JPS592182A - リレ−シヨン生成装置 - Google Patents

リレ−シヨン生成装置

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JPS592182A
JPS592182A JP57112216A JP11221682A JPS592182A JP S592182 A JPS592182 A JP S592182A JP 57112216 A JP57112216 A JP 57112216A JP 11221682 A JP11221682 A JP 11221682A JP S592182 A JPS592182 A JP S592182A
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quadrant
distance
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JP57112216A
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Hiroyuki Izumisawa
泉澤 裕之
Hiroshi Asai
淺井 紘
Katsuaki Owada
大和田 克明
Seiichiro Kinoshita
木下 誠一郎
Shunji Matsuno
竣治 松野
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NEC Corp
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NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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    • G07CTIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • G07C9/00Individual registration on entry or exit
    • G07C9/30Individual registration on entry or exit not involving the use of a pass
    • G07C9/32Individual registration on entry or exit not involving the use of a pass in combination with an identity check
    • G07C9/37Individual registration on entry or exit not involving the use of a pass in combination with an identity check using biometric data, e.g. fingerprints, iris scans or voice recognition
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V40/00Recognition of biometric, human-related or animal-related patterns in image or video data
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  • Theoretical Computer Science (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はりレーション生成装置、とくに紋様のパターン
等で構−成される図形をコード化し、その町−性を自動
照合させるための照合処理装置等で刊いるリレーション
生成装置に関する。
例えば、指紋等の縞状パターンで構成される図形の同一
性を照合するには、一般に図形の特徴点を抽出し、これ
を比較するという形で行なわれる。
この特徴点としては、第1図に示すように例えばFlの
ような端点、k′2のような分岐または合流点等がある
が、一般にこれらの各特徴点には、第1図に示すように
、その特徴点の位置X、Yおよびその特徴点の指定する
方向りという量が付随し、ている1、従りて、紋様のパ
ターンをこのような位置X、Yおよび方向りをもつ特徴
点の集合と考えると、もとのパターンは第2図のように
抽象化された特徴点の集合で表示される。
そこで、これら各特徴点の種別(端点、分岐点尋の別)
、位置および方向を適当に量子化およびコード化して、
それぞれQ、X、YおよびDで表わすことにすると、一
つの紋様ノ(ターンは、その特徴点の数だけのQi 、
 XL YiおよびDiのデータの集合として表わすこ
とができる。但しIは各特徴点を指定するため適宜につ
けた特徴点の番号とする。
こうすると、二つの悴様パターンの同一性を照合するこ
とは、このような二つの紋様パターンに対するデータの
組を用いて、その同一性を判定することになる。
しかしながら、もとの紋様パターンを、このような特徴
点のデータの組に変換する際に、多分に任意性が入シ込
む余地がある。すなわち、各特徴点の位置および方向を
記述するだめの中心直交座標系の選び方、各特徴点を指
定するための番号のつけ方等は一義的には定まらない。
さらにまた、指紋等を対象とする場合には、同一の指紋
に対してもそれを押印したときの東件によって特徴点の
数そのものも異なってくる。
このような理由のため、上述のQ i+ X i 、Y
 1およびDiのデータの組をそのまま比較しても同一
性を判定することはできない。
そこで、照合を行なう#1歩として、鑑定すべきパター
ン(以後探索パターン)の各特徴点に対し、比較すべき
既知パターン(以後ファイルパターン)の各特徴点を、
それぞれの特徴点のもつ局所的特徴によって、お互いの
間の近似度を定量的に表わし、この関係を表としたペア
候補リストを作成する。これは、探索パターンの任意の
i番目の特徴点に対し、照合すべきファイルパターンの
各特徴点を、その局所的特徴の近似度の強さの順番にペ
ア候補として並べ、かつこの各ペア候補について近似度
の強さを重みとして同時に表示したものである。
局所的特徴として、以下に示すようガ量を用いることに
よシ、このベア候補リストは、中心座標系の選び方とl
無関係に決定することができるので、お互いのパターン
の中心座標系を整合させる前に、まずこのベア候補リス
トを作成することができる。そこで、つぎにこのベア候
補リストを用い、綜合的にみてこれらの%微意のもつ局
所的近似度を最もよく整合させるという観点から、中心
座標系の座標整合を行なう。しかる後にこの整合された
中心座標系を用いて同一性を判定するという順序で照合
処理が行なわれる。
さて、この特徴点の間の近似度を定量的に表すものとし
て、前述のように各特徴点の局所的特徴、すなわち、中
心座標系の選び方に左右されない各特徴点の局所的特徴
による近似度を用いる。。
例えば、前述の種別を表わすQもその一つになる。1だ
、対象とする特徴点から予め定めた一定の距離以内にあ
る他の特徴点の数も局所的特徴として用いることができ
る。
とくに、以下に示す局所的%9は、このベア候補リスト
を作るのに極めて有力な材料を提供する。
今、あるパターンの任意のi番目の特徴点をFiとする
とき、このIPJ徴点微意l tの位置Xi、Yiをそ
の座標原点とし、方向DiをX軸の方向とする直交亭−
系をこの特徴点Fiで定まる局所座標糸と定義する。J この局所座標糸の各象限(第1象限、第2象限、第4象
限および第3象限)において、この座標原点(つまシ対
象となっているもとの特徴点Fi)に最も近い位置にあ
る他の特徴点の番号をそれぞれmQ、ml、n12およ
びm3とすると、もとの特徴点Fiは、とのFiによっ
て定まる局所座標系の各象限内にそれぞれ他の最近特徴
点pmol Fml+Fml pおよびFm3をもつと
いう局所的特徴を有していることになる1、勿論この局
所的特徴は中心座標系の選び方とは無関係である。
そこで今、探索パターンの任意のi番目の特徴点Fiに
ついて上述のようなmQ、ml、m2およびm3が得ら
れておシ、また、照合すべきファイルパターンの任意の
j番目の特徴点F1についても同様にFiによって定ま
る局所座標系の各象限内に特徴点番号mo’、 m1’
、 m2’およびm3’をもつ最近特徴点が得られてい
たとすると、この両方の特徴点FiとF)との局所的近
似度は、それぞれの局所座標糸上で、対応する象限内に
ある最近特徴点同志の相互関係が、ある一定のしきい値
近傍内にあるか否かを判定することで容易に定量化する
ことができる。例えは、対応する象限内における最近特
徴点同志の、それぞれの局所座標系におけるX座標の差
およびY座標の差を求め、この差があるしきい値以内に
ある場合に社、各象限の最近特徴点ごとに近似度の重み
に1を加算するという形で定量化することができる。
このように、各特徴点に対し、この特徴点で定まる局所
座標系の各象限内における最近特徴点を見出し、これを
もとの特徴点と対応づけるという処理(以下リレーショ
ン生成処理)は、上述のように、パターンの同一性の照
合を行なう場合の重要な一つのステップとなる。
とくに、指紋〆照合等の処理においては、一つの探索指
紋に対しこれとI照合して同一性を判定すべきファイル
指紋の数が厖大な量となるので、このようなりレーショ
ン生成処理を高速かつ確実に実行する必要がある。1 しかしながら、従来、このような処理を行なう専用の装
置は知られていない。
本発明の目的は、以上のようなりレージ目ン生成処理を
高速かつ確実に行なうリレーション生成装置を提供する
にある。
本発明の装置は、直交座標系によシ位置および方向が定
義された複数の特徴点の前記位置および方向に関する情
報を格納する特徴点メモリと、前置および方向を座標変
換する座標変換回路と、前記第2の特徴点の座標変換後
の位置情報を用いて前記局所座標系における象限情報を
生成する手段と、前記局用座標系における第2の特徴点
の原点からの距離の関数を計算する割算手段と、前記局
所座標系の各象限対応に以前に出現した最近特徴点を指
示する情報およびその原点からの距離の関数を保持する
レジスタファイル手段と、前記レジスタファイル手段中
に保持されている距離の関数と前記計算手段によシ新た
に計算された距離の関数とを比較する比較手段と、前記
比較手段により新たに計算された第2の特徴点に対する
距離の関数が前記保持されている距離の関数よりも小さ
いと判定された場合に前記レジスタファイル手段の対応
する象限位置にこの第2の特徴点を指示する情報および
この新だに計算された距離の関数を前記最近特徴点を指
示する情報およびその原点からの距離の関数として登録
更新する手段とを有する。
次に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第3図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
この実施例は、特徴点メモリ1、座標変換回路2および
リレーション生成回路3を有している。
また、第4図は前記座標変換回路2の詳細を示すブロッ
ク図で、これはパラメータレジスタ201(XT)、2
02(YT)および203(DT)、減算器204、2
05.206および213、円関数発生器207、乗算
器208,209,210および211、および加算器
212を有している。
また、第5図は前記リレーション生成回路3の賎細を示
すブロック図で、これは特徴点レジスタ301(Q)、
302(X)、303(Y)および304(D)、アド
レスレジスタ305(A)、305(B)、306(B
)および306(F)、 定数加算器307、入力選択
器308、2乗計算器309(X”)および310(Y
”)、加’14J、 311 、レジスタファイル31
2、比較器313、制御部314、一致検出器315お
よび禁止ゲート316を有している。
さて、本実施例に用いられる特徴点メモ1月は下記のよ
うに構成されている。
第6図に示すように、8ビツトの2進数で指定される2
56個のロウアドレスと、3ビツトの2進数で指定され
る8個のコラムアドレスとよシなる全部で2048個の
メモリアドレスを有している。
この各ロウアドレスは、一つの紋様ノくターンの各特徴
点に対応し、特定のi番目の特徴点の各情報は、対応す
るi番目のロウアドレスをもつ各コラムアドレスに以下
に述べるように格納されている。
まず、0番目のコラムアドレス(000)には、i番目
の特徴点の種別(端点分岐点特異点等の男1])を衣わ
す情報(以後Qiで光示)が格納され、1番目のコラム
アドレス(001)にはi番目の%金魚のX座標(以後
Xiで光示)が、2番目のコラムアドレス(010)に
は1番目の特徴点のY座標(以後Yiで表示)が、3番
目のコラムアドレス(011)にはi番目の特徴点の方
向D(以後piで表示)がそれぞれ格納されている。
これらのXi、’yiおよびDiの値は、この紋様パタ
ーンのはソ中心を座標原点とする特定のXY座体系(以
後必要の場合には中心座標系と呼称して区別)で記述さ
れているが、座標糸抽出の際の誤差が一般的にはかなジ
大きくなってしまう。
また、ある紋様パターンの各Qi、Xi、YiおよびD
Iのすべての値が、本実施例の処理に先だち、すでに上
位装置によって各メモリアドレスに上述のように書き込
まれているものとする1、この場合に、1き込まれたこ
の紋様パターンの最後の特徴点の次のロウアドレスには
、その0番目のコラムアドレス(Qを格納するアドレス
)に特定の終了マーク(EOD)を格納し、処理の終了
を指示するのに用いるcl さて、次の、4査目から7番目までの4個のコラムアド
レス(100〜111)は、本実施例が生成するりレー
ションデータを格納すべきメモリアドレスで、このリレ
ーションテータとは以下に述べるようなものである。
今、特定のi番目の特徴点をとり、第7図に示すように
、この特徴点の位&X1gYlを座標原点とし、方向D
iをX軸方向とする局所座標系(以後X1Yii所座標
系)を作ったとする。このXlYi局所座標糸の各象限
ごとに、この局所座標系の原点(つまりi番目の特徴点
の位置)に最も近い位置にある他の%金魚を1個ずつと
り、それらの各特徴点の番号を象限の順番にMiO,M
il、1・Xi3およびXi2とすると、これかりレー
ションデータとなる。
すなわち、本実施例は、任意の特徴点に対し、その特徴
点の近傍の状態を把握するため、との特徴点で一義的に
定まる局ル1座簿系上の各象限における最近特徴点を探
し、それらともとの特徴点とを関連ずける動作を行なう
装置である。こうして得られたりレーションデータは、
Xi、YiおよびDiのデータと異なって、中心座標系
の選び力とは無関係であるという特徴を治している。
さて、これらのりレーションプータは、もとの特徴点に
対応プるi番目のロウアドレスの、以下に示す各コラム
アドレスに格納される1゜この局nI座標系の第1象限
にある最近特徴点の番号MiOを第4番目のコラムアド
レス(100)K格納する。第2象限にある最近特徴点
番号Milを第5番目のコラムアドレス(101)K、
第4象限にある最近特徴点の番号Mi2を第6番目のコ
ラムアドレス(110)に、第3象限にある最近特徴点
の番号Mi3を第7番目のコラムアドレス(111)に
それぞれ格納する。なお象限の順序と格納するコラムア
ドレスの順序がずれているのは後述するハードウェアを
簡単にするためである。
さてつぎに、上述のりレーションデータの生成処理を各
回路の動作と関連ずけて詳述する。
リレーション生成回路3の中の制御部314(第5図)
はマイクロプログラムを格納する制御記憶(図示せず)
を含み、このマイクロプログラムを逐次読み出して実行
することにょシ処理を進行させる。この処理の進行を第
8図にフローチャートとして示す。
まず、開始指示がライン30(JO(STRT)を介し
て上位装置(図示せず)から供給され、リレーション生
成処理が開始されると(第8図7)、制御レーションデ
ータを求めるべきもとになる特徴点を指示するレジスタ
でロウアドレス指定部分305(A)とコラムアドレス
指定部分305(B)とを有し、初期値設定によってい
ずれもOにクリアされ、それぞれ最初のメモリアドレス
を指示するようにセットされる(第8図イ)。
次に、制御部314は、レジスタ305(A)の内容A
で指定される特徴点メモリ1のロウアドレスから特徴点
のQAI XAI YAおよびDAを読み出し、XA。
YAおよびDAを第4図に示す座標変換回路2のパラメ
ータレジスタ201 (XT)、202(YT )およ
び203(DT)にそれぞれ変換パラメータとしてロー
ドする。このために制御部314は、アドレスレジスタ
305 (A)および305(B)の内容をライン30
56(AD)を介して特徴点メモリ1に供給することに
よシ、アドレスレジスタ305(A)で指定される特徴
点メモリ1のロウアドレスからアドレスレジスタ305
(B)で指定される4バイト分すなわちQA、xA、y
AおよびDAを読み出す。この読み出したXA、YAお
よびDAの値をそれぞれライン2010(X)、202
0(Y)および2030(D)を介して各パラメータレ
ジスタに供給し、ライン2000(PL)にラッチパル
スを供給することによシ、これらの値を各レジスタに設
定する(第8図つ)。
次に、制御部314は上で読み出したQAが終了マーク
であるか否か判定し、もし終了マークである場合にはこ
れで処理を終了(第8図才)し、そうでない場合には下
記に進む(第8図工)。
次に、制御部314はアドレスレジスタ306(E)、
306(F)およびレジスタファイル312の初期値設
定を行なう(第8図力)。
アドレスレジスタ306は、アドレスレジスタ305と
同様に、ロウアドレス指定部分306(E)とコラムア
ドレス指定部分306(F)とを有し、これは比較すべ
き特徴点番号を指示するためのレジスタで、初期値設定
によっていずれも0にクリアされる。
また、レジスタファイル312は4個のレジスタ312
−0〜312−3からなシ、この各レジスタはそれぞれ
のアドレスフィールドMO,M1+M2およびM3と、
それぞれの距離フィールドRO,R1゜R2およびR3
とがらなっている。
このアドレスフィールドMO〜M3は、現在アドレスレ
ジスタ305(A)で指定されるもとの特徴点に対し、
処理の現段階でみつかった最も近い位置にある他の特徴
点の番号(っまシその特徴点に対する特徴点メモリ1の
ロウアドレス)を前述の局所座標系の各象限ごとに態別
に格納するためのフィールドで、第1象限の点の番号を
MOに、第2象限の点の番号をMlに、第3象限の点の
番号をM3に、第4象限の点の番号をM2にそれぞれ格
納する。
また、距離フィールドRO−13は前記局所座標系の原
点(つtbアドレスレジスタ305(A)で指定される
もとの特徴点の位置)からこれら各特徴点MO〜M3ま
での距離の2乗値をそれぞれ格納するフィールドである
312のこれらの各レジスタのすべてのビットには“1
″がセットされ、それぞれ、アドレスフィールドM O
−M 3は対応する特徴点が存在しないことを表わし、
距離フィールドRO−R3は表わし得る最も遠いい距離
に設定される。
さて次に、制御部314は、アドレスレジスタ306(
E)と306(F’)との内容をライン3o56(AD
)を介して特徴点メモリ1に供給することによシ、アド
レスレジスタ306(E)で指定される4バイトすなわ
ち、QE+Xg+yEおよびり、を読み出し、QIをリ
レーシ百ン生成回路3(第5図)の特徴点レジスタ30
1(Q)に格納する。
また、XE、YEおよびDEを、座標変換回路2(第4
図)O;lン2010(X)、 2020(Y)オ!び
2030(D)のそれぞれを介して供給することにより
、XAYA局所座標系(X A I Y AおよびDA
にょシ定まる局所座標系)で表わされたそれぞれの値X
li、A、YEAおよびDICAに座標変換し、こうし
て得られたそれぞれの値をライン2120(X’1.2
130α′)(第5図)の特徴点レジスタ302(X)
、303(Y)および304(D)に格納する(第8図
キ)。
なお、座標変換回路2(第4図)は、中心座標系で表わ
した第1の特徴点の位置および方向をそれそ゛れX T
 I Y 7およびDTとし、同じく中心座標系で表わ
した第2の特徴点の位置および方向をそれぞれX、 Y
およびDとすると、このXTI Y丁IDTの値をそれ
ぞれパラメータレジスタ201(XT)。
202(YT)および203(Dr)Ka−)”L、X
、YおよびDの値をそれぞれライン2010 (X)、
 2020(Y)および2030(D)を介して供給す
ることによシ、前記第2の特徴点の位置X、Yおよび方
向りを、第1の特徴点で定まる前述のXTYT局所座標
系で表わした場合の位置X’、Y’および方向D′の値
に変換してライン2120(X’)、2130(Y’)
および2060(D’)よυ出力する回路でおる。
上述の局所座標系で表わした場合のX’、’Y’および
D′の値ともとの中心座標系のそれぞれの値との関係は
、よく知られているように、式で表わすと、X’=(X
 XT ) cos DT+(Y−YT )sin D
TY=(Y  Y7)Cog  D7−(X−XT)8
in  DTD’=D−DT となるが、第4図から明らかなように回路2はこの式に
従って高速演算によジ変換を実行する専用の座標変換回
路である。
なお、円関数発生器207は、cos  D7とain
D7とを発生し、cosD7をライン2070を介して
乗算器208および210に供給し、またsin DT
を2イン2071を介して乗算器209および211に
供給している。
本実施例においては、与えられる各DTの値を区別する
のに必要々ビット数が8ビット程度でよく、また出力の
cos 1)Tおよびsin DTに要求される精度も
10ピット程度で充分なので、円関数発生器207はR
OM(リードオンリイメモリ)に予め各DTに対するC
05DTおよびsin DTの計算された値を書き込ん
でおき、使用時にそれを読み出すことによシ高速動作を
実現している。
さて次に、制御部314は、特徴点レジスタ301(Q
)に読み出された前述のQKが終了マークを示すまで、
以下に述べる第8図ケ側の処理を実行しく第8図り、N
)、終了マークが現われると第8図シ側の処理に入る(
第7図り、Y)。
第8図ケの実行に入ると、下記のような処理が行なわれ
る。
すなわち、%像点レジスタ3Q2(X)および303(
Y)に格納された前述のそれぞれの内容XEAおよびY
IAは2乗計算器309(X2)オヨび310(”i”
)でそれぞれ2乗され、加算益311で加算され、ライ
ン3110にX” mA 十”2EAの出力を生じこれ
は比較器313の一方の入力に加えられる。
一方、特徴点レジスタ302(X)および303(Y)
に格納されている内容XEAおよびY EAのそれぞれ
の符号ビット(これをそれぞれSXおよび8Yで表わす
)が2ビツトのデータ(SY、SX)としてライン30
23を介して読み出される。この2ピツトのデータCB
’Y、SX)で表わされる2進数はX、A。
YIAで指示されるIP!f徴点の微意が、局所座標系
のそれぞれ第1象限、第2象限、第3象限および第4象
限におる場合には、それぞれ(0,0)=0゜(o、 
1)=1. (1,1)に3および(1,0)−2とい
う値をとることになる。制御部314はライン3140
を介して入力選択器308に制御信号を送シ、上述の2
ビツトデータ(SY、8X)を選択し、これをライン3
080を介してレジスタファイル312のファイルアド
レス指定信号として供給する。
この結果、レジスタファイル312の中の、(SY。
SX)で指定されるレジスタ(つマシ、特徴点レジスタ
に格納された特徴点が存在する象限に対応するレジスタ
)の距離フィールドの内容R(SY、 SX)がライン
3120を介して読み出され、比較器313のもう一方
の入力に供給される。
これによシ、比較器313は上述の、R(8Y、 8X
)の値と前述のX” EA+y2E人の値とを比較し、
現在までに得られている値R(8Y、8X)よυも同じ
象限内に、今回座標原点により近い特徴点が現われた場
合、つまシ R(8Y、 SX)>X”ga+Y意EAが成立した場
合にはライン3130に“1”を出力する。
一方、アドレスレジスタ305(A)の内容と、アドレ
スレジスタ306(E)の内容とは一致検出器315に
おいて比較されておシ、両者が一致している場合、つま
シ、もとの特徴点と比較すべき特徴点とが同じものであ
る場合にはライン3150に“l”を出力して禁止ゲー
ト316の通過を禁止する。
この結果、 の両方の条件が成立するときにかぎシライ、/3160
が“1′になる(第8図ケ、Y側)。
ライン3160に“1″が出力されると、レジスタファ
イル312が書込み状態に制御され、レジスタファイル
312の中の前述の2ビツトデータ(sy、sx)で指
定されるレジスタの内容が更新される。すなわち、新ら
しい特徴点を指定するアドレスレジスタ306(E)の
内容Eがライン3060を介してアドレスフィールドM
(SY、8X)に格納され、また、加算器311の出力
X” FA 十Y” IAの値がライン3110を介し
て距離フィールドR(SY、8X)に格納される(第8
図コ)。
これがすむと制御部314は、定数加算器307を用い
てアドレスレジスタ306(E)の内容を1だけ増加し
次の比較すべき特徴点を指示するように更新しく第8図
す)、再び次の%像点を読み出す処理(第8図キ)に戻
る。
また、前述の(1)式の条件が成立しない場合、つまシ
、今回読み出した比較すべき特徴点の位置が、すでに得
られている同じ象限内の特徴点の位置よシも原点(もと
の特徴点)に近くない場合か、またはこの比較すべき特
徴点かもとの特徴点と同じものである場合にはレジスタ
ファイル312の内容を更新することなく(第8図り°
、N)、アドレスレジスタ306(E)の内容を1だけ
増加しで次の比較すべき特徴点を指示するように更新し
く第8図す)、再び次の特徴漬を読み出す処理(第8図
キ)に戻る。
かくして、第8図のキ、り、ケ、(ロ)、ザの処理を繰
シ返すことによシ、制御部314は比較すべき新らしい
特徴点をつぎつぎに読み出し、もとの特徴点できまる局
所座標系の各象限ごとに、もとの特徴点によシ近い他の
特徴点が現われるたびに、この特徴点のデータを用いて
ファイル312の内容を更新する。この処理を、特徴点
メモリ1に貯わ見られている特徴点の終シが現れるまで
(読み出されたQgに終了マークが現われるt−C)繰
シ返す。
以上の処理が終ると、レジスタファイル312のアドレ
スフィールドMO〜M3の中には、アドレスレジスタ3
05(A)で指定されるもとの特徴点に対し、最も近い
位置にある他の特徴点の番号(ロウアドレス)が各象限
ごとに別々に求められたことに力る。
そこで次に、こうして求められたファイル312のアド
レスフィールドMO〜M3の内容を、アドレスレジス、
り305(A)で指定される、特徴点メモリ1の、もと
の特徴点と同じロウアドレスのりレージロンデータ格納
位置MAo、〜MA3に格納する。
このリレーシ百ンデータ格納処理にうつると、制御部3
14は、もとの特徴点のコラムアドレスを指示するアド
レスレジスタ305(B)の内容を、リレーシ曹ンデー
タ格納位置の最初を指示する値として4に初期値設定す
る(第8図シ)。
また、これとともにライン3140の出力を入力選択器
308がライン3060を選択するように切替える。こ
のライン3060にはアドレスレジスタ305(B)の
下位2ビット分が供給されているため、これによシ、レ
ジスタファイル312の中の各レジスタからの読み出し
は、アドレスレジスタ305(B)の下位2ビット分(
つfjl)Bから4を引いた値)で指定される。
さて、レジスタファイル312の上述のようにして指定
されるアドレスフィールドM(B−4>の内容は、読み
出され、ライン3121(WD)を介して特徴点メモリ
1の書き込みデータとして供給される。
一方、アドレスレジスタ305(A)の内容および30
5(B)の内容はライン3056(AD)を通して特徴
点メモリ1のそれぞれロウアドレスおよびコラムアドレ
ス指定データとして供給されている。このため制御部3
14は書き込みパルスをライン3141(W)を介して
特徴点メモリ1に供給することにょシ、上述のファイル
3120M(B−4)2)データを特徴点メモリ1のリ
レーシlンデータ格納位置MABに転送格納することが
できる(第8図ス)。
この転送がすむと、制御部314は、定数加算器307
を用いてアドレスレジスタ305(B)の内容を1だけ
増加し、次のファイルアドレスおよびコラムアドレスを
指示するように更新する(第8図ス)1゜以上の処理を
305(B)の値がオーバフローしてOになるまで繰り
返すと(第8図セ、Y)、アドレスレジスタ305(A
)で指定されるもとの特徴点に対するすべてのりレージ
言ンデータの格納が終了するので、制御部314は、定
数加算器307を用いてアドレスレジスタ305(A)
の内容に1を加えて、次のリレーシロンデータを求める
べきもとになる特徴点を指示するように更新する(第8
図ソ)。
かくして、この新らしいもとになる特徴点の各データを
読み出し、座標変換回路2のバラタ・−タレジスタ20
1〜203に格納し、この新らしい特徴点に対する局所
座標系を構成する処理18図つ)に戻る。
こうして、レジスタ305(A)を更新し、もとになる
特徴点を新らしく指定するごとに、その特徴点に対する
局所座標系を構成し、第8図のキ・り・ケ、←Xすのル
ープにより、他の全部の特徴点を順番に検査し、これら
の中からこの局所座標系の各象限における最近点を指示
するデータをレジスタファイル312中に生成する。こ
れがすむと第8図のス、セのループで、これらをもとの
特徴点に対するリレーシロンデータとして特徴点メモリ
1のリレーションデータ格納位置に転送する。
以上のような形で制御部314によυ処理が繰シ返えさ
れるが、こうして、すべての特徴点に対するレジスタ3
05(A)の指定がすむと、特徴点メモリ1のすべての
りレーションデータの生成は完了し、レジスタ305(
A)のつぎの更新によシ、終了マークが読み出され(第
8図工、Y)、リレーシラン生成処理が終了する(第8
図才)。
以上述べたように、本実施例によると、一つの紋様パタ
ーンの各特徴点の位置と方向とが与えられた場合に、こ
れら各特徴点の近傍の状態を把握するための情報として
、各特徴点ごとに定まる局所座標系を用い、この各象限
における他の最近特徴点を見出すことによシ、もとの特
徴点に対するリレーションデータを比較的簡単なアルゴ
リズムによシ高速で生成することができる。
こうして生成されたりレージ四ンデータは、各特徴点の
位置方向を表わすもとのデータと異って、中心座標系の
選び方と無関係な量でおるため、中心座標系が整合され
ていない二つの紋様パターンの照合を行なう場合にまず
必要となるペア候補リストを作成するための有力な材料
を提供する。
このベア候補リストとは、前述したように鑑定すべき紋
様パターンの各特徴点に対し、照合すべき紋様パターン
の特徴点をその近似度の強さに従ってペア候補としてリ
ストするものであるが、本実施例で得られたりレーショ
ンを用いると、ある特徴点に対しそのまわりの最近特徴
点の構成が局所座標系上で明瞭に表示されるので、局所
座標系上におけるこの構成を比較することによシ容易に
二つの特徴点相互間の近似度を判定することが可能とな
υ、ペア候補リスト作成に対する有力な材料を提供する
こととなるのである。
なお、本発明は指紋に限ることなく、位置と方向を有す
る複数の%微志で構成されるパターンの照合に適用する
れとができる。
また、本実施例においては1、特徴点メモリに特定の構
成および客月を用いたがこれは一例を示したものでこれ
に限定されるものではない。
また、鮮標変挽回路およびリレーション生成回路も一実
施例を示したもので何もこれに限るものではない、 まだ、埋土の実施例においては最近%微志を求めるため
に局所座標系原点からの距離の2乗を計譜して比較して
いるが、これは何も距離の2乗に限らず、適尚な距離の
関数を用いることもできる。
以上のように、本発明は位置と方向を有する特徴点から
なるパターンの照合に対し有力な手段を提供し、これに
よシこのようなパターン照合の高速性、確実性の向上を
達成できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は紋様パターンの特徴点を説明するための図、第
2図は抽象化された特徴点の集合を示す図、第3図は本
発明の一実施例を示すブロック図、第4図は本実施例の
座標変換回路の詳細を示すブロック図、第5図は本実施
例のりレージロン生成回路の詳細を示すブロック図、f
pJ6図は特徴点メモリの構成を説明するための図、第
7図は局所座標系を説明するための図および第8図はり
レージロン生成処理を示すフローチャートである。 図において、 1・・・・・・%像点メモリ、2・・・・・・座標変換
回路、3・・・・・・リレーション生成回路、201・
・・・・・パラメータレジスタ(Xr)、202・・・
・・・パラメータレジスタ(YT )、203・・・・
・・パラメータレジスタ(DT)、204.205,2
06.213・・・・・・減算器、207・・・・・・
円関数発生器、208.209.210.211・・・
・・乗算器、212・・・・・・加算器、301・・・
・・・特徴点レジスタ(Q)、302・・・・・・特徴
点レジスタ(X)、303・・・・・・特徴点レジスタ
(Y)、304・・・・・・特徴点レジスタ(D)、3
05・・・・・・アドレスレジスタ(A)、 アドレス
レジスタ(B)、306・・曲アドレスレジスタ(FJ
)、  アドレスレジスタ(F)、307・・曲定数加
算器、308・・・・・・入力選択器、309.310
・・曲2乗計算器、311・・・・・・加算器、312
・・曲レジスタファイル、313・・・・・・比較器、
314・・・・・・制御部、315・・間一致検出器、
316・・・・・・禁止ゲート。 風  / (2) 活  、、3 口 躬 4 m

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 直交座標系によ多位置および方向が定義された複数の特
    徴点の前記位置および方向に関する情報を格納する特徴
    点情報記憶手段と、 徴点の位置および方向を座標変換する座標変換子   
    段と、 前記第2の特徴点の座標変換後の位置情報を用いて前記
    局所座標系における象限情報を生成する手段と、   
                     3゜前記局所座標
    系における第2の特徴点の原点からの距離の関数を計算
    する計算手段と、前記局所座標系の各象限対応に以前に
    出現した   ]最近特徴点を指示する情報およびその
    原点からの   j距離の関数を保持するレジスタファ
    イル手段と、前記レジスタファイル手段中に保持されて
    いる距離の関数と前記計算手段によシ新たに計算された
    距離の関数とを比較する比較手段と、前記比較手段によ
    シ新たに計算された第2の特徴点に対する距離の関数が
    前記保持されている距離の関数よシも小さいと判定され
    た場合に前記レジスタファイル手段の対応する象限位置
    にこの第2の特徴点を指示する情報およびこの新たに計
    算された距離の関数を前記最近特徴点を指示する情報お
    よびその原点からの距離の関数として登録更析する手段
    と を有することを特徴とするりレーション生成装置。
JP57112216A 1982-06-28 1982-06-29 リレ−シヨン生成装置 Granted JPS592182A (ja)

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JP57112216A JPS592182A (ja) 1982-06-29 1982-06-29 リレ−シヨン生成装置
CA000431287A CA1199732A (en) 1982-06-28 1983-06-28 Method and device for matching fingerprints with precise minutia pairs selected from coarse pairs
AU16313/83A AU567678B2 (en) 1982-06-28 1983-06-28 Device for matching finerprints
DE8383303729T DE3378794D1 (en) 1982-06-28 1983-06-28 Method and device for matching fingerprints
EP83303729A EP0098152B1 (en) 1982-06-28 1983-06-28 Method and device for matching fingerprints
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JPS6256553B2 JPS6256553B2 (ja) 1987-11-26

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62150735A (ja) * 1985-12-25 1987-07-04 Canon Inc ウエハ搬送装置
JPS6370433A (ja) * 1986-09-11 1988-03-30 Tokyo Electron Ltd プロ−ブ装置
JPH01124740A (ja) * 1987-11-10 1989-05-17 Tokyo Electron Ltd 液晶表示体の検査装置
US4875005A (en) * 1987-08-07 1989-10-17 Tokyo Electron Limited Mechanism for turning over a test head of a wafer probing machine
JPH04233670A (ja) * 1990-12-28 1992-08-21 Omron Corp 画像処理装置および画像処理方法

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JPS6256553B2 (ja) 1987-11-26

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