JPS592859B2 - パルス反射超音波探傷用クロツク回路 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、改善された安定度および校正適応度を有する
超音波パルス反射による欠陥ゲート回路に関し、特に工
作物の超音波パルス反射浸漬検査への使用に最適な欠陥
ゲートの発生に使用される同期可能クロツク回路に関す
る。

探傷のための工作物の超音波パルス反射検査において、
工作物の予め定めた区域に位置する欠陥を検査する事が
屡々要望される。

工作物の欠陥を検査するための一般的方法は、工作物に
対して超音波探査信号を送出して、入射表面又は工作物
に存在する欠陥の如き音響的不連続部でさえぎられた探
査用パルスから生じる反射応答信号を受取る事からなる
。欠陥ゲートは、工作物の予め定めた区域における音響
的不連続部から生じる反射応答信号が受取られるべき時
間々隔と比例して発生される。欠陥ゲート時間々隔にお
いて受取られた欠陥のみが処理される。欠陥ゲートを発
生するための方法および装置は当技術において公知であ
る。

一般に、欠陥ゲートは、入射面応答信号の受取りの後ク
ロツク回路から生じたカウント数のカウントにより測定
される入射面反射応答信号の受取り部予め定めた時間経
過後に開始する。クロツクが入射面信号に対して同期さ
れなければ、欠陥ゲートの開始において１カウントのエ
ラー（ジツタ一）が現われる。アルミニユームの工作物
において１インチの１０００分の１０の程度の精度が要
求される時ジツタ一によるこのエラーを克服するために
は、約１００ＭＨｚの周波数をもつクロツクが必要とさ
れる。このような高い周波数のクロツクおよび関連する
カウント回路および論理回路は、長期の検査期間通常の
操作温度範囲において安定度を維持するには通常複雑で
あり高価につく。更に、検査する工作物が異なる音響的
速度を有する場合、各々が異なる高い周波数で発振する
如き高周波数クロツクが複波個必要となる。固定された
周波数範囲内にある若干異なる合金の工作物の場合には
、欠陥ゲートの開始はゲートの持続時間と同様に不正確
なクロツク周波数のため誤りを生じる。このような従来
の問題を克服するために、入射面応答反射信号と同期さ
せられこれによりジツタに基くエラーを除去するクロツ
ク回路について記述する。

更に、この回路は、検査すべき材料の音響的速度に応じ
てクロツク周波数を校正するためのアドレス装置を有す
る。従つて、欠陥ゲートは、入射面応答反射信号の受取
りの後予め定められた時間経過後に開始し予め定められ
た期間を有する。このようなゲートを発生するのに使用
されるクロツクは、１つの可変周波数同期クロツクを用
いて長期の安定度を呈示する。本発明の主な目的は、超
音波パルス反射浸漬検査装置に使用する高安定度のプロ
グラム可能クロック回路の提供にある。

本発明の別の目的ぱ、超音波パルス反射検査装置におけ
る欠陥ゲート発生において使用する工作物の音響速度と
比例するプログラム可能クロツク回路の提供にある。

本発明の別の目的は、入射面応答反射信号に同期された
クロツク・パルスを生成し、工作物の音響速度と比例す
る周波数を有する高安定度のプログラム可能クロツク回
路の提供にある。

本発明のこの他の目的については、添付図面に関して以
下の記述を読めば更に明らかになろう。

添付図面、特に第１図において、本発明の望ましい一実
施態様のプロツク図を示す。反復周期クロツク１０は、
周期的に電気音響作用送受信用プローブ１４を付勢する
ためのパルサー１２に対して、主として５０Ｈｚ乃至２
０ＫＨｚの範囲の周波数でトリカー・パルスを与える。
パルサー１２からの電気信号に応答して送受信プローブ
１４は、欠陥の存在を試験される工作物Ｗに対し水を介
する経路を経て超音波探査パルスを周期的に送出し、次
いで工作物にある入射面又は欠陥の如き音響的不連続部
から生じる反射信号を受取る。これ等の反射信号は、プ
ローブ１４により電気的な反射応答信号に変換されて受
信回路１６に送られ、この回路１６は反射応答電気信号
をコンパレータ１８および測定クロツク回路２０に与え
る。各探査信号に応答して、測定クロツク２０を同期す
るため入射面応答電気信号が与えられ、さえぎつた欠陥
の大きさと比例する振巾を有する欠陥応答電気信号がコ
ンパレータ回路１８に与えられる。測定クロック２０は
、カウント装置２４に対してプログラムされた周波数の
一連のクロツクパルスを与える。

カウント装置２４は、クロツク１０からトリカー・パル
スを受取つた後カウント装置２４により受取られたクロ
ツク・パルスの数を表示するカウント信号をゲート発生
回路２６に与える。ゲート発生回路２６の典型的な実施
態様を第１図に示す。欠陥ゲートが開始する、入射面か
ら測定された工作物の最初の深さと等しい値にアドレス
９０はプログラムされ、検査されるべき工作物の区域の
最終深さ又は予め定めた区域の寸法のいずれかに等しい
値にアドレス９０はプログラムされる。

この２つのプログラムされた値の差は欠陥ゲートの巾と
等しい。アドレス９０はコンパレータ９４の１入力に接
続されている。コンパレータ９４の他の入力側ぱカウン
ト装置２４からカウント信号を受取る。このカウント信
号がアドレス９０からの信号と等しい時、コンパレータ
９４からフリツプフロツプ９８に至る導体Ｓを介する出
力信号はフリツプフロツプ９８をセツトする。同様に、
カウント装置２４からのカウント信号がアドレス９２か
らの信号と等しい時、第２のコンパレータ９６から導体
Ｒを介する出力信号はフリツプフロツプ９８をりセツト
する。ゲート発生回路２６の出力導体に生じるゲートは
、欠陥ゲートが導体２７に明確に存在する時間だけコン
パレータ１８を使用可能にするために、導体２７を介し
てコンパレータ１８の作動可能（ストローブ）入力に与
えられる。受信回路１６からの欠陥応答信号はコンパレ
ータ１８の１入力側に与えられる。

コンパレータ１８の他の入力はポテンシヨメータ２２に
接続され、このポテンシヨメータはコンパレータに対し
て直流電圧基準レベルを与える。ポテンシヨメータ２２
の一端は電源部に、他端はアース電位に接続される。コ
ンパレータ１８は、以下の条件が満たされる時にのみ出
力導線２５を介して欠陥存在信号を信号評価装置に対し
て与える。即ち、（１）受信回路１６からの欠陥応答信
号の大きさがポテンシヨメータ・２２により決定される
如き基準レベルを越える、および（２）欠陥ゲート信号
が明らかに導線２Ｌ上にある事である。従つて、予め定
めた工作物の問題区域にある最小の大きさを越える欠陥
に関する欠陥情報のみを当技術において公知の方法で更
に評価し処理するため導線２５に与える事になる。本発
明の重要な特徴は、測定用クロツク回路２０の構成に存
在する。

第２図でこの測定用クロツク回路２０の望ましい一実施
例を示す。同期可能電圧制御発振器３４は、導線２８上
に与えられる受信回路１６からの入射面応答信号に第１
のパルスの前縁を同期させたクロツクパルスを与える。
このクロツク・パルスの周波数は、導線３６に与えられ
た電圧に応答する。第４図に示される如き典型的な発振
器３４は高速コンパレータ３８（例えば、シグネテイツ
クス社製造のＮＥ５２ｌ型コンパレータ）を有し、反転
入力をポテンシヨメータ４０から与えられた予め定めら
れ電圧レベルに接続する。コンパレータ３８の非反転入
力は、アース電位と電圧制御インピーダンス装置４４と
の間に接続されたコンデンサ４２を有するランプ発生装
置に接続され、前記電圧制御インピーダンス装置はコン
パレータの非反転入力と直流電源部の正の電位との間に
接続される。本実施例においては、電界効果トランジス
タ４４が、導線３６に与えられるアナログ電圧信号に応
答してコンデンサ４２を充電する矢印方向の電流を変化
させるために設けられている。別の実施態様においては
、この電界効果トランジスタの代りに電圧制御電流発生
装置を用いてもよい。インバータ４８はコンパレータ３
８の出力と非反転入力との間に遅れを与える。導線２８
の信号を受け取り、コンパレータ３８に可能パルス信号
を与えるために単安定マルチバイブレータ５０が接続さ
れている。この単安定マルチバイブレータ５０の出力は
、通常ロー状態にあつてコンパレータ３８の出力をハイ
状態にさせる。

コンパレータ３８がその通常のハイ状態にある時、イン
バータ４８の出力ぱそのロー状態にあり、コンパレータ
３８の非反転人力とアース電位間の電圧は略々零Ｖであ
る。導線２８を介する受信回路１６からの入射面応答信
号が単安定マルチバイブレータ５０により受取られるの
に応答して、マルチバイブレータ５０の出力信号はその
ハイ状態となつて、このためコンパレータ３８に可能パ
ルスを与える。可能パルスの受取りと同時に、コンパレ
ータ３８の出力はそのロー状態をとり、インバータ４８
の出力にそのハイ状態をとらせようとし、その結果コン
パレータ３８の非反転入力とアース電位との間の電圧（
即ち、コンデンサ４２の両端の電圧）を増加させる。コ
ンデンサ４２の両端の電圧がコンパレータ３８の非反転
入力側の予め定めたレベルを越える時、コンパレータ３
８の出力は再びそのハイ状態となる。コンパレータ３８
の非反転入力側における電圧は、インバータ４８により
生じるある時間的遅れの後零Ｖに戻る。コンデンサ４２
の両端の電圧は、その時直ちに再び上昇し始める。この
サイクルは、単安定マルチバイブレータ５０の出力がそ
のハイ状態にある限り反復する。使用可能パルスのパル
ス巾は、入射面応答信号の受取りと共に開始し、かつク
ロツク１０からの後続するトリカー・パルスの伝送に先
立つて終了するように調整される。導線３６上のアナロ
グ信号の変化はコンデンサ４２を充電するために使用さ
れる電流の変化を生じる事が判ろう。

コンデンサ４２の両端のランプ電圧波形の形状における
結果として生じた変化は、コンパレータ３８の出力側に
おけるパルスの周波数に影響を及ぼす。コンパレータ３
８の出力側にぉけるパルスは、工作物の入射面からの距
離を正確に測定するのに使用するためカウント装置２４
に対して導線３２上に与えられる。従つて、コンパレー
タ３８の出力パルスの周波数は検査装置の作動時間中安
定である事が必要である。このためには、発振器３４の
出力信号は、ゲート回路５４、単安定マルチバイブレー
タ５６およびカウンタ５８（第２図参照）からなるゲー
トされるカウンタ回路に導線５３を介して与えられる。

単安定マルチバイブレータ５６は、発振器３４が使用可
能となつた後ゲート回路５４にパルスを与えるように調
整され、このパルスは一般に２０マイクロ秒の予め定め
られたパルス巾を有し、固定されたパルス巾の持続期間
に対するゲート５４の開路作用を惹起する。カウンタ５
８は、予め定めた単安定マルチパイプレータ５６のパル
ス期間において開路したゲート５４を通つて発振器３４
から受取るパルス数をカウントする。カウンタ５８から
のカウントはデイジタル・コンパレータ６０の１入力側
に与えられる。コンパレータ６０の他の入力は、工作物
の音響速度と比例する予め定めたプログラムされたカウ
ントを与えるため導線６３を経てアドレス装置６２に接
続されている。アドレス装置は、プリセツトスイツチ、
ポテンシヨメータ、等である。コンパレータ６０は、カ
ウンタ５８からの信号がアドレス装置６２からの信号を
越える時、第１の出力導線６４上に出力パルスを与え、
アドレス装置６２からの信号がカウンタ５８からの信号
を越える時第２の出力導線６６上に出力パルスを与える
。

導線６４と６６はそれぞれ各ゲート６８と７０の１入力
側に接続されている。ゲート６８と７０の他の入力側は
導線３０を介してクロツク１０に接続されている。ゲー
ト６８の出力は、可逆カウンタ７２のカウント「ダウン
」入力側に接続され、ゲート７０の出力は可逆カウンタ
７２のカウント「アツプ］入力側に接続されている。ク
ロツク１０からのトリカー信号の発生毎に、カウンタ７
２は「アツプ」又は「ダウン」方向にカウントし、１カ
ウントはコンパレータからゲート６８又は７０を流れる
出力信号に応答する。デイジタル／アナログ・コンバー
タ７４は、可逆カウンタ７２の出力側のデイジタル信号
をアナログ信号に変換する。次にこのアナログ信号は導
線３６上を発振器３４の入力側に与えられて発振器３４
からの出力パルスの周波数を、アドレス装置６２により
調整されるプログラムされた量と周波数を等しくさせる
ための方法で変化させる。前記の事象サイクルは、コン
パレータ６０が導線６４又は６６のいずれかに出力パル
スを与えられなくなる迄反復され、これにより発振器周
波数がプログラムされた周波数と等しくなる事を表示す
る。

前記のフイードバツク・ループが発振器３４からの安定
した正確なクロツク信号を与えるため、発振器３４は価
格の安い構成要素で構成できる事が明らかであろう。

プログラムされた周波数からの偏差が、システムに発振
器の周波数を再調整させる。発振器３４の周波数は、各
トリカー・パルスを用いて有効に検査される。前述の実
施態様の一変更例においては、ＧＯ／ＮＯ−ＧＯ回路が
、コンパレータ６０の出力が発振器がプログラムされた
周波数でクロツク・パルスを生成している事を表示する
時［ＧＯ」信号を生じ、又この周波数がプログラムされ
た値と異なる時「ＮＯ−ＧＯ］信号を生じるようにコン
パレータ６０の出力側に接続できる。

異なる音響速度を有する試験工作物に対しては、音響速
度と比例するように装置を校正するようにアドレス装置
６２が調整する。

このように、アドレス装置６２は簡単な方法で工作物の
音響速度と比例する測定クロツク周波数を変化させて、
従米周知のものよりも改善されたパルス反射超音波探傷
装置を提供する。第３図に示した如き回路の更に別の変
更例においては、減算回路７６が導線６３を介してカウ
ンタ５８とアドレス装置６２の出力側に接続されている
。

この減算回路７６は、測定された周波数とプログラムさ
れた周波数との間の差が予め定めた量を越える時導線７
８を介してゲート回路８２に信号を与え、前記２信号の
差が予め定められた量よりも少い時導線８０を介してゲ
ート８４に対して信号を与える。高い周波数のクロツク
８６は、ゲート８２の他の入力に対してクロツク１０の
周波数よりも遥かに高い周波数を有するパルスを与える
。このように、導線７８上の信号が、発振器３４の周波
数がプログラムされた周波数と非常に異なる事を表示す
る時、可逆カウンタ７２は、導線８０上の信号がその周
波数がプログラムされた周波数と近い事を表示する時よ
りも大きな割合でそのカウントを変更する。０Ｒゲート
８８は、クロツク１０からのクロツクパルスか高い周波
数のクロツク８６からのクロツク・パルスのいずれかを
各ゲート６８と７０の１入力側に与えて、前に述べたと
同じ方法で可逆カウンタ７２におけるカウントを変更す
る。

作用においては、プローブ１４は検査されるべき工作物
ｗに対して水又は他の適当な結合材の結合経路を介して
音響的に結合される。

アドレス装置６２は、工作物の公知の音響速度に応じて
調整される。前述の如く、フイードバツク・ループは、
２０マイクロ秒の時間間隔において導線５３上に与えら
れるパルス数が導線６３上に与えられるプログラムされ
たカウントと等しくなる迄発振器３４の周波数を調整し
、前記のプログラムされたカウントは音響速度と比例す
る。従つて、発振器３４の出力側のクロツク・パルスの
周波数は工作物の音響速度の２０分の１に比例させられ
る。入射面から後壁部に向けて工作物を横切る探査信号
に対応する時間においてカウント装置２４によりカウン
トされるクロツク・パルスの数は工作物の厚さの０．１
倍に比例する。実際においては、発振器３４の周波数は
非常に短時間でプログラムされたカウントに調整され、
クロツク回路２０の一定の検査特性のため周波数は一定
に維持される。このように、非常に短い即ち約１秒間の
遅れの後、装置ぱ校正され測定が開始できる。あるいは
又、前述の型式の警報回路は、発振器３４がデイジタル
・コンパレータ６０からの出力信号の欠除により表示さ
れる如き所望の周波数を得る迄ゲート発生回路２６から
どんな欠陥ゲートの発生も禁止するための回路に組込む
事ができる。クロツク１０からパルサー１２に対するト
リカー・パルスはパルサー１２にプローブ１４に対する
トリカー信号を与えさせる。

このトリカー信号の受取りと同時に、プローブ１４は、
工作物に対して音響エネルギー探査信号を送出し、これ
から入射面及び欠陥応答反射信号を受取る。この反射応
答信号は受信回路１６に伝えられ、この回路から反射応
答信号がコンパレータ１８および測定クロツク２０に伝
えられる。欠陥ゲートの時間間隔において生じる欠陥は
更に評価するため導線２５上に与えられる。未知の音響
速度を有する工作物を検査する時は、作物は既知の厚さ
の工作物に音響的に結合される。

陰極線管が受信回路１６からの反射応答信号およびゲー
ト発生回路２６からの欠陥ゲートを同期的に表示するた
め回路に結合される。アドレス９０は、入射面応答信号
の受取りと同時に欠陥ゲートを開始させるため零にセツ
トされる。アドレス９２ぱ次いで既知の工作物の厚さに
セツトされる。オペレータは、欠陥ゲートの終りと後壁
の反応信号の受取りを陰極線管上で観察する。アドレス
６２は、後壁の反応信号が欠陥ゲートが正確に終る時点
で受取られる迄調整される。これ等２つの事象の同時の
発生と同時に、アドレス装置６２の工作物の音響速度に
調整される。アドレス装置６２が適当に調整された後、
アドレス９０と９２は所望の工作物の区域に対してセツ
トされ、欠陥検査が開始する。発振器３４の周波数の漂
遊と同時に、トリカー・パルスが前述の如くクロツク１
０の出力側に明示される度に発振器３４の周波数をクロ
ツク２０が再調整する事で判るであろう。

このように、本発明は、超音波エネルギー探査パルスが
工作物に送出される毎に実施される周波数検査の故に、
長期の安定度を呈するクロツクを提供する。第４図の実
施態様のある変更例において、特にパルス反射超音波接
触検査を用いる時、単安定マルチバイブレータ５０は入
射面反射応答信号に応答する代りにクロツク１０からの
トリカー・パルスに応答して始動できる。

測定クロツク２０からのクロツク・パルスは又、パルス
・トリカーの送出後反射応答信号の受取り迄に受取つた
クロツク・パルスの数のカウントにより工作物における
音響的不連続部に対する入射面からの距離を正確に決定
するのに使用できる。

本発明の望ましい一実施態様およびそのいくつかの変更
例について説明したが、当業者にとつては、頭書の特許
請求の範囲により限定されるべき本発明の広義の原理お
よび主旨から逸脱する事なく更に別の変更が可能である
事は明らかであろう。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の望ましい実施態様のプロツク図、第２
図ぱ第１図の回路の一部の望ましい一実施態様のプロツ
ク図、第３図は第２図の回路の別の実施態様のプロツク
図、および第４図は図示した各実施態様に使用される発
振器の回路図である。 １０・・・・・・クロツ久１２・・・・・・パルサー、
１４・・・・・・送受プローブ、１６・・・・・・受信
回路、１８・・・・・・コンパレータ、２０・・・・・
・測定用クロツク、２２・・・・・・ポテンシヨメータ
、２４・・・・・・カウント装置、２６・・・・・・ゲ
ート発生回路、３４−・・・・・発振器、３８・・・・
・・コンパレータ、４０・・・・・・ポテンシヨメータ
、４８・・・・・・インバータ、５０，５６・・・・・
・単安定マルチバイブレータ、５８・・・・・・カウン
タ、６０・−・・・・コンパレータ、６２・・・・・・
アドレス装置、６８，７０，８２，８４・・・・・・ゲ
ート、７２・・・・−・可逆カウンタ、８６・・・・・
・クロツク、８８・・・・・・０Ｒゲート。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 工作物に超音波探査パルスを周期的に送出し次いで
   工作物に入射する前記探査パルスに応答する反射信号を
   受取るための装置と、前記反射信号に応答して反射応答
   電気信号を生成するため、前記周期的送出装置に結合さ
   れた受信装置と、前記の周期的送出装置と前記の受信装
   置に接続されたクロック・パルスを与えるための測定用
   クロック装置と、前記クロック・パルスを受取り、受取
   つたクロック・パルスの数に応答してカウント信号を与
   えるように接続されたカウント装置と、前記カウント信
   号を受取り前記カウント信号に応答して欠陥ゲートを与
   えるよう接続されたゲート発生装置とを含む工作物の超
   音波パルス反射探傷装置において、前記測定用クロック
   装置は前記クロック・パルスを与えるための同期可能電
   圧制御発振器を有し、前記クロック・パルスを受取り、
   予め定めた時間間隔において受取るクロック・パルスの
   数に比例する出力カウントを与えるよう接続されたゲー
   ト付きカウンタと、工作物の音響速度に比例する予め定
   めた数のカウントを与えるためのアドレス装置と、前記
   出力カウントと前記の予め定めたカウントとの間の差を
   表示する差信号を生じるため前記出力カウントと予め定
   めたカウントを受取るように接続されたコンパレータ装
   置と、前記の予め定めた時間間隔において受取つた前記
   クロック・パルスの数を前記の予め定めたカウントと比
   例するようにするため前記発振器に対するフィードバッ
   ク信号として前記差信号を送るように接続された装置と
   を設けた事を特徴とする探傷装置。 ２ 前記発振器は、 前記フィードバック信号に応答してランプ波形の電圧信
   号を与える調整可能なランプ発生装置と、予め定めた電
   圧信号を与える電圧源と、前記反射応答信号を受取りこ
   れを応答して使用可能パルスを与えるよう接続された装
   置と、前記反射応答信号と同期し前記ランプ波形電圧信
   号に応答する周波数を有する前記クロツクパルスを与え
   るため前記のランプ波形電圧信号と、前記の予め定めた
   電圧信号と、前記使用可能パルスを受取るよう接続され
   た比較装置とを有する特許請求の範囲第１項記載の装置
   。 ３ フィードバック信号を与えるように接続された前記
   装置が可逆カウンタを含む特許請求の範囲１項記載の装
   置。 ４ フィードバック信号を与えるように接続された前記
   装置が更に前記可逆カウンタから出力信号を受取り前記
   信号を前記フィードバック信号に変換するよう接続され
   たディジタル／アナログ・コンバータを含む特許請求の
   範囲３項記載の装置。 ５ パルス反射超音波装置に使用する長時間安定なプロ
   グラム可能クロック回路において、クロック・パルスを
   与える同期可能電圧制御発振器と、予め定められた時間
   間隔において前記クロック・パルスの数をカウントし、
   これに応答してカウント信号を与えるため前記発振器に
   接続されるゲート付きカウント装置と、予め定めたカウ
   ント信号を与えるアドレス装置と、前記カウント信号お
   よび前記の予め定めたカウ ント信号を比較して前記各
   信号間の差を示す出力信号を与えるため前記ゲート付き
   カウント装置および前記アドレス装置に接続されたコン
   パレータ装置と、前記出力信号を受取り、差のカウント
   信号を与 えるため前記コンパレータ装置に接続された
   カウンタ装置と、前記の差のカウント信号を受取り、前
   記カウント信号を前記の予め定めたカウントと実質的に
   等しくさせるため前記発振器に対しフィードバック 信
   号を与えるため前記カウンタ装置および発振器に接続さ
   れた装置とを設けた事を特徴とするクロック回路。 ６ 前記発振器は、 前記フィードバック信号に応答するランプ波形 電圧信
   号を与える調整可能なランプ発生器と、予め定めた電圧
   信号を与えるための電圧源と、使用可能パルスを与える
   ための装置と、前記ランプ波形電圧信号に応答する周波
   数を有する前記クロック・パルスを与えるため前記ラン
   プ波形電圧信号、前記の予め定めた電圧信号および前
   記の使用可能パルスを受取るよう接続された比較装置と
   を有する特許請求の範囲５項記載のクロック回路。 ７ 使用可能パルスを与える前記装置が前記同期 信号
   に前記クロック・パルスを同期するため同期信号により
   使用可能とされる特許請求の範囲６項記載のクロック回
   路。 ８ 前記カウンタに接続された前記装置がディジタル／
   アナログ・コンバータである特許請求の範囲５項記載の
   クロック回路。 ９ 周期的なトリガー信号を生じるクロックと、前記ト
   リガー信号を受取り、各送出パルスを生じるよう接続さ
   れたパルサー装置と、各超音波探査信号を工作物に対し
   て送出させるため工作物に対して音響的に結合されかつ
   前記送出パルスを受取るように接続され、工作物におけ
   る入射面および欠陥により遮断される前記探査信号から
   生じる反射信号を受取り、これに対して応答する反射応
   答信号を与えるための超音波プローブ装置と、前記反射
   応答信号を受取り、各反射応答電気信号を生じるため前
   記プローブ装置に接続された受信装置と、工作物の音響
   速度に比例するプログラムされたカウント信号を与える
   アドレス装置と、前記入射面応答信号と同期し、前記プ
   ログラムされたカウント信号と比例する周波数を有する
   クロック・パルスを与えるため前記プログラムされたカ
   ウント信号と、前記入射面応答電気信号と、前記トリガ
   ー信号を受取るよう接続された測定クロック装置と、前
   記カウント装置により受取られるクロック・パルスの数
   と比例するカウント信号を与えるため前記クロック信号
   を受取るよう接続されたカウント装置と、検査されるべ
   き工作物の予め定めた区域を規定する信号を与えるため
   の別のアドレス装置と、前記カオント信号と工作物のあ
   る区域を規定する前記信号を受取り、工作物の前記の予
   め定めた区域に位置する欠陥から生じる反射応答信号が
   受取られるべき間隔において欠陥ゲートを形成するよう
   前記カウント装置および前記の別のアドレス装置に接続
   されるゲート発生装置とを設けた事を特徴とするパルス
   反射超音波装置。 １０ 前記測定クロック装置は、 前記クロック・パルスを与えるための同期可能電圧制御
   発振器と、前記クロック・パルスを受取り、予め定めら
   れた時間間隔において受取られたクロック・パルスの数
   と比例する別の出力カウントを与えるよう接続されたゲ
   ート付きカウンタと、前記の別の出力カウント信号と前
   記のプログラムされたカウント信号との間の差を表示す
   る差信号を与えるため前記別の出力カウント信号と前記
   プログラムされたカウント信号を受取るための比較装置
   と、前記の別の出力カウントを前記の予め定めたカウン
   トに実質的に等しくさせるため前記発振器に対するフィ
   ードバック信号として前記の差信号を送るよう接続され
   た装置とを有する特許請求の範囲９項記載のパルス反射
   超音波装置。 １１ 更に、基準レベル信号を与えるための基準レ ベ
   ル装置と、ある欠陥応答信号の振巾が前記基準レベル信
   号を越え、前記欠陥ゲートが明示された時出力信号を与
   えるため前記受取り装置と、前記基準レベル装置と、前
   記ゲート発生装置に接続されたコンパ レータ装置とを
   有する特許請求の範囲９項記載のパルス反射超音波装置
   。 １２ 工作物の予め定めた区域を規定する前記信号が、
   前記欠陥ゲートが開始するカウントに応答する前記カウ
   ント装置によりカウントされるべきク ロツク・パルス
   の数と比例する第１の信号と、前記欠陥ゲートが終る別
   のカウントに応答する前記カウント装置によりカウント
   されるべきクロック・パルスの別の数と比例する第２の
   信号である特許請求の範囲９項記載のパルス反射超音波
   装置。