JPS59212842A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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JPS59212842A
JPS59212842A JP8689383A JP8689383A JPS59212842A JP S59212842 A JPS59212842 A JP S59212842A JP 8689383 A JP8689383 A JP 8689383A JP 8689383 A JP8689383 A JP 8689383A JP S59212842 A JPS59212842 A JP S59212842A
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JP
Japan
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layer
photoreceptor
atom content
atomic
charge transport
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JP8689383A
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Toshiki Yamazaki
山崎 敏規
Tatsuo Nakanishi
達雄 中西
Hiroyuki Nomori
野守 弘之
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Konica Minolta Inc
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    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic

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  • Inorganic Chemistry (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To permit a thin film to retain high potential by forming a photosensitive body composed of an inorg. surface-modified layer, an a(amorphous)-Si type photoconductive layer, an a-SiC type electrostatic charge transfer layer, and an a-SiC type charge blocking layer. CONSTITUTION:A charge blocking layer 5 made of a-SiC hydride or fluoride doped with a comparatively large amt. of element of group IIIA of the periodic table, such as boron, is formed on a substrate 1. On this layer 5 a charge transfer layer 2 made of a-SiC hydride or fluoride contg. 10-30atomic% C and doped with a comparatively small amt. of element of group IIIA of the periodic table is formed. On this layer 2, a photoconductive layer 3 made of a-Si hydride or fluoride is formed. Further on this layer 3, an inorg. surface-modified layer 4 made of e.g. a-SiC hydride or fluoride is formed.

Description

【発明の詳細な説明】 1、産業上の利用分野 本発明は感光体に関し、特に正帯電で使用するのに好適
な電子写真感光体に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION 1. Field of Industrial Application The present invention relates to a photoreceptor, and particularly to an electrophotographic photoreceptor suitable for use with positive charging.

2、従来技術 従来、電子写真感光体として、Se、又はSeにAs、
 Te、 Sb等をドープした感光体、ZnOやCdS
を樹脂バインダーに分散させた感光体等が知られている
。しかしながらこれらの感光体は、環境汚染性、熱的安
定性、機械的強度の点で問題がある。
2. Prior art Conventionally, as an electrophotographic photoreceptor, Se, or Se and As,
Photoreceptor doped with Te, Sb, etc., ZnO or CdS
Photoreceptors, etc., in which the compound is dispersed in a resin binder are known. However, these photoreceptors have problems in terms of environmental pollution, thermal stability, and mechanical strength.

一方、アモルファスシリコン(a −St ) 全母体
として用いた電子写真感光体が近年になって提案されて
いる。a−8iは、5i−8tの結合手が切れたいわゆ
るダングリングボンドを有しておシ、この欠陥に起因し
てエネルギーギャップ内に多くの局在準位が存在する。
On the other hand, electrophotographic photoreceptors using amorphous silicon (a-St) as the entire matrix have been proposed in recent years. a-8i has a so-called dangling bond in which the 5i-8t bond is broken, and many localized levels exist within the energy gap due to this defect.

このために、熱励起担体のホッピング伝導が生じて暗抵
抗が小さく、また光励起担体が局在準位にトラップされ
て光導電性が悪くなっている。そこで、上記欠陥を水素
原子(H)で補償してStにHを結合させることによっ
て、ダングリングボンドを埋めることが行われる。
For this reason, hopping conduction of thermally excited carriers occurs, resulting in a small dark resistance, and photoexcited carriers are trapped in localized levels, resulting in poor photoconductivity. Therefore, the dangling bonds are filled by compensating the defects with hydrogen atoms (H) and bonding H to St.

このようなアモルファス水素化シリコン(以下、a−8
t:Hと称する。)の暗所での抵抗率は108〜109
Ω−mであって、アモルファスSeと比較すれば約1万
分の1も低い。従って、a−8t:Hの単層からなる感
光体は表面電位の暗減衰速度が大きく、初期帯電電位が
低いという問題点を有している。
Such amorphous hydrogenated silicon (hereinafter referred to as a-8
It is called t:H. ) has a resistivity of 108 to 109 in the dark.
Ω-m, which is about 1/10,000 times lower than that of amorphous Se. Therefore, a photoreceptor made of a single layer of a-8t:H has problems in that the dark decay rate of the surface potential is high and the initial charging potential is low.

しかし他方では、可視及び赤外領域の光を照射すると抵
抗率が大きく減少するため、感光体の感光層として極め
て優れた特性を有している。
However, on the other hand, when irradiated with light in the visible and infrared regions, the resistivity is greatly reduced, so it has extremely excellent properties as a photosensitive layer of a photoreceptor.

そこで、このよりなa−8i:Hに電位保持能を付与す
るため、ホウ素等をドーグすることによシ抵抗率を10
12Ω−zKまで高めることができるが、ホウ素量等を
そのように正確に制御することは容易ではない。また、
ホウ素等と共に微量の酸素を導入することにより10 
 Ω−m程度の高抵抗化が可能であるが、これを感光体
に用いた場合には光感度が低下し、裾切れの悪化や残留
電位の発生という問題が生じる。
Therefore, in order to impart potential holding ability to this solid a-8i:H, the resistivity was reduced to 10 by doping with boron, etc.
Although it is possible to increase the resistance to 12Ω-zK, it is not easy to control the amount of boron etc. accurately. Also,
By introducing a small amount of oxygen along with boron etc.
Although it is possible to increase the resistance to about Ω-m, when this is used in a photoreceptor, the photosensitivity decreases, causing problems such as worsening of edge breakage and generation of residual potential.

また、a−8t:Hを表面とする感光体は、長期に亘っ
て大気や湿気に曝されることによる影響、コロナ放電で
生成される化学種の影響等の如き表面の化学的安定性に
関して、これ迄十分な検討がなされていない。例えば1
力月以上放置したものは湿気の影響を受け、受容電位が
著しく低下することが分っている。一方、アモルファス
水素化炭化シリコン(以下、a−8iC:Hと称する。
In addition, photoreceptors with a-8t:H surfaces are susceptible to surface chemical stability, such as the effects of long-term exposure to the atmosphere and moisture, and the effects of chemical species generated by corona discharge. , has not been sufficiently investigated so far. For example 1
It is known that if the device is left for more than a month, it will be affected by moisture and its receptive potential will drop significantly. On the other hand, amorphous hydrogenated silicon carbide (hereinafter referred to as a-8iC:H).

)について、その製法や存在が−Ph1l 、Mag 
、VoL、35=(1978)等に記載されておシ、そ
の特性として、耐熱性や表面硬度が高いこと、asi:
Hと比較して高い暗所抵抗率(10〜10  Ω−cr
n )を有すること、炭素量によシ光学的エネルギーギ
ャップが1,6〜2.8 eVの範囲に亘って変化する
こと等が知られている。但、炭素の含有によシバンドギ
ャップが拡がるために長波長感度が不良となるという欠
点がある。
), its manufacturing method and existence are -Ph1l, Mag
, VoL, 35 = (1978), etc., and its characteristics include high heat resistance and surface hardness, asi:
High dark resistivity (10-10 Ω-cr
It is known that the optical energy gap changes over a range of 1.6 to 2.8 eV depending on the carbon content. However, the inclusion of carbon widens the bandgap, resulting in poor long-wavelength sensitivity.

こうしたa−8iC:Hとa−8i:Hとを組合せた電
子写真感光体は例えば特開昭55−127083号公報
において提案されている。これによれば、a−8t:上
層を感光(光導電)層とし、この光導電層下にa−8i
C:上層を電荷輸送層として設けた機能分離型の2層構
造を作成し、上層のa−8i:Hによシ広層波長域での
光感度を得、かつa−8t:上層とへテロ接合を形成す
る下層のa −SiC:Hによシ帯N、電位の向上を図
っている。しかしながら、a−8i:H層の暗減衰を充
分に防止できず、帯電電位はなお不充分であって実用性
のあるものとはならない上に、表面にa−8t:H層が
存在していることによシ化学的安定性や機械的強度、耐
熱性等が不良となる。しかも、電荷輸送層についてはそ
の炭素原子含有量の検討がなされておらず、また各層の
厚み等も考慮されてい々いために、電子写真感光体とし
て要求される緒特性を満足したものとはなっていない。
An electrophotographic photoreceptor combining such a-8iC:H and a-8i:H has been proposed, for example, in Japanese Patent Laid-Open No. 127083/1983. According to this, a-8t: The upper layer is a photosensitive (photoconductive) layer, and the a-8i layer is below this photoconductive layer.
C: Create a functionally separated two-layer structure with the upper layer as a charge transport layer, obtain photosensitivity in a wide wavelength range from the upper layer a-8i:H, and from the a-8t: upper layer. The lower layer a-SiC:H forming the terror junction is used to improve the band N and potential. However, the dark decay of the a-8i:H layer cannot be sufficiently prevented, the charging potential is still insufficient and it is not practical, and the a-8t:H layer is present on the surface. This leads to poor chemical stability, mechanical strength, heat resistance, etc. Moreover, the carbon atom content of the charge transport layer has not been studied, and the thickness of each layer has also been taken into account, so it has not been possible to satisfy the physical characteristics required for an electrophotographic photoreceptor. Not yet.

一方、特開昭57−17952号公報には、a−8i:
Hからなる光導電層上に第1のa−8iC:H層を表面
改質層として形成し、裏面上(支持体電極ml!l )
に第2のa−8iC:H層を電荷輸送層として形成して
、機能分離型の3層構造の感光体としている。
On the other hand, JP-A-57-17952 discloses a-8i:
A first a-8iC:H layer is formed as a surface modification layer on the photoconductive layer consisting of H, and on the back surface (support electrode ml!l)
A second a-8iC:H layer is formed as a charge transport layer to provide a functionally separated three-layer photoreceptor.

この公知の感光体に関しては、a−8t:H層の暗減衰
の防止等の効果はあるが、a−8iC:H層、特に電荷
輸送層の炭素原子含有量について検討がなされていない
ので、a−8i:H層との接合状態によっては感度低下
を生じ、かつ残留電位も上昇し、多数枚複写に耐える耐
久性を有してはいない。
Although this known photoreceptor has the effect of preventing dark decay of the a-8t:H layer, no study has been made on the carbon atom content of the a-8iC:H layer, especially the charge transport layer. a-8i: Sensitivity decreases depending on the bonding state with the H layer, residual potential also increases, and does not have the durability to withstand multiple copies.

3、発明の目的 本発明者は、上記した如き従来技術の問題点に鋭意検討
を加え、上記の3層構造の如き機能分離型感光体の特長
を有する新規な構成の感光体を案出し、特にその電荷輸
送層の炭素原子含有量と電荷輸送層及び電荷ブロッキン
グ層の各不純物濃度が感光体の特性を大きく左右するこ
とをつき止め、適切な範囲に炭素原子及び不純物含有量
を設定することによって特に正帯電時での光感度、残留
電位、電位保持能、耐久性等にすべて優れた感光体を得
ることに成功したものである。
3. Purpose of the Invention The present inventor has made extensive studies on the problems of the prior art as described above, and has devised a photoreceptor with a novel structure that has the features of a functionally separated photoreceptor such as the three-layer structure described above. In particular, it is important to find out that the carbon atom content of the charge transport layer and the impurity concentrations of the charge transport layer and charge blocking layer greatly affect the characteristics of the photoreceptor, and to set the carbon atom and impurity contents within appropriate ranges. As a result, we have succeeded in obtaining a photoreceptor that is excellent in photosensitivity, residual potential, potential holding ability, durability, etc. especially when positively charged.

4、発明の構成 即ち、本発明は、アモルファス水素化及び/又はフッ素
化シリコン(例えばa−8t:H)からなる光導電層と
、この光導電層上に形成されかつ無機物質(特にa−8
iC:H)からなる表面改質層と、前記光導電層下に形
成されかつ周期表第111 A族元素が比較的少量ドー
プされたアモルファス水素化及び/又はフッ素化炭化シ
リコン(例えばa  SiC:H)からなる電荷輸送層
と、この電荷輸送層下に形成されかつ周期表第Tll 
A族元素が比較的多量ドープされたアモルファス水素化
及び/又はフッ素化炭化シリコン(例えばa−8iC:
H)からなる電荷ブロッキング層とを有し、かつ前記電
荷輸送層の炭素原子含有量が10〜30 atomic
 %であることを特徴とする感光体に係るものである。
4. Structure of the Invention That is, the present invention comprises a photoconductive layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon (e.g. a-8t:H), and an inorganic material (particularly a-8t:H) formed on the photoconductive layer. 8
amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide (e.g. aSiC: H) and a charge transport layer formed under the charge transport layer and having a charge transport layer of Tll of the periodic table.
Amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide doped with relatively large amounts of Group A elements (e.g. a-8iC:
H), and the charge transport layer has a carbon atom content of 10 to 30 atomic
%.

5、実施例 以下、本発明による感光体を詳細に例示するが、まず、
本発明に到達するに至った経過を説明する。
5. Examples Hereinafter, the photoreceptor according to the present invention will be illustrated in detail.
The progress that led to the present invention will be explained.

第1図に示す感光体は、導電性支持基板1上にa−8i
C:H層(電荷輸送層)2、a−8i:H層(光導電層
)3、a−8iC:H層(表面改質層)4が順次積層せ
しめられたものからなっている。
The photoreceptor shown in FIG.
It consists of a C:H layer (charge transport layer) 2, an a-8i:H layer (photoconductive layer) 3, and an a-8iC:H layer (surface modification layer) 4 laminated in this order.

a−8iC:H層2は主として電位保持、電荷輸送及び
基板1に対する接着性向上の各機能を有し、その炭素原
子含有量は10〜30 atomic % (StとC
の合計総原子数に対する割合)に設定されることが重要
であシ、また10μrn〜30μ扉の厚みに形成される
のがよい。光導電層3は光照射に応じて電荷担体(キャ
リア)を発生させるものであって、その厚みは2500
A〜5μmであるのが望ましい。更に、a−8iC:H
層4はこの感光体の表面電位特性の改善、長期に亘る電
位特性の保持、耐環境性の維持(湿度や雰囲気、コロナ
放電で生成される化学種の影響防止)、表面硬度が高い
ことによる耐刷性の向上、感光体使用時の耐熱性の向上
、熱転写性(特に粘着転写性)の向上等の機能を有し、
いわば表面改質層として働くものである。そしてコo 
a−8iC:H層4 ノ厚ミt ハ400X 〜5oo
oX。
The a-8iC:H layer 2 mainly has the functions of holding potential, transporting charges, and improving adhesion to the substrate 1, and its carbon atom content is 10 to 30 atomic% (St and C
It is important to set the ratio to the total number of atoms), and it is preferable to form the door with a thickness of 10 μrn to 30 μrn. The photoconductive layer 3 generates charge carriers in response to light irradiation, and has a thickness of 2,500 mm.
It is desirable that the thickness is A~5 μm. Furthermore, a-8iC:H
Layer 4 improves the surface potential characteristics of this photoreceptor, maintains the potential characteristics over a long period of time, maintains environmental resistance (prevents the effects of humidity, atmosphere, and chemical species generated by corona discharge), and has high surface hardness. It has functions such as improved printing durability, improved heat resistance when using a photoreceptor, and improved thermal transferability (especially adhesive transferability).
It functions as a surface modification layer, so to speak. And Koo
a-8iC: H layer 4 thickness t 400X ~ 5oo
oX.

特に400 A≦t (2000A と従来のものより
ずっと薄くすることが重要でちる。
In particular, it is important to make it much thinner than the conventional one, 400A≦t (2000A).

このように感光体を構成することによって、従来のSe
感光体と比較して尚い膜厚で高い電位を保持し、可視領
域及び赤外領域の光に対して優れた感度を示し、耐熱性
、耐刷性が良く、かつ安定した対環境性を有するa−8
t系感光体(例えば電子写真用)を提供することができ
るのである。
By configuring the photoreceptor in this way, the conventional Se
Compared to photoreceptors, it maintains a high potential with a film thickness that is even thicker, exhibits excellent sensitivity to light in the visible and infrared regions, has good heat resistance and printing durability, and has stable environmental resistance. have a-8
This makes it possible to provide a t-type photoreceptor (for example, for electrophotography).

しかも注目すべきことは、電荷輸送層の炭素原子含有量
を10〜30atomic%と特定範囲に設定すること
によって、感光体に要求される緒特性を充二分に具備し
たものとなっていることである。これ訂 を以下にド細に説明する。
Moreover, what is noteworthy is that by setting the carbon atom content of the charge transport layer within a specific range of 10 to 30 atomic%, the photoreceptor has more than enough mechanical properties. be. This revision will be explained in detail below.

まず、a−8iC:Hは一般に、第2図に示す如く、炭
素原子含有量が増加するに伴なってその光学的エネルギ
ーギャップ(Ep、 opt )が増大することが確認
されている。このEtはバンドギャップに相当するもの
であって、炭素原子含有量を増加させればそれだけ、a
−8t:HのEt (約1.71eV)との差が大きく
なることが分る。
First, it has been confirmed that the optical energy gap (Ep, opt) of a-8iC:H generally increases as the carbon atom content increases, as shown in FIG. This Et corresponds to the band gap, and as the carbon atom content increases, the a
It can be seen that the difference between −8t:H and Et (approximately 1.71 eV) becomes large.

一方、炭素原子含有量は、第3図に示す如<a−8iC
:Hの比抵抗(ρD=暗所抵抗率、ρG:緑色光照射時
の抵抗率)を左右し、炭素含有量(即ちEf)を増やせ
ばある範囲以上では光感度(ρD/ρ0)が低下し、第
4図の如くになる。照射する光の波長を変化させた場合
、第5図の如くに、炭素含有量に応じてa−8iC:H
の光感度が変化する。
On the other hand, the carbon atom content is <a-8iC as shown in Figure 3.
:H affects the specific resistance (ρD = resistivity in the dark, ρG: resistivity when irradiated with green light), and if the carbon content (i.e. Ef) is increased, the photosensitivity (ρD/ρ0) decreases above a certain range. The result will be as shown in Figure 4. When the wavelength of the irradiated light is changed, as shown in Figure 5, a-8iC:H
light sensitivity changes.

第6図には、第1図で述べた層構成の感光体のエネルギ
ーバンドが示されている。このエネルギーバンド図にお
いて、上述した如く電荷輸送層2の炭素原子含有量を1
0〜30 atomic % (図示の例では15 a
tomic % : By = 2.1 eV )に設
定しているので、電荷輸送層2自体のEtは適切な大き
さになっていると共に、a−8i:H層3のEt (I
J 1.71eV)との界面は特に電子に対し実質的に
障壁を形成しないバンドキャップを形成することになる
。即ち、この感光体の表面を負帯電させて動作させる場
合、基体1側から0印で示すホールが一点鎖線で示す如
くに注入されようとするが、このホールはa−8iC:
H層2のもつバレンスパントEVのエネルギー障壁を乗
シ越えることができず、これによって感光体表面の負電
荷が充分に保持され、暗減衰が減少し、電位保持能が向
上する。しかも、光照射時に光導電層3中で発生したキ
ャリア(Q印で示すホール、・印で示す電子)のうち、
電子の方はコンダクションバンドEcが層2と3の間で
殆んど障壁がない(即ち、エネルギーレベルのマツチン
グが良好である)ためにa−8iC:H層2を介して一
点鎖線で示すように基体1側へ容易に移動でき、またホ
ールは薄い表面層4を介して容易に表面側へ移動して表
面負電荷を選択的に中和せしめて静電潜像を効率良く形
成する。従って、この感光体は、上記の電位保持能を加
えて光感度も良好である。
FIG. 6 shows the energy band of the photoreceptor having the layer structure described in FIG. In this energy band diagram, as described above, the carbon atom content of the charge transport layer 2 is 1
0 to 30 atomic % (15 a in the example shown)
tomic %: By = 2.1 eV), the Et of the charge transport layer 2 itself has an appropriate size, and the Et of the a-8i:H layer 3 (I
In particular, the interface with J 1.71 eV) forms a band gap that does not substantially form a barrier to electrons. That is, when the surface of this photoreceptor is operated with a negative charge, holes indicated by the 0 mark are injected from the base 1 side as shown by the dashed line, but these holes are a-8iC:
The energy barrier of the valence span EV of the H layer 2 cannot be overcome, and as a result, negative charges on the surface of the photoreceptor are sufficiently retained, dark decay is reduced, and potential retention ability is improved. Moreover, among the carriers (holes indicated by Q, electrons indicated by .) generated in the photoconductive layer 3 during light irradiation,
For electrons, the conduction band Ec is shown as a dotted line through the a-8iC:H layer 2 because there is almost no barrier between layers 2 and 3 (that is, the matching of energy levels is good). Thus, the holes can easily move toward the substrate 1 side, and the holes can also easily move toward the surface side through the thin surface layer 4 to selectively neutralize surface negative charges and efficiently form an electrostatic latent image. Therefore, this photoreceptor has good photosensitivity in addition to the above-mentioned potential holding ability.

こうした顕著な作用効果を得るには、特に電荷輸送層2
の炭素原子含有量を10〜30 atomic%に特定
しなければならないことが明らかにされた。即ち、炭素
原子含有量が10 atomic 1未満では、a −
8iC:H層2の比抵抗が電位保持能に必要な10Ω−
cnlを下履る(第3図参照)ために特に帯電電位が不
充分となり、不適当である。また、炭素原子含有量が3
0 atomic%を越えると、比抵抗がやはシ低下す
ると同時に、炭素原子が多すぎてa−8iC:H層中で
の欠陥が増えてキャリア輸送能自体が不良となってしま
う。
In order to obtain these remarkable effects, especially the charge transport layer 2
It has become clear that the carbon atom content of 10 to 30 atomic% must be specified. That is, when the carbon atom content is less than 10 atomic 1, a -
8iC: The specific resistance of H layer 2 is 10Ω- which is necessary for potential holding ability.
In particular, since the charging potential is insufficient because the cnl is worn (see Fig. 3), it is inappropriate. Also, the carbon atom content is 3
If it exceeds 0 atomic %, the specific resistance will decrease considerably, and at the same time, the number of defects in the a-8iC:H layer will increase due to too many carbon atoms, resulting in poor carrier transport ability itself.

また、第1図の感光体は、光導電層3中には周期表第1
■A族等の不純物を何らドーピングしていないことも重
要である。つまシ、従来技術の如くにa−8t:H層に
不純物をドーピングしてその高抵抗化(ρ、 = 10
〜10  Ω−crn)を図った場合、不純物ドーピン
グによって電子のキャリアレンジ(μτ)e1即ち(モ
ビリティスライフタイム)が低下し、これによって光減
衰曲線が裾を引き、感度低下や画質低下を生じてしまう
。第7図は、光導電層3に不純物をドーピングしない上
記感光体の光減衰特性を示すが、光照射時の電位低下が
急激であって感度良好であるのに対し、光導電層3に不
純物をドーピングした場合(後記のグロー放電法におい
て例えば(B2H6)/ CSiH4) =20 pp
mとしたとき)、光照射時に減衰曲線が裾を引いてしま
うことが分った。
Further, in the photoreceptor shown in FIG. 1, the photoconductive layer 3 contains the first
■It is also important that no impurities such as Group A are doped. However, as in the prior art, the a-8t:H layer is doped with impurities to increase its resistance (ρ, = 10
~10 Ω-crn), impurity doping lowers the electron carrier range (μτ) e1 (mobility lifetime), which causes the optical attenuation curve to tail, resulting in lower sensitivity and lower image quality. I end up. FIG. 7 shows the optical attenuation characteristics of the above-mentioned photoreceptor in which the photoconductive layer 3 is not doped with impurities. When doping (for example, (B2H6)/CSiH4 in the glow discharge method described later) = 20 pp
m), it was found that the attenuation curve tailed during light irradiation.

本発明者は、第1図に示した如き3層構造の機能分離型
の感光体は上記した如き顕著な利点を有しているものの
、次に述べるような問題点を有していることをつき止め
た。
The present inventor has discovered that although the functionally separated photoreceptor with the three-layer structure shown in FIG. 1 has the remarkable advantages described above, it also has the following problems. I stopped.

即ち、第1図の感光体は、第6図のエネルギーバンド図
及び上記の説明から理解されるように負帯電用の感光体
であって、正帯電用としては帯電能が低く、暗減衰が大
きくなってしまう。っまシ、第6・図から明らかなよう
に1例えば電荷輸送層2の炭素原子含有量が15 at
omic %、Er 、 optカ2.06eVf6ル
/、ji?光体の表面を正帯電させて使用する場合、基
板1側から電子が電荷輸送層2のEcを容易に乗シ越え
て注入されてしまい、表面の正電荷を中和して表面電位
を減衰させ易い。しかも、光照射時に光導電層3中で発
生したキャリアのうち、ホールは両層3−2間のEvO
叫ルギーギャップ又はエネル←障壁(△E)によって光
導電層3から電荷輸送層2へ移動するのが困難となる(
a−8tのEy 、 optは1.71 eV、 a−
8iCのEy、 optは2.06 eV )。
That is, as understood from the energy band diagram of FIG. 6 and the above explanation, the photoreceptor shown in FIG. 1 is a photoreceptor for negative charging, and has low charging ability and dark decay for positive charging. It gets bigger. As is clear from Figure 6, for example, when the carbon atom content of the charge transport layer 2 is 15 at.
omic %, Er, opt 2.06eVf6 le/, ji? When the surface of the light body is used with a positive charge, electrons are easily injected from the substrate 1 side, exceeding the Ec of the charge transport layer 2, neutralizing the positive charge on the surface and attenuating the surface potential. Easy to do. Moreover, among the carriers generated in the photoconductive layer 3 during light irradiation, the holes are the EvO between both layers 3-2.
It becomes difficult for energy to move from the photoconductive layer 3 to the charge transport layer 2 due to energy gap or barrier (△E) (
Ey of a-8t, opt is 1.71 eV, a-
Ey of 8iC, opt is 2.06 eV).

こうしたことから、上記感光体は正帯電時の帯電能が悪
くて暗減衰が多く、かつ光感度も乏しいために、第9図
の如き減衰曲線しか得られず、正帯電用としては使用不
適である。
For these reasons, the above-mentioned photoreceptor has poor charging ability during positive charging, has a large amount of dark decay, and has poor photosensitivity, so only the attenuation curve shown in Figure 9 can be obtained, making it unsuitable for use in positive charging. be.

そこで、第10図に示す如く、第1図の感光体とおいて
、基板1からの電子の注入を阻止すべく、電荷輸送層2
と基板lとの間にボロンドープドP型a−8iC:H層
5を電荷ブロッキング層として設けることが考えられた
。これによって、第11図に示す如く、基板1からの電
子の注入を阻止して感光体表面の正電荷を保持すること
(即ち暗減衰を少なくすること)は可能となるが、上記
したと同様のエネルギー障壁(ΔE)によって光感度が
悪く、第12図に示す如く光照射時に表面電位の裾引き
が生じてしまう。
Therefore, as shown in FIG. 10, in order to prevent the injection of electrons from the substrate 1 in the photoreceptor shown in FIG.
It has been considered to provide a boron-doped P-type a-8iC:H layer 5 between the substrate 1 and the substrate 1 as a charge blocking layer. As a result, as shown in FIG. 11, it is possible to prevent the injection of electrons from the substrate 1 and maintain the positive charge on the surface of the photoreceptor (that is, to reduce dark decay), but this is similar to the above. The energy barrier (ΔE) causes poor photosensitivity, and as shown in FIG. 12, the surface potential tails when irradiated with light.

本発明者は、正帯電時に生じる上記問題点を鋭意検討し
た結果、電荷ブロッキングPA5を設けてキャリアの注
入を阻止するだけでは不適当であシ、これに加えて、光
導電層3中に光照射時に生じるホールを効率良く電荷輸
送層2側へ移動させる効果的な手段を講じることが必要
であるとの認識に到達した。
As a result of intensive study of the above-mentioned problems that occur during positive charging, the inventors of the present invention found that it is inappropriate to simply provide a charge blocking PA5 to prevent carrier injection. It has been recognized that it is necessary to take effective means to efficiently move holes generated during irradiation to the charge transport layer 2 side.

こうした手段としては、第2図に示したデータに基き電
荷輸送層2を構成するa−8iC:Hの炭素含有量を減
らして両層3−2間の△Eを減少させることも一案であ
るが、このためには炭素原子含有量が10 atomi
c 96未満と著しく少なくすることが必要であるから
、a−8iC:H層2が低抵抗化して感光体の帯電電位
を大幅に低下させてしまう。
As such a means, one idea is to reduce the carbon content of a-8iC:H constituting the charge transport layer 2 based on the data shown in FIG. 2 to reduce the ΔE between both layers 3-2. However, for this purpose, the carbon atom content must be 10 atoms.
Since it is necessary to significantly reduce c to less than 96, the resistance of the a-8iC:H layer 2 becomes low and the charging potential of the photoreceptor is significantly lowered.

本発明者は、両層3−2間のEVのレベルマツチングを
とるために、a−8iC:H層2の炭素原子含有量は1
0〜30 atomic %に保持して帯電特性及び輸
送能を良好に保持しながら、a−8iC:H層2中に周
期表第1nA族元素を比較的少量ドーピングすることに
よって、上記した問題点を充分に解消できることを見出
し、本発明に到達したのである。
The present inventor has determined that the carbon atom content of the a-8iC:H layer 2 is 1 in order to achieve EV level matching between both layers 3-2.
The above-mentioned problems can be solved by doping a comparatively small amount of Group 1nA elements of the periodic table into the a-8iC:H layer 2 while keeping the charging properties and transportability at 0 to 30 atomic %. They discovered that the problem could be solved satisfactorily and arrived at the present invention.

即ち、本発明に基く感光体は、基体的には第10図に示
した層構成からなってはいるが、a−8iC:H層2に
周期表第11IA族元素(例えばポロン)を比較的少量
ドープする一方、電荷ブロッキング用のa−8iC:H
層5には周期表第HA族元素(例えばポロン)を比較的
多量にドープし、かつa −8iC:H層2の炭素原子
含有量は10〜30 atomic %に保持すること
を特徴とするものである0この結果、第13図に示す如
<、a−8iC:H層2はポロンドーピングによって光
導電層3とのEvに関する工′ネルギーギャップが狭t
b、両層間のエネルギーレベルのマツチングを充分にと
ることができるのである。これによって、光照射時に光
導電層3中に発生したホールを電荷輸送層2中ヘスムー
ズに注入することが可能となる。加えて、電荷ブロッキ
ング層5の存在によって基板1からの電子の注入も効果
的に阻止することができる。
That is, although the photoreceptor according to the present invention has the basic layer structure shown in FIG. a-8iC:H for charge blocking while doping with a small amount
The layer 5 is doped with a relatively large amount of a group HA element of the periodic table (for example, poron), and the carbon atom content of the a-8iC:H layer 2 is maintained at 10 to 30 atomic %. 0 As a result, as shown in FIG.
b. It is possible to sufficiently match the energy levels between the two layers. This allows holes generated in the photoconductive layer 3 during light irradiation to be smoothly injected into the charge transport layer 2. In addition, the presence of the charge blocking layer 5 can also effectively block electron injection from the substrate 1.

こうして、第14図に示す如く、正帯電使用にとって充
分な減衰特性を示す感光体をはじめて得ることが可能と
なったのである。即ち、この感光体では、光感度が上昇
し、残留電位が減少すると共に、光減衰曲線の裾引きが
なくな)、かつ帯電電位を高く保持できる。
In this way, as shown in FIG. 14, it became possible for the first time to obtain a photoreceptor exhibiting sufficient attenuation characteristics for positive charging use. That is, in this photoreceptor, the photosensitivity is increased, the residual potential is reduced, and the optical attenuation curve does not tail), and the charged potential can be maintained at a high level.

なお、上記のa−8iC:H層2の炭素原子含有量は1
0〜30 atomicチ(例えば15 atomic
係)に設定すべきであるが、これは上述した理由(即ち
帯電電位の保持、輸送能の向上)に加え、正帯電時に特
有な理由に基〈ものである。つまシ、仮に炭素含有量を
30 atomic%を越えて多量にすると、それによ
ってエネルギーギャップが拡大され、Evに関スるエネ
ルギーレベルのマツチングをとるためにポロンドーピン
グ量を多くする必要がある。
Note that the carbon atom content of the above a-8iC:H layer 2 is 1
0 to 30 atomic units (e.g. 15 atomic units)
However, in addition to the above-mentioned reasons (i.e., retention of charged potential and improvement of transport ability), this is based on reasons specific to positive charging. However, if the carbon content is increased to more than 30 atomic %, the energy gap will be widened, and it will be necessary to increase the amount of poron doping in order to match the energy level related to Ev.

しかしこのようにポロンドーピング量を多くスると逆に
必要以上に低抵抗化されて帯電特性が不良となシ、かつ
ドーピング量のコントロールが困難なだめに光導電層と
のエネルギーレベルのマツチングが却ってと9難くなる
However, if a large amount of poron is doped in this way, the resistance will be lowered more than necessary, resulting in poor charging characteristics.Additionally, it will be difficult to control the doping amount, and the energy level matching with the photoconductive layer will become worse. And it becomes 9 difficult.

第13図に例示した本発明に基く感光体を得るには、上
記したようにa−8iC:1層2及び5の各ボロンドー
ピング量が重要である。特に、電荷輸送層が、ジボラン
とモノシランとの流量比をCB2ae)/ (5iH4
) = 5〜100 ppm (例えば10ppm)と
する条件下でのグロー放電分解(後記)によって形成さ
れたものであシ、かつ電荷ブロッキング層が、ジボラン
とモノシランとの流量比を(B2H6)/ [SiH,
) = 200〜2000 ppm (例えば1010
00ppとする条件下でのグルー放電分解によってP型
に形成されたものであるのが望ましい。
In order to obtain the photoreceptor according to the present invention illustrated in FIG. 13, the amount of boron doped in each of the a-8iC:1 layers 2 and 5 is important as described above. In particular, the charge transport layer controls the flow rate ratio of diborane and monosilane to CB2ae)/(5iH4
) = 5 to 100 ppm (for example, 10 ppm), and the charge blocking layer has a flow rate ratio of diborane to monosilane of (B2H6)/[ SiH,
) = 200-2000 ppm (e.g. 1010
It is desirable that the material be formed into a P type by glue discharge decomposition under conditions of 00 pp.

次に、本発明による感光体の各層を更に詳しく説明する
Next, each layer of the photoreceptor according to the present invention will be explained in more detail.

第1のa−8iC:H層(表面改質層)このa−8iC
:H層4は感光体の表面を改質してa−8t系悪感光を
実用的に優れたものとするために必須不可欠なものであ
る。即ち、表面での電荷保持と、光照射による表面電位
の減衰という電子写真感光体としての基本的な動作を可
能とするものである。従って、帯電、光減衰の繰返し特
性が非常に安定となシ、長期間(例えば1力月以上)放
置しておいても良好な電位特性を再現できる。
First a-8iC: H layer (surface modified layer) This a-8iC
:H layer 4 is indispensable for modifying the surface of the photoreceptor and making the a-8t-based photoresistance practically excellent. That is, it enables the basic operations of an electrophotographic photoreceptor, such as charge retention on the surface and attenuation of the surface potential due to light irradiation. Therefore, the repetitive characteristics of charging and optical attenuation are very stable, and good potential characteristics can be reproduced even if left for a long period of time (for example, one month or more).

これに反し、a−8i:Hを表面とした感光体の場合に
は、湿気、大気、オゾン雰囲気等の影響を受は易く、電
位特性の経時変化が著しくなる。また、a−8iC:H
は表面硬度が高いために、現像、転写、クリーニング等
の工程における耐摩耗性力;あシ、更に耐熱性も良いこ
とから粘着転写等の如く熱を付与するプロセスを適用す
ることができる。
On the other hand, in the case of a photoreceptor having a-8i:H as its surface, it is easily affected by humidity, air, ozone atmosphere, etc., and the potential characteristics change significantly over time. Also, a-8iC:H
Because of its high surface hardness, it has good abrasion resistance during processes such as development, transfer, and cleaning, and also has good heat resistance, so it can be applied to processes that apply heat such as adhesive transfer.

このような優れた効果を総合的に奏するためには、a−
8iC:H層4の膜厚を上記した400A≦t (50
00Aの範囲内(特に400A≦t (2000A)に
選択することが極めて重要でちる。即ち、その膜厚を5
000A以上とした場合には、第15図に示す如く、残
留電位vRが高くカシすぎかつ感度EV2(後記)の低
下も生じ、a−8i系悪感光としての良好な特性を失な
ってしまう。また、膜厚を400A未満とした場合には
、トンネル効果によって電荷が表面上に帯電されなくな
るため、暗減衰の増え未満)、400X以上とすること
が望ましいが、このような厚み範囲は従来公知の技術か
らは全く想定できないものである。
In order to achieve such excellent effects comprehensively, a-
8iC:H layer 4 has a thickness of 400A≦t (50
It is extremely important to select within the range of 00A (especially 400A≦t (2000A). In other words, the film thickness should be 50A).
If it is more than 000 A, as shown in FIG. 15, the residual potential vR will be too high and the sensitivity EV2 (described later) will be lowered, and the good characteristics as an a-8i type photosensitive will be lost. In addition, if the film thickness is less than 400A, charges will not be charged on the surface due to the tunnel effect, so it is preferable to set it to 400X or more (less than the increase in dark decay), but such a thickness range is conventionally known. This is completely unimaginable from this technology.

また、とのa−8iC:H層4については、上記した効
果を発揮する上でその炭素組成を選択することも重要で
あることが分った。組成比をa−8il−xcx:Hと
表わせば、Xを0.1〜0.7 とすること(炭素原子
含有量が10 atomic%〜70 atomic 
%であること)が望ましい。即ち、0.1≦Xとすれば
、光学的エネルギーギャップがほぼ2.OeV以上とな
多、可視及び赤外光に対しいわゆる光学的に透明な窓効
果によシ照射光はa−8t:H層(電荷発生層)3に到
達することになる (第4図、第5図径照)。逆に!<
0.1であると、一部分の光は表面層4に吸収され、感
光体の光感度が低下し易くなる。また、Xが0.7を越
えると層の殆んどが炭素となシ、半導体特性が失なわれ
る外、a −8iC:H膜をグロー放電法で形成すると
きの堆積速度が低下するから、X≦0.7とするのがよ
い。
Furthermore, regarding the a-8iC:H layer 4, it was found that it is also important to select its carbon composition in order to exhibit the above-mentioned effects. If the composition ratio is expressed as a-8il-xcx:H, then X is 0.1 to 0.7 (carbon atom content is 10 atomic% to 70 atomic%).
%) is desirable. That is, if 0.1≦X, the optical energy gap is approximately 2. At OeV or higher, the irradiated light reaches the a-8t:H layer (charge generation layer) 3 due to the so-called optically transparent window effect for visible and infrared light (Figure 4, Diagram 5). vice versa! <
If it is 0.1, part of the light will be absorbed by the surface layer 4, and the photosensitivity of the photoreceptor will tend to decrease. Furthermore, if X exceeds 0.7, most of the layer will be carbon, and not only will the semiconductor properties be lost, but the deposition rate will decrease when forming the a-8iC:H film by the glow discharge method. , X≦0.7.

第2のa−8iCSH層(N荷輸送層)このa−8iC
:1層2は電位保持及び電荷輸送の両機能を担い、暗所
抵抗率が10  Ω−m以上あって、耐高電界性を有し
、単位膜厚当シに保持される電位が高く、シかも上述し
た不純物ドーピング(ライトドーピング)によって感光
層3から注入されるホールに対する障壁を小さくシ、ホ
ールが大きな移動度と寿命を以って効率よく支持体11
1111へ輸送する。また、炭素の組成(10〜30 
atomic%)によってエネルギーギャップの大きさ
を調節できるため、感光層3において光照射に応じて発
生したホールに対し障壁を作ることなく、効率よく注入
させることができる。従ってこのa−8iC:1層2は
実用レベルの高い表面電位を保持し、’a −8i:H
層3で発生した電荷担体を効率良く速やかに輸送し、高
感度で残留電位のない感光体とする働きがある。
Second a-8iCSH layer (N transport layer) This a-8iC
:1 layer 2 has both the functions of potential retention and charge transport, has a dark resistivity of 10 Ω-m or more, has high electric field resistance, and has a high potential retained per unit film thickness. In addition, the impurity doping (light doping) described above can reduce the barrier to holes injected from the photosensitive layer 3, allowing holes to efficiently transfer to the support 11 with large mobility and lifetime.
Transport to 1111. In addition, the composition of carbon (10 to 30
Since the size of the energy gap can be adjusted by changing the energy gap (atomic%), holes generated in the photosensitive layer 3 in response to light irradiation can be efficiently injected without creating a barrier. Therefore, this a-8iC:1 layer 2 maintains a high surface potential at a practical level, and 'a-8i:H
It has the function of efficiently and quickly transporting the charge carriers generated in the layer 3, resulting in a photoreceptor with high sensitivity and no residual potential.

こうした機能を果たすために、a−8iC:H層2の膜
厚は、例えばカールノン方式による乾式現像法を適用す
るためには10μm〜30μmであることが望ましい。
In order to fulfill these functions, the film thickness of the a-8iC:H layer 2 is preferably 10 μm to 30 μm in order to apply a dry development method using the Carlnon method, for example.

この膜厚が10μm未満であると薄すぎるために現像に
必要な表面電位が得られず、また30μmを越えるとキ
ャリアの支持体1への到達率が低下してしまう。但、こ
のa−8iC:H層の膜厚は、Se感光体と比較して薄
くしても(例えば十数μm)実用レベルの表面電位が得
られる。
If the film thickness is less than 10 μm, it is too thin and the surface potential necessary for development cannot be obtained, and if it exceeds 30 μm, the rate at which the carrier reaches the support 1 decreases. However, even if the film thickness of this a-8iC:H layer is made thinner (for example, 10-odd μm) than that of the Se photoreceptor, a surface potential at a practical level can be obtained.

a−8i:H層(光導電層又は感光層)このa−8i:
H層3は、可視光及び赤外光に対して高い光導電性を有
するものであって、第5図に示す如く、波長650nm
付近での赤色光に対しρD/ρLが最高〜10となる。
a-8i: H layer (photoconductive layer or photosensitive layer) a-8i:
The H layer 3 has high photoconductivity for visible light and infrared light, and as shown in FIG.
ρD/ρL is maximum ~10 for red light in the vicinity.

このa−8i:Hを感光層として用いれば、可視領域全
域及び赤外領域の光に対して高感度な感光体を作成でき
る。
By using this a-8i:H as a photosensitive layer, it is possible to create a photoreceptor that is highly sensitive to light in the entire visible region and in the infrared region.

このように可視光及び赤外光を無駄なく吸収して電荷担
体を発生させるためには、a−8i:H層3′の膜厚は
25001〜5μmとするのが望ましい。
In order to absorb visible light and infrared light without waste and generate charge carriers, the thickness of the a-8i:H layer 3' is preferably 25,001 to 5 μm.

膜厚が2500 A未満であると照射された光は全て吸
収されず、一部分は下地のa−8iC:H層2に到達す
るために光感度が大幅に低下する。また、a−8t:H
層3は大きな電荷輸送能を有するが、抵抗率が〜109
Ω−mであってそれ自体としては電位保持性を有してい
ないから、感光層として光吸収に必要な厚さ以上に厚く
する必要はなく、その膜厚は最大5μmとすれば充分で
ある。しかも5μmを越えると、層中においてキャリア
が横方向へ拡散し易く、却って感度低下と、なる。
If the film thickness is less than 2500 A, all of the irradiated light will not be absorbed and a portion will reach the underlying a-8iC:H layer 2, resulting in a significant decrease in photosensitivity. Also, a-8t:H
Layer 3 has a large charge transport ability but a resistivity of ~109
Ω-m and does not have potential retention properties by itself, so there is no need to make the photosensitive layer thicker than necessary for light absorption, and a maximum thickness of 5 μm is sufficient. . Furthermore, if the thickness exceeds 5 μm, carriers tend to diffuse laterally in the layer, resulting in a decrease in sensitivity.

第3のa−8iC:HM(電荷ブロッキング層)このブ
ロッキング層5は、基板1からの電子の注入を阻止する
ものであって、それに必要なエネルギーギャップ差を基
板1との間に形成すべく、周期表第111A族元素が多
めにドーピング(ヘビードーピング)されている。この
ブロッキング層はまた、a−8iC:H層からなってい
るので、基板1との接着性や膜付きが良いという特性を
有している。
Third a-8iC: HM (Charge Blocking Layer) This blocking layer 5 is to block the injection of electrons from the substrate 1, and to form the necessary energy gap difference between the substrate 1 and the substrate 1. , is heavily doped (heavy doping) with Group 111A elements of the periodic table. Since this blocking layer is made of the a-8iC:H layer, it has the characteristics of good adhesion to the substrate 1 and good film adhesion.

このブロッキング層5は、その機能を充分に発揮させる
には400八〜1μmの厚みに設けるのがよい。400
 A未満では薄すぎてブロッキング機能が低下し、1μ
mを越えると厚くて層自体が低抵抗のためにキャリアが
横方向へ拡散し易くなる。
This blocking layer 5 is preferably provided with a thickness of 4008 to 1 μm in order to fully exhibit its function. 400
If it is less than A, it will be too thin and the blocking function will deteriorate, and the thickness will be 1μ.
If it exceeds m, the layer itself becomes thick and has a low resistance, making it easy for carriers to diffuse in the lateral direction.

また、ブロッキング層5中の炭素原子含有社は10〜3
0 atomic fyとするのが望ましい。
Further, the carbon atom content in the blocking layer 5 is 10 to 3
It is desirable to set it to 0 atomic fy.

次に、本発明による感光体を製造するのに使用可能な装
置(グロー放電装置)を第16図について説明する。
Next, an apparatus (glow discharge apparatus) that can be used to manufacture a photoreceptor according to the present invention will be described with reference to FIG.

この装置11の真空槽12内では、上記した基板1が基
板保持部14上に固定され、ヒーター15で基板1を所
定温度に加熱し得るようになっている。基板1に対向し
て高周波電極17が配され基板1との間にグロー放電が
生ぜしめられる。なお、図中の20.21.22.23
、u125.27.2B、29.30.35.36.3
8.39は各パルプ、31はS i H4又はガス状シ
リコン化合物の供給源、32はCH,又はガス状炭素化
合物の供給源、33はAr又はH2等のキャリアガス供
給源、34はB、H6供給源、37はSiF4ガス供給
源(フッ素供給源)である。このグロー放電装置におい
て、まず支持体である例えばAL基板】の表面を清浄化
した後に真空槽12内に配置し、真空槽12内のガス圧
が10  Torrとなるようにパルプ36を調節して
排気し、かつ基板1を所定温度、例えば200℃に加熱
保持する。次いで、高純度の不活性ガスをキャリアガス
として、SiH4又はガス状シリコン化合物、及びCH
,又はガス状炭素化合物を適当量希釈した混合ガスを必
要あればB2H,と共に真空槽12内に導入し、o、o
i〜10Torrの反応圧下で高周波電源16によシ高
周波電力を印加する。これによって、上記各反応ガスを
グロー放電分解し、水素を含むボロンドープドa−8i
C:Hを上記の層5.2として更に水素を含むa−8i
C:Hを上記の層4として基板1上に堆積させる。この
際、シリコン化合物と炭素化合物の流量比及び基板温度
を適宜調整することによって、所望の組成比及び光学的
エネルギーギャップを有するa −Si I−xCx:
H(例えばXが0.9程度のものまで)を析出させるこ
とができ、また析出するa−8iC:Hの電気的特性に
さほどの影響を与えることなく、1ooOX/min以
上の速度で&−8iC:Hを堆積させることが可能であ
る。更に、a−8i:H(上記の感光層3)を堆積させ
るには、炭素化合物を供給しないでシリコン化合物をグ
ロー放電分解すればよい。
In the vacuum chamber 12 of this apparatus 11, the above-described substrate 1 is fixed on a substrate holding part 14, and the substrate 1 can be heated to a predetermined temperature with a heater 15. A high frequency electrode 17 is arranged opposite to the substrate 1, and a glow discharge is generated between the high frequency electrode 17 and the substrate 1. In addition, 20.21.22.23 in the diagram
, u125.27.2B, 29.30.35.36.3
8.39 is each pulp, 31 is a source of S i H4 or a gaseous silicon compound, 32 is a source of CH or a gaseous carbon compound, 33 is a carrier gas source such as Ar or H2, 34 is B, H6 supply source, 37 is SiF4 gas supply source (fluorine supply source). In this glow discharge device, first, the surface of a support such as an AL substrate is cleaned, and then placed in a vacuum chamber 12, and the pulp 36 is adjusted so that the gas pressure in the vacuum chamber 12 is 10 Torr. The air is evacuated, and the substrate 1 is heated and maintained at a predetermined temperature, for example, 200°C. Then, using a high purity inert gas as a carrier gas, SiH4 or a gaseous silicon compound and CH
, or a mixed gas prepared by diluting an appropriate amount of gaseous carbon compound is introduced into the vacuum chamber 12 together with B2H if necessary.
High frequency power is applied to the high frequency power supply 16 under a reaction pressure of 1 to 10 Torr. As a result, each of the above reaction gases is decomposed by glow discharge, and boron-doped a-8i containing hydrogen is decomposed.
a-8i which further contains hydrogen with C:H as the above layer 5.2
C:H is deposited on the substrate 1 as layer 4 above. At this time, by appropriately adjusting the flow rate ratio of the silicon compound and the carbon compound and the substrate temperature, a-Si I-xCx having a desired composition ratio and optical energy gap:
H (for example, up to about 0.9) can be precipitated, and the &- It is possible to deposit 8iC:H. Furthermore, in order to deposit a-8i:H (photosensitive layer 3 above), the silicon compound may be decomposed by glow discharge without supplying the carbon compound.

上記のa−8iC:H層5.2.4ともに、水素を含有
することが必要であるが、水素を含有しない場合には感
光体の電荷保持特性が実用的なものとはならないからで
ある。このため、水素含有量は10〜30atomic
チとするのが望ましい。10 atomicチ未満では
ダングリングボンドの補償が不充分であ’り 、30 
atomic %を越えると却って欠陥が生じ易い0 光導電層3中の水素含有量は、ダングリングボンドを補
償して光導電性及び電荷保持性を向上させるために必須
不可欠でおって、通常は10〜3゜atomic%であ
るのが上記と同様の理由から望ましいO なお、ダングリングボンドを補償するためには、a−8
tに対しては上記したHの代9に、或いはHと併用して
フッ素を導入し、(供給源はS i F4 )、a−8
t:F、a−8t:H:FXa−8iC:F、a−8i
C:H:Fとすることもできる。この場合のフッ素量は
0.5〜10 atomic%が望ましい。
Both a-8iC:H layers 5.2.4 above need to contain hydrogen, but if they do not contain hydrogen, the charge retention characteristics of the photoreceptor will not be practical. . Therefore, the hydrogen content is 10-30 atomic
It is desirable that the If it is less than 10 atomic degrees, the compensation for dangling bonds is insufficient, and 30
If it exceeds atomic%, defects are more likely to occur.The hydrogen content in the photoconductive layer 3 is essential to compensate for dangling bonds and improve photoconductivity and charge retention, and is usually ~3°atomic% is desirable for the same reason as above.In addition, in order to compensate for dangling bonds, a-8
For t, fluorine is introduced into the above-mentioned H substitute 9 or in combination with H (supply source is S i F4), a-8
t:F, a-8t:H:FXa-8iC:F,a-8i
It can also be set as C:H:F. In this case, the amount of fluorine is preferably 0.5 to 10 atomic%.

なお、上記の製造方法はグロー放電分解法によるもので
あるが、これ以外にも、スパッタリング法、イオンブレ
ーティング法や、水素放電管で活性化又はイオン化され
た水素導入下でa−8iを蒸着させる方法(特に、本出
願人による特開昭56−78413号(特願昭54−1
52455号)の方法)等によっても上記感光体の製造
が可能である。
The above manufacturing method is based on the glow discharge decomposition method, but other methods include sputtering method, ion blating method, and vapor deposition of a-8i under the introduction of activated or ionized hydrogen with a hydrogen discharge tube. (In particular, the method of
The above photoreceptor can also be manufactured by the method of No. 52455).

使用する反応ガスはSiH4、SiF、以外にもSi2
H6、SiHF3又はその誘導体ガス、CH4以外ノc
、 H6、C’、H。
The reaction gases used are SiH4, SiF, and Si2.
H6, SiHF3 or its derivative gas, other than CH4
, H6, C', H.

等の低級炭化水素ガスやCF4が使用可能である。Lower hydrocarbon gases such as CF4 and CF4 can be used.

次に、本発明を電子η真盛光体に適用した実施例を具体
的に説明する。
Next, an example in which the present invention is applied to an electron η-high light body will be specifically described.

グロー放電分解法によりAt支持体上に第10図の構造
の電子写真感光体を作製した。先ず平滑な表面を持つ清
浄なM支持体をグロー放電装置の反応(真空)槽内に設
置した。反応槽内を106Torr台の高真空度に排気
し、支持体温度を20θ℃に加熱した後高純度Arガス
を導入し、0.5Torrの背圧のもとて周波数13.
56 MHz s電力密度0.04 ’II/cdl 
F)高周波電力を印加し、15分間の予備放電を行った
An electrophotographic photoreceptor having the structure shown in FIG. 10 was prepared on an At support by glow discharge decomposition. First, a clean M support with a smooth surface was placed in a reaction (vacuum) chamber of a glow discharge device. The inside of the reaction tank was evacuated to a high degree of vacuum on the order of 106 Torr, the support was heated to 20θ°C, high purity Ar gas was introduced, and the frequency was set at 13.5 Torr under a back pressure of 0.5 Torr.
56 MHz s Power density 0.04'II/cdl
F) High frequency power was applied and preliminary discharge was performed for 15 minutes.

次いで、SiH4とC1(4及びB2’H,からなる反
応ガスを導入し、流量比を調節した(Ar+SiH,+
CH4+B2H11)混合ガスをグロー放電分解するこ
とにより、電荷ブロッキング機能を担うa−8iC:H
層、電位保持及び電荷輸送機能を担うa−stcrH層
をasOX/minの堆積速度で所定厚さに製膜した。
Next, a reaction gas consisting of SiH4 and C1(4 and B2'H) was introduced, and the flow rate ratio was adjusted (Ar+SiH,+
CH4+B2H11) a-8iC:H, which plays a charge blocking function by decomposing the mixed gas by glow discharge
An a-stcrH layer having a potential holding and charge transporting function was formed to a predetermined thickness at a deposition rate of asOX/min.

a−8i:H感光層を形成するには、反応層を一旦排気
した後、CH4は供給せず、Arをキャリアガスとして
SiH4を放電分解し、所定厚さのa −St:H感光
層を形成した。しかる後、再びCH,を供給し、流量比
を調節した( Ar + SiH4+ CH4)混合ガ
スをグロー放電分解し、所定厚さのa−8iC:H表面
改質層を更に設け、電子写真感光体を完成させた。
To form the a-8i:H photosensitive layer, after the reaction layer is once evacuated, CH4 is not supplied and SiH4 is discharge decomposed using Ar as a carrier gas to form the a-St:H photosensitive layer of a predetermined thickness. Formed. After that, CH was supplied again, the flow rate ratio was adjusted, and the mixed gas (Ar + SiH4 + CH4) was decomposed by glow discharge, and an a-8iC:H surface modification layer of a predetermined thickness was further provided, and the electrophotographic photoreceptor was completed.

このようにして作製した感光体に、正極性で6「のコロ
ナ放電を行ない、各電子写真特性を測定した。この場合
、感光体の各層の組成、膜厚を種々に変えた各サンプル
(試料41〜厘15)を作成したところ、第17図に示
す如き結果が得られた。
The thus prepared photoreceptor was subjected to 6" corona discharge with positive polarity, and various electrophotographic characteristics were measured. In this case, each sample (sample 41 to 15), the results shown in FIG. 17 were obtained.

この試験に際しては、上記のようにして作成した電子写
真感光体をエレクトロメーターSP −428型(川口
電機@製)に装着し、帯電器の放電電極に対する印加電
圧を+6KVとし、10秒間?if ′r4i、操作を
行ない、この帯電操作直後における感光体表面の帯電電
位をVo ff)とし、5秒間の暗減衰後、帯電電位を
偽に減衰せしめるために必要な照射光量を半減露光量E
’/2 (1uc*sec )とした。表面電位の光減
衰曲線はある有限の電位で7ラツトとなり、完全にゼロ
とならない場合があるが、この電位を残留電位vR(v
)と称する。また、画質については、感光体をドラム状
に作成し、20℃、60チRHで電子写真複写機U−B
ixV(小西六写真工業■製)に装着し、絵出しを行な
い、 初期画質(1000コピ一時の画質)及び多数回
使用時の画質(20万コピ一時の画質)を次の如くに評
価した。
In this test, the electrophotographic photoreceptor prepared as described above was attached to an electrometer SP-428 model (manufactured by Kawaguchi Denki@), and the voltage applied to the discharge electrode of the charger was set to +6 KV for 10 seconds. If 'r4i, the charged potential on the surface of the photoreceptor immediately after this charging operation is set as Voff), and after 5 seconds of dark decay, the amount of irradiation light required to falsely attenuate the charged potential is halved by the exposure amount E.
'/2 (1uc*sec). The light attenuation curve of the surface potential becomes 7 lats at a certain finite potential, and may not become completely zero, but this potential is defined as the residual potential vR (v
). Regarding the image quality, the photoreceptor was made into a drum shape, and the electrophotographic copying machine U-
ixV (manufactured by Konishi Roku Photo Industry ■), an image was printed, and the initial image quality (image quality after 1000 copies) and the image quality after multiple uses (image quality after 200,000 copies) were evaluated as follows.

画像酸度 1.0以上 ◎ (画質が非常に良好)0.
6〜1.0 0  (画質が良好)I   096未満
 Δ (画偉にボケが発生)× (濃度が著しく低く判
別不能) 第17図の表に示すデータから明らかなように、電荷輸
送層に不純物ドープしない試料煮1に比べて、不純物ド
ープした構造の本発明の試料扁2は優れた特性を示すこ
とが分る。また、試料A3−黒6及びAI2〜15から
明らかなように、ブロッキング層のドープ量をCB2H
a )/ (SiH4:] = 200〜2000pp
mに設定し、電荷輸送層の同ドープ邸を5〜1100p
pに設定すれば、光感度や残留電位を良好な値に保持し
ながら多数枚複写時での耐久性を著しく向上させること
ができる。更に、各層の組成、厚み等を上述した望まし
い範囲に設定するのが重要であることも分る。
Image acidity 1.0 or more ◎ (Very good image quality) 0.
6 to 1.0 0 (Good image quality) Less than I 096 Δ (Blurry occurs in the image depth) It can be seen that the sample plate 2 of the present invention, which has an impurity-doped structure, exhibits superior characteristics compared to sample plate 1 which is not doped with impurities. In addition, as is clear from samples A3-Black 6 and AI2-15, the doping amount of the blocking layer was changed to CB2H.
a)/(SiH4:] = 200~2000pp
m, and dope the charge transport layer from 5 to 1100p.
If it is set to p, it is possible to significantly improve the durability when copying a large number of sheets while maintaining the photosensitivity and residual potential at favorable values. Furthermore, it can be seen that it is important to set the composition, thickness, etc. of each layer within the above-mentioned desirable ranges.

6、発明の効果 本発明は、上述した如く、無機物質からなる表面改質層
とa−8i系先光導電とa−8iCi電荷輸送層とa−
8iCi電荷ブロッキング層との積層体で感光体を構成
しているので、薄い膜厚で高い電位を保持し、可視領域
及び赤外領域の光に対して優れた感度を示し、耐熱性、
耐刷性が良く、かつ安定した対環境性を有するa−8i
系悪感光(例えば電子写真用)を提供することができる
のである。
6. Effects of the Invention As described above, the present invention provides a surface-modified layer made of an inorganic material, an a-8i-based photoconductive layer, an a-8iCi charge transport layer, and an a-8i Ci charge transport layer.
Since the photoreceptor is composed of a laminate with an 8iCi charge blocking layer, it maintains a high potential with a thin film thickness, exhibits excellent sensitivity to light in the visible and infrared regions, and has excellent heat resistance and
a-8i with good printing durability and stable environmental resistance
This makes it possible to provide a system with poor sensitivity (for example, for electrophotography).

また、電荷輸送層の不純物ドーピングによって光導電層
とのレベルマツチングをとることができるので、光キャ
リアの移動をスムーズにして光感度を高めることができ
る一方、電荷ブロッキング層の不純物ドーピング量を多
くして不所望な注入キャリアに対するエネルギー障壁を
大きくしているので、帯電電位の保持能及び暗減衰の防
止効果を高めることができる。
In addition, level matching with the photoconductive layer can be achieved by doping the charge transport layer with impurities, making it possible to increase photosensitivity by smoothing the movement of photocarriers, while increasing the amount of impurity doping in the charge blocking layer. Since the energy barrier against undesired injected carriers is increased, the ability to hold the charged potential and the effect of preventing dark decay can be enhanced.

しかも注目すべきことは、電荷輸送層の炭素原子含有量
を10〜30 atomic %と特定範囲に設定する
ことによって、感光体に要求される緒特性(特に高感度
、低残留電位、高電位保持能、繰返し1llil久住)
を充二分に具備したものとなる。
What is noteworthy is that by setting the carbon atom content of the charge transport layer within a specific range of 10 to 30 atomic %, it is possible to improve the characteristics required for photoreceptors (especially high sensitivity, low residual potential, and high potential retention). Noh, repeated 1llil Kusumi)
It will be fully equipped with the following.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図〜第12図は本発明を説明するものであって、 第1図は電子写真感光体の一部分の断面図、第2図は炭
素原子含有量にょるa−8iC:Hの光学的エネルギー
ギャップの変化を示すグラフ、第3図は光学的エネルギ
ーギャップによるa−8iC:Hの比抵抗の変化を示す
グ27、第4図は光学的エネルギーギャップによるa−
8iC:Hの光感度特性を示すグラフ、第5図は照射光
の波長による光感度特性を比較して示すグラフ、 第6図は感光体の各層のエネルギーバンド図、第7図は
感光体の電位減衰特性図、 第8図は他の感光体の電位減衰特性図、第9図は正帯電
時の第1図の感光体の電位減衰曲線図、 第10図は更に他の感光体の一部分の断面図、第11図
は第10図の感光体の各層のエネルギーバンド図、 第12図は正帯電時の第10図の感光体の電位減衰曲線
図、 第13図〜第17図は本発明を例示するものであって、 第13図は感光体の各層のエネルギーバンド図、第14
図は正帯電時の感光体の電位減衰曲線図、第15図は表
面改質層の厚みKよる特性変化を示すグラフ、 第16図は感光体の製造装置の概略断面図、第17図は
各種感光体の特性をまとめて示す図である。 なお、図面に示されている符号において、1−−−−−
−一支持体(基板) 2−−−−−−− a −S i C: H層(電荷輸
送層)3−−−−−−a −S i : H感光層(光
導電層)4−−−−−−− a−8iC:H層(表面改
質層)5−−−−−−−一電初プロッキング層11−−
−−−−−グロー放電装置 17−−−−−−−−高周波電極 31−−−−−−−ガス状シリコン化合物供給綜3:L
−−−−−−−ガス状炭素化合物供給源33−一−−−
−−キャリアガス供給源34−−−−−−−、B、H,
供給源 37−−−−−−−8iF4供給源 By 、 opt−−−−−光学的エネルギーギャップ
ρD/ρG −−一暗所抵抗率/光照射時の抵抗率EH
−−−一半減露光量 VR−−−一−−残留電位 である。 第1図 第6図 叢9図 時間(贅) 第10図 換11図 檎12図 時間(余0 第13図 も141刀 厚み(、uR) (自発) 手続7市正書 昭和59年1月2グ日 )、事件の表示 昭和58年  特許 側梁86893号2、発明の名称 感光体 3、?iti正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都新宿区西新宿1丁目26番2号名 称 
(127)小西六写真工業株式会社4、代理人 6、補正により増加する発明の数 7、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 8、補正の内容 fil、明細書第26頁下から5行目の「0.9程度」
を「0.3程度又は0.7程度」と訂正しまず。 (2)、同第30頁6行目の「5秒間」を1−2秒間」
と訂正します。 一以 上−
1 to 12 illustrate the present invention. FIG. 1 is a cross-sectional view of a part of an electrophotographic photoreceptor, and FIG. 2 is an optical diagram of a-8iC:H depending on the carbon atom content. Graph showing changes in energy gap, Figure 3 shows changes in specific resistance of a-8iC:H due to optical energy gap, Figure 4 shows changes in a-8iC:H resistivity due to optical energy gap.
A graph showing the photosensitivity characteristics of 8iC:H, Fig. 5 is a graph showing a comparison of photosensitivity characteristics depending on the wavelength of irradiated light, Fig. 6 is an energy band diagram of each layer of the photoreceptor, and Fig. 7 is a graph showing the photosensitivity characteristics of the photoreceptor. Potential attenuation characteristic diagram, Figure 8 is a potential attenuation characteristic diagram of another photoreceptor, Figure 9 is a potential attenuation curve diagram of the photoreceptor in Figure 1 when positively charged, and Figure 10 is a part of another photoreceptor. 11 is an energy band diagram of each layer of the photoconductor in FIG. 10, FIG. 12 is a potential attenuation curve diagram of the photoconductor in FIG. 10 when positively charged, and FIGS. 13 to 17 are the main FIG. 13 is an energy band diagram of each layer of the photoreceptor, and FIG. 14 is a diagram illustrating the invention.
The figure is a potential attenuation curve of the photoreceptor during positive charging, Figure 15 is a graph showing characteristic changes depending on the thickness K of the surface modification layer, Figure 16 is a schematic cross-sectional view of the photoreceptor manufacturing equipment, and Figure 17 is FIG. 3 is a diagram collectively showing the characteristics of various photoreceptors. In addition, in the symbols shown in the drawings, 1-------
- One support (substrate) 2 ------- a -S i C: H layer (charge transport layer) 3 ------- a - S i : H photosensitive layer (photoconductive layer) 4 - ------- a-8iC: H layer (surface modified layer) 5 ------- First blocking layer 11 -
------- Glow discharge device 17 ------- High frequency electrode 31 ------- Gaseous silicon compound supply shaft 3: L
-------- Gaseous carbon compound supply source 33-1---
--Carrier gas supply source 34----, B, H,
Supply source 37 ---------8iF4 supply source By, opt --- Optical energy gap ρD/ρG ---Dark resistivity/Resistivity during light irradiation EH
--- One-half exposure amount VR --- One-- Residual potential. Figure 1 Figure 6 Figure 9 Time (luxury) Figure 10 Exchange figure 11 Figure 12 Time (remainder 0 Figure 13 also 141 sword thickness (, uR) (self-proposed) Procedure 7 City official book January 1982 2 days), Indication of the incident 1988 Patent Side beam No. 86893 2, Name of invention Photoconductor 3, ? Relationship with the case of a person who commits iti rectification Patent applicant address: 1-26-2 Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo Name:
(127) Roku Konishi Photo Industry Co., Ltd. 4, Agent 6, Number of inventions increased by amendment 7, Detailed explanation of the invention in the specification subject to amendment 8, Contents of amendment fil, Specification page 26 bottom "About 0.9" on the 5th line
First, correct it to "about 0.3 or 0.7." (2), ``5 seconds'' on page 30, line 6, 1-2 seconds''
I will correct it. One or more -

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、 アモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコン
からなる光導電層と、この光導電層上に形成されかつ無
機物質からなる表面改質層と、前記光導電層下に形成さ
れかつ周期表第HA族元素が比較的少量ドープされたア
モルファス水素化及び/又はフッ素化炭化シリコンから
なる電荷輸送層と、この電荷輸送層下に形成されかつ周
期表第1IIA族元素が比較的多量ドープされたアモル
ファス水素化及び/又はフッ素化炭化シリコンからなる
電荷ブロッキング層とを有し、かつ前記電荷輸送層の炭
素原子含有量が10〜30 atomicチであること
を特徴とする感光体。 2、電荷輸送層が、ジボランとモノシランとの流量比を
CBtHa:]/[5iH4) =5〜1100ppと
する条件下でのグロー放電分解によって形成されたもの
であ)、かつ電荷ブロッキング層が、ジボランとモノシ
ランとの流量比を(B2H6) / C5iH4)=2
00〜2000ppmとする条件下でのグロー放電分解
によってP型に形成されたものである、特許請求の範囲
の第1項に記載した感光体。 3、電荷輸送層の水素原子含有量が10〜30 ato
micチ(フッ素原子を含有する場合にはフッ素原子含
有量がo、 s 〜10 atoznic % )であ
る、特許請求の範囲の第1項又は第2項に記載した感光
体。 4、光導電層の水素原子含有量が10〜30 atom
ic%(フッ素原子を含有する場合にはフッ素原子含有
量が0.5〜10 atomicチ)である、特許請求
の範囲の第1項〜第3項のいずれか1項に記載した感光
体。 5、表面改質層がアモルファス水素化及び/又はフッ素
化炭化シリコンからなる、特許請求の範囲の第1項〜第
4項のいずれか1項に記載した感光体。 6、表面改質層の炭素原子含有量が10〜70 ato
mi cチであシ、水素原子含有量が10〜30 at
omicチ(7ッ素原子を含有する場合にはフッ素原子
含有量が0.5〜1o atomic%)でおる、特許
請求の範囲の第5項に記載した感光体。 7、電荷ブロッキング層の炭素原子含有量が10〜30
 atomic%であり、水素原子含有量が10〜30
 atomicチ(フッ素原子を含有する場合にはフッ
素原子含有量が0.5〜10 atomic f& )
である、特許請求の範囲の第1項〜第6項のいずれか1
項に記載した感光体。 8、表面改質層の厚みが400A〜5000A 、光導
電層の厚みが2500A〜5μ溝、電荷輸送層の厚みが
10μm〜30μm、電荷ブロッキング層の厚みが40
0A〜1μmである、特許請求の範囲の第1項〜第70
1のいずれか1項に記載した感光体。 9、表面改質層の厚みが400 A〜200OAである
、特許請求の範囲の第8項に記載した感光体。
[Claims] 1. A photoconductive layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon, a surface modification layer formed on this photoconductive layer and made of an inorganic substance, and a surface modification layer formed below the photoconductive layer. a charge transport layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide doped with a relatively small amount of a Group HA element of the periodic table; A photoreceptor comprising a charge blocking layer made of heavily doped amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide, and wherein the charge transport layer has a carbon atom content of 10 to 30 atomic atoms. 2. The charge transport layer is formed by glow discharge decomposition under conditions where the flow rate ratio of diborane and monosilane is CBtHa:]/[5iH4) = 5 to 1100 pp), and the charge blocking layer is The flow rate ratio of diborane and monosilane is (B2H6) / C5iH4) = 2
The photoreceptor according to claim 1, which is formed into a P type by glow discharge decomposition under conditions of 00 to 2000 ppm. 3. The hydrogen atom content of the charge transport layer is 10 to 30 ato
The photoreceptor according to claim 1 or 2, wherein the photoreceptor has a fluorine atom content of 0, s to 10 atoznic % if it contains fluorine atoms. 4. Hydrogen atom content of the photoconductive layer is 10 to 30 atoms
ic% (if it contains fluorine atoms, the fluorine atom content is 0.5 to 10 atomic%), as set forth in any one of claims 1 to 3. 5. The photoreceptor according to any one of claims 1 to 4, wherein the surface modification layer is made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide. 6. The carbon atom content of the surface modified layer is 10 to 70 ato
Microchip, hydrogen atom content is 10-30 at
The photoreceptor according to claim 5, which has a fluorine atom content of 0.5 to 10 atomic% when containing 7 fluorine atoms. 7. The carbon atom content of the charge blocking layer is 10 to 30
atomic%, and the hydrogen atom content is 10 to 30
atomic f& (if it contains fluorine atoms, the fluorine atom content is 0.5-10 atomic f&)
Any one of claims 1 to 6, which is
Photoreceptor described in section. 8. The thickness of the surface modification layer is 400A to 5000A, the thickness of the photoconductive layer is 2500A to 5 μm, the thickness of the charge transport layer is 10 μm to 30 μm, and the thickness of the charge blocking layer is 40 μm.
Items 1 to 70 of the scope of claims, which are 0A to 1 μm.
1. The photoreceptor described in any one of 1. 9. The photoreceptor according to claim 8, wherein the surface modified layer has a thickness of 400 Å to 200 OA.
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