JPS59188995A - Method of solder connecting and inspecting electronic part and circuit board - Google Patents

Method of solder connecting and inspecting electronic part and circuit board

Info

Publication number
JPS59188995A
JPS59188995A JP6236283A JP6236283A JPS59188995A JP S59188995 A JPS59188995 A JP S59188995A JP 6236283 A JP6236283 A JP 6236283A JP 6236283 A JP6236283 A JP 6236283A JP S59188995 A JPS59188995 A JP S59188995A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solder
wiring board
electronic component
leadless electronic
leadless
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6236283A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
金沢 淳一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP6236283A priority Critical patent/JPS59188995A/en
Publication of JPS59188995A publication Critical patent/JPS59188995A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は高密度実装に適したり=ドレス電子部品と配線
基板との半田接続の評価を容易にする検査方法に関する
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field] The present invention relates to an inspection method that is suitable for high-density packaging and facilitates evaluation of solder connections between dress electronic components and wiring boards.

〔従来技術〕[Prior art]

第1図は配線基板に半田接続されたチップキャリア形の
リードレス電子部品を示す概略図、第2図はその断面図
で、図において1はリードレス電子部品、2は配線基板
である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a chip carrier type leadless electronic component soldered to a wiring board, and FIG. 2 is a sectional view thereof. In the figure, 1 is the leadless electronic component and 2 is the wiring board.

以下にリードレス電子部品1を配線基板2へ半田接続す
る手順について説明すると、通常は、壕ず配線基板2上
のり一ドレス電子部品1を半田接続する位置にクリーム
半田をスクリーン印刷法等によって印1刷し、その上に
リードレス電子部品1を搭載する。こうした後、リフロ
ー装置で加熱し、クリーム半田を溶融させてリードレス
電子部品1の多数の端子と配線基板2に設けられた導体
パターン3との半田接続を行う。
The procedure for soldering the leadless electronic component 1 to the wiring board 2 will be explained below. Normally, cream solder is printed by screen printing or the like on the trenchless wiring board 2 at the position where the leadless electronic component 1 is to be soldered. One print is made, and the leadless electronic component 1 is mounted thereon. Thereafter, the cream solder is heated with a reflow device to melt it, and the many terminals of the leadless electronic component 1 are connected to the conductor pattern 3 provided on the wiring board 2 by soldering.

ところで、この半田付工程では半田接続部40周辺に半
田ボール5が発生することがあり、該半田ボール5は半
田の小さな球であるが、リードレス電子部品1を高密度
実装した場合、この半田ボール5によりリードレス電子
部品1の端子間が短絡することがあるので、その発生を
押える必要がある。
By the way, in this soldering process, solder balls 5 may be generated around the solder joints 40, and the solder balls 5 are small balls of solder, but when leadless electronic components 1 are mounted in high density, this solder Since the ball 5 may cause a short circuit between the terminals of the leadless electronic component 1, it is necessary to prevent this from occurring.

また、半田付後はクリーム半田中に含゛まれていたフラ
ックスが残渣6としてリードレス電子部品1の下側に残
るが、このフラックス6は金属部の腐食の原因となるの
で、洗浄により完全に落さなければならない。
Furthermore, after soldering, the flux contained in the cream solder remains on the underside of the leadless electronic component 1 as a residue 6, but since this flux 6 causes corrosion of the metal parts, it can be completely removed by cleaning. have to drop it.

これらの現象についての検討を行うに(は、半田付工程
後または洗浄工程後に、まず該当部分の観察を行うこと
が必要である。この観察は、従来のDIP形電子部品の
ように半田接続部か部品本体の外側にある場合は比較的
容易であるが、上述[〜だリードレス電子部品1の場合
には、第2図に示すように半田接続部4の半田がこのリ
ードレス電子部品1の下側に隠れる構造で、しかも配線
基板2とリードレス電子部品1との間の隙間7が非常に
狭いだめ、このようなリードレス電子部品1の下側に発
生した半田ボール5やフラックスの残渣6を半田付工程
後または洗浄工程後て外側から観察することは不可能で
ある。
In order to study these phenomena, it is first necessary to observe the relevant parts after the soldering process or cleaning process. In the case of the leadless electronic component 1 described above, the solder of the solder connection portion 4 is located outside the leadless electronic component 1, as shown in FIG. Since the structure is such that it is hidden underneath, and the gap 7 between the wiring board 2 and the leadless electronic component 1 is very narrow, solder balls 5 and flux generated on the underside of the leadless electronic component 1 can be easily removed. It is not possible to observe the residue 6 from the outside after the soldering process or after the cleaning process.

まだ、チップキャリア形のように端子数が多く、かつ隣
合う端子同志が接近しているリードレス電子部品1にお
いては、半田付工程で端子間が半田によシ短絡する現象
、いわゆる半田ブリッジが発生することがあり、製品に
悪い結果を引起すが、この半田ブリッジもリードレス電
子部品1の下側で発生した場合は、上記と同様な理由で
直接観察することが不可能である。
However, in leadless electronic components 1, such as chip carrier types, which have a large number of terminals and where adjacent terminals are close to each other, a so-called solder bridge, a phenomenon in which terminals are shorted by solder during the soldering process, is a problem. This solder bridge may occur and cause bad results in the product, but if this solder bridge also occurs on the underside of the leadless electronic component 1, it is impossible to directly observe it for the same reason as above.

ここで、半(モボール5等の発生原因について述べてお
く。半田ボール5の発生原因の1つとして、クリーム半
((4を溶融するときに、急激に加熱を行うと、クリー
ム半IEに含まれているフラックス成分が沸騰し、その
勢いでクリーム半田が飛散って半田ボール5となるので
あるが、これは事前に加)′l′V速度を倹1肘してお
けば未然に防ぐことができる。
Here, we will discuss the causes of solder balls 5, etc. One of the causes of solder balls 5 is that when melting cream semi(4), heating is performed rapidly. The flux components contained in the solder will boil, and the force will cause the cream solder to scatter and form solder balls 5, but this can be prevented by adjusting the speed in advance. I can do it.

まだ1、半田ブリツノの発生原因については、クリーム
半田の供給過多ということが考えられ、これも適正供給
世ヲ十分に検討すれば防ぐことが可能である。
1. Regarding the cause of solder blisters, it is thought that an oversupply of cream solder is present, and this can also be prevented by carefully considering the appropriate supply system.

しかしながら、実際の製造工程では、上記の原因の他に
、リードレス電子部品1の端子や、配線基板2上に形成
された導体パターン3の汚れ及び酸化の度合、クリーム
半田の酸化の度合、導体・きターン30寸法のバラツキ
、気象条件等、様々な条件によって半田ボール5や半田
ブリツ/が発生し、またフラックスの残渣6が生じる原
因も同jl須に様々である。
However, in the actual manufacturing process, in addition to the above causes, the terminals of the leadless electronic component 1 and the degree of oxidation of the conductor pattern 3 formed on the wiring board 2, the degree of oxidation of the cream solder, the degree of oxidation of the conductor - Solder balls 5 and solder blitzes occur due to various conditions such as variations in the dimensions of the turn 30 and weather conditions, and the causes of flux residue 6 also vary.

このよう々条件の変化は、事前に察知してその対策を立
てることは極めて困難であり、従2て製造工程途中の検
査で半田ボール5、半田フ゛IJソ/及びフラックスの
残渣6を観察し、異′盾時に(はその対策を施す必要が
ある。
It is extremely difficult to detect such changes in conditions in advance and take countermeasures against them. Therefore, it is necessary to observe solder balls 5, solder filaments, IJs, and flux residues 6 during inspections during the manufacturing process. , it is necessary to take countermeasures in the event of a strange situation.

しかし、前記したようにリードレス電子部r冒] 1に
おいては、これら半田ボール5や半IBフ’IJノジ及
びフラックスの残渣6を外側から観察することが不可能
であり、そのだめ従来の検査方法で(は第2図に示した
半田接続部4を破壊して、IJ−ト’レス部品1の下側
の半田ボール5等を観察していたが、このような検査方
法では、半田接続部4周う刀の観察を十分行うことがで
きず、特異現象を見逃して誤った判断をしてしまう等の
欠点があった。
However, as mentioned above, in the leadless electronic part 1, it is impossible to observe these solder balls 5, semi-IB F'IJ nozzles, and flux residue 6 from the outside; In this inspection method, the solder connection part 4 shown in Fig. 2 was destroyed and the solder balls 5 etc. on the lower side of the IJ-trace component 1 were observed. Part 4 There were shortcomings such as not being able to sufficiently observe the sword and overlooking unusual phenomena and making incorrect decisions.

また、検査工数がかかり、その間、製造の工程を中断し
なければならないだめ、B考量のロスも大きいという欠
点があった。
In addition, it takes many man-hours for inspection, and during that time, the manufacturing process has to be interrupted, resulting in a large loss in B consideration.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上述した従来技術の欠、轍を解決するためにな
されたもので、リードレス電子音じ−の下1111を十
分に観察することができ、半田液FiWB周辺の半田ボ
ール及び端子間の半田フ゛1ノノノの発生を正確に検査
して、不良品の発生全未然(・ζ防く゛こと75二でさ
ると共((、検査における時1間のロスを最/]・限に
抑えることができるリードレス電子音じ品と自己線基(
反との半田接続検査方法を得ることを目的とするもし)
である。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned deficiencies and ruts in the prior art, and it is possible to sufficiently observe the bottom 1111 of a leadless electronic sound register, and the solder ball around the solder liquid FiWB and between the terminals. By accurately inspecting the occurrence of solder filaments, it is possible to completely prevent the occurrence of defective products (752) and to minimize the loss of time during inspection. Leadless electronic sound products and self-base (
If the purpose is to obtain a solder connection inspection method with anti-
It is.

〔発明の溝成〕[Development of invention]

上述した目的を達成するため、本発明は透明な配線基板
にリードレス電子部品を半田コ妾続し、この透明な配線
基板から透かして1ノ一ドレス電子iB品の下側を観察
して検査を行うものである。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention connects a leadless electronic component to a transparent wiring board by soldering, and observes and inspects the underside of the leadless electronic IB product through the transparent wiring board. This is what we do.

〔実施例〕〔Example〕

第3図は本発明の一実施例を示す斜視図で、8はチップ
キャリア形のIJ  )”レス電子音5品、9は例えば
ガラスを基板材料とした透明な配線基板、10は前記リ
ードレス部品8の端子に対応して配線基板9上に形成さ
れた導体パターンである。
FIG. 3 is a perspective view showing an embodiment of the present invention, in which 8 is a chip carrier-type IJ)"less electronic sound, 9 is a transparent wiring board made of, for example, glass as a substrate material, and 10 is the leadless electronic sound. This is a conductor pattern formed on a wiring board 9 corresponding to the terminals of a component 8.

前記リードレス電子部品8の配線基板9への半田接続は
第1図及び第2図の場合と同様に行っている。すなわち
、配線基板9上にリードレス電子部品8を半田接続する
位置にスクリーン印刷法等によりクリーム半田を印刷し
、その上にリードレス電子部品8を搭載した後、リフロ
ー装置によって加熱することにより、クリーム半田を溶
融させて、リードレス電子部品8の多数の端子と配線基
板9上に形成された導体パターン10とを半田接続して
いる。11はその半田接続部である。
The leadless electronic component 8 is soldered to the wiring board 9 in the same manner as in FIGS. 1 and 2. That is, cream solder is printed on the wiring board 9 at the position where the leadless electronic component 8 is to be soldered connected by a screen printing method or the like, and after the leadless electronic component 8 is mounted on the cream solder, it is heated by a reflow device. A large number of terminals of a leadless electronic component 8 and a conductive pattern 10 formed on a wiring board 9 are connected by soldering by melting cream solder. 11 is the solder connection portion thereof.

この半田付工程後に、配線基板9の下面からリードレス
電子部品8を見ると、透明である配線基板9を透かして
リードレス電子部品8の下側全容易かつ十分に観察でき
るので、このリードレス電子部品8の下側に残る半田ボ
ール12や配線基板9上に刺着するフラックスの残渣1
3及びリードレス電子部品8の端子間に発生する半田ブ
リッジ14の有無を検査して評価を行う。
After this soldering process, if you look at the leadless electronic component 8 from the bottom surface of the wiring board 9, you can easily and fully observe the entire underside of the leadless electronic component 8 through the transparent wiring board 9. Flux residue 1 sticking to the solder balls 12 remaining on the bottom side of the electronic component 8 and the wiring board 9
The evaluation is performed by inspecting the presence or absence of a solder bridge 14 occurring between the terminals of the leadless electronic component 3 and the leadless electronic component 8.

尚、上述した透明な配線基板9は、製品となる配線基板
と熱容量が同等で々いと半田条件が異ってくるため、基
板材料を同じものかあるいはほぼ同等の本のを使用する
必要がある。一般に製品としてよく使われている配線基
板に、セラミック基板とガラスエポキシ基板があるが、
これらは通常透明ではないので、検査用の透明な配線基
板9としては、製品の配線基板がセラミック基板である
場合は透明セラミック基板丑だはガシも基板を用いれば
よく、壕だ製品の配線基板がガラスエポキシ基板である
場合はポリエステル基板を重ねて使用すればよい。
Note that the transparent wiring board 9 described above has the same heat capacity as the wiring board that will become the product, but the soldering conditions will be different, so it is necessary to use the same board material or a material that is almost the same. . Ceramic boards and glass epoxy boards are commonly used wiring boards for products.
These are usually not transparent, so if the product's wiring board is a ceramic board, a transparent ceramic board may be used as the transparent wiring board 9 for inspection. If the substrate is a glass epoxy substrate, polyester substrates may be stacked on top of each other.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、半田ボールやフラックス
の残渣等の発生を押えるだめの半田条件の検討を行うよ
うな場合、リードレス電子部品を半田接続する配線基板
として透明な配線基板を用い、半田付工程後等に配線基
板を透してリードレス電子部品の下側を見るため、リー
ドレス電子部品の下側における半田接続部及びその周辺
を容易かつ十分に観察することが可能となり、特異現象
等を見逃すことがなく、正確な結果が得ら庇るので、判
断を誤することがないという効果がある。
As explained above, the present invention uses a transparent wiring board as a wiring board to which leadless electronic components are soldered, when examining soldering conditions to suppress the generation of solder balls, flux residue, etc. Because the underside of leadless electronic components is seen through the wiring board after the soldering process, it is possible to easily and fully observe the solder joints and their surroundings on the underside of leadless electronic components. This has the effect of preventing errors in judgment because no phenomena are overlooked and accurate results are obtained.

また、本発明は上述したように透明な配線基板を透して
観察を行うため、検査工数がかからず、評価時間を太幅
に削減できるという効果がある。
Furthermore, since the present invention performs observation through a transparent wiring board as described above, it does not require many inspection steps and has the advantage that evaluation time can be significantly reduced.

また、半田付工程後に行う洗浄の効果や半田ブリッジの
有無を確認するときも、前記と同じ理由により、正確な
結果が得られると共に、評価時間を削減することができ
る。
Furthermore, when checking the effectiveness of cleaning performed after the soldering process and the presence or absence of solder bridges, accurate results can be obtained and evaluation time can be reduced for the same reason as described above.

−更に、製造工程中でクリーム半田やリードレス電子部
品のロットが変わった場合の半田ボールや半田ブリッジ
等の発生の検査は、素早くかつ正確に行わないと時間の
ロスが多り、壕だ場合によっては不良品が多数発生する
ことになるが、透明な配線基板全パイロットとして使用
すれば前記のように結果が短時間でかつ正確に得られる
ため、ロス時間の削減や不良品の発生防止に大きく貢献
できるという効果がある。
-Furthermore, when the lot of cream solder or leadless electronic components changes during the manufacturing process, inspection for the occurrence of solder balls and solder bridges must be done quickly and accurately, otherwise there will be a lot of time wasted. However, if a transparent wiring board is used as a complete pilot, results can be obtained quickly and accurately as described above, reducing lost time and preventing the occurrence of defective products. This has the effect of making a significant contribution.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は配線基板に半田接続された電子部品を示す斜視
図、第2図はその断面図、第3図は本発明における電子
部品と配線基板との半田筬続検査方法の一実施例を示す
斜視図である。 8・・・リードレス電子部品 9・・・配線基板 10
・・導体パターン 11・・・半田接続部 12・・・
半田ボール 13・・・フラックスの残渣 14・・・
半田ブリッジ 特 許出 1;領 人 沖電気工業株式会社代理人 弁
理士 金 倉 喬 二 手続補正書(自発) 昭和58年11月7日 特許庁長官 若 杉 和 失敗 1、事件の表示 昭和58牟特許願 第062362号 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 住 所   東京都港区虎ノ門1丁目7番12号名 称
  (029)沖電気工業株式会社代表者  橋  本
  南海男 4、代 理 人 5、補正命令の日付 7、補正の内容 1、明細書第2頁第19行目「・・・・・・発生を押え
る・・・」とあるを「・・・・発生を抑える・」と補正
します。 2 明細書第8頁第3行目「・・・・・・半田条件が・
・・」とあるを「・・・・・・半田付条件が・・・」と
補正します。 3 明細書第8頁第16行目「・・・・・押えるための
半田条件」とあるを「・・・・抑えるための半田付条件
」と補正します。
FIG. 1 is a perspective view showing an electronic component soldered to a wiring board, FIG. 2 is a sectional view thereof, and FIG. 3 is an embodiment of the method for inspecting the solder connection between an electronic component and a wiring board according to the present invention. FIG. 8...Leadless electronic component 9...Wiring board 10
...Conductor pattern 11...Solder connection part 12...
Solder ball 13...Flux residue 14...
Handa Bridge Patent Grant 1; Attorney: Oki Electric Industry Co., Ltd. Agent, Patent Attorney: Takashi Kanakura Two Procedural Amendments (Voluntary) November 7, 1980 Commissioner of the Patent Office Kazu Wakasugi Failure 1, Indication of Case 1982 Patent Application No. 062362 No. 3, Relationship with the Amended Person Case Patent Applicant Address 1-7-12 Toranomon, Minato-ku, Tokyo Name (029) Oki Electric Industry Co., Ltd. Representative Nankai Hashimoto 4, Representative Manager 5, Date of amendment order 7, Contents of amendment 1, Page 2 of the specification, line 19, ``...to suppress the occurrence...'' was replaced with ``...to suppress the occurrence...'' ” and correct it. 2. Page 8, line 3 of the specification: “...The soldering conditions are...
``...'' is corrected to ``...Soldering conditions are...''. 3. On page 8, line 16 of the specification, the phrase ``Soldering conditions for holding down'' will be corrected to ``Soldering conditions for holding down.''

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、  IJ−ドレス電子部品と配線基板とを半田接続
した際、該リードレス電子部品の下側に発生する半田ボ
ール、フラックスの残渣及び半田ブリッジ等の有無を評
価するだめの検査方法であって、リードレス電子部品の
端子に対応する導体パターンを有する透明な配線基板上
に該リードレス電子部品を半田接続し、この透明な配線
基板を透かしてリードレス電子部品の下側を観察するこ
とを特徴とする電子部品と配線基板との半田接続検査方
法。
1. An inspection method for evaluating the presence or absence of solder balls, flux residue, solder bridges, etc. that occur on the underside of leadless electronic components when IJ-dressed electronic components and wiring boards are connected by soldering. The leadless electronic component is soldered onto a transparent wiring board having a conductor pattern corresponding to the terminals of the leadless electronic component, and the underside of the leadless electronic component is observed through the transparent wiring board. Features: A solder connection inspection method between electronic components and wiring boards.
JP6236283A 1983-04-11 1983-04-11 Method of solder connecting and inspecting electronic part and circuit board Pending JPS59188995A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6236283A JPS59188995A (en) 1983-04-11 1983-04-11 Method of solder connecting and inspecting electronic part and circuit board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6236283A JPS59188995A (en) 1983-04-11 1983-04-11 Method of solder connecting and inspecting electronic part and circuit board

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59188995A true JPS59188995A (en) 1984-10-26

Family

ID=13197931

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6236283A Pending JPS59188995A (en) 1983-04-11 1983-04-11 Method of solder connecting and inspecting electronic part and circuit board

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59188995A (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5678189A (en) * 1979-11-30 1981-06-26 Matsushita Electric Works Ltd Electric circuit block
JPS56165333A (en) * 1980-05-23 1981-12-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Mounting method for electronic parts

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5678189A (en) * 1979-11-30 1981-06-26 Matsushita Electric Works Ltd Electric circuit block
JPS56165333A (en) * 1980-05-23 1981-12-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Mounting method for electronic parts

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2518987B2 (en) Board soldering method using reducing atmosphere
CN1715888B (en) Printed circuit board inspection device and printed circuit board assembly inspection line system
US6940168B2 (en) Enhanced pad design for substrate
US6167615B1 (en) Method for producing circuit board assemblies using surface mount components with finely spaced leads
US6498307B2 (en) Electronic component package, printing circuit board, and method of inspecting the printed circuit board
US5184768A (en) Solder interconnection verification
JPS59188995A (en) Method of solder connecting and inspecting electronic part and circuit board
US4905371A (en) Method for cleaning process control
JPH09116243A (en) Circuit board
JP2002043711A (en) Circuit board, electronic apparatus and inspection method of soldering joint of circuit board and electronic apparatus
JPH06302931A (en) Printed board
JP2724933B2 (en) Reflow type printed wiring board
JP2842201B2 (en) Method of joining printed circuit board and electronic component
JP2600700Y2 (en) Thermal head
JPH02278787A (en) Pattern structure of printed wiring board
JPH04283990A (en) Printed-wiring board
JPS63144553A (en) Method of positioning lead terminal
JPH04789A (en) Pattern disposition and connecting structure for printed circuit board
JPH07246492A (en) Soldering bump forming method of electronic part and connecting solder
JPH0265295A (en) Printed board
JPH03101297A (en) Printed board with pattern for checking soldering, and soldering inspection using same
JPH07106381A (en) Film carrier and inspection thereof
JPH03256396A (en) Soldering method for printed-circuit board
JPS59121996A (en) Printed board
JPH0276287A (en) Printed wiring board