JPS59220631A - 原子吸光分析装置 - Google Patents
原子吸光分析装置Info
- Publication number
- JPS59220631A JPS59220631A JP9655183A JP9655183A JPS59220631A JP S59220631 A JPS59220631 A JP S59220631A JP 9655183 A JP9655183 A JP 9655183A JP 9655183 A JP9655183 A JP 9655183A JP S59220631 A JPS59220631 A JP S59220631A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- sample
- absorbance
- atomizing section
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は火炎等によって試料を原子化する方式の原子吸
光分析装置における試料原子化部と分光光学系との相対
的位置関係を調節する装置に関する。
光分析装置における試料原子化部と分光光学系との相対
的位置関係を調節する装置に関する。
(ロ)従来技術
原子吸光分析は試料を火炎或は試別原子化部等を用い高
温で原子化し、原子化された試料雰囲気中を光を通して
、原子化された試料成分元素による特定波長の光の吸収
を測定するものであるが、試料が原子化されている空間
における試料成分元素の濃度分布は均一でなく、濃度分
布にも温度分布にもゆらぎがあるから吸収の測定には相
当のノイズが含壕れている。従って分析に当っては、な
るべく感度良好でかつEl / N比が犬であるような
試料原子化部と分光光学系との位置関係を探して測定を
行う必要がある。即ち感度を上げるだめには試料原子化
部で試料成分の元素濃度がなるべく高くしかも光の通過
パスが長くなるように、試料原子化部に光を通すのがよ
く、ノイズを小さくするには試別原子化部において濃度
及び温度のゆらぎが小さく安定している領域を光が通る
ようにする。このような試料原子化部と分光光学系の位
置関係の調整は従来、オペレータが吸光度の測定値を記
録させながら、手動的に試料原子化部の位置を動かして
感度及びS / N比あ;測定上最も好ましいと思われ
る位置関係を探すと云う方法によっていた。しかしこの
ような手動的な位置調整は主観的要素が大きく、それだ
けにオペレータが神経を使うもので、相当の熟練を要し
、寸だ時間のか5るものであった。
温で原子化し、原子化された試料雰囲気中を光を通して
、原子化された試料成分元素による特定波長の光の吸収
を測定するものであるが、試料が原子化されている空間
における試料成分元素の濃度分布は均一でなく、濃度分
布にも温度分布にもゆらぎがあるから吸収の測定には相
当のノイズが含壕れている。従って分析に当っては、な
るべく感度良好でかつEl / N比が犬であるような
試料原子化部と分光光学系との位置関係を探して測定を
行う必要がある。即ち感度を上げるだめには試料原子化
部で試料成分の元素濃度がなるべく高くしかも光の通過
パスが長くなるように、試料原子化部に光を通すのがよ
く、ノイズを小さくするには試別原子化部において濃度
及び温度のゆらぎが小さく安定している領域を光が通る
ようにする。このような試料原子化部と分光光学系の位
置関係の調整は従来、オペレータが吸光度の測定値を記
録させながら、手動的に試料原子化部の位置を動かして
感度及びS / N比あ;測定上最も好ましいと思われ
る位置関係を探すと云う方法によっていた。しかしこの
ような手動的な位置調整は主観的要素が大きく、それだ
けにオペレータが神経を使うもので、相当の熟練を要し
、寸だ時間のか5るものであった。
栓)目 的
(ニ)構 成
本発明原子吸光分析装置は、試料原子化部を移動させる
機構と、この機構を駆動すると共に、試料原子化部の位
置を検出し記憶する制御装置を有し、かつこの制御装置
に、試料原子化部を移動させながら試別原子化部の位置
のデータと光吸収のデータとノイズのデータとをサンプ
リングして記憶し、この記1意に基いて試別原子化部の
最適位置を判定し、試オ」原子化部をその位置に駆動す
る制御動作プログラムを設定したことを特徴とする。
機構と、この機構を駆動すると共に、試料原子化部の位
置を検出し記憶する制御装置を有し、かつこの制御装置
に、試料原子化部を移動させながら試別原子化部の位置
のデータと光吸収のデータとノイズのデータとをサンプ
リングして記憶し、この記1意に基いて試別原子化部の
最適位置を判定し、試オ」原子化部をその位置に駆動す
る制御動作プログラムを設定したことを特徴とする。
実施例
第1図は試別原子化部の移動機構の移動のベクトル成分
を示し、FVi試料原子化用火炎であシ、この実施例で
は移動のベクトル成分は上下方向移動■と左右方向移動
Hと垂直軸廻りの回転−Tの三つであり、これらの移動
は夫々制御装置によって制御される。第2図は本発明の
実施例の全体構成を示すブロック図である。1は光源、
Fは上述した試別原子化部の炎、2は分光器で3は測光
素子である。試料原子化部Fは左右方向移動機構Dh、
上下方向移動機構Dv、垂直軸廻りの回転機構Dtによ
って移動せしめられ、これらの機構は制御装置Cによっ
て駆動される。測光素子3の出力はプリアンプ4を経て
吸光度変換器5に入力され吸光度の信号となる。吸光度
の信号は第3図に示すようにノイズを含んでいるので平
均化回路6でノイズ成分が除去されメモ+)Mに記憶せ
しめられる。
を示し、FVi試料原子化用火炎であシ、この実施例で
は移動のベクトル成分は上下方向移動■と左右方向移動
Hと垂直軸廻りの回転−Tの三つであり、これらの移動
は夫々制御装置によって制御される。第2図は本発明の
実施例の全体構成を示すブロック図である。1は光源、
Fは上述した試別原子化部の炎、2は分光器で3は測光
素子である。試料原子化部Fは左右方向移動機構Dh、
上下方向移動機構Dv、垂直軸廻りの回転機構Dtによ
って移動せしめられ、これらの機構は制御装置Cによっ
て駆動される。測光素子3の出力はプリアンプ4を経て
吸光度変換器5に入力され吸光度の信号となる。吸光度
の信号は第3図に示すようにノイズを含んでいるので平
均化回路6でノイズ成分が除去されメモ+)Mに記憶せ
しめられる。
吸光度信号は更にバイパスフィルタ7にも入力され、同
フィルタによって直流成分がカントされ、ノイズだけが
抽出され、実効値変換回路8で2乗平均が求められる。
フィルタによって直流成分がカントされ、ノイズだけが
抽出され、実効値変換回路8で2乗平均が求められる。
このデータはノイズに関するデータでメモリMに記憶せ
しめられる。メモリMには制御装置Cから試料原子化部
Fの位置のデータh、v、tが送られて来て、これらも
記憶せしめられる。
しめられる。メモリMには制御装置Cから試料原子化部
Fの位置のデータh、v、tが送られて来て、これらも
記憶せしめられる。
第4図は制御装置Cの試料原子化部位置調整動作のフロ
ーチャー1・である。この動作は試料原子化部に試料を
導入し、試料原子化部を位置走査の始点に移動させ(イ
)、まず試別原子化部を垂直軸の廻りに回転させて吸光
度の値が最大となる方向を検出してその方向に試料原子
化部Fの向きをセットL(0,ハ、二)、次に左右移動
機構Dh、−F下移動機横移動機構駆動する(へ)。こ
の1駆動は左右方向に移動範囲の一端から他端まで駆動
し、上下方向の位置を一段下げて左右方向にもとの位置
に戻し、又−股下げると云う動作の繰返しでジグザグ移
動により位置走査を行うものである。この部位置のデー
タをサンプリング(ト)シ、同時に吸光度信号の平均値
即ち平均仕口Ii8+56の出力である吸光度データ及
び実効値回路8の出力であるノイズのデータもサンプリ
ング(テ)して、夫々メモリの対応アドレスに格納する
。この動作は(ホ)の判定動作がY1!8Sになる進行
われ、判定動作(ホ)がYESになっだらDh、、Dv
を停止させ、メモリMのデータを読出してS / N比
最大即ち回路6の出力と回路8の出力の比が最大となる
位置り、■のデータを索出しくヌ)、その位置における
吸光度のデータと吸光度最大の値とを比較しくノ也位置
り、vにおける吸光度が最大値の1 / K以上であれ
ば(判定オがYES)、Dh、Dvを駆動して試別原子
化部Fを上記り、 vの位置にセント(ワ)して動作
を終る。即ち吸光度が最大値の17 K以上であれば最
大値よシもS / N比最高の方を選択するわけである
。判定オが1q○のときは吸光度値が最大になる位置を
検出(力)して、その位置へ試料原子化部を駆動(−3
) l。
ーチャー1・である。この動作は試料原子化部に試料を
導入し、試料原子化部を位置走査の始点に移動させ(イ
)、まず試別原子化部を垂直軸の廻りに回転させて吸光
度の値が最大となる方向を検出してその方向に試料原子
化部Fの向きをセットL(0,ハ、二)、次に左右移動
機構Dh、−F下移動機横移動機構駆動する(へ)。こ
の1駆動は左右方向に移動範囲の一端から他端まで駆動
し、上下方向の位置を一段下げて左右方向にもとの位置
に戻し、又−股下げると云う動作の繰返しでジグザグ移
動により位置走査を行うものである。この部位置のデー
タをサンプリング(ト)シ、同時に吸光度信号の平均値
即ち平均仕口Ii8+56の出力である吸光度データ及
び実効値回路8の出力であるノイズのデータもサンプリ
ング(テ)して、夫々メモリの対応アドレスに格納する
。この動作は(ホ)の判定動作がY1!8Sになる進行
われ、判定動作(ホ)がYESになっだらDh、、Dv
を停止させ、メモリMのデータを読出してS / N比
最大即ち回路6の出力と回路8の出力の比が最大となる
位置り、■のデータを索出しくヌ)、その位置における
吸光度のデータと吸光度最大の値とを比較しくノ也位置
り、vにおける吸光度が最大値の1 / K以上であれ
ば(判定オがYES)、Dh、Dvを駆動して試別原子
化部Fを上記り、 vの位置にセント(ワ)して動作
を終る。即ち吸光度が最大値の17 K以上であれば最
大値よシもS / N比最高の方を選択するわけである
。判定オが1q○のときは吸光度値が最大になる位置を
検出(力)して、その位置へ試料原子化部を駆動(−3
) l。
て動作を終る。
上側では測定の好寸しい条件としてS / N比を重視
しているが、最も好ましい位置の判定の規準は他にも色
々考えられる。
しているが、最も好ましい位置の判定の規準は他にも色
々考えられる。
Claims (1)
- 試別原子化部を移動させる移動機構と、同機構を駆動す
ると共に試料原子化部の位置を検出し記憶させると共に
、試料原子化部を移動させながら吸光度のデータ及びノ
イズのデータをサンプリングして記憶させ、これらの記
憶に基いて試料原子化部の最適位置を判定し、その位置
に試料原子化部を移動さぜる動作プログラムを有する制
御装置を備えた原子吸光分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9655183A JPS59220631A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 原子吸光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9655183A JPS59220631A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 原子吸光分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59220631A true JPS59220631A (ja) | 1984-12-12 |
JPH051413B2 JPH051413B2 (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=14168212
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9655183A Granted JPS59220631A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 原子吸光分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59220631A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63145948A (ja) * | 1986-12-09 | 1988-06-18 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光分析装置 |
JPH01244340A (ja) * | 1988-03-26 | 1989-09-28 | Shimadzu Corp | フレーム原子吸光分析装置 |
JPH02176447A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-09 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
JPH04274736A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-30 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
CN103592243A (zh) * | 2013-11-15 | 2014-02-19 | 上海仪电分析仪器有限公司 | 原子化器位置自动校正装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5327583U (ja) * | 1976-08-17 | 1978-03-09 | ||
JPS53114285U (ja) * | 1977-02-18 | 1978-09-11 | ||
JPS57110449U (ja) * | 1980-12-25 | 1982-07-08 |
-
1983
- 1983-05-30 JP JP9655183A patent/JPS59220631A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5327583U (ja) * | 1976-08-17 | 1978-03-09 | ||
JPS53114285U (ja) * | 1977-02-18 | 1978-09-11 | ||
JPS57110449U (ja) * | 1980-12-25 | 1982-07-08 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63145948A (ja) * | 1986-12-09 | 1988-06-18 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光分析装置 |
JPH01244340A (ja) * | 1988-03-26 | 1989-09-28 | Shimadzu Corp | フレーム原子吸光分析装置 |
JPH02176447A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-09 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
JPH04274736A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-30 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
CN103592243A (zh) * | 2013-11-15 | 2014-02-19 | 上海仪电分析仪器有限公司 | 原子化器位置自动校正装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH051413B2 (ja) | 1993-01-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2733491B2 (ja) | ラマン分析装置 | |
JP5061103B2 (ja) | 液体マイクロジャンクション表面試料採取器に対する表面アレイの自動位置制御 | |
RU93058382A (ru) | Способ агглютинации частиц для одновременного исследования нескольких аналитов в одном образце и оптический анализатор | |
JPH0643115A (ja) | 画像処理を用いたコーティング密度分析システムおよび方法 | |
JPS62298746A (ja) | 試料の分光分析方法及び装置 | |
JPS59220631A (ja) | 原子吸光分析装置 | |
EP0411481B1 (en) | Atomic absorption spectroscopy photometer | |
US4150899A (en) | Densitometer | |
JP4035206B2 (ja) | Irデータを取得するための装置 | |
CN212301314U (zh) | 一种面粉光谱检测仪 | |
US4976541A (en) | Automatic atomic-absorption spectrometry method | |
Belchamber et al. | Image processing of high-performance thin-layer chromatographic plates | |
True et al. | On the implementation of multielement continuum source graphite furnace atomic absorption spectrometry utilizing an echelle/cid detection system | |
JPH1081209A (ja) | 車輌底面検視方法及び装置 | |
JPH01250737A (ja) | 自動化学分析装置 | |
Avery et al. | Computer-controlled multichannel recording ultraviolet/visible spectrophotometer | |
Bellato et al. | Automation of a plane grating spectrograph | |
JPH02502402A (ja) | 改良された自動原子吸光分光分析装置 | |
JPS6111686Y2 (ja) | ||
JPS6058809B2 (ja) | 複光束分光光度計 | |
JPS5910484B2 (ja) | 分光計 | |
JPH04113243A (ja) | レンズ検査装置 | |
RU2082960C1 (ru) | Лазерный газоанализатор | |
Capper et al. | Wavelength mapping of mixed semiconductors using an automatic IR spectrophotometer | |
JP3394356B2 (ja) | 自動焦点合わせ機構付き電子プローブマイクロアナライザ |