JPS5923259A - アツテネ−タ保護チツプ - Google Patents
アツテネ−タ保護チツプInfo
- Publication number
- JPS5923259A JPS5923259A JP13197282A JP13197282A JPS5923259A JP S5923259 A JPS5923259 A JP S5923259A JP 13197282 A JP13197282 A JP 13197282A JP 13197282 A JP13197282 A JP 13197282A JP S5923259 A JPS5923259 A JP S5923259A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- attenuator
- pin
- chip
- protecting chip
- bottle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置の特性測定を行なう除用いるアッテ
ネータの先端部を保護するアッテネータ保護チップに関
する。
ネータの先端部を保護するアッテネータ保護チップに関
する。
半導体装置のスイッチングタイム測定をする際には、測
定機の端末部として、第１図に示すように、アッテネー
タ本体１の先端に細いビン２を有する構造のアッテネー
タ３が広く使用されている。
定機の端末部として、第１図に示すように、アッテネー
タ本体１の先端に細いビン２を有する構造のアッテネー
タ３が広く使用されている。
アッテネータ３は１テストｉり数本を必要とする為、生
産工場等に於いては、使用本数は数十本と多量に使用し
ている。そして、人員に使用する測定具としては、細い
ビン２が破損し易いことから使用寿命が著しく短い欠点
がある。寿命が短くても、単価が安ければよいのだが、
単価も数万円と大変高価ガ為に、アッテネータ３の使用
寿命の延長を図る必要は強く重重れている。そこで高価
なアッテネータ３の使用寿命の延長を図υ安定した測定
を行える様にする為に本発明は考え出された。
産工場等に於いては、使用本数は数十本と多量に使用し
ている。そして、人員に使用する測定具としては、細い
ビン２が破損し易いことから使用寿命が著しく短い欠点
がある。寿命が短くても、単価が安ければよいのだが、
単価も数万円と大変高価ガ為に、アッテネータ３の使用
寿命の延長を図る必要は強く重重れている。そこで高価
なアッテネータ３の使用寿命の延長を図υ安定した測定
を行える様にする為に本発明は考え出された。
本来アッテネータ３は、テスト治具に接続して使用して
いることから、測定する半導体装置等の品種の変化に伴
なうテスト治具の交換によって、テスト治具から抜き取
られ、切り変えする新たなテスト治具へ刺通まれて使用
されるようになっている。
いることから、測定する半導体装置等の品種の変化に伴
なうテスト治具の交換によって、テスト治具から抜き取
られ、切り変えする新たなテスト治具へ刺通まれて使用
されるようになっている。
一方、アッテネータ３の先端のビン２は曲ケ等の外力に
大変弱い為、この様に測定品種切り替えごとに抜き刺し
ているとどうしても先端のピン２は折れ、アッテネータ
本体１に異常が無いにもかかわらず使用出来なくなって
しまい、新品のアッテネータと交換しなくてはならなか
った。アッテネータ３を抜き刺しせずにすむテスト治具
の共通化は技術的に困難である。
大変弱い為、この様に測定品種切り替えごとに抜き刺し
ているとどうしても先端のピン２は折れ、アッテネータ
本体１に異常が無いにもかかわらず使用出来なくなって
しまい、新品のアッテネータと交換しなくてはならなか
った。アッテネータ３を抜き刺しせずにすむテスト治具
の共通化は技術的に困難である。
そこで１本発明者は、アッテネータのピン部へ同形の安
価な保護チップを被せることにより破損のピン対象を保
護チップビンへ移し、破損時の交換費用を安価にすませ
ることができることに気が付き本発明を成した。
価な保護チップを被せることにより破損のピン対象を保
護チップビンへ移し、破損時の交換費用を安価にすませ
ることができることに気が付き本発明を成した。
したがって、本発明の目的はアッテネータのビンを保護
するとともに、測定コストの低減化が図れるアッテネー
タ保護チップを提供することにある。
するとともに、測定コストの低減化が図れるアッテネー
タ保護チップを提供することにある。
以下、実施例によυ本発明を説明する。
第２図はアッテネータと本発明の一実施例によるアッテ
ネータ保護チップとを示す一部を断面とした説明図であ
る。
ネータ保護チップとを示す一部を断面とした説明図であ
る。
アッテネータ３は、円柱状のアッテネータ本体１と、こ
の先端に同軸的に設けられる細いビン２と、かもなって
いる。また、ビン２を設けたアッテネータ本体１の先端
部分は小径部４を形作るとともに、この小径部４と大径
のアッテネータ本体１の中央部とはテーバ部で繋ってい
る。また、テーパ部に臨むアッテネータ本体１の中央外
周部分には雄ねじ５が設けられている。
の先端に同軸的に設けられる細いビン２と、かもなって
いる。また、ビン２を設けたアッテネータ本体１の先端
部分は小径部４を形作るとともに、この小径部４と大径
のアッテネータ本体１の中央部とはテーバ部で繋ってい
る。また、テーパ部に臨むアッテネータ本体１の中央外
周部分には雄ねじ５が設けられている。
一方、アッテネータ保護チップ（保護チップ）６ ｔ／
：ｌ、円筒状の固定リング７と、この固定リング７の一
端に嵌合されるガイド８と、このガイド８内に接合体９
を介しで取シ伺けられる導電性のピン１０と、からなっ
ている。ピン１ｏは固定リング７およびガイド８とから
なるチップ本体１１の先端から突出し、測定用の図示し
ないテスト治具に挿嵌されるようになっている。−まだ
、ガイド８の固定リンク゛７内に位置する内端は円筒状
の嵌合部１２を形作り、との嵌合部１２内にアッテネー
タ３の小径部４を着脱自在に挿入できるようになってい
る。そして、このアッテネータの挿入時には、アッテネ
ータ３の先端のビン２ｄ、保護チップ６のビン１０の内
端に嵌合するようになっている。ビン１０の内端（後端
）はスリット１３が設けられ、アッテネータ３のピン２
の挿入に際しては弾力的に拡開してアッテネータ３のピ
ン２を受は入れるようになり、電気的に接続される。こ
の際、両ピン２．１０の接続は測定誤差を発生させるよ
うなこともなく、またアッテネータへ送られてくる信号
に対しても影響を与えることはない。さらに、固定リン
グ７の他端内周部には雌ねじ１４が設けられ、アッテネ
ータ３の雄ねじ５に螺合するようになっている。
：ｌ、円筒状の固定リング７と、この固定リング７の一
端に嵌合されるガイド８と、このガイド８内に接合体９
を介しで取シ伺けられる導電性のピン１０と、からなっ
ている。ピン１ｏは固定リング７およびガイド８とから
なるチップ本体１１の先端から突出し、測定用の図示し
ないテスト治具に挿嵌されるようになっている。−まだ
、ガイド８の固定リンク゛７内に位置する内端は円筒状
の嵌合部１２を形作り、との嵌合部１２内にアッテネー
タ３の小径部４を着脱自在に挿入できるようになってい
る。そして、このアッテネータの挿入時には、アッテネ
ータ３の先端のビン２ｄ、保護チップ６のビン１０の内
端に嵌合するようになっている。ビン１０の内端（後端
）はスリット１３が設けられ、アッテネータ３のピン２
の挿入に際しては弾力的に拡開してアッテネータ３のピ
ン２を受は入れるようになり、電気的に接続される。こ
の際、両ピン２．１０の接続は測定誤差を発生させるよ
うなこともなく、またアッテネータへ送られてくる信号
に対しても影響を与えることはない。さらに、固定リン
グ７の他端内周部には雌ねじ１４が設けられ、アッテネ
ータ３の雄ねじ５に螺合するようになっている。
したがって、アッテネータ３の先端部にこの実施例の保
護チップ６を挿入かつ螺合することによって、アッテネ
ータ３のビン２を保護しつつ取り付けられる。保護チッ
プ６のビン１０はアッテネータ３のピン２と導通状態に
あることから、保護チップ６のピン１０をテスト治具に
挿し込み、所定の半導体装ｒのスイッチングタイム等の
特性検査を行なう。
護チップ６を挿入かつ螺合することによって、アッテネ
ータ３のビン２を保護しつつ取り付けられる。保護チッ
プ６のビン１０はアッテネータ３のピン２と導通状態に
あることから、保護チップ６のピン１０をテスト治具に
挿し込み、所定の半導体装ｒのスイッチングタイム等の
特性検査を行なう。
保護チップ６はアッテネータ３に比較してそのコストが
１／４程度である。このだめ、保護チップ６のピン１０
の破損による交換コストはアッテネータ３のビン２の破
損による交換コストの１／４となる。アッテネータ３の
ピン２は保護チップ６によって被われて保護されている
ことから、破損することはなく、テスト治具への挿脱時
の破損は保護チップ６のピン１０の破損のみとなる。し
たがって、本発明の保護チップ６を用いることにより、
測定精度に影響を与えることなく、かつ測定コストの低
減化が図れる。
１／４程度である。このだめ、保護チップ６のピン１０
の破損による交換コストはアッテネータ３のビン２の破
損による交換コストの１／４となる。アッテネータ３の
ピン２は保護チップ６によって被われて保護されている
ことから、破損することはなく、テスト治具への挿脱時
の破損は保護チップ６のピン１０の破損のみとなる。し
たがって、本発明の保護チップ６を用いることにより、
測定精度に影響を与えることなく、かつ測定コストの低
減化が図れる。
第１図はアッテネータを示す正面図、
第２図はアッテネータと本発明の一実施例によるアッテ
ネータ保護チップとを示す一部を断面とした説明図であ
る。 １・・・アッテネータ本体、２・・・ビン、３・・・ア
ッテネータ、６・・・保護チップ、７・・・固定リング
、８・・・ガイド、１０・・・ピン、１１・・・チップ
本体。
ネータ保護チップとを示す一部を断面とした説明図であ
る。 １・・・アッテネータ本体、２・・・ビン、３・・・ア
ッテネータ、６・・・保護チップ、７・・・固定リング
、８・・・ガイド、１０・・・ピン、１１・・・チップ
本体。
Claims (1)
- １、アッテネータ本体の先端に細いビンを有するアッテ
ネータの保護チップであって、この保護チップはチップ
本体の先端に前記アッテネータのビンど略同−形状の導
電性のビンを有するとともに、後端にはアッテネータ本
体の先端部を挿入する挿入孔を有し、かつ挿入孔へのア
ッテネータの挿嵌状態では保膿チップのビンとアッテネ
ータのビンとは電気的に接続されるように構成されるこ
とを特徴とするアッテネータ保護チップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13197282A JPS5923259A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | アツテネ−タ保護チツプ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13197282A JPS5923259A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | アツテネ−タ保護チツプ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5923259A true JPS5923259A (ja) | 1984-02-06 |
Family
ID=15070528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13197282A Pending JPS5923259A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | アツテネ−タ保護チツプ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5923259A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017173324A (ja) * | 2016-03-18 | 2017-09-28 | テクトロニクス・インコーポレイテッドＴｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ． | フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ及びケーブル |
-
1982
- 1982-07-30 JP JP13197282A patent/JPS5923259A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017173324A (ja) * | 2016-03-18 | 2017-09-28 | テクトロニクス・インコーポレイテッドＴｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ． | フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ及びケーブル |
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