JPS5923906A - 受光増幅装置の温度補償回路 - Google Patents
受光増幅装置の温度補償回路Info
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- JPS5923906A JPS5923906A JP57133305A JP13330582A JPS5923906A JP S5923906 A JPS5923906 A JP S5923906A JP 57133305 A JP57133305 A JP 57133305A JP 13330582 A JP13330582 A JP 13330582A JP S5923906 A JPS5923906 A JP S5923906A
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- amplifier
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- operational amplifier
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/04—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only
- H03F3/08—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light
- H03F3/087—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light with IC amplifier blocks
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、受光増幅装置の温度補償回路、特に無信号時
を含めて繰返し入射する光信号、例えば光フアイバ内で
反射されて戻ってくる後方散乱光を電気１８号に変換し
たうえで増幅する受光増幅装置において、繰返し信号周
期の無信号時において得られる増幅器の出力の一部を取
出し、それ金サンプルホールドして当該増幅器にフィー
ドバックさせ、光電変換部と増幅部との温度ドリフトを
同時に温度補償するようにした受光増幅装置の温度補償
回路に関するものである。
を含めて繰返し入射する光信号、例えば光フアイバ内で
反射されて戻ってくる後方散乱光を電気１８号に変換し
たうえで増幅する受光増幅装置において、繰返し信号周
期の無信号時において得られる増幅器の出力の一部を取
出し、それ金サンプルホールドして当該増幅器にフィー
ドバックさせ、光電変換部と増幅部との温度ドリフトを
同時に温度補償するようにした受光増幅装置の温度補償
回路に関するものである。
ｍ１図は従来の受光増幅装置の一借成例を示している。
バイアス回路１に工ってバイアスされている光電変換器
のアバランシェフォトダイオード（以下人ＰＤと略記す
る）２に光信号が入射すると抵抗３に電流が流れ、該抵
抗３の両端に発生する電圧が増幅器４円の第１段目の演
算増幅器４−１に入力しｔ当該演算増幅器４−１で増幅
された後、次段の図示されていない演算増幅器に入力す
る。こＶ）ように、多段にわたって増幅しなければなら
ない微弱な光信号、例えば光７アイ／？内で反射されて
戻ってくる後方散乱光けＡＰＤ２で光電変換された後、
増幅器４で適当な大きさｑ）電気信号に々るまで増幅さ
れ、さらにコンデンサ５を介して信号成分だけが出力さ
れてくる。なお符号６は抵抗を表わしてい小。
のアバランシェフォトダイオード（以下人ＰＤと略記す
る）２に光信号が入射すると抵抗３に電流が流れ、該抵
抗３の両端に発生する電圧が増幅器４円の第１段目の演
算増幅器４−１に入力しｔ当該演算増幅器４−１で増幅
された後、次段の図示されていない演算増幅器に入力す
る。こＶ）ように、多段にわたって増幅しなければなら
ない微弱な光信号、例えば光７アイ／？内で反射されて
戻ってくる後方散乱光けＡＰＤ２で光電変換された後、
増幅器４で適当な大きさｑ）電気信号に々るまで増幅さ
れ、さらにコンデンサ５を介して信号成分だけが出力さ
れてくる。なお符号６は抵抗を表わしてい小。
ＡＰＤ２による光電変換後、所定の大きさの１８号にま
で増幅する受光増幅装置は、従来のものでは次の工うな
欠点がめった。すなわち、増＃１器４０次段の回路、例
えば対数変換器との関係で、増幅器４から出力される直
流亦を充分に除去するようにコンデンサ５と抵抗６との
時定数が大きく選ばノ１ているため、ＡＰＤ２のｉｈＡ
度変比変化なう暗電流の変化（次に説明する）と増幅器
４ｆ：構成する各演３今−増幅語４−１ないし４−ＮＶ
Ｃおけるオフセットの温度ドリフトと全同時に増幅器ゐ
増幅器４からの緩やかな直流分の変化が、コンデンサ５
金通過してしまい、次段の対数変換器にｇ％信号として
入力され、てしまう欠点があった。
で増幅する受光増幅装置は、従来のものでは次の工うな
欠点がめった。すなわち、増＃１器４０次段の回路、例
えば対数変換器との関係で、増幅器４から出力される直
流亦を充分に除去するようにコンデンサ５と抵抗６との
時定数が大きく選ばノ１ているため、ＡＰＤ２のｉｈＡ
度変比変化なう暗電流の変化（次に説明する）と増幅器
４ｆ：構成する各演３今−増幅語４−１ないし４−ＮＶ
Ｃおけるオフセットの温度ドリフトと全同時に増幅器ゐ
増幅器４からの緩やかな直流分の変化が、コンデンサ５
金通過してしまい、次段の対数変換器にｇ％信号として
入力され、てしまう欠点があった。
また微弱な光の検出が可能な、そして素子の内部で光［
流の増幅作用を有するＡＰＤ２は、＠２図に示されるゲ
イン−逆電圧特性及び第３図に示される暗１を流−逆電
圧特性ケもち１ｍ度によってその特性が変化する。従が
りて、５１Ｊえば温度が′工゛２のと１！ＡＰＤ２のバ
イアス電圧（逆電圧）ｋＶＩ３に設定°した場合、温度
がＴ１から′ｒ３１で変化すると、Ａ Ｐ Ｄ ２ ノ
ゲインはＧｌｌから（１ｓｔまで変化してしまう。
流の増幅作用を有するＡＰＤ２は、＠２図に示されるゲ
イン−逆電圧特性及び第３図に示される暗１を流−逆電
圧特性ケもち１ｍ度によってその特性が変化する。従が
りて、５１Ｊえば温度が′工゛２のと１！ＡＰＤ２のバ
イアス電圧（逆電圧）ｋＶＩ３に設定°した場合、温度
がＴ１から′ｒ３１で変化すると、Ａ Ｐ Ｄ ２ ノ
ゲインはＧｌｌから（１ｓｔまで変化してしまう。
そこでＡＰＤ２のゲイン？温度の変化にもかかわらずＧ
２１に保つためには、バイアス電圧ｒ温度変化に応じて
ｖＡからＶ。の範囲内で変化させなければならない。そ
してＡＰＤ２のバイアス電圧がこのように変わることに
よって、ＡＰＤ２に入射する光信号が存在しないとき、
すなわち無伯号時、第３図図示の暗電流−逆電圧特性か
ら判るように当該ＡＰＤ２ｔ−流れる暗電流が変化する
ので、暗電流を一定に保つにはＡＰＤ２に対して恒１品
槽や温度補償回路が必訣となる。
２１に保つためには、バイアス電圧ｒ温度変化に応じて
ｖＡからＶ。の範囲内で変化させなければならない。そ
してＡＰＤ２のバイアス電圧がこのように変わることに
よって、ＡＰＤ２に入射する光信号が存在しないとき、
すなわち無伯号時、第３図図示の暗電流−逆電圧特性か
ら判るように当該ＡＰＤ２ｔ−流れる暗電流が変化する
ので、暗電流を一定に保つにはＡＰＤ２に対して恒１品
槽や温度補償回路が必訣となる。
また後方散乱光の如き微弱な光信号？７と気信号に変換
した上で多段にわｆＣｔ）増幅する場合、増幅器４は当
該増幅揖４を構成してい、６演算増幅に非４−１ないし
４−Ｈのオフセットの温度ドリフト金も同時に大幅に増
幅してしまう。これに対しサーミスクル１１を用いて各
演算増幅器４−１ないし４−Ｎの温度ドリフトを１１ｎ
償する方法が考えられるがサーミスタの特性が非線型で
あるため補償の仕方が困ＪＷであり、また平衡に到達す
るまでに時間を必要とすゐ。この工うにＡＰＤ２の温度
変化による暗電流の変化及び増幅ｖ＃４の温度ドリフト
のため、ＡＰＤ２と増幅器４とを個々に温度補償対策を
施こすと、回路構成が複雑となり、同時にコストアップ
となる欠点が１ある。
した上で多段にわｆＣｔ）増幅する場合、増幅器４は当
該増幅揖４を構成してい、６演算増幅に非４−１ないし
４−Ｈのオフセットの温度ドリフト金も同時に大幅に増
幅してしまう。これに対しサーミスクル１１を用いて各
演算増幅器４−１ないし４−Ｎの温度ドリフトを１１ｎ
償する方法が考えられるがサーミスタの特性が非線型で
あるため補償の仕方が困ＪＷであり、また平衡に到達す
るまでに時間を必要とすゐ。この工うにＡＰＤ２の温度
変化による暗電流の変化及び増幅ｖ＃４の温度ドリフト
のため、ＡＰＤ２と増幅器４とを個々に温度補償対策を
施こすと、回路構成が複雑となり、同時にコストアップ
となる欠点が１ある。
本発明は、上記の欠点を解決すること金目的としており
、ＡＰＤ及び増幅器の各々にそれぞれ温度補償を施こす
のではなくｓ ｈＰＤと増幅器との両者を一体的にとら
え、ＡＰＤの温度変化による暗電流の変化及び増幅器の
オフセットの温度ドリフトに起因する誤差を一体的に少
なくすめようにした受光増幅装置の温度補償回路を提供
すること金目的、とじている。そしてそのため本発明の
受光増幅装置の温度補償回路は繰返し入射する光信号を
電気信号に変換する光電変換器と、この光電変換された
電気信号を増幅する演算増幅器とを備え友受光増幅装置
の温度補償回路において、繰返し信号周期の無信号時の
期間内に演算増幅器の一方の入力端子を接地した状態の
下で増幅器の出力信号を取出し、それをサンプルホール
ドし次の繰返し信号周期の信号時に当該演算増幅器にフ
ィードバックさせるすｙゾルホールド回路と、上記繰返
し信号周期の無信号時の期間内に尚該演算増＠器の上記
一方の入力端子を接地側に切換えると共に、次の繰返し
信号周期の信号時に上記サンプルホールド回路の出力信
号を当該演算増幅器の上記一方の入力端子に入力するよ
うに切換えるスイッチ手段とを設け、上記光電変換器の
暗電流と増幅器との温度ドリフトを同時に温度補償する
ようにしたことを特徴としている。以下第４図以降の図
面を参照しながら説明する。
、ＡＰＤ及び増幅器の各々にそれぞれ温度補償を施こす
のではなくｓ ｈＰＤと増幅器との両者を一体的にとら
え、ＡＰＤの温度変化による暗電流の変化及び増幅器の
オフセットの温度ドリフトに起因する誤差を一体的に少
なくすめようにした受光増幅装置の温度補償回路を提供
すること金目的、とじている。そしてそのため本発明の
受光増幅装置の温度補償回路は繰返し入射する光信号を
電気信号に変換する光電変換器と、この光電変換された
電気信号を増幅する演算増幅器とを備え友受光増幅装置
の温度補償回路において、繰返し信号周期の無信号時の
期間内に演算増幅器の一方の入力端子を接地した状態の
下で増幅器の出力信号を取出し、それをサンプルホール
ドし次の繰返し信号周期の信号時に当該演算増幅器にフ
ィードバックさせるすｙゾルホールド回路と、上記繰返
し信号周期の無信号時の期間内に尚該演算増＠器の上記
一方の入力端子を接地側に切換えると共に、次の繰返し
信号周期の信号時に上記サンプルホールド回路の出力信
号を当該演算増幅器の上記一方の入力端子に入力するよ
うに切換えるスイッチ手段とを設け、上記光電変換器の
暗電流と増幅器との温度ドリフトを同時に温度補償する
ようにしたことを特徴としている。以下第４図以降の図
面を参照しながら説明する。
第４図は本発明に係る受光増幅装置の温就補償回路の一
実施例構成、＠５図は無［Ｊ９時のタイミング信号と対
数変換処理が行なわれた受信反射光とのタイミングを説
明してい小タイムチャート、第６図は第５図に示された
無信号時のタイミング信号を得る回路の一実施例が示さ
れている元パルス試験装置の概略構成をそれぞれ示して
いる。
実施例構成、＠５図は無［Ｊ９時のタイミング信号と対
数変換処理が行なわれた受信反射光とのタイミングを説
明してい小タイムチャート、第６図は第５図に示された
無信号時のタイミング信号を得る回路の一実施例が示さ
れている元パルス試験装置の概略構成をそれぞれ示して
いる。
第４図において、符号工ないし４ 、４−１ 、−０゜
・・・、４−Ｎは第１図のものに対応する。
・・・、４−Ｎは第１図のものに対応する。
符号７はサンプルホールド回路でめって、当該−リーン
プルホールド回路７は繰返し信号周期の無信号時の成る
期間に増幅器４の出力の一部をサンプルホールドし、そ
のサンプルホールドされた電圧を適宜減衰させた後、そ
れを壇幅鮨４の第１段目の演算増幅器４−１へフィード
バックさせる。８はアナログスイッチであって繰返し信
号周期の無信号時の成る期間に無信号時のタイミング信
号を受け、増幅Ｎ％ ４の第１段目の演算増幅器４−１
の一方の入力端子をす／ゾルホールド回路７′側から接
地１１Ｑへの切換えを行なう。９はインバータを表わし
ている。
プルホールド回路７は繰返し信号周期の無信号時の成る
期間に増幅器４の出力の一部をサンプルホールドし、そ
のサンプルホールドされた電圧を適宜減衰させた後、そ
れを壇幅鮨４の第１段目の演算増幅器４−１へフィード
バックさせる。８はアナログスイッチであって繰返し信
号周期の無信号時の成る期間に無信号時のタイミング信
号を受け、増幅Ｎ％ ４の第１段目の演算増幅器４−１
の一方の入力端子をす／ゾルホールド回路７′側から接
地１１Ｑへの切換えを行なう。９はインバータを表わし
ている。
繰返し信号周期の無信号時にサンプルホールド回路７及
びアナログスイッチ８へ入力される無信号時のタイミン
グ信号は次の、【うにして得られる。
びアナログスイッチ８へ入力される無信号時のタイミン
グ信号は次の、【うにして得られる。
例えば光パルス試験装置、すなわち被測定光ファイバに
光パルスを入射し、被測定光７アイノ々内の障害点から
入射端方向へ戻ってくる反射光を受光鼎で受（ｉＮし、
入射パルスと反射光との時間差から障害点までの位置を
測定する光パルス試験装置に治っては、＠６図図示の回
路構成から第５ ［Ｚ （ｍ）に示され゛る無信号時の
タイミング信号のノンルスが発生する。
光パルスを入射し、被測定光７アイノ々内の障害点から
入射端方向へ戻ってくる反射光を受光鼎で受（ｉＮし、
入射パルスと反射光との時間差から障害点までの位置を
測定する光パルス試験装置に治っては、＠６図図示の回
路構成から第５ ［Ｚ （ｍ）に示され゛る無信号時の
タイミング信号のノンルスが発生する。
第６−において、ノセルス発生詣１０から発生したノぞ
ルスは第５ ［１（Ｉｎ）の無信号時のタイミング信号
として取出されると共に、遅延回路１１で所定０時間遅
延されｙｃ ｖｋｓ光パルス発生器１２に入力す６ａ該
先光パルス生器１２に入力したノぞルス発生四１０から
のパルスにふって第５図（ｎ） ＩＺ）光・ぞルスが発
生する。該光、ｅルスは光方向性結合相１３及び光コネ
クタ１４を介して被測定光ファイバ１５に入射される。
ルスは第５ ［１（Ｉｎ）の無信号時のタイミング信号
として取出されると共に、遅延回路１１で所定０時間遅
延されｙｃ ｖｋｓ光パルス発生器１２に入力す６ａ該
先光パルス生器１２に入力したノぞルス発生四１０から
のパルスにふって第５図（ｎ） ＩＺ）光・ぞルスが発
生する。該光、ｅルスは光方向性結合相１３及び光コネ
クタ１４を介して被測定光ファイバ１５に入射される。
被測定光ファイバ１５内から入射端方向へ戻ってく＾７
フレネル射或いは後方散乱光の反射光は再び光コネクタ
１４．光方向性結合相１３を介して受光増幅装置１６に
入力し、ここで電気１６号に変換され増幅される。そし
て対数変換訴１７で上記被測定光ファイバ１５円から入
射端方向へ戻ってきた反射光の電気（８号は対数変換処
理を受け、第５図（１）に示されたような波形が表示装
置１６に表示される。
フレネル射或いは後方散乱光の反射光は再び光コネクタ
１４．光方向性結合相１３を介して受光増幅装置１６に
入力し、ここで電気１６号に変換され増幅される。そし
て対数変換訴１７で上記被測定光ファイバ１５円から入
射端方向へ戻ってきた反射光の電気（８号は対数変換処
理を受け、第５図（１）に示されたような波形が表示装
置１６に表示される。
第５図（１）において、 Ａ１ ＊ Ａ！は被測定光フ
ァイバ１５の入射端面からのフレネル反射であり１ Ｂ
ｏ ０Ｂ、は被測定光ファイバ１５の出射端面（破断面
）からのフレネル反射を示してい小。そしてＢｏとＡｉ
との間及びＢ、と人、との間は被測定光ファイバ１５内
からの反射光が存在しない期間、すなわち無信号時でめ
ジ、同図（ＩＩＩ）の無イ６号時のタイミング信号のノ
ぞルスはこの期間の中に存在する（また遅延回路９にエ
リこの期間の中に存在さ・ぼることが必ずできる）。
ァイバ１５の入射端面からのフレネル反射であり１ Ｂ
ｏ ０Ｂ、は被測定光ファイバ１５の出射端面（破断面
）からのフレネル反射を示してい小。そしてＢｏとＡｉ
との間及びＢ、と人、との間は被測定光ファイバ１５内
からの反射光が存在しない期間、すなわち無信号時でめ
ジ、同図（ＩＩＩ）の無イ６号時のタイミング信号のノ
ぞルスはこの期間の中に存在する（また遅延回路９にエ
リこの期間の中に存在さ・ぼることが必ずできる）。
この工うにして得られる繰返し信号周期Ｃ無信号時のタ
イミング信号が第４図図示のサンプルホールド回路７及
びインバータ９を介してアナログスイッチ８に到来（ア
ナログスイッチ８には第５図（ｆ’／）の信号、サンプ
ルホールド回路７には第５図（ＩＩＩ）の信号）すると
、アナログスイッチ８は従来の演算増幅器４−１の一方
の入力端子とサンプルホールド回路７との接続を解き、
演算増幅器４−１の当該一方の入力端子を接地させる。
イミング信号が第４図図示のサンプルホールド回路７及
びインバータ９を介してアナログスイッチ８に到来（ア
ナログスイッチ８には第５図（ｆ’／）の信号、サンプ
ルホールド回路７には第５図（ＩＩＩ）の信号）すると
、アナログスイッチ８は従来の演算増幅器４−１の一方
の入力端子とサンプルホールド回路７との接続を解き、
演算増幅器４−１の当該一方の入力端子を接地させる。
一方サンプルホールド回路７は、ＡＰＤ２に光が入射し
ていない無信号時における、すなわち人ＰＤ２の暗電流
が流れているときｖ１！号を増幅器４で増幅し１かつア
ースを基準にしたときの各演算増幅器４−１ないし４−
７のオフセット電圧を増幅した増幅器４０出力の一部を
サンプルホールドする。
ていない無信号時における、すなわち人ＰＤ２の暗電流
が流れているときｖ１！号を増幅器４で増幅し１かつア
ースを基準にしたときの各演算増幅器４−１ないし４−
７のオフセット電圧を増幅した増幅器４０出力の一部を
サンプルホールドする。
そして第５図（ＩＩＩ）に示される無信号時のタイミン
グ信号のパルスが無くなると、アナログスイッチ８は演
算増幅器４−１の一方の入力端子とサンプルホールド回
路７とが次の無信号時のタイミング信号の到来まで接続
するように働くから、当該サンゾルボールド回路７でサ
ンプルホールドされた上記増幅器４の出力の一部は適宜
減衰された後。
グ信号のパルスが無くなると、アナログスイッチ８は演
算増幅器４−１の一方の入力端子とサンプルホールド回
路７とが次の無信号時のタイミング信号の到来まで接続
するように働くから、当該サンゾルボールド回路７でサ
ンプルホールドされた上記増幅器４の出力の一部は適宜
減衰された後。
アナログスイッチ８を介して増幅器４の＠１段目の演算
増幅器４−１へフィードバックされ、６゜従がってこの
フィードバックが掛かると増幅１１４ｑ）オフセット電
圧は零となる。このような状態の下で次の繰返しイＪ号
周期が始まると、その時のその温度における人ＰＤ２の
暗電流と増幅器４ｆｔ構成している各演算増幅器４−１
ないし４−Ｈのオフセットとを打消すように増幅器４に
対しフィードバックが掛っているので、誤差分は除去さ
れており、増幅器４からの出力は精度の高いものとなる
。
増幅器４−１へフィードバックされ、６゜従がってこの
フィードバックが掛かると増幅１１４ｑ）オフセット電
圧は零となる。このような状態の下で次の繰返しイＪ号
周期が始まると、その時のその温度における人ＰＤ２の
暗電流と増幅器４ｆｔ構成している各演算増幅器４−１
ないし４−Ｈのオフセットとを打消すように増幅器４に
対しフィードバックが掛っているので、誤差分は除去さ
れており、増幅器４からの出力は精度の高いものとなる
。
そしてこの繰返し信号周期の無イｄ号時に次の繰返し信
号にそなえて、サンゾルホールド回路７は上記説明の如
く無信号時のタイミングイば号到来時にサンプルホール
ドし、増幅器４の第１段目の演詩。
号にそなえて、サンゾルホールド回路７は上記説明の如
く無信号時のタイミングイば号到来時にサンプルホール
ドし、増幅器４の第１段目の演詩。
増＠器４−ＩＫ対するフィードバックＪ政をセットしな
おす。かくして、例えば時間の経過、或いは温度の変化
にエリ、ＡＰＤ２の暗電流や増幅器４の各演算増幅器４
−１ないし４−Ｎのオフセットが変化しても、ＡＰＤ２
へ入射される繰返し信号周期の無信号時毎にフイードパ
ヅク量がセットされなおされるので、常に精度の高い光
電変換信号が得られることになる。
おす。かくして、例えば時間の経過、或いは温度の変化
にエリ、ＡＰＤ２の暗電流や増幅器４の各演算増幅器４
−１ないし４−Ｎのオフセットが変化しても、ＡＰＤ２
へ入射される繰返し信号周期の無信号時毎にフイードパ
ヅク量がセットされなおされるので、常に精度の高い光
電変換信号が得られることになる。
上記の説明では光パルス試験装置について主に説明され
ているが、これに限定されるものではなく、繰返しイｇ
号周期に無信号時が存在する光信号ＩＩ：電気イぎ号に
変換し増幅する装置すべてについて適用される。
ているが、これに限定されるものではなく、繰返しイｇ
号周期に無信号時が存在する光信号ＩＩ：電気イぎ号に
変換し増幅する装置すべてについて適用される。
また上記説明中の増幅器４に代え１段ｉ／）演算増幅器
の場合についても適用さノすることは言うまでもない。
の場合についても適用さノすることは言うまでもない。
そして繰返し信号周期の無イコ号時における増幅？９ｒ
４の出力に高周波の雑音が含まれている場合は、サンプ
ルホールド回路７の直前にローパスフィルタを挿入し、
高周波成分を除去したうえでサンプルホールドすれば１
．Ｘ：ｖよい結果が得られる。
４の出力に高周波の雑音が含まれている場合は、サンプ
ルホールド回路７の直前にローパスフィルタを挿入し、
高周波成分を除去したうえでサンプルホールドすれば１
．Ｘ：ｖよい結果が得られる。
以上説明した如く、本発明によれば、繰返し信号周期の
無信号時に無信号時のタイミング信号を作ｐ１該無信号
時のタイミング信号でアナログスイッチ及びサンプルホ
ールド回路を作動させ、増幅器ヘフィードバックを掛け
ると゛いう簡単な回路を附加するだけで受光増幅装置の
温度ドリフトを容易に補償することができろ。またアバ
ランシェ７オトダイオードの暗電流の温度変化と、増幅
器′（ｆ−構成−ｊる演算増１１９に器の各温度ドリフ
トと金一体内にとらえ、繰返し信号周期の無信号時毎に
フィードバックｆｌｌヲセットしなおＴ１うにしている
ので、即座に受光増幅装置のドリフト分を補償すること
ができ、時間の短縮化が可能となる。
無信号時に無信号時のタイミング信号を作ｐ１該無信号
時のタイミング信号でアナログスイッチ及びサンプルホ
ールド回路を作動させ、増幅器ヘフィードバックを掛け
ると゛いう簡単な回路を附加するだけで受光増幅装置の
温度ドリフトを容易に補償することができろ。またアバ
ランシェ７オトダイオードの暗電流の温度変化と、増幅
器′（ｆ−構成−ｊる演算増１１９に器の各温度ドリフ
トと金一体内にとらえ、繰返し信号周期の無信号時毎に
フィードバックｆｌｌヲセットしなおＴ１うにしている
ので、即座に受光増幅装置のドリフト分を補償すること
ができ、時間の短縮化が可能となる。
第１図は従来の受光増幅装置の一構成例、第２図はアバ
ランシェフォトダイオードのゲイン−逆電圧特性、第３
図はアバレンジエフオドダイオードの暗電流−逆電圧特
性、弔４図は本発明に係る受光増幅装置の温度袖’Ｉｎ
回路の一実施例構成、第５図は無信号１１１のタイミン
グ（ｆ１号と対数変換処理が行なわれた受光反射光との
タイミングを説明しているタイムチャート、第６図は第
５１に示された無信号時のタイミング信号を得る回路の
一実施例が示されているプしパルス試験装置の概略構成
をＪ−れそｎ示してい／−ゎ 鳴中、１はバイアス回路、２はアノクランシェフオドダ
イオード、３．６は抵抗、４は増幅器、４’−１ないし
４−Ｎは演算増幅器、５はコンデンサ、７はサンプルホ
ールド回路、８はアナログスイッチ、９はインバータ、
１０はパルス発生器、ｉｌは遅延回路、１２は光パルス
発生器、１３は光方向性結合器、１４は光コネクタ、１
５は被測定光ファイノ々、１６は受光増幅回路、１７は
対数変換器・、１８は表示装置イをそれぞれ表わしてい
る。 特許出願人 安豆電気株式会社 第１図 第４ 図 （ＩＶ）
ランシェフォトダイオードのゲイン−逆電圧特性、第３
図はアバレンジエフオドダイオードの暗電流−逆電圧特
性、弔４図は本発明に係る受光増幅装置の温度袖’Ｉｎ
回路の一実施例構成、第５図は無信号１１１のタイミン
グ（ｆ１号と対数変換処理が行なわれた受光反射光との
タイミングを説明しているタイムチャート、第６図は第
５１に示された無信号時のタイミング信号を得る回路の
一実施例が示されているプしパルス試験装置の概略構成
をＪ−れそｎ示してい／−ゎ 鳴中、１はバイアス回路、２はアノクランシェフオドダ
イオード、３．６は抵抗、４は増幅器、４’−１ないし
４−Ｎは演算増幅器、５はコンデンサ、７はサンプルホ
ールド回路、８はアナログスイッチ、９はインバータ、
１０はパルス発生器、ｉｌは遅延回路、１２は光パルス
発生器、１３は光方向性結合器、１４は光コネクタ、１
５は被測定光ファイノ々、１６は受光増幅回路、１７は
対数変換器・、１８は表示装置イをそれぞれ表わしてい
る。 特許出願人 安豆電気株式会社 第１図 第４ 図 （ＩＶ）
Claims (1)
- 繰返し入射する光信号を’１ｇ、気信号に変換する光電
変換部と、この光電変換された電気信号を増幅する演算
増幅器とを備えた受光増幅装［ｆｆｉの温度補償回路に
おいて：繰返し信号周期の無信号時の期間内に演算増幅
器の一方の入力端子を接地した状態の下で増幅器の出力
信号を取出し、それをサンプルボールドし次の繰返し信
号周期の（ｉ９時に当該演算増幅器にフィードバックさ
せるサンプルホールド回路と；上記繰返し信号周期の無
信号時の期間内に当該演算増幅器の上記一方の入力端子
を接地Ｊ１すに切換えると共に、次の繰返し信号周期の
信号時に上記サンプルホールド回路の出力信号を当該演
算増幅器の上記一方の入力端子に入力する工うに切換え
るスイッチ手段と金設け、上記光電変換部の暗電流と増
幅器との温度ドリフトを同時に温度補１１゛（する工う
にしたことを特徴とする受光増幅装置の温度補償回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57133305A JPS5923906A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 受光増幅装置の温度補償回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57133305A JPS5923906A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 受光増幅装置の温度補償回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5923906A true JPS5923906A (ja) | 1984-02-07 |
Family
ID=15101554
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57133305A Pending JPS5923906A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 受光増幅装置の温度補償回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5923906A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS613650A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-09 | Fujikura Ltd | 浸漬被覆形成方法、およびその装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5734610B2 (ja) * | 1973-04-04 | 1982-07-23 |
-
1982
- 1982-07-30 JP JP57133305A patent/JPS5923906A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5734610B2 (ja) * | 1973-04-04 | 1982-07-23 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS613650A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-09 | Fujikura Ltd | 浸漬被覆形成方法、およびその装置 |
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