JPS5925970B2 - photometer - Google Patents
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- JPS5925970B2 JPS5925970B2 JP5552676A JP5552676A JPS5925970B2 JP S5925970 B2 JPS5925970 B2 JP S5925970B2 JP 5552676 A JP5552676 A JP 5552676A JP 5552676 A JP5552676 A JP 5552676A JP S5925970 B2 JPS5925970 B2 JP S5925970B2
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光度計に係り、特に優れた測定精度で被検試料
を測定するに好適な光源装置を有する光度計に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a photometer, and particularly to a photometer having a light source device suitable for measuring a test sample with excellent measurement accuracy.
近年試料中に微亀成分を高精度に定量分析する要求がま
すます高まつており、高感度分析は分析装置の性能を決
定する重要な要素の1つとなつている。In recent years, there has been an increasing demand for highly accurate quantitative analysis of microscopic turtle components in samples, and high-sensitivity analysis has become one of the important factors determining the performance of analytical equipment.
例えば、液体クロマトグラフの検出器として使用される
光度計では、O、005AUFS(吸光度フルスケール
)でノイズが1%以下であることが要求されている。近
年のエレクトロニクスの発達により非常に安定化された
電源が得られるようになり、その他の信号処理系も高い
SN比が得られるようになつた。For example, a photometer used as a detector for a liquid chromatograph is required to have noise of 1% or less at O, 005 AUFS (absorbance full scale). Recent advances in electronics have made it possible to obtain highly stabilized power supplies, and other signal processing systems have also become able to obtain high signal-to-noise ratios.
しかしながら光度計においては電気系を非常な高性能の
ものとしても、なお前記の程度までノイズを減すること
は困難である。その原因は光源からの光強度が必要な程
度まで安定化され得ないことによる。発明者らは、光を
放射する管球自身の発熱が光強度の安定化を損なう要因
であることを見い出した。However, in photometers, even if the electrical system is of very high performance, it is still difficult to reduce noise to the above level. The reason for this is that the light intensity from the light source cannot be stabilized to the required degree. The inventors have discovered that the heat generated by the light emitting tube itself is a factor that impairs the stabilization of light intensity.
すなわち、管球の発熱により管球の周囲温度が上昇し、
管球のまわりに空気流をもたらし、それによつて生ずる
不規則なゆらぎが光強度の安定性を減じていると認めら
れた。空気流による影響を減する方法の1つとして光源
室を第2図のように密閉構造にすることが考えられる。In other words, the heat generated by the tube increases the ambient temperature of the tube,
It was observed that the irregular fluctuations caused by the air flow around the tube reduced the stability of the light intensity. One possible way to reduce the influence of airflow is to make the light source chamber a sealed structure as shown in FIG.
ところが密閉構造では次のような欠点がある。第1には
光源室が密閉になるため温度上昇が大で、このために光
源としての劣化を速める。第2はこの熱により電子部品
等の安定化のための時間が長くなりドリフトの原因にな
る。第3には熱により光学系を構成する機構部品が歪む
等の欠点を有する。密閉構造によつてもゆらぎ現象を阻
止することはできない。第1図は、従来の光度計の光源
室の説明図である。However, the closed structure has the following drawbacks. First, since the light source chamber is sealed, the temperature rises significantly, which accelerates the deterioration of the light source. Second, this heat lengthens the time it takes for electronic components to stabilize, causing drift. Thirdly, there is a drawback that mechanical parts constituting the optical system are distorted due to heat. Even a sealed structure cannot prevent the fluctuation phenomenon. FIG. 1 is an explanatory diagram of a light source chamber of a conventional photometer.
管球1より放射された光2は分光器3に入り被検試料に
照射される。光源室カバー4には多数の通気孔5が設け
られている。このような構成では空気の流通が自由に行
なわれ、空気のゆらぎに基づく光強度の不安定性への影
響も大である。第2図は、密閉形光源室の説明図である
。ベース14および光源室カバー6によつて形成された
密閉室内に、管球1が置かれ、この管球はベース14に
固定された取付台13に装着されている。カバー6には
光束2を分光器3へ方向づけるような窓7が設けられて
いる。このような構成では光源室内が高温になるととも
に光源室内で対流が起こる。本発明は上述の点に鑑みて
なされたもので、その目的は、安定な光強度が得られ、
それによつて高感度測定が達成できる光度計を提供する
ことにある。Light 2 emitted from the tube 1 enters a spectroscope 3 and is irradiated onto a test sample. A large number of ventilation holes 5 are provided in the light source chamber cover 4. In such a configuration, air circulates freely, and fluctuations in the air have a large effect on instability of light intensity. FIG. 2 is an explanatory diagram of a closed type light source chamber. A tube 1 is placed in a sealed chamber formed by a base 14 and a light source chamber cover 6, and this tube is mounted on a mounting base 13 fixed to the base 14. The cover 6 is provided with a window 7 for directing the light beam 2 to the spectrometer 3. In such a configuration, the temperature inside the light source chamber becomes high and convection occurs within the light source chamber. The present invention has been made in view of the above points, and its purpose is to obtain stable light intensity,
The object of the present invention is to provide a photometer that can achieve highly sensitive measurements.
本発明の特徴は、光を放射する管球とこの管球からの光
を被検試料に照射して試料からの光を検知する手段とを
備えた光度計において、上記管球の外表面の内少なくと
も光放射点より上方にある外表面を熱良導体で密着し、
この熱良導体を放熱部材に熱的に接続し、被検試料の高
感度測定を可能にしたことにある。A feature of the present invention is a photometer equipped with a light emitting tube and a means for detecting light from the sample by irradiating light from the tube onto a test sample. At least the outer surface above the light emitting point is tightly adhered with a good thermal conductor,
This thermal conductor is thermally connected to a heat dissipation member to enable highly sensitive measurement of a test sample.
本発明に基づく望ましい実施例に訃いては、管球表面を
密着被覆する熱良導体を放熱部材に熱的に接続する。In a preferred embodiment of the present invention, a thermally conductive material closely covering the surface of the tube is thermally connected to a heat dissipating member.
放熱部材としては、光源室のカバー自身あるいは被覆体
の外側に突出された放熱片を用いることができる。放熱
部材も好ましくは熱良導体で形成し、被覆体よりも表面
積を大とする。熱良導体としては例えば銅、アルミニウ
ム、亜鉛、銀等の金属を採用することができる。熱良導
体による管球の被覆面積は、管球表面全体の約20%以
上であれば効果的である。管球の表面温度が高温である
ほど空気流を生じやすい。管球に訃いては光放射点の周
囲卦よびその上方が、下方より高温であるので、被覆体
は少なくとも光放射点より実質的に上方に設けられる。
しかしながら、このことは光放射点の周囲およびその上
方に位置する管球外表面の全域を密着被覆することを意
味するものではなく、外表面の一部であつてもよい。こ
のような構成によつて管球の温度を室温もしくは外気の
温度に近づけることができる。以下本発明に基づく実施
例について説明する。As the heat radiating member, the cover itself of the light source chamber or a heat radiating piece protruding from the outside of the cover can be used. The heat dissipating member is also preferably made of a good thermal conductor and has a larger surface area than the covering. For example, metals such as copper, aluminum, zinc, and silver can be used as a good thermal conductor. It is effective if the area of the tube covered by the thermally good conductor is about 20% or more of the entire surface of the tube. The higher the surface temperature of the tube, the easier it is to generate airflow. Since the area around and above the light emitting point of the tube is hotter than the area below, the covering is provided at least substantially above the light emitting point.
However, this does not mean that the entire area of the outer surface of the bulb located around and above the light emission point is closely covered, but only a part of the outer surface is possible. With such a configuration, the temperature of the tube can be brought close to room temperature or the temperature of the outside air. Examples based on the present invention will be described below.
第3図は本発明の一実施例の光源室付近の要部概略構成
図である。図示しない分光器あるいは試料室の方へ光を
取り出すための窓17を有する光源室カバー16とベー
ス14によつて密閉形光源室が形成されている。ベース
14に固定された取付台13には取付具12が設けられ
て}り、放電管例えば重水素放電管31はこの金具12
によつて保持されている。放電管31の光放射点35の
付近の窓17側に面した部分には採光部32が位置する
。カバー16は熱良導材料から成る。放電管31の中間
付近および上方の外壁表面には、採光部32を残して金
属銅から成るバンド9が密着するように巻きつけられて
いる。バンド9の一部は熱伝導部11を形成し、接続部
10においてカバー16に接続されている。光放射点3
5は発熱源にもなつているので、この部分が最高温度と
なる。FIG. 3 is a schematic diagram of the main parts near the light source chamber of an embodiment of the present invention. A closed type light source chamber is formed by a light source chamber cover 16 having a window 17 for taking out light toward a spectrometer or a sample chamber (not shown) and a base 14. A mounting bracket 13 fixed to a base 14 is provided with a fitting 12, and a discharge tube, for example, a deuterium discharge tube 31, is attached to this fitting 12.
is held by. A lighting section 32 is located near the light emission point 35 of the discharge tube 31 in a portion facing the window 17 side. The cover 16 is made of a thermally conductive material. A band 9 made of metallic copper is tightly wound around the outer wall surface near the middle and upper part of the discharge tube 31, leaving a lighting section 32. A part of the band 9 forms a thermally conductive part 11 and is connected to a cover 16 at a connecting part 10 . Light radiant point 3
5 also serves as a heat source, so this part has the highest temperature.
そして光放射点35の周辺および上方の管壁部分が特に
高温となる。それ故これらの管壁部分の熱を逃がすこと
により昇温の程度が減ぜられるので、空気流の発生が大
巾に減ぜられる。放電管31の外表面に被着されたバン
ド9は管壁の温度を一様にする働きもある。それによつ
て管壁の局部の温度差をなくすことができ、管壁の付近
の空気の不規則なゆらぎを減することができる。放電管
31の熱はバンド9の熱伝導部11を介してカバー16
に伝導される。The area around and above the light emission point 35 becomes particularly hot. Therefore, by dissipating heat from these tube wall sections, the degree of temperature rise is reduced, and the generation of air currents is therefore greatly reduced. The band 9 attached to the outer surface of the discharge tube 31 also serves to equalize the temperature of the tube wall. Thereby, local temperature differences on the tube wall can be eliminated, and irregular fluctuations in the air near the tube wall can be reduced. The heat of the discharge tube 31 is transferred to the cover 16 via the heat conduction part 11 of the band 9.
conducted to.
カバーは放熱体となつている。それ故光源室内の空気の
対流が減ぜられ、対流に伴う管壁温度変化も減ぜられる
。第4図は、第1図、第2図および第3図のそれぞれの
構成において重水素放電管を用いたときの光放射点より
上方の管壁の温度の安定性を比較した図である。T1は
第1図に、T2は第2図に、T3は第3図にそれぞれ対
応する。T2はT1のときより高温となるが、温度変化
の安定性は向上される。T3はT1のときより低温にな
りしかもT2のときより温度変化の安定性が向上され、
したがつて一層の高感度測定が達成される。第3図の方
法により1X1『5の安定度が達成できた。第3図゛の
実施例では熱伝導部として屈曲可能な銅製バンドの延長
部を第5図のようにして用いた。放電管31の位置は光
学的に決定されるものであるので熱良導体の取付け時に
位置を変えることが困難である。また、光源室カバー1
6も簡単に場所を変えることができない。それ故、熱良
導体からなる被着部を光源室カバーもしくは放熱体に接
続する部分は柔軟性を有することが好ましい。熱伝導部
の長さを伸縮可能にすることにより放電管とカバーまで
の距離が多少変つても非常に取付容易となる。第6図訃
よび第7図は熱伝導体の変形例で、第6図では途中に伸
縮可能な半内部を有する熱伝導板19を設けて卦り、第
7図では開き角度を変えられる熱伝導板18を設けてい
る。熱伝導体は板状のものに限定されるわけではなく、
例えば布状のものや編組線等を用いることもできる。第
8図は本発明に基づく他の実施例である光度計の光源室
付近の概略構成を示す図である。光取出窓11を有する
光源室カバー21には通気孔25および26が設けられ
ている。一方の通気孔26の付近には送風あるいは排風
フアン23が配設されている。光源室の内部には放電管
あるいはフイラメントランプから成る管球20が配設さ
れている。管球20のガラス表面のほぼ全域が熱良導体
から成る被覆面体28で密着被覆されている。被覆面体
28の外側には複数の放熱用突起22が設けられている
。加熱用突起22も熱良導体から成る。管球20の採光
部27は光源室内に露出されないように筒29の中に置
かれる。筒29の端部は窓17に接している。管球20
より放射された光は窓17を通つた後分散子あるいは光
学フイルタで単色化され、試料に照射される。The cover acts as a heat sink. Therefore, convection of air within the light source chamber is reduced, and changes in tube wall temperature due to convection are also reduced. FIG. 4 is a diagram comparing the stability of the temperature of the tube wall above the light emission point when a deuterium discharge tube is used in each of the configurations of FIGS. 1, 2, and 3. T1 corresponds to FIG. 1, T2 corresponds to FIG. 2, and T3 corresponds to FIG. 3. Although the temperature at T2 is higher than that at T1, the stability of temperature changes is improved. T3 is lower in temperature than T1, and the stability of temperature changes is improved compared to T2.
Therefore, even more sensitive measurements are achieved. By the method shown in Figure 3, a stability of 1X1'5 was achieved. In the embodiment shown in FIG. 3, an extension of a bendable copper band was used as the heat conduction part as shown in FIG. Since the position of the discharge tube 31 is determined optically, it is difficult to change the position when attaching a good thermal conductor. In addition, light source chamber cover 1
6 cannot easily change locations either. Therefore, it is preferable that the part connecting the adhered part made of a good thermal conductor to the light source chamber cover or the heat sink has flexibility. By making the length of the heat conductive part expandable and retractable, installation becomes extremely easy even if the distance between the discharge tube and the cover changes somewhat. Fig. 6 and Fig. 7 show modified examples of the heat conductor. A conductive plate 18 is provided. Thermal conductors are not limited to plate-shaped ones,
For example, a cloth-like material, a braided wire, etc. can also be used. FIG. 8 is a diagram showing a schematic configuration of the vicinity of the light source chamber of a photometer according to another embodiment of the present invention. A light source chamber cover 21 having a light extraction window 11 is provided with ventilation holes 25 and 26. A blower or exhaust fan 23 is provided near one of the ventilation holes 26. A tube 20 made of a discharge tube or a filament lamp is disposed inside the light source chamber. Almost the entire glass surface of the bulb 20 is tightly covered with a covering face 28 made of a good thermal conductor. A plurality of heat radiation protrusions 22 are provided on the outside of the covered face piece 28. The heating protrusion 22 is also made of a good thermal conductor. The lighting section 27 of the bulb 20 is placed in a tube 29 so as not to be exposed inside the light source chamber. The end of the tube 29 is in contact with the window 17. tube 20
After passing through the window 17, the emitted light is made monochromatic by a dispersion element or an optical filter, and then irradiated onto the sample.
試料を透過した光は光電検出器に検出され、試料中の成
分濃度が求められる。光源室内にはフアン23によつて
強制的に冷却用空気が送り込まれる。被覆面体28訃よ
び突起22から熱を奪つた空気は通気孔25から流出さ
れる。被覆面体は熱良導体からなるので管球表面の温度
は局部的な差がなくなるとともに全体の温度も室温に近
づく。それ故、筒29内の空間はゆらぎがほとんどなく
なるので取り出される光強度は安定化される。また、実
験によれば放電管の場合は、管壁温度の変化が発光強度
の安定性に影響するのであるが、この実施例でもそのよ
うな影響を減することができる。熱の影響が減ぜられる
ことにより安定した発光強度が得られ、一層の高感度検
出例えば0.005AUFSでノイズ1%以下の達成が
可能になつた。さらに、管球の寿命の向上やドリフトの
減少等の効果がもたらされる。以上説明したように、本
発明によれば、高感度測定に適した光度計が得られるの
で、その効果は甚大である。The light transmitted through the sample is detected by a photoelectric detector, and the concentration of components in the sample is determined. Cooling air is forced into the light source chamber by a fan 23. The air that has removed heat from the bottom of the covered facepiece 28 and the protrusions 22 is discharged from the ventilation holes 25. Since the covered facepiece is made of a good thermal conductor, there are no local differences in temperature on the bulb surface, and the overall temperature approaches room temperature. Therefore, since the space within the tube 29 has almost no fluctuation, the intensity of the extracted light is stabilized. Further, according to experiments, in the case of a discharge tube, changes in the tube wall temperature affect the stability of the luminous intensity, but this embodiment can also reduce such an effect. By reducing the influence of heat, stable luminescence intensity can be obtained, and it has become possible to achieve even higher sensitivity detection, for example, 0.005 AUFS with noise of 1% or less. Furthermore, effects such as an improvement in the life of the tube and a reduction in drift are brought about. As explained above, according to the present invention, a photometer suitable for high-sensitivity measurement can be obtained, and its effects are enormous.
第1図は従来の光度計の光源室の説明図、第2図は密閉
形光源室の説明図、第3図は本発明に基づく一実施例の
要部概略構成を示す図、第4図は第1図、第2図於よび
第3図のそれぞれに}ける管壁温度の安定性を比較した
図、第5図ないし第1図は熱伝導体の形状の例を示す図
、第8図は本発明に基づく他の実施例の要部概略構成を
示す図である。
符号の説明、1,20・・・管球、3・・・分光器、9
・・・バンド、11,18,19・・・熱伝導板、16
,21・・・光源室カバー、17・・・窓、22・・・
放熱用突起、23−・・フアン、25,26・・・通気
孔、27,32・・・採光部、28・・・被覆面体、2
9・・・筒、31・・・放電管、35・・・光放射点。Fig. 1 is an explanatory diagram of a light source chamber of a conventional photometer, Fig. 2 is an explanatory diagram of a closed type light source chamber, Fig. 3 is a diagram showing a schematic configuration of main parts of an embodiment based on the present invention, and Fig. 4 Figures 1, 2 and 3 respectively are diagrams comparing the stability of the tube wall temperature, Figures 5 to 1 are diagrams showing examples of the shape of the heat conductor, Figure 8 The figure is a diagram showing a schematic configuration of main parts of another embodiment based on the present invention. Explanation of symbols, 1, 20...Tube, 3...Spectroscope, 9
... Band, 11, 18, 19 ... Heat conduction plate, 16
, 21... Light source room cover, 17... Window, 22...
Heat dissipation projection, 23-... Fan, 25, 26... Ventilation hole, 27, 32... Lighting part, 28... Covered facepiece, 2
9...Cylinder, 31...Discharge tube, 35...Light emission point.
Claims (1)
に照射して試料からの光を検知する手段とを備えた光度
計において、上記管球の外表面の内少なくとも光放射点
より実質的に上方にある外表面に熱良導体を密着し、上
記熱良導体を放熱部材に熱的に接続したことを特徴とす
る光度計。 2 上記放熱部材の放熱表面積は、上記管球に対する上
記熱良導体の接触面積よりも大きいことを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の光度計。 3 光を放射する管球と、この管球からの光を被検試料
に照射して試料からの光を検知する手段とを備えた光度
計において、上記管球の外表面の内少なくとも光放射点
より実質的に上方にある外表面に熱良導体を密着し、上
記熱良導体を放熱部材に熱的に接続し、上記放熱部材で
もつて上記管球全体を外気から遮断する室を形成したこ
とを特徴とする光度計。[Scope of Claims] 1. A photometer comprising a light emitting tube and a means for detecting light from the sample by irradiating the light from the tube onto the test sample, A photometer characterized in that a good thermal conductor is closely attached to at least an outer surface substantially above a light emission point among the surfaces, and the good thermal conductor is thermally connected to a heat radiating member. 2. The photometer according to claim 1, wherein the heat radiating surface area of the heat radiating member is larger than the contact area of the good thermal conductor with the bulb. 3. In a photometer equipped with a tube that emits light and means for detecting the light from the sample by irradiating the light from the tube onto the test sample, at least the light emitting portion of the outer surface of the tube is provided. A good thermal conductor is closely attached to the outer surface substantially above the point, the good thermal conductor is thermally connected to a heat radiating member, and the heat radiating member forms a chamber that isolates the entire bulb from the outside air. Features photometer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5552676A JPS5925970B2 (en) | 1976-05-15 | 1976-05-15 | photometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5552676A JPS5925970B2 (en) | 1976-05-15 | 1976-05-15 | photometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS52138982A JPS52138982A (en) | 1977-11-19 |
JPS5925970B2 true JPS5925970B2 (en) | 1984-06-22 |
Family
ID=13001155
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5552676A Expired JPS5925970B2 (en) | 1976-05-15 | 1976-05-15 | photometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5925970B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001216939A (en) * | 2000-01-31 | 2001-08-10 | Hamamatsu Photonics Kk | Light source |
JPWO2021172082A1 (en) * | 2020-02-26 | 2021-09-02 |
-
1976
- 1976-05-15 JP JP5552676A patent/JPS5925970B2/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS52138982A (en) | 1977-11-19 |
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