報を発し、検水の磁器面
での以上を知らせる。その後、ステップ45にて、ステ
ップ38及びステップ42の計測で得られたデータの分
析を行い、次いでステップ46にてテープ上の移動量変
数Aをクリアしてステップ32へ戻る。
上記、ステップ45のデータ分析処理のフローチャート
の一例を第5図に示す。ここでステップ47は透過光の
データ、例えば赤外線の透過光から、多数箇所の波長を
サンプリングして、演算により、各波長の吸収量の数値
を算出する処理を表わす。ステップ48はステップ47
で得られた数値を、例えばROM13あるいは外部記憶
装置中の物質毎の赤外線吸収量を記憶したマップと比較
して、該当物質を選択し更にその量を算出する処理を表
わす。ステップ49は該当物質とその量を表示するステ
ップを表わす。ステップ50は残留磁器データ、例えば
、磁石8として電磁石を用いてテープ上に滴下された検
水の位置により磁器の強度を変化させて磁化し、その磁
気にヒステリシスの状態を数値に算出する処理を表わす
。ステップ51は上記磁気ヒステリシスとその強度及び
ステップ48で得られた物質の量から磁化の程度を算出
する処理を表わす。ステップ52は磁気ヒステリシス及
び磁気の程度を、例えばROM13あるいは外部記憶装
置中の物質毎の磁気ヒステリシス及び磁化の程度を記憶
したマップと比較して、該当物質を選択する処理を表わ
す。ステップ53は該当物質とその量を表示するステッ
プを表わす。
このようにマイクロコンピュータを利用することにより
自動測定、自動表示及び自動警報が可能となる。又、以
上の制御装置状態表示器26及び警報装置25だけを通
信回線により制御装置11と結べば遠隔地にて水質状態
を確認することができる。
以上述べたように、本発明の濁質計測装置は例えば布、
濾紙、又は金属箱等からなる帯状体上に検水をサンプリ
ングし、濁質を光学的手段及び検水の種類によっては混
濁中の磁性成分を連続して測定しうるものであり、しか
も構造が簡単であるので、濁質成分を含む検水の計測に
極めて有用なものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の計測装置の一実施例を示す側面略示
図、第2図は同じく斜視略示図、第3図はマイクロコン
ピュータ制御装置及び関係部分のブロック図、第4図は
その処理の一実施例を示すフローチャート、第5図はそ
のデータ分析処理の一例を示すフローチャートである。 1・・・テープ 2・・・ローラー 2a・・・戻ローラー 3、3a・・・エアヒーター 4・・・検水滴下ノズル 5・・・投光器 6・・・透過光計測器 7・・・テレビモニター 8・・・磁石 9・・・残留磁気計測器 第1図 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 連続して一方向に繰り出される乾燥した帯状体上に
    、濁質を含む検水を滴下する装置及び滴下された該検水
    中の濁質を光学的手段により検査する装置を備えてなる
    ことを特徴とりる濁質計測装置。 2 連続して一方向に繰り出される乾燥した帯状体上に
    濁質を含む検水を滴下する装置、滴下された該検水中の
    濁質を光学的手段により検査する装置及び濁質中の磁性
    成分を測定する装置を備えてなることを特徴とする濁質
    計測装置。
JP14305382A 1982-08-18 1982-08-18 濁質計測装置 Pending JPS5932848A (ja)

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JP14305382A JPS5932848A (ja) 1982-08-18 1982-08-18 濁質計測装置

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JP14305382A JPS5932848A (ja) 1982-08-18 1982-08-18 濁質計測装置

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JPS5932848A true JPS5932848A (ja) 1984-02-22

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS633244A (ja) * 1986-06-24 1988-01-08 Japan Spectroscopic Co 赤外スペクトル測定のサンプリング法及び高速液クロと赤外分光光度計のインタ−フエイス並びに高速液クロ検出器用赤外分光光度計

Cited By (1)

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JPS633244A (ja) * 1986-06-24 1988-01-08 Japan Spectroscopic Co 赤外スペクトル測定のサンプリング法及び高速液クロと赤外分光光度計のインタ−フエイス並びに高速液クロ検出器用赤外分光光度計

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