SU649991A1 - Способ измерени спектральной отражательной способности поверхности - Google Patents

Description

Изобретение относитс  к области исследований материалов с помощью онтнческих методов путем поглощени  потока излучени  и может быть использовано дл  измерени  спектральной отражательной способности поверхности. Известен способ определени  отражательной способности, заключающийс  в сравнении падающего на образец и отраженного лучистых потоков. Однако абсолютные измерени  коэффициента отражени  в этом сл}чае не могут быть выполнены с точностью выще 0,1%, при этом дл  достижени  такой точности предъ вл ютс  жесткие требовани  к проведению измерений . Использование относительного метода измерени  путем сравнепи  с поверхностью с известным коэффициентом отражени  не приводит к с)ществениому увеличению точности . Наиболее близким по своей технической сущности  вл етс  способ, в котором исследуемый образец помещаетс  в термостабилизированную камеру и облучаетс  излучекием требуемого состава. Часть излучени  поглощаетс  поверхностью образца, отраженный лучистый поток - специальным экраном с высоким коэффициентом поглощени , а рассе нное излучение - камерой И подставкой, на которой закреплен образец . Измер ютс  температуры образца, экрана и подставки, затем лучистый поток перекрывают заслонкой и с помощью нагревателей на образце, экране и подставке устанавливают температуры такие же, как и при нагреве излучением, и измер ют мощность , затрачиваемую на нагрев. Коэффициент поглощени  рассчитывают по формуле + эк где «об- мощность, затрачиваема  па нагрев образца; со эк - мощность, затрачиваема  на нагрев экрана. Основным недостатком способа  вл етс  сложность определени  тепловых потерь от образца. Способ трздоемок, св зан с большим числом очень точных измерений, ограниченных временными интервалами. Ие удаетс  достаточно точно воспроизвести поле температур образца и экрана при замене нагрева излучением нагревател ми , поэтому по вл ютс  дополнительные погрещности, величину которых даже трудно оценить.