JPS59195166A - 周波数粗測定方式 - Google Patents
周波数粗測定方式Info
- Publication number
- JPS59195166A JPS59195166A JP6922583A JP6922583A JPS59195166A JP S59195166 A JPS59195166 A JP S59195166A JP 6922583 A JP6922583 A JP 6922583A JP 6922583 A JP6922583 A JP 6922583A JP S59195166 A JPS59195166 A JP S59195166A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- level
- signal
- measured
- ratio
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は高周波信号の周波数を粗測定する周波数粗測定
方式に関するものである。
方式に関するものである。
（従来技術）
高周波信号の周波数を知るには、現在は非盾に確度の高
い周波数測定ができる周波数カウンタが使用されている
。しかしながら、このような確度の高い周波数カウンタ
は、構造が複雑で、高価となる欠点がある。
い周波数測定ができる周波数カウンタが使用されている
。しかしながら、このような確度の高い周波数カウンタ
は、構造が複雑で、高価となる欠点がある。
（発明の目的）
本発明の目的は、簡略で安商な設υｉｆｉで大まかな周
波数の測定ができる周波数粗測定方式を提供するにある
。
波数の測定ができる周波数粗測定方式を提供するにある
。
（発明の構成）
被測定高周波信号をその入力レベルに応じたレベルの直
流のレファレンスレベル信号Ａに変換し、また被測定高
周波信号をその入力周波数に応じたレベルの直流の周波
数応答レベル信号Ｂに変換し、前記両信号Ａ、Ｂの比Ｃ
Ｂ／Ａ）により前記被測定高周波信号の周波数を判定す
ることを特徴とするものである。
流のレファレンスレベル信号Ａに変換し、また被測定高
周波信号をその入力周波数に応じたレベルの直流の周波
数応答レベル信号Ｂに変換し、前記両信号Ａ、Ｂの比Ｃ
Ｂ／Ａ）により前記被測定高周波信号の周波数を判定す
ることを特徴とするものである。
実施例
以下本発明の笑施例を第１図を参照して詳細に説明する
。図において、１は被測定高周波信号が入力される入力
端子、２，３は入力端子１より後段に並設されたレファ
レンス検波回路と周波数・レベル変換検波回路、４は入
力端子１に与えられた被測定高周波信号をレファレンス
検波回路２と周波数・レベル変換検波回路３とに与える
分路手段である。分路手段４として本実施例では、高周
波スイッチを用いているが、方向性結合器や・９ワープ
バイｆ等を用いることもできる。レファレンス検波回路
２には、ダイオードよシ々る検波器５のみが接続されて
いる。周波数・レベル変換検波回路３には、出力レベル
が入力周波数に応じて単調変化する変換手段６と、ダイ
オードよりなる検波器７とが直列接続されている。出力
レベルが周波数に応じて単調変化する変換手段６として
は、例えば減衰量が周波数に応じて第２図に示すように
単調に変化する高周波ケーブル、或は増幅度が周波数に
応じて単調に変化する増幅器等を用いることができる。
。図において、１は被測定高周波信号が入力される入力
端子、２，３は入力端子１より後段に並設されたレファ
レンス検波回路と周波数・レベル変換検波回路、４は入
力端子１に与えられた被測定高周波信号をレファレンス
検波回路２と周波数・レベル変換検波回路３とに与える
分路手段である。分路手段４として本実施例では、高周
波スイッチを用いているが、方向性結合器や・９ワープ
バイｆ等を用いることもできる。レファレンス検波回路
２には、ダイオードよシ々る検波器５のみが接続されて
いる。周波数・レベル変換検波回路３には、出力レベル
が入力周波数に応じて単調変化する変換手段６と、ダイ
オードよりなる検波器７とが直列接続されている。出力
レベルが周波数に応じて単調変化する変換手段６として
は、例えば減衰量が周波数に応じて第２図に示すように
単調に変化する高周波ケーブル、或は増幅度が周波数に
応じて単調に変化する増幅器等を用いることができる。
８はレファレンス検波回路２の出力であるレファレンス
レベル信号Ａと、周波数・レベル変換検波回路３の出力
である周波数応答レベル信号Ｂとが共に入力されてその
比を求める除算器、９は除算器８の出力から周波数を判
定する周波数判定器である。
レベル信号Ａと、周波数・レベル変換検波回路３の出力
である周波数応答レベル信号Ｂとが共に入力されてその
比を求める除算器、９は除算器８の出力から周波数を判
定する周波数判定器である。
しかして本実施例では、高周波スイッチよりなる分路手
段４を先ずレファレンス検波回路２１）ｉｌｌに切換え
て被測定高周波信号を検波器５で検波し、直流のレファ
レンスレベル信号Ａを得る。次に、分路手段４を周波数
・レベル変換検波回路３側に切換えて、被測定高周波信
号を出力レベルが入力周波数に応じて単調変化する変換
手段６に与える。
段４を先ずレファレンス検波回路２１）ｉｌｌに切換え
て被測定高周波信号を検波器５で検波し、直流のレファ
レンスレベル信号Ａを得る。次に、分路手段４を周波数
・レベル変換検波回路３側に切換えて、被測定高周波信
号を出力レベルが入力周波数に応じて単調変化する変換
手段６に与える。
この変換手段６に被測定高周波信号が入力されると、そ
の周波数に応じた出力レベルの高周波信号に変換され、
これが検波器７で検波されて直流の周波数応答レベル信
号Ｂとなる。次いで、このレファレンスレベル信号Ａ
トＸ 周波応答レベル信号Ｂの比（Ｂ／Ａ）を除算器８
で求める。周波数判定回路９は電圧 周波数変換回路か
い■、除算器８から比（Ｂ／Ａ）の値が電圧信号として
入力されると、それに対応する概略の周波数に変（＾し
て表示する。このように信号ＡとＢの比をとって周波数
の判定をすると、被測定高周波信号の入力レベルが変っ
ても比は一定であるので、該判定を防止できる。
の周波数に応じた出力レベルの高周波信号に変換され、
これが検波器７で検波されて直流の周波数応答レベル信
号Ｂとなる。次いで、このレファレンスレベル信号Ａ
トＸ 周波応答レベル信号Ｂの比（Ｂ／Ａ）を除算器８
で求める。周波数判定回路９は電圧 周波数変換回路か
い■、除算器８から比（Ｂ／Ａ）の値が電圧信号として
入力されると、それに対応する概略の周波数に変（＾し
て表示する。このように信号ＡとＢの比をとって周波数
の判定をすると、被測定高周波信号の入力レベルが変っ
ても比は一定であるので、該判定を防止できる。
なお、本方式をパワーメータに応用すると、キャリブレ
ーションファクタの自動設定を行なうことができる。
ーションファクタの自動設定を行なうことができる。
（発明の効果）
以上説明したように本発明では、被測定高周波信号をそ
の入力レベルに応じたレベルの直流のレファレンスレベ
ル信号Ａと、その入力周波数に応じたレベルの直流の周
波数応答レベル信号Ｂとに変換し、これらレベル信号Ａ
、Ｂの比（Ｂ／Ａ）により周波数を判定するので、周波
数の、計略測定を簡単で安価な設備で容易に行なうこと
かできる。
の入力レベルに応じたレベルの直流のレファレンスレベ
ル信号Ａと、その入力周波数に応じたレベルの直流の周
波数応答レベル信号Ｂとに変換し、これらレベル信号Ａ
、Ｂの比（Ｂ／Ａ）により周波数を判定するので、周波
数の、計略測定を簡単で安価な設備で容易に行なうこと
かできる。
捷だ、本発明では、信号Ａ、Ｂの比（Ｂ／Ａ）から周波
数の判定をするので、被測定高周波信号の入力レベルが
変化しても、比（Ｂ／Ａ）は変らないゆえ、常に正しい
判定を行なうことができる。
数の判定をするので、被測定高周波信号の入力レベルが
変化しても、比（Ｂ／Ａ）は変らないゆえ、常に正しい
判定を行なうことができる。
第１図は本発明の周波数組測定方式を実施する装置の一
例を示すブロック図、第２図は本発明で用いる出力レベ
ルが入力周波数に応じて単調変化する変換手段の入力周
波数と出力レベルの関係の一例を示す図である。 １・・・入力端子、２・・・レファレンス検波回路、３
・・・周波数・レベル変換検波回路、４・・分路手段、
５・・・検波器、６・・出力レベルが入力周波数（（応
じて単調変化する変換手段、７・・・検波器、８・・除
算器、９・・・周波数判定器。 代理人 弁理士 松 本 英 俊 ゛。
例を示すブロック図、第２図は本発明で用いる出力レベ
ルが入力周波数に応じて単調変化する変換手段の入力周
波数と出力レベルの関係の一例を示す図である。 １・・・入力端子、２・・・レファレンス検波回路、３
・・・周波数・レベル変換検波回路、４・・分路手段、
５・・・検波器、６・・出力レベルが入力周波数（（応
じて単調変化する変換手段、７・・・検波器、８・・除
算器、９・・・周波数判定器。 代理人 弁理士 松 本 英 俊 ゛。
Claims (1)
- 被測定高周波信号をその入力レベルに応じたレベルの直
流のレファレンスレベルＧ 号４１１Ｃ変換Ｌ、また前
記被測定高周波信号をその入力周波数に応じたレベルの
直流の周波数応答レベル信号Ｂに変換し、前記両信号Ａ
、Ｂの比（Ｂ／Ａ ）により前記被測定高周波信号の周
波数を判定することを特徴とする周波数粗測定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6922583A JPS59195166A (ja) | 1983-04-21 | 1983-04-21 | 周波数粗測定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6922583A JPS59195166A (ja) | 1983-04-21 | 1983-04-21 | 周波数粗測定方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59195166A true JPS59195166A (ja) | 1984-11-06 |
Family
ID=13396567
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6922583A Pending JPS59195166A (ja) | 1983-04-21 | 1983-04-21 | 周波数粗測定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59195166A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5246810A (en) * | 1989-10-18 | 1993-09-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Guanidine type compound, toner for developing electrostatic images, developer for developing electrostatic images |
| EP2772766A3 (en) * | 2013-02-25 | 2015-04-15 | Dialog Semiconductor Inc. | Power line frequency detector |
| WO2016192932A1 (de) * | 2015-06-03 | 2016-12-08 | Endress+Hauser Gmbh+Co. Kg | Verfahren zur detektion von hochfrequenzsignalen |
| EP4194860A1 (en) * | 2021-12-07 | 2023-06-14 | INTEL Corporation | Clock frequency ratio monitor |
-
1983
- 1983-04-21 JP JP6922583A patent/JPS59195166A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5246810A (en) * | 1989-10-18 | 1993-09-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Guanidine type compound, toner for developing electrostatic images, developer for developing electrostatic images |
| US5356749A (en) * | 1989-10-18 | 1994-10-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging method comprising a developer having a novel guanidine type compound |
| EP2772766A3 (en) * | 2013-02-25 | 2015-04-15 | Dialog Semiconductor Inc. | Power line frequency detector |
| US9625505B2 (en) | 2013-02-25 | 2017-04-18 | Dialog Semiconductor Inc. | Line frequency detector |
| WO2016192932A1 (de) * | 2015-06-03 | 2016-12-08 | Endress+Hauser Gmbh+Co. Kg | Verfahren zur detektion von hochfrequenzsignalen |
| CN107710002A (zh) * | 2015-06-03 | 2018-02-16 | 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司 | 用于检测高频信号的方法 |
| CN107710002B (zh) * | 2015-06-03 | 2020-04-17 | 恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司 | 用于检测高频信号的方法 |
| EP4194860A1 (en) * | 2021-12-07 | 2023-06-14 | INTEL Corporation | Clock frequency ratio monitor |
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