JPS5922906B2 - レ−ザ速度測定装置 - Google Patents

レ−ザ速度測定装置

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JPS5922906B2
JPS5922906B2 JP15087777A JP15087777A JPS5922906B2 JP S5922906 B2 JPS5922906 B2 JP S5922906B2 JP 15087777 A JP15087777 A JP 15087777A JP 15087777 A JP15087777 A JP 15087777A JP S5922906 B2 JPS5922906 B2 JP S5922906B2
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JP
Japan
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light
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laser
optical axis
measuring device
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JP15087777A
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JPS5483485A (en
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誠 菊池
「みち」男 大道
賢司 城下
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/50Systems of measurement based on relative movement of target
    • G01S17/58Velocity or trajectory determination systems; Sense-of-movement determination systems

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、鉄鋼、非鉄工業等における各種鋼板および
鋼管、ステンレス板およびステンレス管、アルミ板およ
びアルミ管、銅板および銅管等の製造ラインで必要とさ
れている非接触でかつ高精度なレーザ速度測定装置に関
するものである。
従来、上記の各製造ラインにおける被測定物の速度は接
触式のメジヤリング、ローラによつて測定されている。
この方式は、0。1%以上の測定精度が得られる高精度
なものであるが、接触式であるため、ラインが高速にな
るとスリップ誤差を生ずるローラの摩耗による誤差を生
ずる高温雰囲気で使用不可等の問題がある。
この問題点を解決する手段として、レーザ光の回折現象
で被測定物面上で生ずるスペツクル・パターン(SPe
CktPattern)を空間フイルタ一(一定のピツ
チをもつ格子状スリツト等)で処理することによつて、
被測定物の速度に比例した周波数を測定し、上記の速度
を測定する非接触のレーザ速度計が開発されている。こ
の方式により、スリツプによる誤差、摩耗による誤差は
解決できたが、上記スペツクルパターンがランダムな粒
状をもつために、信号の信号対雑音比S/NおよびQ値
は必ずしも良好とはいえず、特に被測定物の低速度領域
で測定精度が低下し、メジヤリング・ロール相当の精度
を出すには、かなり高度な技術が必要とされる状況にあ
る。一方、レーザ光のコヒーレンシイを利用したドプラ
一効果により、気体、液体中の粒子の運動等を非接触で
高精度に測定する方式が開発され製品も市販されており
、各研究機関等で利用されている。この方式は、イ非接
触である、口絶対測定で直線性がよい、八応答が速い、
二測定対象が局部的で空間分解能が高い、ホ速度の測定
範囲が大きく、特に低速度域で有利である、等の特長を
もつている。ところが、この方式を土述した各種製造ラ
インにおける鋼板等の速度測定に適用しようとすると、
一般にライン変動(鋼板等の位置変動)が±5mI〜±
50m11と大きいため、この方式の大きな特徴の一つ
であつた空間分解能が高いことにより、大きな測定誤差
を生ずるか、あるいは測定不能になる難点があり、その
用途は気体、液体中の粒子の運動測定等に限定されてい
た。そこで、この発明では上述したライン変動の影響を
受けにくいドプラ一効果による高精度なレーザ速度測定
装置を提供するものである。以下、図面によりこの発明
について説明する。
第1図は従来のドプラ一効果を用いたレーザ速度測定装
置のうち、最も優れた方式であるフリンジ゜モード(F
ringeMOde)の慨略構成図を示したものである
。図において、1はレーザ発振器、2は半透鏡、3は全
反射鏡、4は集束用レンズ、5は被測定物、6は受光用
レンズ、7は光検知器、8は信号処理部、Rは参照光、
Sは試料光である。レーザ発振器1からのレーザ・ビー
ムを半透鏡2で2本の平行光、すなわち参照光(以下R
光という)と試料光(以下S光という)に分割し、集束
用レンズ4で上記2本のビームを交叉岱せると、この交
叉部にフリンジ(Fringe)が生じ、被測定物5(
粒子、鋼板等)がこのフリンジを通過する場合に、被測
定物5がフリンジの明部にあれば散乱光が強く、フリン
ジの暗部にあれば散乱光は弱い。受光用レンズ6および
光検知器Tはこの散乱光を集めて元電変換を行う。今、
簡単化のために、被測定物5は速度vで上記フリンジに
垂直に運動しているとすると、散乱光の強さの単位時間
当りの変化Fdは、gをフリンジの間隔としてが得られ
る。
一方、レーザビームの交叉角をθ、レーザ光の波長をλ
とすれば2本ビームの等傾角の干渉から、gは次式で与
えられる。
(1),(2)式から光検知器rの出力信号Fdは次の
ように表わきれる。
ここで、λ=0.6328μm(He−Neガスレーザ
)、θ=1(5),v−6m/分の数値を(3)式に代
入するとの周波数となり、数m/分の低速度域において
も、十分な精度で周波数処理ができ、高精度な速度測定
が可能であることが判る。
第2図は、第1図におけるビームの交叉部分を拡大し、
交叉部分の幾何学的な寸法を算出するための図である。
この図でが成り立つ。ここにDnl:ビームの最小径(
レンズ焦点におけるビーム径)f:レンズの焦点距離 △θ:ビームの集束角 Db:レーザ・ビームの径 である。
ここで、Db=1mm1λ=0.6328μMlf二3
00mm1θ二16)として(4),(6)蟹7),(
8)式を数値計算すると、が得られる。
つまり、幅0J7mm1高さ0.17mm1長さ1.9
6mmという非常に小さな交叉部分にのみフリンジが生
じ、この部分からの散乱光のみが有.効な信号であるこ
とが判る。従つて、気体、液体等における層流測定等に
おいて空間的な分解能を高める必要がある分野において
は有効であるが、前述したライン変動がある鋼板等の速
度測定には、このままでは適用できない。第3図はこの
発明の一実施例の概略構成図を示したもので、9はビー
ム拡大器、10は全反射鏡、11は半透鏡、12は半透
鏡である。
ビーム拡大器9は、例えば倍率nの逆望遠鏡であシ、レ
ーザ発振器1からのレーザビーム径DbをNDbO革の
平行光とする。全反射鏡10は、SyGの光軸を(9♂
−θ)の角度で半透鏡12へ送る機能をもつている。半
透鏡11はR光を半透鏡12へ送るとともに、被測定面
で散乱されて半透鏡12で集められた散乱光を受光用レ
ンズ6へ送る。この発明においては、R光とSyf.と
が互いにθの交叉角で半透鏡12であらかじめ重なりあ
つて被測定物5に照射?れることが大きな特長である。
ここで、上記のθ ,NDbは半透鏡12と被測定物5
間の距離tと、被測定物5面上におけるR光とS光の重
なりの許容ずれ量から最適値を選定できるようになつて
いる。この方式における光検知器rの出力周波数Fd′
は、前記(1),(3)式と同様に表わされる。θ また、Dnl,wnl,hnl,tnlに相当するパラ
メータは夫々下記で近似される。
ここで、θ二F,λ二0。
6328μM,v=6mZトDb=1mm,n=10と
して、(9)式〜(自)式を数値計算すると、が得られ
、ドプラ一周波数は小さくなるが、tが大きくなり、ラ
イン変動に対して強い方式が実現できることが判る。
Fdn小さくなつたといえ、KHzオーダの周波数であ
るので、信号処理部8における周波数処理過程で精度を
低下させる要因にはならない。さらに、全反射鏡10の
中心と半透鏡12の中心間の距離をT。
として、被測定面上におけるR光とS光の重なりのずれ
量を算出してみる。第3図の座標系でS光の被測定物面
上におけるビーム径の中心位置は、と表わされる。
ここで、TO=50m7!1,t二30011m,θ=
1とすると、Z=350×Tanlミ6.177!MR
光のビーム径の中心位置をZ:Oに置いているから、第
4図の斜線で示した部分がR光とS光の交叉部分で、こ
れがx方向に約800mmの範囲に渡つて存在するため
、フリンジを発生する有効領域が第1図に示した系と比
較して格段に向上したことになる。
なお第4図においてS,Rは夫々S光,Ryf:.のス
ポットを示す。第5図はこの発明の他の実施例の概略構
成図を示したもので、13は中央部に所要の大きさの光
学的な透明部分をもち、他は全反射面をもつ半透鏡であ
る。
この系においては、被測定物5からの散乱光に対して上
記半透鏡13の光学的な透明部分が有効な開口径として
作用する。ここで述べているフリンジ、モードによる方
式ではレーザビームの断面における強度分布が一般にガ
ウス分布をとるため、2本のビームを交叉させた場合に
生ずるフリンジについても強度分布が生じ、交叉部分全
てからの散乱光を受光すると信号のS/Nが低下するこ
とが知られている。従つて、上記の有効開口径(半透鏡
13の光学的透明部分)はこのS/Nを維持するために
所要の受光立体角αを選定すること、また、第4図で示
したR光とS光の被測定物5面上における重なりのずれ
量に対して生ずるビーム交叉部分の最も有効な部分を受
光して信号強度並びに信号のS/Nを維持するための受
光光軸並びに受光立体角を選定する作用をもつている。
以上の説明から明らかなように、この発明によれば、従
来の方式に2枚の鏡を追加するだけで、従来困難視され
ていた、ライン変動の大きい鋼板等の速度を、非接触で
かつ高精度に測定することが可能とな)、同時に需要の
多いこれらラインにおける長さ計としても実用できるこ
とになり、その効果は極めて大きいと考えられる。
この発明の実施例については、R光の光軸とS光の光軸
の相対角度θを、S光側の全反射鏡10で可変設定する
としたが、これは、R光側の半透鏡11または13でし
ても良いし、またS′f:.路、R光路の所要の鏡の角
度の組合わせでθを設定してもよい。
また、散乱光の受光系をS光側に置いた例について説明
したが、この受九系をR)F.側に置いてもよいことは
もちろんである。愼らに、受光する散乱光として、鋼板
等の測定を重視しているために後方散乱光を対象とした
実施例について説明したが、前方散乱光を対象とした方
式もこの発明の請求範囲を逸脱するものではない。又こ
の発明は速度を時間積分して長さを測定する長さ計にも
適用できることは言うまでもない。
図面の簡申な説明 第1図は従来のドプラ一効果(フリンジ・モード)を用
いたレーザ速度計の概略構成図、第2図は第1図のビー
ム交叉部分を拡大した図、第3図はこの発明の一実施例
を示す概略構成図、第4図は第3図における被測定物面
上のR光とS光の重なりを示す図、第5図はこの発明の
他の一実施例を示す概略構成図である。
図において、1はレーザ発振器、2は半透鏡、3は全反
射鏡、4は集束用レンズ、5は被測定物、6は受光用レ
ンズ、7は光検知器、8は信号処理部、9はビーム拡大
器、10は全反射鏡、11は半透鏡、12ぱ半透鏡、1
3は半透鏡。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 コヒーレントな光を発するレーザ装置と、上記レー
    ザ装置からのレーザビームを平行かつ所要の倍率で拡大
    する手段と、前記手段により拡大された平行のレーザビ
    ームを参照光と試料光に分割する手段と、前記手段によ
    り分割された上記参照光と試料光の二つの平行光を半透
    鏡を用いて再び集合し、互いのビーム間に重なりをもた
    せるとともにその重なり領域が光軸方向に長くなるよう
    に外部へ照射する手段と、上記試料光の光軸と上記参照
    元の光軸の相対角度を所要の角度に設定する手段と、上
    記の重なり合つた参照光と試料光の二つの平行光とが被
    測定物で散乱されたときの散乱光を所要の開口径で受光
    する手段と、上記受光信号を光電変換する手段とを備え
    たことを特徴とするレーザ速度測定装置。 2 試料光の光軸を参照光の光軸に対して所要の角度だ
    け可変設定するようにしたことを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載のレーザ速度測定装置。 3 参照光の光軸を試料光の光軸に対して所要の角度だ
    け可変設定するようにしたことを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載のレーザ速度測定装置。 4 散乱光を受ける開口として上記参照光と試料光を集
    合し、互いのビームに所要の重なりをもたせて外部へ照
    射する半透鏡の有効径を用いることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載のレーザ速度測定装置。 5 散乱光を受ける開口として、上記の参照光と試料光
    を集合するために用いる全反射鏡の参照光側の全反射鏡
    または試料光側の全反射鏡で、所要の中央部分を光学的
    に透明にした有効径を用いることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載のレーザ速度測定装置。 6 散乱光の受光路を参照光側においたことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項〜第5項のいずれか記載のレー
    ザ速度測定装置。 7 散乱光の受光路を試料光側においたことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項〜第5項のいずれか記載のレー
    ザ速度測定装置。 8 上記の拡大されたレーザビーム径と、試料光の光軸
    と参照光の光軸間の角度と、被測定物面上の参照光と試
    料光の重なりのずれ量との間に、受信される信号の信号
    対雑音比S/NおよびQ値が最適値となる固有の関係を
    もたせたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    レーザ速度測定装置。
JP15087777A 1977-12-15 1977-12-15 レ−ザ速度測定装置 Expired JPS5922906B2 (ja)

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Publication Number Publication Date
JPS5483485A JPS5483485A (en) 1979-07-03
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