JPS59226884A - 移動対象物の速度及び／又は長さ測定方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、移動する対象物（以下、移動対象物と称する
）の速度及び／又は長さをドツプラーの原理に従って測
定する測定方法に関する。

また本発明は、この測定方法の実施に使用する測定装置
に関する。

移動対象物の速度及び／又は長さの非接触測定にはドツ
プラーの原理を利用することができる。移動対象物から
反射した電磁波に付与された周波数推移は対象物の速度
Ｖの目安となる。対象物の長さＳは速度Ｖを時間１につ
き積分することにより３　＝　ｆ　Ｖｄｔから導出する
ことができる。

かかる測定方法及び装置は公告されたヨーロッパ特許出
願第２１０４８号に開示されている。

この測定方法では、レーザから生じた光ビームから２対
の互に干渉しない部分的ビームを発生させ、これらビー
ムを測定すべき対象物上に投射する。関連するビーム対
が受けたドツプラー推移を測定することにより各ビーム
と共に一つの寸法における速度が決定される。（厳密に
言えば、速度情報は１対のビームの第１及び第２ビーム
のドツプラー推移の間の差から決定される）。測定すべ
き対象物の速度範囲により、ドツプラー周波数推移の位
置する周波数帯域の幅が決まる。測定可能な速度９Ｑ囲
が大きい場合、周波数推移を決定する信号処理装置は広
い帯域幅を有する必要がある。移動対象物の反射又は散
乱特性の変化のため、対象物から反射された信号には干
渉成分が生ずる。対象物の表面が微細（ファイン）構造
を有する場合、かかる成分は実際の信号の周波数帯域内
に含まれるおそれがあり、測定精度に悪影響を及ぼす。

この欠点をある程度除去Ｊるため信号処理装置の入力端
に狭帯域通過フィルタを設けることにより信号処理装置
の帯域幅を制限することは既に提閑されている。これに
よっては、゛　　制限された速度範囲しか測定できない
。広い速度範囲全体における測定を可能ならしめるため
、互に異なる中心周波数を有りる複数の帯域通過フィル
タで構成したフィルタ装置を使用することが既に提案さ
れている。その場合、発生した周波数推移に最も近い帯
域通過フィルタを作動させることにＪ、り依然どして狭
帯域濾波を行うことができる。

上述した既に提案された方法以外の方法では周波数トラ
ッキング装置（通常゛トラッカー″と呼ばれる〉が使用
され、かかる装置では検出器（ｇ号において生ずる極め
て広い周波数変化を追跡するよう信号処理装置を電子的
に調整している。

しかし従来のこれら２つの装置は、信号処理装置が複雑
であり、かつある種の用途に対する精度は所望されるも
のより遥に低いという欠点を有しＣいる。

本発明の目的は、移動対象物の速度及び／又は長さを正
確に決定することができ、かつ信号処理装置の４Ｍ造が
簡単になる移動対象物の速度及び／又は長さ測定方法を
提供するにある。

本発明の測定方法は、 （１）少なくとも一つの周波数推移されたか又は位相変
調された電磁波を得るため電磁波を調整可能な程度に予
備１１１移し、 （２）予備推移した電磁波を移動対象物に指向させ、 （３）移動対象物から反射された電磁波の予備推移を、
移動対象物の移動によって生ずるドツプラー推移と反対
方向において前記電磁波の予備推移に影響を及ぼすこと
により所定の固定周波数値に調整するか又はほぼ調整し
、（４）ドツプラー推移及び予備推移の間の差から移動
対象物の速度及σ／又は長さを決定することを特徴とす
る。

なお用詔″予備推移（ブレシフト：　ｐｒｅｓｌｌｉ−
ｒｔｉｎｇ　）　”には２つの意味がある。第１の意味
では用詔゛予備推移″は電磁波の周波数が１１１移され
ることを意味する。この予備推移の範囲は予備ＪｉＩ移
電磁電磁波生ずる予備推移手段によって決定する。予備
推移手段は、例えば、単位時間当りの回転数を調整でき
る回転位相格子を備える。

第２の意味では用語“予備推移″は電磁波の位相を直線
性、特にのこぎり波状態様で変化させることにより電磁
波の位相が変調されることを意味する。この予備推移の
範囲はのこぎり波の繰返周波数によって決まる。かかる
位相変調は電気−光学位相変調器によって実現すること
ができる。

本発明の測定方法では、対象物から反射されたか又は対
象物によって散乱された電磁波の周波数は一定であり、
従って不所望な雑音成分は単一の帯域通過フィルタによ
って抑圧される。対象物から反射されるか又は対象物に
よって散乱された電磁波の正味の周波数推移は、対象物
の速度に比例する値のドツプラー推移と、ドツプラー推
移の値に逆比例する予備推移周波数どの和に等しい。

本発明の測定方法は、予備推移された電磁波が、互に一
定の位相又は周波数関係にある２つの訓電磁波（サブ電
磁波）を含むようにすると好適である。

本発明方法の実施に使用する測定装置においては、電磁
波を発生する電磁波源と、電磁波源から発生した電磁波
から少なくとも一つの予備推移された電磁波を発生する
予備推移手段と、予備推移された電磁波を移動対象物上
に結像するｖ３像手段と、移動対象物から反射された電
磁波の少なくとも一部を検出する検出器と、検出器に接
続した信号処理装置とを備えたことを特徴とする。

本発明の測定装置の実施例においては、信号処理装置が
比較装置と、周波数標準装置とを備えて、検出器信号の
周波数及び周波数標準装置の一定周波数値の間の差を示
す差信号を決定し：比較装置を予備推移手段に結合して
予備推移周波数の値を調整し；信号処理装置が更に、ド
ツプラー推移及び電磁波の予備推移の間の差から速度及
び／又は長さを測定する測定器を備えるよう構成したこ
とを特徴とする。

次に図面につき本発明の詳細な説明覆る。

本発明の電磁波による速度及び／又は長さの測定方法及
びＲｆｆｉは２段に分りられる。

第１段即ち光学段では測定すべき対像物上に電磁波を投
射し、散乱及び／ヌは反則波を検出器に供給する。

第２段ではドツプラー効果に含まれる自然法則に従って
、検出した信号から速度及び／又は長さを決定する。

第１図は第１段の第１実施例を示す。参照数字１０４；
ＩＬ電磁波を発生ずる電磁波源を示づ。

１０は周波数［において光波を発生するレーザと仮定す
る。代案としてレーザに代え、例えばガス放電ランプ、
ソリッドステート（半導体）放射器、スペクＩ〜ル・ラ
ンプ等の如き他の適当な形式の光源を使用することもで
きる。電磁波ｆｆ１ｌＯによって発生したビーム１１は
レンズ１２を介して回転格子１３上に投射する。ビーム
１１は２つの１次ビーム１４ａ及び１４１ｒ、特に１次
プラス・ビーム及び１次マイナス・ビームに分割される
。

像面においては、そのピッチを広い限界値内で選定でき
る正弦波状強度分布が得られる。

レーザは、例えば、Ｈｅ−Ｎｅ形式とし、かつ２ｍＷの
出力を有する一方、半径方向格子１３は１２μｍの格子
周期及び３　ｃｍの直径を有する位相格子とする。１次
プラス・ビームの周波数は（ｆ＋ｄｆ）であり、一方、
１次マイナス・ビームの周波数は、（ｆ−ｄｆ）である
。格子１３はモータ（図示せず）によって駆動される軸
１５上に装着−リ−る。従って格子１３の回転速度はモ
ータを制御することにより制御する。

２つの１次ビーム１４ａ、１４ｔ＋はレンズ系１６．１
６−を介して、速度及び／又は長さを測定すべき対像物
上に集束Ｊる。格子１３はレンズ１６の焦点に配置し、
対象物１７はレンズ１６−の焦点に配置し、一方、レン
ズ１６及び１６′の間の距離はその焦点距離の和に等し
くりる。対象物１７により散乱又は反射された光の少な
くとも一部は光検出器１８に入射する。対象物１７の速
度Ｖに起因してビーム１４ａ及び１４ｂの周波数はそれ
ぞれ「　　及びｆ　　だけ影響を受ける。

１、Ｖ　　　　　　　２．Ｖ 対象物の移動方向に応じて、反射光にａ３（プる周波数
の変化は正又は負になる。光検出器１８からの信号の周
波数スペク（〜ルは特に周波数（２ｄｆ十ｆ　　　−ｆ
　　　）を含／ｖでいる。

１　、Ｖ　　　２　、Ｖ 以下に述べる態様で格子１３の回転速度を適切に制御し
て、格子１３に起因する周波数予備推移（プレシフト）
と、（移動りる）対象物に起因するドツプラー推移との
代数和が一定になるようにする。これは、光検出器１８
の出力スペク１〜ルにＪ５４ブる周波数（２ｄｒ＋ｆ　
　　−ｆ　　　）が一定になり、従ってこの１、Ｖ　　
　２．Ｖ 周波数を、一定の狭帯域フィルタを介して容易に抽出で
きることを意味Ｊる。搬送波周波数「及び混合周波数成
分に加えて、雑音成分も簡単かつ効果的な方法で抑辻づ
ることができる。かかる雑音成分は、例えば、対象物の
散乱及び反射特性が変化することによって起り、これに
より光検出・器に入射する電磁放射線の振幅変調が起る
。

第２図は第１段の第２実施例を示す。

格子１３から生じたビー１．１４ａ、１４ｂは単一レン
ズ１６を介して対象物１７上に結像させる。反射及び散
乱光は集光器１９を介して光検出器１８上に集束づる。

集光器１９は直径の大きい２個のフレネルレンズで構成
する。集光器の他の光学特性は極めて厳しい要件を満足
する必要はない。レンズ１２及び１６は直径を小さくす
ることができる。フレネルレンズ１９においては開に１
２０ａ及σ２０ｂを設けてビーム１４ａ及び１４ｂをそ
れぞれ通過さゼることができるようにする。

かかる態様において測定装置の光学段の構造を小′形に
することができる。しかしこの光学段の光学品位は第１
図に示した光学段の光学品位より低い。電磁波源どして
は）−１ｅ　−Ｎｅレーザを使用すると好適である。

第３図は速度及び／又は長さを測定する本発明測定装置
の第２段即ち信号処理装置の第１実施例を示す。光検出
器１８によって発生した出力信号は帯域通過フィルタ２
１に供給する。

このフィルタ２１は４５５　ｋ　Ｈｚの中心周波数及び
６０ｋｌ（ｚの３ｄＢ帯域幅を有ツると仮定する。

しかし多くの用途においてはフィルタ２１を高域通過フ
ィルタ（本例では４２０　ｋ　Ｈｚのしゃ断層波数を右
Ｊる）として構成すれば充分である。このフィルタから
生ずる周波数ｆを有する濾波された出力信号はリミッタ
２２を介して位相／周波数検出器２４の第１入力端子２
３に供給する。この検出器２４の）′１２入力端子２５
には電圧制御ｌｌ光振Ｆ　（ＶＣＯ）２６を接続する。

電圧制御発振器２６の中心周波数も４５５　ｋ　ｌ（Ｚ
とする。電圧制御発振器２６と共に位相／周波数検出器
２４を備える位相／周波数弁別器は４２０及び４８．０
　ｋ　１１２の間において線形電圧−周波数特性を有す
る。位相／周波数検出器２４の出力端子２７には、第１
入力端一　　子２３に供給される信号の周波数（ｆ　　
　　）と、第２入力端子２５に供給さｄｅｔｅｃｔｏｒ れ信号の周波数（ｒ　　　）との間の周波数差ＣＯ の目安である信号Ｖが存在する。接地コンデンサ２９及
びこれと直列の抵抗２８で構成したＲＣ回路網による積
分の後制御信号が発生し、この制御信号により電圧制御
発振器２６の周波数及び格子１３の回転速度を制御づる
ことができる。

格子の回転速度の制御については上記ＲＣ回路網の枝路
３０を差動増幅器３１の反転第１入力端子に接続りる。

差動増幅器３１の非反転第２入力端子には固定Ｍ準電圧
ｖｒｅｆを供給する。この基準電圧は、Ｖ−Ｖｒｅｆの
場合電圧制御発振器２６の周波数がほぼ４５５　ｋ　Ｈ
ｚとなるように選定する。差動増幅器３１によって決ま
る差電圧Ｖｒｏｆ−■を積分回路３２にｊこり積分して
得られる電圧を格子用モータ３３に対する制御電圧とし
て使用する。

前記周波数ｆ　ｄｅｔｅｃｔｏｒ”　４５５ｋＨｚ　（
７）　Ｉ　合ニハＶ　　　−Ｖが０より小さくなっ′Ｃ
格子速度がｅｆ 減少し、また逆の場合には、逆の状態どなる。

格子が運動ケる態様は重要でなく、格子を一様に運動さ
せたり、或は時間につき所定平均速度で運動させる必要
はなく、″格子予備推移周波数″及び′′ドツプラー周
波数″の和がフィルタの範囲内にある限り格子は任意の
速度にすることができる。対象物が静止している場合に
は、格子の速度は比較的大きくし、対象物が後方へ移動
している場合も格子の速度は依然大きくし、一方、対象
物が前方へ移動している場合には、格子の速度は小さく
する。

電圧制御発振器２６の周波数の制御については、次の事
項に注意する必要がある。ＲＣ積分回路２８．２９の枝
路３ｏには電圧制御発振器２６の制御入力端子も接続し
、これにより電圧制御発振器周波数（ｆ　　　）が検出
■ＣＯ 脂層波数（ｆｄｅｔｅｃい、）に等しくなるようにする
。平衡状態即ちＶｒｅｆ＝Ｖにおいては電圧制御発振器
の発振周波数は４５５　ｋ　Ｈ２に等しくなる。その場
合検出器周波数も４５５　ｋ　Ｈｚとなること勿論であ
る。

この状態は次の通りである。格子の回転速度に依存する
周波数予備推移を−ｒａｔｉｎｇとし、かつ測定すべき
対碌物の速度によって生ずる１へツプラー周波数推移を
ｆ。ｂｊｅｃｔ　　とする。その場合１べての状態にお
い−Ｃ ’ｄｅｔｅｃｔｏｒ−［ｇｒａｔｌｎｇ　＋’０ｂｊｅ
ｃｔ　　　　（１）が成立つ。検出器出力周波数は上述
した態様で制御され、従ってこの周波数は一定に留まろ
うとする傾向を呈する。その場合対象物の移動に起因す
る周波数は検出器信号の周波数及び格子予備推移周波数
から ｆＱｂ５ｅｃｔ　−［ａｅｔｅｃｔｏｒ　　’ｇｒａｔ
ｉｎｇ　　　（２）として決定できるか、又はｆａｅｔ
。。、。ｒ−’ＶｏＯであるから が成立つ。測定すべき対象物の長さは式（３）に基づい
て決定り°る。この目的のため電圧制御発振器２６の出
力信号をアップ・ダウン・カウンタ３４のアップ入力端
子に供給し、格子１３の周波数（特に格子の運動から導
出したパルス列の周波数）をカウンタ３４のダウン入力
端子に供給する。この周波数は、格子１３を装着した軸
１５の回転数を測定することによって決定する。アップ
・ダウン・カウンタ３４の積算動作のためノＪウンタ３
４の計数値はｆ［。ｂ、。。、　　ｄｔを示し、これは
測定すべき対象物の長さに比例する。対象物の速度は単
位時間当りのアップ・ダウン・カウンタの正味のインク
リメントの数を計数覆ることにより決定することができ
る。

更に、測定装置は通常ドロツブアラ１−・スイッチど呼
ばれるスイッチ手段を備えており、その目的は検出器信
号にａシ（プる通常は短時間のし？断を橋絡することで
ある。この目的のため帯域通過フィルタ２１の出力端子
を振幅検出器３５に接続づる。振幅検出器３５によって
検出した信号値が所定間値より小さくなった場合には、
ＲＣ積分回路の抵抗２８及びコンデンサ２９０間に設り
たスイッチ３６を開放づ−ることにより位相／周波数検
出器２４のＢ１力信号が結合されないようにする。検出
器信号が再び充分強くなるど、スイッチ３６は再び１１
］成される。

ドロップ・アウトの持続時間が長い場合には、電圧制御
発振器の周波数は最早や検出器信号の周波数に対応しな
くなる。周波数が再び対応するようにするため゛探索動
作″を開始させる。従ってドｌ」ツブ・アウトが所定期
間より長く持続した場合には、格子１３を迅速に停止し
、然る後、検出器周波数が再び電圧制御発振器周波数に
対応するまで格子′１３を加速するように覆る。上述し
た態様において検出器周波数及び電圧制御発振器周波数
は電圧制御発振器制御ループ及び格子モータ制御ループ
を介して再び４５５　ｋ　Ｈ２に調整される。

格子１３を停止した後加速することに起因して格子の回
転（パルス）　’？ｉ９．のｈ１数値に誤りが生ずるお
それがある。しかし探索動作に当り格子により、期待さ
れるパルス数の正確に半分のパルスが発生し、従って探
索期間に当りアップ・ダウン・カウンタ３４のダ・シン
入力端子に供給するパルス数を２倍にする（即ち係数を
２とする）必要がある。格子の瞬時速度は、探索動作に
当り、ドロップ・アウトの開始時における値、停止時に
Ｊヲける値Ｏ及び探索動作の終端におりる値の間で変化
するので、探索動作の格子の平均速度がドロップ・アウ
トの開始時にお（プる格子の速度の半分に等しいことに
留意すれば、この係数が２になることは明らかである。

場合により、ドロップ・）７ウトに起因しＣ必要になる
速度修正又は長さ修正はドロップ・アウトの持続時間前
にドロップ・アウト直前の電圧制御発振器の周波数及び
ドロップ・アウト直後の電圧制御発振器の周波数から算
出することができる。

格子の速度を再調整づることによりフィルタ２１を固定
することができ、従って簡単にづることができる。弁別
器は狭い周波数範囲（上記の例では４２０〜４８０　ｋ
　Ｈ７，の範囲）においてだ（プ作動することを必要と
づるに、過ぎないので′、弁別器の構造も簡単（こする
ことができる。光学段及び信号処理段の両方が簡単にな
ることにより装置全体が小形になり、一方、本発明の８
ｔ１１定方法及び装置によって得られる高精度により、
本発明の測定方法及び装置は、例えば、ワイＶ及びケー
ブルの如き極めて長い対象物の長さを測定り−るのに特
に好適である。

速度及び／又は長ざを測定するための信号処理装置の第
２実施例を第４図に示す。光検出器１８によって発生し
た出力信号は高域通過又は帯域通過フィルタ２１に供給
する。

このフィルタの出力信号はリミッタ？２を介してトリガ
パルス整形回路３７に供給する。

この回路３７からのトリガパルスは単安定マルチバイブ
レーク３８に供給し、この単安定マルチバイブレータは
このトリガパルスに応答して一定持続時間及び一定振幅
の一連の標準パルスを出力端子に発生する。単安定マル
チバイブレータ３８の出力端子にはスイッチ３６を介し
°Ｃ積分回路３９を接続する。

スイッチ３６は常時は開成状態にある。標準パルスを積
分することにより、標準パルスの周波数に比例し、従っ
て検出器信号の周波数にも比例する直流電圧が得られる
。第３図に示した信号処理装置の場合における如く、こ
の直流電圧を用いて格子１３の速度を調整してほぼ一定
の検出器出力周波数が得られるようにする。この目的の
ため積分回路３９の出力端子を差動増幅器３１を介して
、軸１５の回転速度を決定づる格子用モータ３３に接続
する。積分回路３９によつ”Ｃ得た直流電圧は電圧制御
発振器２６にも供給し、これに応答してこの発振器２６
からはこの直流電圧に比例づる発振周波数が発生する。

この発振周波数を上述した態様でアップ・ダウン・カウ
ンタ３４において格子周波数（特に格子の運動から専用
したパルス列の周波数）と共に使用しＴ　、測定すべき
対象物の長さを決定りる。

カウンタ３４の出力端子には、対象物の速度を単位時間
当りの長ざどして決定する速度決定装置４０を接続する
。

フィルタ２１の出力端子は振幅検出器３５にも接続し、
この振幅検出器は、フィルタ２１の出力信号が所定閾値
より小さくなった場合スイッチ３６を開放して、積分回
路３９によって発生する直流電圧を（はぼ）一定に紹持
し、格子が最後に決定された速度での回転を持続するよ
うにり−る。フィルタ２１の出力（８号の振幅が所定闇
値を再び越えると直らにスイッチ３６は開成され、検出
器周波数の瞬時値により格子１３の速度及び電圧制御発
振器２６の周波数が再び決定される。

第４図の信号処理装置は、電子的に構造が一層簡単であ
り、かつ検出器周波数がドロップ・アウト後箸しく変化
したことが見出されＩＣ場合検出器からの信号を再びプ
ルイン（引込む）するための手段を講する必要がない点
で第３図の信号処理装置どは異なる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明測定装置の光学段の第１実施例を示づ一
斜視路線図、 第２図は本発明測定装置の光学段の第２実施例を示す斜
視路線図、 第３図は本発明測定装置Ｗの信号処理装置の第１実施例
を示すブロック図、 第４図は本発明測定装置の信号処理装置の第２実施例を
示すブロック図である。 １０・・・電磁波源　　　　１１・・・ビーム１２・・
・レンズ　　　　　１３・・・回転格子１４ａ、１４１
＋−１次ビーム １５−軸　　　　　　　　１６，１６−・・・レンズ系
１７・・・対象物　　　　　１８・・・光検出器１９・
・・集光器　　　　　２０ａ、２０ｂ・・・開口２１・
・・帯域通過フィルタ ２２・・・リミッタ　　　　２４・・・位相／周波数検
出器２Ｇ・・パ市圧制御１発振器　２８・・・抵抗３０
・・・枝路　　　　　　３１・・・差動増幅器３２・・
・積分回路　　　　３３・・・格子用モータ３４・・・
アップ・り゛ラン・カウンタ３５・・・撮幅検出器　　
　３６・・・スイッチ３７・・・トリガパルス整形回路 ３８・・・単安定マルチバイブレータ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、移動対象物の速度及び／又は長さをドツプラーの原
   理に従って測定するに当り （１）少なくとも一つの周波数推移されたか又は位相変
   調された電磁波を得るため電磁波を調整可能な程度に予
   備推移し、 （２）予備ＪＷ移した電磁波を移動対象物に指向させ、 （３）移動対象物から反射された電磁波の予備推移を、
   移動対象物の移動によって生ずるドツプラー推移と反対
   方向において前記電磁波の予備Ｊｆｆｌ移に影響を及ぼ
   すことにより所定の固定周波数値に調整するか又はほぼ
   調整し、 （４〉ドツプラー推移及び予備推移の間の差から移動対
   象物の速度及び／又は長さを決定する ことを特徴とする移動対象物の速度及び／又は長さ測定
   方法。 ２、前記予備推移された電磁波が、互に一定の位相又は
   周波数関係にある２つの訓電磁波を含む特許請求の範囲
   第１項記載の測定方法。 ３、電磁波を発生する電磁波源と、電磁波源から発生し
   た電磁波から少なくとも一つの予備推移された電磁波を
   発生する予備推移手段と、予備推移された電磁波を移動
   対象物上に結像する結像手段と、移動対象物から反射さ
   れた電磁波の少なくとも一部を検出する検出器と、検出
   器に接続した信号処理装置とを備えたことを特徴とする
   移動対象物の速度及び／又は長さ測定装置。 ４、電磁波源がレーザ、スペクトル・ランプ。 ガス放電ランプ又はソリッド・ステート放射器である特
   許請求の範囲第３項記載の測定装置。 ５、予備推移手段が回転自在格子ど、格子回転手段とを
   備え、格子回転手段による格子回転速度が調整可能であ
   る特許請求の範囲第３又は４項記載の測定装置。 ６、回転自在格子が、作動に当り１次く１＋及び１−次
   ）の２つの訓電磁波を発生する位相格子である特許請求
   の範囲第５項記載の測定装置。 ７、移動対象物から反射された電磁波の少なくとも一部
   を集光器により検出器上に集束する特許請求の範囲第３
   項記載の測定装置。 ８、集光器が少なくとも１個のフレネルレンズを備える
   特許請求の範囲第７項記載の測定装置。 ９、信号処理装置が比較装置と、周波数標準装置とを備
   えて、検出器信号の周波数及び周波数標準装置の一定周
   波数値の間の差を示す差信号を決定し；比較装置を予備
   推移手段に結合して予備推移周波数の値を調整し；信号
   処理装置が更に、ドツプラー推移及び電磁波の予備推移
   の間の差から速度及び／又は長さを測定する測定器を備
   える特許請求の範囲第３項記載の測定装置。 １０、信号処理装置が所望信号を抽出するため検出器に
   結合したフィルタを備え：比較装置が位相／周波数検出
   器を備え、かつ周波数標準装置が電圧制御発振器を備え
   ：フィルタの出力端子及び電圧制御発振器の出力端子を
   位相／周波数検出器に結合して差周波数を決定し；測定
   器がアップ・ダウン・カウンタを備え、そのアップ入力
   端子を電圧制御発振器の出力端子に結合し、かつそのダ
   ウン入力端子を予備推移手段に結合する特許請求の範囲
   第９項記載の測定装置。 １１、信号処理装置が直流電圧発生装置、電圧制御発振
   器、測定器及び差発生器とを備え；直流電圧発生装置が
   検出された信号の周波数に比例する直流電圧信号を発生
   し；直流電圧発生装置の出力端子を電圧制御発振器の制
   御入力端子及び差発生器の第１入力端子に接続し；差発
   生器の第２入力端子に基準値を供給し：差発生器の出力
   端子を予備推移手段に結合し：電圧制御発振器の出力端
   子及び予備推移手段の出力端子を測定器に結合して、電
   圧制御発振器の周波数及び電磁波の予備推移の間の差か
   ら対象物の速度及び／又は長さを決定する特許請求の範
   囲第３項記載の測定装置。 １２、直流電圧発生装置が、所望信号を濾波により導出
   するため検出器に結合したフィルタを備え：更に直流電
   圧発生装置が、フィルタの出ツノ端子に縦続接続した増
   幅器と、リミッタと、トリガパルス整形回路と、単安定
   マルチバイブレータと、スイッチと、積分回路とを備え
   ；更に直流電圧発生装置が、フィルタの出力信号が所定
   閾値を越えない場合にスイッチを開放するためフィルタ
   の出力端子に結合した振幅検出器を備える特許請求の範
   囲第１１項記載の測定装置。