JPS59193303A - 歪計測法 - Google Patents

歪計測法

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Publication number
JPS59193303A
JPS59193303A JP6798383A JP6798383A JPS59193303A JP S59193303 A JPS59193303 A JP S59193303A JP 6798383 A JP6798383 A JP 6798383A JP 6798383 A JP6798383 A JP 6798383A JP S59193303 A JPS59193303 A JP S59193303A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test piece
strain
distortion
lattice
measuring device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6798383A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshihide Igari
敏秀 猪狩
Katsuya Setoguchi
瀬戸口 克哉
Masayoshi Nakano
中野 庄喜
Yoshiyuki Hamagami
義行 浜上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP6798383A priority Critical patent/JPS59193303A/ja
Publication of JPS59193303A publication Critical patent/JPS59193303A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • G01B11/165Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge by means of a grating deformed by the object

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は歪計測、特に高温でのひずみを計測する方法
の改良に関する。
従来、高温に晒される試験片のひずみを計測する場合に
は直接歪ゲージをはる事ができないので、加熱炉に石英
棒を嵌め込んだ開口部を通して、炉内に置いた試験片の
表面−に設けた耐熱格子(50047inch程度)の
変化を見て間接的に測定する必要があるが、具体的には
、耐熱格子による光の干渉縞を利用するモアレ法や、#
熱格子の一部をそのまま拡大して観察する格子法などの
手法が用いられている。
ところがモアレ法は試験片の部分的なひずみ分布を計測
するには適しているが、切欠底等の局所ひずみを計測す
るには精度の点て問題がある。一方、格子法は試験片切
欠底等の局所ひずみを計測するには適しているか、逆に
試験片切欠底等の部分的なひすみ分布を計測するには適
さない不具合がある。従ってモアレ法と格子法により試
験片の対称部をそれぞれの方法で同時にひずみ計測を実
施して試験片のひずみ分布及び局所ひずみが精度よく計
測てきる手法が先に特願昭57−41086号(本願出
願時未公開)で提案された。
以下特願昭57−41086号の発明法を具体化した装
置の第1図を参照しなから更に説明する。
図において1は試験片であって左右に(図面上では上下
に)対称部1a−1b  を有しており。
その表面には夫々耐熱格子2を配設されている。
この試験片lは加熱免3内に収納され加熱されるが、加
熱炉3の壁を貫通して対称に挿入される一対の石英棒4
a・4bの前方に夫々試験片1の対称部1a・1bが位
置するように位置決めされている。
上記石英棒4aは試験片1の一方の対称部1aのひずみ
をモアレ法によって測定する場合に用い、加熱炉3外部
にはモアレひずみ計測器5が。
また上記石英棒4bは試験片1の他方の対称部]、Ib
のひずみを格子法によって測定する場合に用い、加熱炉
3外部は格子ひずみ計測器6が配設されている。
上記したように試験片1は左右に対称部1a・Ibを有
していて加熱炉3により加熱されるので、その高温によ
り生しるひずみは試験片1左右の対称部1a・1bで等
しくなる。
一方、そのひすみは石英棒4a・4bを介して夫々モア
レひずみ計測器5および格子ひずみ計測器6で測定され
るので、高温での同時ひすみ計測が可能となった。
しかし、この従来の方法では試験片1の形状および負荷
O・ずみを左右対称にぜねばならず。
また、試験片】の同一部の同時ひすみ計測はてぎなかっ
た。従って本発明の目的とするところは、試験片の同一
部分をモアレ法と格子法を適用して同時に、ひずみ分在
および局部が精度よく計測できるひずみ計測方法を提供
することである。
即ち2本発明は試験片の同一部のひずみをモアレ法及び
格子法によって計測するひずみ計測法であるから、上記
の要求に答えることか可能となる。
第2図は本発明に係わる方法を具体化した装置の一実施
例を示す図である。
警 第2図において、11は試験片であって、 その表面に
は#熱格子■2を配設されている。
この試験片11は加熱炉13内に収納され加熱されるか
、加熱炉13の壁を貫通して挿入される石英棒14の前
方に試験片11表面の耐熱格子12が位置するように位
置決めされている。加熱炉13外部には、それぞれモア
レひずみ計測器15と、格子ひずみ計測器16が試験片
11からの反射光の光路長さが等しくなるように配設さ
れている。試験片IIと格子ひずみ計IjllI器16
を結ぶ線上にハーフミラ−17が45度の傾きで設置さ
れ、ハーフミラ−17の位置から試験片11と90度の
位置にモアレひずみ計測器15が配設されている。なお
ハーフミラ−17の回転角度の調整はモアレひずみ計測
器15の位置に応して調整できるようになっている。
従って、試験片11が加熱炉13により加熱されると、
その昇温により試験片11に生じる同一部分のひずみは
1石英棒14とハーフミラ−17を介して、モアレひす
み計測器15及び格子ひずみ計測器16で測定されるの
で、試験片11の同一部分の高温での同時ひずみ計測が
可能となる。
尚2本具体例は例えば700℃以上の高温で試験した場
合のように加熱により試験片からでてくる光量が十分な
場合のものであるか、比較的温度が低く光量が不十分な
場合、補助用の光源により光を照射しても良いし、又9
間eこ光量を減らすハーフミラ−を介さずして第8図の
具体例のように格子ひずみ計測器16を斜めfこ設けて
直接2つのひずみ計測器15.16で同一部の光を検出
・計測してもよい。また、/\−フミラー17もしくは
着脱式反射鏡により反射した光をモアレひすみ計測器1
5で受光し、モアレひすみ計測を行ない、その後ハーフ
ミラ−17,もしく(土着脱式反射鏡をはずして、鏡を
介さず直接(こ光を格子ひずみ計測器16で受光し、モ
アレひすみ計測しても良い。この具体例は厳密な意味で
の同時ひすみ計測はてぎないが、少しの時間遅れで。
解像力の高い精度のよいひずみ計測かできる。
なお、ここで用いた加熱炉3としては、電気炉、高周波
誘導炉なとを用いることかできることは言うまでもない
以上のとおり2本発明法は上記構成としたσ)で、試験
片形状および負荷ひずみを対称に保つことなしに試験片
のひずみ分布及び局部ひずみを非接触で精度よく計測で
きる効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の方法を用いた装置の図で、第2図及び第
8図は本発明の方法を具現化した装置の図である。 1、11・・・試験片、  la・1b ・・・対称部
、 2.12・・・耐熱格子、3.18・・加熱炉、 
4a・4b、 14・・・石英棒、  5.15・・・
モアレひすみ計測器、6.16 ・・格子ひずみ計測器
、17・・・ハーフミラ−8第1図 @20 い @3図 手続補正書−発) 昭和58年7月ノア日 特許庁長官      殿 事件の表示 昭和58年    特 許 願第 067983   
号発明の名称 歪計測法 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住  所    東京都千代田区丸の内二丁目5番1号
名 称(620)三菱重工業株式会社 代  理  人 +11  明細書第6頁第8行「11b」を1−1b」
に訂正する。 (2)  同第4頁第5行1局部」を1局所ひずみ」に
訂正する。 (3)  同第4頁第17行]−か」を「が」に訂正す
る。 (4)  同第5頁第2行乃至6行[試験片11から・
・・・・なるように」を削除する。 (5)  同第6頁第16行「加熱炉3」を[−加熱炉
1ろ」に訂正する。 (6)  第2図を別紙のとおり訂正する。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 試験片の同一部のひずみをモアレ法及び格子法によって
    計測することを特徴とするひずみ計測法。
JP6798383A 1983-04-18 1983-04-18 歪計測法 Pending JPS59193303A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6798383A JPS59193303A (ja) 1983-04-18 1983-04-18 歪計測法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6798383A JPS59193303A (ja) 1983-04-18 1983-04-18 歪計測法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59193303A true JPS59193303A (ja) 1984-11-01

Family

ID=13360723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6798383A Pending JPS59193303A (ja) 1983-04-18 1983-04-18 歪計測法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59193303A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57108606A (en) * 1980-12-26 1982-07-06 Hitachi Ltd Automatic appearance inspection apparatus
JPS57139636A (en) * 1981-02-23 1982-08-28 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Radius-of-curvature measuring device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57108606A (en) * 1980-12-26 1982-07-06 Hitachi Ltd Automatic appearance inspection apparatus
JPS57139636A (en) * 1981-02-23 1982-08-28 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Radius-of-curvature measuring device

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