JPS59194500A - 導線の直線化と整列および、部品の電気的機能試験に用いられる方法及び装置 - Google Patents
導線の直線化と整列および、部品の電気的機能試験に用いられる方法及び装置Info
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- H05K13/024—Straightening or aligning terminal leads
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、シングルインライン即ち単一整列(SIP)
部品を処理する方法と装置に関するものである。上記部
1品は、一般的平行穴面形の本体と、その本体の1つの
表面から突出する単一シリーズの整列導線(リード)と
を有している。
部品を処理する方法と装置に関するものである。上記部
1品は、一般的平行穴面形の本体と、その本体の1つの
表面から突出する単一シリーズの整列導線(リード)と
を有している。
SIP部品の処理に特に向けられているけれども、開示
内容のある面は、他の型式の部品にも適用できるように
意図されている。
内容のある面は、他の型式の部品にも適用できるように
意図されている。
米国特許第4 、327 、483号には、SIP部品
を順次に選定して運搬し、シリンド回路基板に挿入する
装置が開示されている。処理時点で、上記部品の導線は
、各導線の公称軸に関して容易に曲げることができるが
、このために、回路基板の対応孔に導線が誤って挿入さ
れることがおこる。さらに、これらの部品の電気的機能
を、部品を処理している間に試験するという上記部品の
自動化処理が必要となっている。米国特許第4.367
.584号には、導線の直線化とデュアルインラインパ
ッケージ即ち複式整列形包装型式(DIP)部品の電気
的機能の試験とが開示されている。しかし、上記のよう
に実施する方法と装置は、SIP型部品には容易には適
用できない。
を順次に選定して運搬し、シリンド回路基板に挿入する
装置が開示されている。処理時点で、上記部品の導線は
、各導線の公称軸に関して容易に曲げることができるが
、このために、回路基板の対応孔に導線が誤って挿入さ
れることがおこる。さらに、これらの部品の電気的機能
を、部品を処理している間に試験するという上記部品の
自動化処理が必要となっている。米国特許第4.367
.584号には、導線の直線化とデュアルインラインパ
ッケージ即ち複式整列形包装型式(DIP)部品の電気
的機能の試験とが開示されている。しかし、上記のよう
に実施する方法と装置は、SIP型部品には容易には適
用できない。
そこで、本発明の目的は、その軸線にそって曲げられる
導線、特にSIP型部品の導線を直線化するための自動
化手段を提供することであるOさらに本発明の目的は、
導線の先端を一列にならべて、プリント回路基板の対応
孔に挿入する場合に、これらの先端の位置を整定する基
準を作るために、導線が突出している表面に導線が垂直
であるか否かにかかわらず、部品の導線の軸線を整列さ
せることである。
導線、特にSIP型部品の導線を直線化するための自動
化手段を提供することであるOさらに本発明の目的は、
導線の先端を一列にならべて、プリント回路基板の対応
孔に挿入する場合に、これらの先端の位置を整定する基
準を作るために、導線が突出している表面に導線が垂直
であるか否かにかかわらず、部品の導線の軸線を整列さ
せることである。
本発明の目的はさらに、上記の部品を回路基板へ差込む
ことが物理的に可能か否かを決定するために、導線が直
線化されているか否かを感知することである。
ことが物理的に可能か否かを決定するために、導線が直
線化されているか否かを感知することである。
本発明の目的はさらに、部品の回路素子を静的または動
的のいづれかで試験して、部品の電気的容認性を確定す
ることを助けることである。
的のいづれかで試験して、部品の電気的容認性を確定す
ることを助けることである。
以下、添付の図面を参考に本発明の具体的実施の態様に
付いて詳細に説明する。
付いて詳細に説明する。
本発明の好ましい実施態様では、選定された部品は、順
次にシャツトルアッセンブリで多くの補給格納場所から
移されてシャツトル積おろし場所へ運ばれ、ここで垂直
移送アッセンブリーによって部品は、シャツトルアッセ
ンブリーから測定部へ移される。測定部で、部品は、締
付けて固定され、次の係合作業を行えるように導線の位
置が設定される。測定作業中に、部品の曲げられた導線
が直線化され、部品の電気的機能が試験される。その後
、部品の本体は、部品を試験部から移送するために、可
動部ゲージグロックと挿入ヘッドバキュームブロックと
の間に、はさみ込まれ、次に、部品は、ノ々キュームブ
ロックに締付けられ、測定用ブロックは、引き込まれる
。締付用アッセンブリで、部品をバキュームブロックか
ら引き込めないで、測定ブロックを引込めることができ
るうえに、慣性またはこれと類似した作用によって、部
品を紛失することなく挿入位置までバキュームブロック
を回転させることができる。これにつづいて、回路基板
の対応孔に部品の導線を挿入して、83品をプリント回
路基板に装架する。
次にシャツトルアッセンブリで多くの補給格納場所から
移されてシャツトル積おろし場所へ運ばれ、ここで垂直
移送アッセンブリーによって部品は、シャツトルアッセ
ンブリーから測定部へ移される。測定部で、部品は、締
付けて固定され、次の係合作業を行えるように導線の位
置が設定される。測定作業中に、部品の曲げられた導線
が直線化され、部品の電気的機能が試験される。その後
、部品の本体は、部品を試験部から移送するために、可
動部ゲージグロックと挿入ヘッドバキュームブロックと
の間に、はさみ込まれ、次に、部品は、ノ々キュームブ
ロックに締付けられ、測定用ブロックは、引き込まれる
。締付用アッセンブリで、部品をバキュームブロックか
ら引き込めないで、測定ブロックを引込めることができ
るうえに、慣性またはこれと類似した作用によって、部
品を紛失することなく挿入位置までバキュームブロック
を回転させることができる。これにつづいて、回路基板
の対応孔に部品の導線を挿入して、83品をプリント回
路基板に装架する。
この手順は、必要な部品をすべて回路基板に差込んでし
まうまで、繰返され、ここで別の基板が、ノクンタグラ
フ上におかれ、サイクル〃工、あらためて開始される。
まうまで、繰返され、ここで別の基板が、ノクンタグラ
フ上におかれ、サイクル〃工、あらためて開始される。
第7図から第9図までを参照すると、ピストンシリンダ
ー16は、軸13にそって牽弓1音すを突出するために
、遊動継手19とプラタン) 18を通して往復式スラ
イド20に取付けられている。
ー16は、軸13にそって牽弓1音すを突出するために
、遊動継手19とプラタン) 18を通して往復式スラ
イド20に取付けられている。
スライド20には、その頂部に電気的絶縁ブロック22
が取付けられ、固定されたセンターガイド14にまたが
っている。センターガイド14は、固定された基板12
に取付けられ、シリンダー16はさらに、プラタン)
17を通して基板12に固定されている。絶縁ブロック
22の前端には、みぞ23(第8図を参照のこと)と導
線直線化装置!ロック25とが設けられている。みぞ2
3は、たわみ電気接点24(第7図と第14図)を収納
するためのもので、この接点は、第14図で分かるよう
に、直線化装置のブロック25の孔26の後側に向って
バイアスされる。ホトセルセンサー配列28A 、 2
8B 、 28Cは、スライド20の突出または引込に
ついての3種類のことなった位置を感知するために、フ
レーム12に取付けられる。
が取付けられ、固定されたセンターガイド14にまたが
っている。センターガイド14は、固定された基板12
に取付けられ、シリンダー16はさらに、プラタン)
17を通して基板12に固定されている。絶縁ブロック
22の前端には、みぞ23(第8図を参照のこと)と導
線直線化装置!ロック25とが設けられている。みぞ2
3は、たわみ電気接点24(第7図と第14図)を収納
するためのもので、この接点は、第14図で分かるよう
に、直線化装置のブロック25の孔26の後側に向って
バイアスされる。ホトセルセンサー配列28A 、 2
8B 、 28Cは、スライド20の突出または引込に
ついての3種類のことなった位置を感知するために、フ
レーム12に取付けられる。
この感知を容易にするだめに、ベイン27は、その全長
にそって適切に配置された装置(図示されていない)を
有し、ブラケット21によってスライド20に取刊けら
れる。フレーム12の前部(第7図と第8図との左側に
図示されている)には、第8図の軸31にそって締付ブ
ロック34を往復運動させるために締付シリンダー32
が取付けられている。締付ブロック34は、水平面38
上を滑って、後述されるように、締付ブロック34の前
側表面35とロケータ−表面40との間の所定位置に部
品を締付ける。マグネット48(第8図)は、締付ブロ
ック34とともに往復運動することができるうえに、ホ
ール効果センサー44 、46と共同動作して、締伺ブ
ロック34の突出と引込との位置を検知する。
にそって適切に配置された装置(図示されていない)を
有し、ブラケット21によってスライド20に取刊けら
れる。フレーム12の前部(第7図と第8図との左側に
図示されている)には、第8図の軸31にそって締付ブ
ロック34を往復運動させるために締付シリンダー32
が取付けられている。締付ブロック34は、水平面38
上を滑って、後述されるように、締付ブロック34の前
側表面35とロケータ−表面40との間の所定位置に部
品を締付ける。マグネット48(第8図)は、締付ブロ
ック34とともに往復運動することができるうえに、ホ
ール効果センサー44 、46と共同動作して、締伺ブ
ロック34の突出と引込との位置を検知する。
さらに、第14図から第17図までを参照すると、試験
機能を完全に働かせるだめに、部品100の導線先端が
、たわみ板はね接点24と係合するように、孔26に導
線を収納して案内するために、導線直線化/整列用7゛
ロツク25は、円錐形導入部26付の一連の孔26を有
している。そして、ブロック25は、被覆処理を行うか
または、セラミック、グラスチックまたはそれらの類似
材料で形成して、電気的に絶縁される。このように手配
して、導線は、直線化されるかまたは、互いに最少限に
平行に整列され、その結果、電気接点24付の導線先端
の接点によって、電気接点24と制御器(図示されてい
ない)との間の接続を通して部品iooの電気的機能試
験を遂行して、異種導線があるか否かも感知することが
できる。制御器は、通常、プログラム化可能なコンピュ
ータをそなえることができる。
機能を完全に働かせるだめに、部品100の導線先端が
、たわみ板はね接点24と係合するように、孔26に導
線を収納して案内するために、導線直線化/整列用7゛
ロツク25は、円錐形導入部26付の一連の孔26を有
している。そして、ブロック25は、被覆処理を行うか
または、セラミック、グラスチックまたはそれらの類似
材料で形成して、電気的に絶縁される。このように手配
して、導線は、直線化されるかまたは、互いに最少限に
平行に整列され、その結果、電気接点24付の導線先端
の接点によって、電気接点24と制御器(図示されてい
ない)との間の接続を通して部品iooの電気的機能試
験を遂行して、異種導線があるか否かも感知することが
できる。制御器は、通常、プログラム化可能なコンピュ
ータをそなえることができる。
上記の水平面38は、第1図に概略的に図示されたよう
に、垂直形移送アッセンブリ50である。
に、垂直形移送アッセンブリ50である。
垂直形移送アッセンブリ50の構造は、第4図から第6
図までに示されているが、ブラケット53はシリンダー
57に取付けられ、代表的なC−7レームのよウニ機械
フレーム上でシリンダー57を支持している。従って、
シリンダーは、機械のフレームとは相対的に固定され、
その作動によって、矢印51の方向で真空管54が垂直
に往復運動することになる。真空管54の最上端は、よ
く知られた方法で真空送気ホース(図示されていない)
に接続され、しかも真空管54の最下端には、通常たわ
み先端部が取付けられている。
図までに示されているが、ブラケット53はシリンダー
57に取付けられ、代表的なC−7レームのよウニ機械
フレーム上でシリンダー57を支持している。従って、
シリンダーは、機械のフレームとは相対的に固定され、
その作動によって、矢印51の方向で真空管54が垂直
に往復運動することになる。真空管54の最上端は、よ
く知られた方法で真空送気ホース(図示されていない)
に接続され、しかも真空管54の最下端には、通常たわ
み先端部が取付けられている。
ガイドロッド55によって、真空管54は、シリンダ5
7の制御をうけてブラケット53と相対的に、確実に正
しい往復運動を行うことができる。
7の制御をうけてブラケット53と相対的に、確実に正
しい往復運動を行うことができる。
マグネット58は、1対のホール効果センサーと共同動
作して、真空管54の突出と引込との位置を指示する。
作して、真空管54の突出と引込との位置を指示する。
第2図と第3図とに、選定されたマガジン匍(第1図に
概略的に表示されている)からのSIP部品100のつ
かみ上げと、垂直形移送アッセンブリ50への移送とを
行うシャットルア7センブリ80(上記に引用した米国
特許第4,327,483号に開示されたものと類似し
ている)が図解されている。シャツトルアッセンブリ8
0の一般機能は、上記の米国特許第4*327,483
号に十分に図解して説明されてお)、それには主要な本
体81があって、レトリー・々−82とクランプ84と
を備えた突出と引込みとが可能なりラングアッセンブリ
を有するアーム83が、それに枢着されている。クラン
プ84の突出は、ばね86がクラン7684を、その完
全に突出した位置まで・ぐイアスするように、本体81
にねじ込まれたがイドビルト85によって張定される。
概略的に表示されている)からのSIP部品100のつ
かみ上げと、垂直形移送アッセンブリ50への移送とを
行うシャットルア7センブリ80(上記に引用した米国
特許第4,327,483号に開示されたものと類似し
ている)が図解されている。シャツトルアッセンブリ8
0の一般機能は、上記の米国特許第4*327,483
号に十分に図解して説明されてお)、それには主要な本
体81があって、レトリー・々−82とクランプ84と
を備えた突出と引込みとが可能なりラングアッセンブリ
を有するアーム83が、それに枢着されている。クラン
プ84の突出は、ばね86がクラン7684を、その完
全に突出した位置まで・ぐイアスするように、本体81
にねじ込まれたがイドビルト85によって張定される。
レトリーノマ−82は、周知のピストン/シリンダー配
列を通して本体81と関連して突出と引込みを行うこと
ができる。第2図と第3図に示された以上に大きくレト
リーバ−82が突出すると、SIPを収納するためにク
ランプアッセンブリが開かれて、その □引込み
時に、SIPは、ばね86の・マイアスをうけテ、レト
リーバ−82とクランプ84との間に、はさみ込まれる
か締付けられることになる。
列を通して本体81と関連して突出と引込みを行うこと
ができる。第2図と第3図に示された以上に大きくレト
リーバ−82が突出すると、SIPを収納するためにク
ランプアッセンブリが開かれて、その □引込み
時に、SIPは、ばね86の・マイアスをうけテ、レト
リーバ−82とクランプ84との間に、はさみ込まれる
か締付けられることになる。
第10図と第11図には、上記の米国特許第4.327
,483号に開示されたものと類似した挿入ヘッドアッ
センブリが図解されている。挿入ヘラP60は、軸61
を中心として回転することができるうえに、第11図の
矢印63の方向に突出と引込みが可能なバキュームブロ
ック62ヲそなえている。第11a図を参照すれば、バ
キュームブロック62は、バキュームホースアタッチメ
ント65と勾配付表面64とを有しているが、その目的
は、全体的装置の操作に関する下記の説明によって明ら
かになるはずである。挿入ヘッド60ハサラに、バキュ
ームブロック62 K SIP ノ本体を締付けるため
に、フラングアッセンブリ66(第10図から第13図
まで)をそなえている。
,483号に開示されたものと類似した挿入ヘッドアッ
センブリが図解されている。挿入ヘラP60は、軸61
を中心として回転することができるうえに、第11図の
矢印63の方向に突出と引込みが可能なバキュームブロ
ック62ヲそなえている。第11a図を参照すれば、バ
キュームブロック62は、バキュームホースアタッチメ
ント65と勾配付表面64とを有しているが、その目的
は、全体的装置の操作に関する下記の説明によって明ら
かになるはずである。挿入ヘッド60ハサラに、バキュ
ームブロック62 K SIP ノ本体を締付けるため
に、フラングアッセンブリ66(第10図から第13図
まで)をそなえている。
クランノアラセンブリ66は、軸69のまゎシで回転で
きるうえに、圧縮ばね7oによって第13図の非締付位
置にバイアスされる締付部材68を有している。作動シ
リンダー72は、ピストン日ツド74を有していて、そ
の末端には、締付部材68を係合させて、ばね70のバ
イアス作用にさからって締付位置まで締付部材を回転さ
せるために、焼入鋼製ノーズピース76が取付けられる
。
きるうえに、圧縮ばね7oによって第13図の非締付位
置にバイアスされる締付部材68を有している。作動シ
リンダー72は、ピストン日ツド74を有していて、そ
の末端には、締付部材68を係合させて、ばね70のバ
イアス作用にさからって締付位置まで締付部材を回転さ
せるために、焼入鋼製ノーズピース76が取付けられる
。
運転の一般的手順には、シャツトルアッセンブリ80の
選定マガジン90までの移動、5IP−102のマfジ
/からの突出と、SIP 102の垂直形移送アッセン
ブリ50の直下位置までの運搬等カ含マれる。SIP
102をシャツトル80から取外し、試験場所10の水
平表面38まで下向きに移送するために、SIP 10
2は、垂直形移送アッセンブリ50の1個または複数(
本体101の長さによつT:、きまる)のへ空管54に
よって係合される。
選定マガジン90までの移動、5IP−102のマfジ
/からの突出と、SIP 102の垂直形移送アッセン
ブリ50の直下位置までの運搬等カ含マれる。SIP
102をシャツトル80から取外し、試験場所10の水
平表面38まで下向きに移送するために、SIP 10
2は、垂直形移送アッセンブリ50の1個または複数(
本体101の長さによつT:、きまる)のへ空管54に
よって係合される。
試験場所10では、側方締付シリンダ32は、SIP
102の本体101を係合させ、それをロクータ表面4
0に押し付け、その結果、5IPIO2の導線106が
、試験機の導線直線化孔26に関して正しく位置設定さ
れるように作動される。この時点で、垂直移送真空管5
4は引込め、られ、挿入ヘッド60は、水平位置でその
ツーリングを位置決定するために回転し、挿入ヘッド6
0の真空ブロック62は、スライド20がシリンダー1
6によって最初の突出位置まで移動される間に、突出さ
れてSIP 102と係合することになり、その結果、
導線106は、直線化/整列ブロック25の導入部26
によって、直腺化孔2′Gに導きこまれるうえに、SI
P 102 O本体101は、真空ブロック62と直線
化/整列ブロック25との間に、はさみ込まれる。
102の本体101を係合させ、それをロクータ表面4
0に押し付け、その結果、5IPIO2の導線106が
、試験機の導線直線化孔26に関して正しく位置設定さ
れるように作動される。この時点で、垂直移送真空管5
4は引込め、られ、挿入ヘッド60は、水平位置でその
ツーリングを位置決定するために回転し、挿入ヘッド6
0の真空ブロック62は、スライド20がシリンダー1
6によって最初の突出位置まで移動される間に、突出さ
れてSIP 102と係合することになり、その結果、
導線106は、直線化/整列ブロック25の導入部26
によって、直腺化孔2′Gに導きこまれるうえに、SI
P 102 O本体101は、真空ブロック62と直線
化/整列ブロック25との間に、はさみ込まれる。
真空ブロック62の前部は、本体101が表面38とま
だ完全には係合されていないならば、5IP102の本
体lotが、損傷されずに水平表面38とかたく係合さ
れるように、傾斜をつけられている。直線化された導線
106の先端は、ブロック25の後側に位置設定された
(第14図に示されたように)たわみ板ばね接点24と
係合する。
だ完全には係合されていないならば、5IP102の本
体lotが、損傷されずに水平表面38とかたく係合さ
れるように、傾斜をつけられている。直線化された導線
106の先端は、ブロック25の後側に位置設定された
(第14図に示されたように)たわみ板ばね接点24と
係合する。
導線106を直線化したうえに、その導線106を通し
てSIP 102の電気的機能を試験してから、スライ
ドフラング34は引込められ、スライド20は、真空ブ
ロック102が引込むにつれて(通常、軸13の方向に
)突出され、SIP、 102を試験場所10から引き
はなす。その後、締付用シリンダー72が作動され電、
′回転フラング68は、5IP102の本体101を係
合させ、Sip 102を真空ブロック62に締付け、
スライド20は完全に弓1込められる。この時点で、挿
入ヘッド60は、そのツーリングを第1図の垂直位置に
位置決定するために、真空ブロック62と回転クランf
68との間にはさみ込まれたSIP 1020本体と共
に回転され、クランゾロ8は回転されて、SIP本体1
01との係合がはずされ、次に挿入ヘッド60は作動さ
れて、SIP 102の導線106をシリンド回路基板
の対応孔に挿入する。
てSIP 102の電気的機能を試験してから、スライ
ドフラング34は引込められ、スライド20は、真空ブ
ロック102が引込むにつれて(通常、軸13の方向に
)突出され、SIP、 102を試験場所10から引き
はなす。その後、締付用シリンダー72が作動され電、
′回転フラング68は、5IP102の本体101を係
合させ、Sip 102を真空ブロック62に締付け、
スライド20は完全に弓1込められる。この時点で、挿
入ヘッド60は、そのツーリングを第1図の垂直位置に
位置決定するために、真空ブロック62と回転クランf
68との間にはさみ込まれたSIP 1020本体と共
に回転され、クランゾロ8は回転されて、SIP本体1
01との係合がはずされ、次に挿入ヘッド60は作動さ
れて、SIP 102の導線106をシリンド回路基板
の対応孔に挿入する。
装置の特殊運転が下記の項目で説明されている。
(1) シャツトル80は、そのツーリングを下向き
に回転させると同時に部分的に突出させて、選定マガジ
ン90まで移動する。
に回転させると同時に部分的に突出させて、選定マガジ
ン90まで移動する。
(2) シャツトルアッセンブリ80のツーリングが
完全に突出する。
完全に突出する。
(3) シャツトルアッセンブリ80のツーリングが
上昇する。
上昇する。
(4) レトリーバ−82は引込んでSIP 102
をマガジン90から抜き取って、その本体をばね86の
バイアスの下側でレトリーバ−82とクランプ84との
間に締伺ける。
をマガジン90から抜き取って、その本体をばね86の
バイアスの下側でレトリーバ−82とクランプ84との
間に締伺ける。
(5) シャツトルアッセンブリ80のツーリングは
低下され、ツーリング内に部品があるかないかを調査さ
れる。調査の結果、部品がない場合には、さらに3回、
上記の試みが着手され、選定マガジンまたは代替マガジ
ンから部品をさがして取シ上げる。上記の試みを3回行
った後でも、シャツトルアッセンブリ80のツーリング
で部品が取シ上げられなかった場合には、機械は停止さ
れ、運転者は警報で知らされる。調査の結果、部品があ
る場合には、下記のとうシである。
低下され、ツーリング内に部品があるかないかを調査さ
れる。調査の結果、部品がない場合には、さらに3回、
上記の試みが着手され、選定マガジンまたは代替マガジ
ンから部品をさがして取シ上げる。上記の試みを3回行
った後でも、シャツトルアッセンブリ80のツーリング
で部品が取シ上げられなかった場合には、機械は停止さ
れ、運転者は警報で知らされる。調査の結果、部品があ
る場合には、下記のとうシである。
(6) シャツトル80は、垂直移送アッセンブリ5
0に隣接した位置まで移動する。
0に隣接した位置まで移動する。
(7) シャツトルアッセンブリ80のツーリングが
突出され、移送アッセンブリ50のバキューム装置が始
動される。
突出され、移送アッセンブリ50のバキューム装置が始
動される。
(8) シャツトルアッセンブリ80のラージ〉′グ
は持上げられて、SIP 102の本体101を垂直移
送アッセンブリ50のバキュームヘッド56と接触させ
る。
は持上げられて、SIP 102の本体101を垂直移
送アッセンブリ50のバキュームヘッド56と接触させ
る。
(9) シャツトルアッセンブリ80のレトリーバ−
82はさらに突出されてSIPの締付けをはずし、圧電
変換器型バキュームスイッチは、SIPが、垂直移送ア
ッセンブリ50のバキュームヘッド56で支持されてい
るか否かを感知するとともに、部品がバキュームヘッド
56で支持されていない場合には、上記と類似した部品
の取シ外し機能が行われる。部品がバキュームヘッド5
6で支持される場合には、下記のとうシである。
82はさらに突出されてSIPの締付けをはずし、圧電
変換器型バキュームスイッチは、SIPが、垂直移送ア
ッセンブリ50のバキュームヘッド56で支持されてい
るか否かを感知するとともに、部品がバキュームヘッド
56で支持されていない場合には、上記と類似した部品
の取シ外し機能が行われる。部品がバキュームヘッド5
6で支持される場合には、下記のとうシである。
α0 シャツトルアッセンブリ80のツーリングが低下
される。
される。
αυ シャツトル80は、次の選定マガジン90まで移
動する。
動する。
上記の手順(3−11)は、下記の手順(12−20)
と連動して繰返される゛。
と連動して繰返される゛。
(ロ)垂直移送アッセンブリ50の真空管54は、下向
きに突出さ−れる。
きに突出さ−れる。
α■ 試験場所lOの側方締付シリンダー32が突出さ
れ、垂直移送アッセンブリ500ノ々キユーム装置は停
止される。SIP 102が、フラングブロック34と
ロケータ−表面40との間に適切に捕捉されていない場
合には、ホール効果センサー44が作動される。側方フ
ラングブロック34が突出してSIP 102が適切に
捕捉された状態で、下記のことが行われる。
れ、垂直移送アッセンブリ500ノ々キユーム装置は停
止される。SIP 102が、フラングブロック34と
ロケータ−表面40との間に適切に捕捉されていない場
合には、ホール効果センサー44が作動される。側方フ
ラングブロック34が突出してSIP 102が適切に
捕捉された状態で、下記のことが行われる。
αゆ 垂直移送アッセンブリの真空管54は引込められ
、挿入ヘッドアッセンブリ60のツーリングは、第1図
の仮想線で表示された水平方向位置まで回転される。
、挿入ヘッドアッセンブリ60のツーリングは、第1図
の仮想線で表示された水平方向位置まで回転される。
α啼 挿入ヘラPのバキュームグロック62は突出され
る。
る。
a・ 試験場所10のスライド20は、SIP 102
の導線106が直線化孔26に導き込まれて、5IP1
02の電気的機能が(たわみ板ばね接点24を通る導線
106と関連回路とによって)行われるように、最初の
位置まで突出される。バキュームブロック62のバキュ
ーム装置が始動さレル。
の導線106が直線化孔26に導き込まれて、5IP1
02の電気的機能が(たわみ板ばね接点24を通る導線
106と関連回路とによって)行われるように、最初の
位置まで突出される。バキュームブロック62のバキュ
ーム装置が始動さレル。
αη 側方クランプブロック34が引込められる。
9時 バキュームブロック62を突出させた圧力が低下
され、スライド20がさらに第2番目の位−置まで突出
され、その結果、SIP 102は、試験場所10の水
平表面38を通シ越すことになるO(イ)締付アッセン
ブリ66のクランプ68は、\ 回転されてSIP 102の本体101と係合し、ノ々
キュームブロック62上にノ々キューム装置でさらに、
バキュームブロック62とスライド20の直線化/整列
用ブロック25との間に本体101をはさみ込んで、保
持される。
され、スライド20がさらに第2番目の位−置まで突出
され、その結果、SIP 102は、試験場所10の水
平表面38を通シ越すことになるO(イ)締付アッセン
ブリ66のクランプ68は、\ 回転されてSIP 102の本体101と係合し、ノ々
キュームブロック62上にノ々キューム装置でさらに、
バキュームブロック62とスライド20の直線化/整列
用ブロック25との間に本体101をはさみ込んで、保
持される。
(イ) スライド20は引込められる。スライド20が
引込んでいる時は、ブロック25の孔から導線106が
すべって保合かはづれている間は導線106は、互いに
平行になっている。何等かの理由で、導線106が突出
している本体101の表面に、導線106が正確には垂
直でない場合には、平行な導線の先端は、ブロック25
の孔26に関して等しく間隔をとられて位置設定される
ので、上記のことは問題とならないが、上記の孔26は
、導線が完全に引込められた位置で、挿入ヘラ・ドロ0
の下で対応する回路基板孔の位置を決定する基準位置で
ある・。この結果、導線の全長でない場合には、導線1
06の先端は、導線が挿入されるべき対応する回路基板
孔に関して適正に位置決めされる。試験結果がマイナス
になった場合、即ち、導線がすべて、直線化と試験とが
行われていないかまたは、SIP 102の電気的機能
が不満足である場合には、欠陥部品が回路基板に装架さ
れることがない′ように、部品はバキュームブロック゛
62から取除かれる。
引込んでいる時は、ブロック25の孔から導線106が
すべって保合かはづれている間は導線106は、互いに
平行になっている。何等かの理由で、導線106が突出
している本体101の表面に、導線106が正確には垂
直でない場合には、平行な導線の先端は、ブロック25
の孔26に関して等しく間隔をとられて位置設定される
ので、上記のことは問題とならないが、上記の孔26は
、導線が完全に引込められた位置で、挿入ヘラ・ドロ0
の下で対応する回路基板孔の位置を決定する基準位置で
ある・。この結果、導線の全長でない場合には、導線1
06の先端は、導線が挿入されるべき対応する回路基板
孔に関して適正に位置決めされる。試験結果がマイナス
になった場合、即ち、導線がすべて、直線化と試験とが
行われていないかまたは、SIP 102の電気的機能
が不満足である場合には、欠陥部品が回路基板に装架さ
れることがない′ように、部品はバキュームブロック゛
62から取除かれる。
下記の3種の手順(21−23)の間に、上記の手順(
3−s)と(12−14)は、下記の手順と共に行われ
る。
3−s)と(12−14)は、下記の手順と共に行われ
る。
(21)挿入ヘッド60は、挿入位置まで回転されるが
、一方では、プリント回路基板は適正に位置決めされ、
プリント回路基板の下の固定機構が開かれて、SIP
102の導線106を収容する。
、一方では、プリント回路基板は適正に位置決めされ、
プリント回路基板の下の固定機構が開かれて、SIP
102の導線106を収容する。
(イ) フラング68は、バキュームブロック62だけ
がSIP 102を保持しつづけるように、5IP10
2から離れて回転される。
がSIP 102を保持しつづけるように、5IP10
2から離れて回転される。
(ハ)挿入ヘッドは突出して、導線106を回路基板の
対応する孔に挿入し、この基板の下側に導線は固定され
る。
対応する孔に挿入し、この基板の下側に導線は固定され
る。
電気的機能に関する部品検査は、部品の適正な方位に関
す゛る試験を含めるように解釈すべきである。
す゛る試験を含めるように解釈すべきである。
代表的にいえば、直線化と試験時には、バキュームブロ
ック62は、80ポンドの流体圧力で突出されるが、ス
ライド20は、lOポン“ドの流体圧力で突出される。
ック62は、80ポンドの流体圧力で突出されるが、ス
ライド20は、lOポン“ドの流体圧力で突出される。
しかるに、試験場所からSIPを移す時には、20ポン
ドの突出圧力がバキュームブロック62に、60ポンド
の圧力がスライド20にそれぞれ負荷される。・これら
の圧力は、部品の接近を防止することが分った。
ドの突出圧力がバキュームブロック62に、60ポンド
の圧力がスライド20にそれぞれ負荷される。・これら
の圧力は、部品の接近を防止することが分った。
部品本体lotの厚さが、部品によってことなる場合に
は、導線直線化作業によって、すべての導線106は互
いに平行に整列させられるが、導線が突出する本体10
10表面に垂直には5なら°ない。実際には、製造上の
不一致のために、本体101の厚さは、部品ごとにこと
なシ、導線106が互いに平行であるが、本体表面に垂
直でない場合に類似した状況をつくシ・出す。しかし、
4本発明によって、直線化された導線の先端は、上記の
状況のいづれか一方が生じた時に、その後につづく挿入
にそなえて、適正に位置を設定される。
は、導線直線化作業によって、すべての導線106は互
いに平行に整列させられるが、導線が突出する本体10
10表面に垂直には5なら°ない。実際には、製造上の
不一致のために、本体101の厚さは、部品ごとにこと
なシ、導線106が互いに平行であるが、本体表面に垂
直でない場合に類似した状況をつくシ・出す。しかし、
4本発明によって、直線化された導線の先端は、上記の
状況のいづれか一方が生じた時に、その後につづく挿入
にそなえて、適正に位置を設定される。
前記の親羽から明らかになった目的のうちで、上記の目
的が、効果的に達成されることは、このようにして分か
るとと′であるが、上記の方法の実施と記述された構造
を、本発明の範囲からはづれないで、変更できるので、
上記の説明に含まれるかまたは添付図面に表示されたす
べての事項は、説明用として解釈して、限定用の意味は
ないと考えねばならない。
的が、効果的に達成されることは、このようにして分か
るとと′であるが、上記の方法の実施と記述された構造
を、本発明の範囲からはづれないで、変更できるので、
上記の説明に含まれるかまたは添付図面に表示されたす
べての事項は、説明用として解釈して、限定用の意味は
ないと考えねばならない。
第1図は、SIPの処理中における各種の主要組立品の
相互位置設定を図解する側面の禮略立面図である。 第2図は、シャツトルアッセンブリの最上部平面図であ
る。 第3図は、第2図の矢印3−3の方向で見たシャツトル
アッセンブリの右側両立面図である。 第4図は、垂直移送アッセンブリの前両立面図である。 第5図は、第4図の装置の右側方立面図である。 第6図は、第4図の装置の最上部平面図である。 第7図は、導線直線化手段と機能証明装置アッセンブリ
との右側方立面図である。 第8図は、第7図の装置の最上部平面図である。 第9図は、第8図の矢印9−9の方向で見た第7図の装
置の前両立面図である。 第1O図は、部分的に断面にしてしかも、明示するため
に部品を分解した挿入ヘソドアッセン・ブリの前両立面
図である。 第11図は、明示するために部品を分解した第10図の
装置の右側立面図である。 第11a図は、′Iかさ11形部品保合部を図解するた
メニ挿入ヘッドバキュームブロックを拡大した部分図で
ある。 第12図は、挿入へッドアツセ/2すの締付アッセンブ
リ部の前両立面図である。 第13図は、第12図の装置の右側立面図である。 第14図は1、導線直線化装置孔と検査装置の電気接点
を図解する拡大された部分的断面図である。 第15図は、導線直線化装置孔への勾配付・入口を図解
する断面図である。 第16図と第17図とは、SIP部品の透視図である。 4図面の簡単な説明 12:7レーム 14:センターガイド25:
導線直撫化装置ブロック 50:垂直形移送アッセンブリ 80:シャトルアッセンブリ 102 : SIP %許出H人 ユニバーサルインストルメンツコーポレ
ーション パ′:′。 代理人 小 橋 −男゛、ご
相互位置設定を図解する側面の禮略立面図である。 第2図は、シャツトルアッセンブリの最上部平面図であ
る。 第3図は、第2図の矢印3−3の方向で見たシャツトル
アッセンブリの右側両立面図である。 第4図は、垂直移送アッセンブリの前両立面図である。 第5図は、第4図の装置の右側方立面図である。 第6図は、第4図の装置の最上部平面図である。 第7図は、導線直線化手段と機能証明装置アッセンブリ
との右側方立面図である。 第8図は、第7図の装置の最上部平面図である。 第9図は、第8図の矢印9−9の方向で見た第7図の装
置の前両立面図である。 第1O図は、部分的に断面にしてしかも、明示するため
に部品を分解した挿入ヘソドアッセン・ブリの前両立面
図である。 第11図は、明示するために部品を分解した第10図の
装置の右側立面図である。 第11a図は、′Iかさ11形部品保合部を図解するた
メニ挿入ヘッドバキュームブロックを拡大した部分図で
ある。 第12図は、挿入へッドアツセ/2すの締付アッセンブ
リ部の前両立面図である。 第13図は、第12図の装置の右側立面図である。 第14図は1、導線直線化装置孔と検査装置の電気接点
を図解する拡大された部分的断面図である。 第15図は、導線直線化装置孔への勾配付・入口を図解
する断面図である。 第16図と第17図とは、SIP部品の透視図である。 4図面の簡単な説明 12:7レーム 14:センターガイド25:
導線直撫化装置ブロック 50:垂直形移送アッセンブリ 80:シャトルアッセンブリ 102 : SIP %許出H人 ユニバーサルインストルメンツコーポレ
ーション パ′:′。 代理人 小 橋 −男゛、ご
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、本体と該本体から突出ししかもその各々が長手方向
軸を有する単一列の整列した導線とを有する型式の電気
部品を連続的に処理する自動化された方法であって、該
方法は、各該部品について、該導線を機械的に整列させ
る工程、列内で互いにほぼ平行にならべる工程と咳部品
の電気的機能を試験する工程とをそなえていることを特
徴とする電気部品の連続的自動処理方法。 2、回路基板の対応孔に該導線をその後に挿入する基準
として、該整列時に該導線の先端位置を設定する工程を
有することを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
方法。 3、該整列と試験に先立って、該部品の基準導線の位置
を設定する工程を有することを特徴とする特許請求の範
囲第1項に言己載の方法。 4、該整列時に該導線の先端を案内する工程を有するこ
とを特徴とする特許i青水の範囲第1項に記載の方法。 5、該試験時に選定された公差範囲をこえる場合に該部
品を不合格判定する工程と、該試験時に該選定された公
差範囲をこえない場合に、該導線を該回路基板孔に挿入
する工程とを有することを特徴とする特許請求の範囲第
2項に記載の方法。 6、該整列と試験が、はとんど同時に行われることを特
徴とする特許請求の範囲第1項に記載の方法。 7、 本体と、該本体から突出してし−i−も、それぞ
れ導線軸を有する導線とを有する電気部品を、連続的に
処理する自動化された方法であって、各該部品について
、該軸にそって曲げられる該導線をそれぞれ直線化する
工程と、該部品の電気的機能を試験する工程とを有する
ことを特徴とする電気部品の連続的自動処理方法。 8.該導線を互いに平行に整列させる工程を有すること
を特徴とする特許請求の範囲第7項に記載の方法。 9、該直線化と整列とを、該試験とほとんど同時に行う
工程を有することを特徴とする特許請求の範囲第8項に
記載の方法。 10、 本体と、該本体から突出ししかも、それぞれ
長手方向軸を有する単一列の整列した導線とを有する型
式の電気部品を連続的に処理する自動化された方法を遂
行する装置であって、該導線を互いにほぼ平行に一列に
機械的に整列させる手段と、該部品の電気的機能を試験
する手段とをそなえていることを特徴とする連続的自動
処理方法の遂行装置。 11、 回路基板の対応孔に該導線をそのあとに挿入
する基準として、該整列時に該導線の先端位置を設定す
る手段を有することを特徴とする特許請求の範囲第10
項に記載の装置。 12− 該整列と試験とを遂行する前に、該部品の基
準導線の位置を設定する手段を有することを特徴とする
特許請求の範囲第1O項に記載の装置。 13、 該整列時に該導線の先端を案内する手段を有
することを特徴とする特許請求の範囲第1O項に記載の
装置。 14、 該試験時に、一定された公差範囲をこえる場
合に該部品を不合格判定する手段と、該試験時に該選定
された公差範囲をこえない場合に、該導線を該孔に挿入
する手段とを有することを特徴とする特許請求の範囲第
11項に記載の装置。 15、 該整列と試験とをはとんど同時に遂行する手
段を有することを特徴とする特許請求の範囲第10項に
記載の装置。 16、本体と、該本体から突出ししかも、それぞれ導線
軸を有する導線とを有する電気部品を連続的に処理する
自動化された方法を遂行する装置であって、各該軸にそ
って曲けられる各該導線を直線化する手段と、該部品の
電気的機能を試験する手段とを有することを特徴とする
電気部品の連続的自動処理方法の遂行装置。 17、 該導線を互いにほぼ平行に整列させる手段を
有することを特徴とする特許請求の範囲第16項に記載
の装置。 18、 該直線化と試験とをほとんど同時に行う手段
を有することを特徴とする特許請求の範囲第16項に記
載の装置。 19、 該直線化と試験を行う試験場所へ選定された
部品を運搬する手段と、該試験の完了時点で該部品を該
試験場所から移送して、回路基板の対応孔に該導線を挿
入する手段と、該運搬手段と該移送手段とを管理する手
段とを有することを特徴とする特許請求の範囲第10項
に記載の装置。 20、該運搬手段が、該部品をシャツトル積込み場所か
らシャツトル積おろし場所へ移動するシャツトル手段と
、該部品を該シャツトル手段から積おろししさらに、該
部品を該試験場所へ積込む垂直移送手段とをそなえるよ
うに構成されたことを特徴とする特許請求の範囲第19
項に記載の装置。 21、該移送手段が、該試験場所のゲージグロックと挿
入ヘッドのバキュームブロックとを有し、しかも該部品
を該試験場所から上記のよりに移送する時に、該部品本
体を該ブロック間にはさみ込んだままで、該グージブロ
ックト該バキュームブロックとが協同して動くように構
成されたことを特徴とする特許請求の範囲第19項に記
載の装置。 22、該ゲージグロックが該試験場所へ戻る間おヨヒ、
該バキュームブロックが挿入位置まで、その後につづい
て回転する間に、該部品本体を該バキュームブロックに
係合させて固定させ、その結果、該ゲージグロックの戻
シ時と該バキュームブロックの回転時に該部品を消失さ
せる手段を有することを特徴とする特許請求の範囲第2
1項に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/483,700 US4510686A (en) | 1983-04-11 | 1983-04-11 | Method and apparatus for straightening and aligning leads and testing electrical functioning of components |
US483700 | 1983-04-11 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59194500A true JPS59194500A (ja) | 1984-11-05 |
Family
ID=23921166
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59066837A Pending JPS59194500A (ja) | 1983-04-11 | 1984-04-05 | 導線の直線化と整列および、部品の電気的機能試験に用いられる方法及び装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4510686A (ja) |
EP (1) | EP0121626B1 (ja) |
JP (1) | JPS59194500A (ja) |
AT (1) | ATE49337T1 (ja) |
CA (1) | CA1208371A (ja) |
DE (1) | DE3381079D1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US4691747A (en) * | 1986-03-27 | 1987-09-08 | Advanced Micro Devices, Inc. | Controlled deformation alignment method and apparatus |
US4892122A (en) * | 1988-12-19 | 1990-01-09 | Micron Technology Inc. | Probe pin alignment tool |
US6462575B1 (en) * | 2000-08-28 | 2002-10-08 | Micron Technology, Inc. | Method and system for wafer level testing and burning-in semiconductor components |
US6604395B2 (en) | 2001-07-23 | 2003-08-12 | St Assembly Test Services Ltd. | Semi-automated probe bender |
US8769812B2 (en) * | 2007-03-22 | 2014-07-08 | International Business Machines Corporation | Propagating pin corrections through physically mating devices |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4945385A (ja) * | 1972-09-09 | 1974-04-30 | ||
JPS4922440B1 (ja) * | 1969-09-11 | 1974-06-08 | ||
JPS5011053B1 (ja) * | 1968-04-17 | 1975-04-26 | ||
JPS5526675A (en) * | 1978-08-15 | 1980-02-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method of correcting pin terminal |
JPS5526674A (en) * | 1978-08-15 | 1980-02-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method of correcting pin terminal |
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