JPS5928567A - 被膜形成方法 - Google Patents
被膜形成方法Info
- Publication number
- JPS5928567A JPS5928567A JP13874482A JP13874482A JPS5928567A JP S5928567 A JPS5928567 A JP S5928567A JP 13874482 A JP13874482 A JP 13874482A JP 13874482 A JP13874482 A JP 13874482A JP S5928567 A JPS5928567 A JP S5928567A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- coating layer
- evaporation source
- vacuum
- vapor deposition
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/24—Vacuum evaporation
- C23C14/32—Vacuum evaporation by explosion; by evaporation and subsequent ionisation of the vapours, e.g. ion-plating
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/02—Pretreatment of the material to be coated
- C23C14/021—Cleaning or etching treatments
- C23C14/022—Cleaning or etching treatments by means of bombardment with energetic particles or radiation
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、被膜形成方法に係゛す、金属基板に連続的
に物理蒸着法(以下PVD法という)によって被膜を形
成する方法の改良に関するものである。
に物理蒸着法(以下PVD法という)によって被膜を形
成する方法の改良に関するものである。
従来から被膜形成方法として知られているPVI)法は
真空蒸着、イオンブレーティング、スバツ”クリングの
8種類に大別される。そしてこれらは実際的な手法が異
なるだけでなく、得られるコーティング被)漠の緒特性
にも差異がある。即ち、コーティング条件にもよるが、
一般的にみるとコーティング速度は真空蒸着が最も速く
て、次いでイオンブレーティング、スパッタリングの順
である。
真空蒸着、イオンブレーティング、スバツ”クリングの
8種類に大別される。そしてこれらは実際的な手法が異
なるだけでなく、得られるコーティング被)漠の緒特性
にも差異がある。即ち、コーティング条件にもよるが、
一般的にみるとコーティング速度は真空蒸着が最も速く
て、次いでイオンブレーティング、スパッタリングの順
である。
またコーティング被膜と基板との密着性およびコーティ
ング)関硬度は、イオンブレーティング、スパッタリン
グ、真空蒸着の順である。
ング)関硬度は、イオンブレーティング、スパッタリン
グ、真空蒸着の順である。
このような緒特性の相異を巧みに使いわけながら現在で
はPVI)法はあらゆる分野で使われている。
はPVI)法はあらゆる分野で使われている。
一方近年、1)Vl)法の生産性を高めるため、基板が
金属板状のものについては、リーフ1/loリ−1v方
式、いわゆる連続PVD法によるコーティングの検討が
なされ、一部ではair−t○−air 方式も実用化
が始まっている。
金属板状のものについては、リーフ1/loリ−1v方
式、いわゆる連続PVD法によるコーティングの検討が
なされ、一部ではair−t○−air 方式も実用化
が始まっている。
しかるに前述の如くコーティング法によって被膜の緒特
性が異なることから、前記連続PVD方法においては、
何らかの特性を犠牲にしなければならない場合があp、
最近のIC基板の如き多特性を要求されるものについて
は、追従が困難である。
性が異なることから、前記連続PVD方法においては、
何らかの特性を犠牲にしなければならない場合があp、
最近のIC基板の如き多特性を要求されるものについて
は、追従が困難である。
−またこれら要求を満たすべく多層コーティングを施こ
そうとした場合、処理室が増加したシ、蒸発源を複数に
するなど設備の複数化を招くばかシか、設備費が膨大な
ものとなる欠点を有している。
そうとした場合、処理室が増加したシ、蒸発源を複数に
するなど設備の複数化を招くばかシか、設備費が膨大な
ものとなる欠点を有している。
この発明は上記問題点を解決し、巻取シ弐PYD法にお
いて、設備的制約を変更することなく、即ち、従来の単
一の蒸発源を10いてイオンブレーティング、真空蒸着
を連続的に行なうことを可能にするものである。
いて、設備的制約を変更することなく、即ち、従来の単
一の蒸発源を10いてイオンブレーティング、真空蒸着
を連続的に行なうことを可能にするものである。
次にこの発明の方法を図面に晶づいて説明する。
図面はこの発明の方法を実施するに使用する巻取弐PV
D装置の一例を示したものであシ、金属基板テープ1は
サブライリー/L/2から送りロー/L/3によシ送り
出され、イオンボンバード領域4において表面b1つ浄
されたのち、被覆処理室11に入り、まず高周波コイ/
L15によシイオン化された蒸発粒子12が金属紙板テ
ープ1の下面に被覆され、次いで高周波コイ/I15の
影響を殆んどまたは全く受けない10の蒸発源による蒸
発粒子13が連続的に真空蒸着によってさきのイオンブ
レーティング被覆層8の下面に析出することによシ、金
属基板テープ1の密着性良好な被覆層8および軟質の真
空蒸着層9を簡便かつ容、易に形成することができる。
D装置の一例を示したものであシ、金属基板テープ1は
サブライリー/L/2から送りロー/L/3によシ送り
出され、イオンボンバード領域4において表面b1つ浄
されたのち、被覆処理室11に入り、まず高周波コイ/
L15によシイオン化された蒸発粒子12が金属紙板テ
ープ1の下面に被覆され、次いで高周波コイ/I15の
影響を殆んどまたは全く受けない10の蒸発源による蒸
発粒子13が連続的に真空蒸着によってさきのイオンブ
レーティング被覆層8の下面に析出することによシ、金
属基板テープ1の密着性良好な被覆層8および軟質の真
空蒸着層9を簡便かつ容、易に形成することができる。
乙の後被覆層8.9を有する金属基板テープ1は冷却ゾ
ーン6を通って冷却され巻取り一ル7に巻取られるもの
である。
ーン6を通って冷却され巻取り一ル7に巻取られるもの
である。
この装置による被膜形成において蒸発粒子がイオン化す
るのはイオン化M、極の内側または電子ビームの走査線
上にほぼ限定されることからイオン化電極の形伏、位置
を変化させることによシ有効蒸着面積のうちの一部分に
到達する蒸発粒子のみをイオン化し、その部分のみをイ
オンブレーティングとし、他の部分は通常の真空蒸着と
することができ、基板である金属テープをこれらの上を
順次走行させることによシ簡単に被覆膜の物性を制御す
ることができるのである。
るのはイオン化M、極の内側または電子ビームの走査線
上にほぼ限定されることからイオン化電極の形伏、位置
を変化させることによシ有効蒸着面積のうちの一部分に
到達する蒸発粒子のみをイオン化し、その部分のみをイ
オンブレーティングとし、他の部分は通常の真空蒸着と
することができ、基板である金属テープをこれらの上を
順次走行させることによシ簡単に被覆膜の物性を制御す
ることができるのである。
この発明の方法は図の如きイオンブレーティング−真空
蒸着だけでなく真空蒸着−イオンブレーティングとする
ととも可能であシ、壕だイオン化電極を複数個設けるこ
とによシ、イオンブレーティング−真空蒸着−イオンブ
レーティングなど様々な被覆を連続的に得ることが可能
である。
蒸着だけでなく真空蒸着−イオンブレーティングとする
ととも可能であシ、壕だイオン化電極を複数個設けるこ
とによシ、イオンブレーティング−真空蒸着−イオンブ
レーティングなど様々な被覆を連続的に得ることが可能
である。
従ってこの発明により巻取式PVD方法において従来の
単一被覆を単一蒸発源を用いてイオンブレーティング、
真空蒸着層を任意に複数層設けることも可能である。
単一被覆を単一蒸発源を用いてイオンブレーティング、
真空蒸着層を任意に複数層設けることも可能である。
なお、蒸発粒子をイオン化する方法としては、一般に用
いられている電子ビーム照射法、高周波励起法、直流電
界法のどの方法によっても可能で、またこれらを併用す
ることもできる。
いられている電子ビーム照射法、高周波励起法、直流電
界法のどの方法によっても可能で、またこれらを併用す
ることもできる。
この発明の、方法によって金属基板テープ下面にイオン
プレーディング層、真空蒸着層を析出形成せしめたもの
は半導体集積回路装置におりるリードフレームとして有
用である。
プレーディング層、真空蒸着層を析出形成せしめたもの
は半導体集積回路装置におりるリードフレームとして有
用である。
以下この発明を実施例によシ詳細に説明する。
実施例
板厚約0.125−1板幅約25−のFe−42%N1
合金テープを第1図に示す装置を用いて片面全面に4.
0μmのAI!被覆を行った。この被覆の条゛件は、A
rガス圧5X10 ’TOrrの真空の被覆処理室1
1にてまず高周波励起コイ/I15にょるAJのイオン
粒子12を被覆したイオンブレーティング層0.8μm
1次いで蒸発源1oによるAI!の蒸発粒子13を真空
蒸着にて蒸着層3.2μmの被覆を順次行った。
合金テープを第1図に示す装置を用いて片面全面に4.
0μmのAI!被覆を行った。この被覆の条゛件は、A
rガス圧5X10 ’TOrrの真空の被覆処理室1
1にてまず高周波励起コイ/I15にょるAJのイオン
粒子12を被覆したイオンブレーティング層0.8μm
1次いで蒸発源1oによるAI!の蒸発粒子13を真空
蒸着にて蒸着層3.2μmの被覆を順次行った。
ここで、イオンブレーティングmを−o、sμmとした
のは、1.0pmを超えると第2層である真空蒸M届と
しての特性効果が十分に発揮されないためである。
のは、1.0pmを超えると第2層である真空蒸M届と
しての特性効果が十分に発揮されないためである。
なお、イオンプレーディング層に関しては、本装置での
有効蒸着面積がaooxaoo−であることから、高周
波励起は蒸発源中心から120鵡の距離にコイル径60
−1出方18.56MHz、 200Wによυ行った。
有効蒸着面積がaooxaoo−であることから、高周
波励起は蒸発源中心から120鵡の距離にコイル径60
−1出方18.56MHz、 200Wによυ行った。
この実施例で得たサンプルは半導体集積回路装置のリー
ドフレームとして真空蒸着のみの被膜およびイオングレ
ーティングのみの被膜と比較して基板−被膜間の密着性
およびワイヤーボンデイング性の総合評価ですぐれた特
性が認められた。
ドフレームとして真空蒸着のみの被膜およびイオングレ
ーティングのみの被膜と比較して基板−被膜間の密着性
およびワイヤーボンデイング性の総合評価ですぐれた特
性が認められた。
以」ユからこの発明によシ巻取り式PVD方法にてイオ
ングレーディング、真空蒸着の再被覆膜の特長的諸特性
を単一蒸発源を有する一般の設備を簡単に改造すること
により容易に多層化することが可能となシ、設備コスト
の増大や複雑化を招くことなくすぐれた被膜を形成する
ことができるのである。
ングレーディング、真空蒸着の再被覆膜の特長的諸特性
を単一蒸発源を有する一般の設備を簡単に改造すること
により容易に多層化することが可能となシ、設備コスト
の増大や複雑化を招くことなくすぐれた被膜を形成する
ことができるのである。
図面はこの発明の方法を実施するに用いる巻取式PVD
装置の1例を示す工程図である。 ■・・・金属基板テープ 2・・・サブフイリーp
5・・φ高周波コイ/l/8・・・イオンブレーティン
グ層 9・・・真空蒸着層 IO・・・蒸発源N’
i’i’l−出願人 住友電気工業株式会社代理人
弁理士和IIJ 唱
装置の1例を示す工程図である。 ■・・・金属基板テープ 2・・・サブフイリーp
5・・φ高周波コイ/l/8・・・イオンブレーティン
グ層 9・・・真空蒸着層 IO・・・蒸発源N’
i’i’l−出願人 住友電気工業株式会社代理人
弁理士和IIJ 唱
Claims (2)
- (1)可撓性を有する長尺の金属基板に被膜を連続的に
気411コーティングする方法において、単一の蒸発源
からの蒸発粒子の一部をイメーン化してイオンブレーテ
ィングによる被膜層と真空蒸着による被膜層との二層ま
たはそれ以上を連続して形成せしめることを特徴とする
被膜形成方法。 - (2)蒸発粒子のイオン化を高周波励起法、直流電界法
または電子ビーム照射法にて行うことを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の被膜形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13874482A JPS5928567A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | 被膜形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13874482A JPS5928567A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | 被膜形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5928567A true JPS5928567A (ja) | 1984-02-15 |
Family
ID=15229158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13874482A Pending JPS5928567A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | 被膜形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5928567A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60159166A (ja) * | 1984-01-27 | 1985-08-20 | Hitachi Cable Ltd | Al蒸着膜の製造法 |
US6294479B1 (en) | 1992-05-21 | 2001-09-25 | Nissin Electric Co., Ltd | Film forming method and apparatus |
EP1622215A1 (en) * | 2003-04-28 | 2006-02-01 | Sumitomo Titanium Corporation | Negative electrode for lithium secondary cell, lithium secondary cell employing the negative electrode, film deposition material b used for forming negative electrode, and process for producing negative electrode |
CN104831527A (zh) * | 2015-03-31 | 2015-08-12 | 嘉兴中科奥度新材料有限公司 | 芳纶纤维或无纬织物表面全包覆复合离子镀纳米金属工艺及其制品 |
-
1982
- 1982-08-09 JP JP13874482A patent/JPS5928567A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60159166A (ja) * | 1984-01-27 | 1985-08-20 | Hitachi Cable Ltd | Al蒸着膜の製造法 |
US6294479B1 (en) | 1992-05-21 | 2001-09-25 | Nissin Electric Co., Ltd | Film forming method and apparatus |
EP1622215A1 (en) * | 2003-04-28 | 2006-02-01 | Sumitomo Titanium Corporation | Negative electrode for lithium secondary cell, lithium secondary cell employing the negative electrode, film deposition material b used for forming negative electrode, and process for producing negative electrode |
EP1622215A4 (en) * | 2003-04-28 | 2009-07-22 | Osaka Titanium Technologies Co | NEGATIVE ELECTRODE FOR LITHIUM ACCUMULATOR, LITHIUM ACCUMULATOR HAVING THIS NEGATIVE ELECTRODE, FILM DEPOSITION MATERIAL FOR MAKING A NEGATIVE ELECTRODE, AND METHOD FOR MANUFACTURING NEGATIVE ELECTRODE |
CN104831527A (zh) * | 2015-03-31 | 2015-08-12 | 嘉兴中科奥度新材料有限公司 | 芳纶纤维或无纬织物表面全包覆复合离子镀纳米金属工艺及其制品 |
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