JPS59185449A - 変復調装置試験機能を内蔵した端末装置 - Google Patents
変復調装置試験機能を内蔵した端末装置Info
- Publication number
- JPS59185449A JPS59185449A JP58059234A JP5923483A JPS59185449A JP S59185449 A JPS59185449 A JP S59185449A JP 58059234 A JP58059234 A JP 58059234A JP 5923483 A JP5923483 A JP 5923483A JP S59185449 A JPS59185449 A JP S59185449A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- modem
- command
- terminal device
- input
- test
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- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L43/00—Arrangements for monitoring or testing data switching networks
- H04L43/50—Testing arrangements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の対象〕
本発明は通信制勝を利用しデータの送受信を行うモデム
を装置内部に組み込んだ端末装置に係り、特にモデムの
機能確認に好適な試験方式%式% 〔発明の背景〕 従来のモデムの機能確ジは、モデムと端末装置間のイン
タフェースが国際標準化のためのCC1TTl]告によ
り、一般にV24インタフェースと規定されているため
、そのインタフェースを備えた単体形の専用試験器によ
り行なわれていた。
を装置内部に組み込んだ端末装置に係り、特にモデムの
機能確認に好適な試験方式%式% 〔発明の背景〕 従来のモデムの機能確ジは、モデムと端末装置間のイン
タフェースが国際標準化のためのCC1TTl]告によ
り、一般にV24インタフェースと規定されているため
、そのインタフェースを備えた単体形の専用試験器によ
り行なわれていた。
之・1図に従来のモデムと端末装置の接続例を、また第
2図にモデムに機能確認用の専用試験器を接続した場合
の例を示す。モデムを端末装置に内蔵する(図3、参照
)場合は、切り分は用の分界点を装置内部に包含してし
まうためV24インタフェースを保持する必要性はなく
なってしまうが、しかしその場合は従来の専用試験器が
利用できないという欠点が生じることとなった。
2図にモデムに機能確認用の専用試験器を接続した場合
の例を示す。モデムを端末装置に内蔵する(図3、参照
)場合は、切り分は用の分界点を装置内部に包含してし
まうためV24インタフェースを保持する必要性はなく
なってしまうが、しかしその場合は従来の専用試験器が
利用できないという欠点が生じることとなった。
本発明の目的は、モデムの試験機能自体を端末装置内に
組み込むことにより、従来の単体型の専用試験器を不要
とし、またこのことにより試験器接続用のv24インタ
フェースをも不要と−してハードウェアの削減を図ると
ともに保守性を向上させることにある。
組み込むことにより、従来の単体型の専用試験器を不要
とし、またこのことにより試験器接続用のv24インタ
フェースをも不要と−してハードウェアの削減を図ると
ともに保守性を向上させることにある。
モデム−モデムを制御する回線制御部および通信回線等
よりなるオンラインシステムにおいて回路系の障害時に
はシステムの各構成要素が複敬であり分散して遠距離に
あることから障害個所の探索に多大のF¥j間を要し、
システムを長時間ダウンさせろ一因となっていた。
よりなるオンラインシステムにおいて回路系の障害時に
はシステムの各構成要素が複敬であり分散して遠距離に
あることから障害個所の探索に多大のF¥j間を要し、
システムを長時間ダウンさせろ一因となっていた。
本発明はこれら長時間を要する障害発生地での切り分は
作業の一部を自動的に実施することを可能とし、保守性
の向上を意図したものである。
作業の一部を自動的に実施することを可能とし、保守性
の向上を意図したものである。
以下、本発明の一実施例を4・3図〜」・4図により説
明てろ。
明てろ。
まずモデム試験装置が動作に関係し1ぷい通常の場合の
動作を牙3図により説明てろ。
動作を牙3図により説明てろ。
オンライン動作をする場合、操作者は入出力装置(A)
27または入出力装置(Bl 2 aを介して端末装
置11に動作を指令する。指令された内容は入出力制御
部(A) 25あるいは入出力制御部(B)26を経由
して基本処理装置21へ伝達されろ。
27または入出力装置(Bl 2 aを介して端末装
置11に動作を指令する。指令された内容は入出力制御
部(A) 25あるいは入出力制御部(B)26を経由
して基本処理装置21へ伝達されろ。
基本処理装置21は、伝達さ汎た指令内容に従って回線
゛制御部22、モデムインタフェース線32、モデム2
ろおよび通信回線31を介して所定σ)データの送信動
作あるいは受信動作を行なう。
゛制御部22、モデムインタフェース線32、モデム2
ろおよび通信回線31を介して所定σ)データの送信動
作あるいは受信動作を行なう。
次にモデム試験装置が動作する場合を矛4図、矛5図に
より説明する。】・4図は、2・31ン1の中の回線制
御部22とモデム試験装置24とのハードウェアを構成
する各々の要素について示したものであり、75図は一
部4図の中の回線制御プロセッサ53が実行するプログ
ラムのフローチャートを示したものである。
より説明する。】・4図は、2・31ン1の中の回線制
御部22とモデム試験装置24とのハードウェアを構成
する各々の要素について示したものであり、75図は一
部4図の中の回線制御プロセッサ53が実行するプログ
ラムのフローチャートを示したものである。
」・4図において、成る試は用のコマンド(以下ビ、)
誤り率測定のための′1゛1コマンドを例にして説明て
ろ。)が基本処理装置より送られてくると、回線制御プ
ロセッサ53は処理装置インタフェース部54を介して
T1コマンドを認識する。
誤り率測定のための′1゛1コマンドを例にして説明て
ろ。)が基本処理装置より送られてくると、回線制御プ
ロセッサ53は処理装置インタフェース部54を介して
T1コマンドを認識する。
回線制御グロセソ+j53は、T1コマンドすなわちピ
しト誤り率の測定を行なう。これは前もって決められた
手順であり、プログラムとしてROM55あるいはRA
IV156に格納されている。実際の動作は、通信用1
,8152、モデムインクフェース部51を介して対向
する相手局側より規定のパターンを受信し、その受信デ
ータの中の誤ったビット数をカウント1−石動作である
。動作r終了後、累積したビットiりのカウント数を終
了情報として基本処理装置21へ送出する。
しト誤り率の測定を行なう。これは前もって決められた
手順であり、プログラムとしてROM55あるいはRA
IV156に格納されている。実際の動作は、通信用1
,8152、モデムインクフェース部51を介して対向
する相手局側より規定のパターンを受信し、その受信デ
ータの中の誤ったビット数をカウント1−石動作である
。動作r終了後、累積したビットiりのカウント数を終
了情報として基本処理装置21へ送出する。
以上の動作を矛5図のフローチャートで説明すると次の
ようになる。電源投入あるいは初期設定後、回線制御プ
ロセッサ56はコマンド待ちの状態である。T Iコマ
ンドを受領するとその状態から抜は出しコマンド解析動
作がなされる。ここでT1コマンドが謔識されろと先に
述べたピント誤り率の測定動作が実行されろ。動作終了
後、誤り率測定の結果が終了情報として転送され最後に
終了割込みを発生しT1コマンドの動作を終了てろ。
ようになる。電源投入あるいは初期設定後、回線制御プ
ロセッサ56はコマンド待ちの状態である。T Iコマ
ンドを受領するとその状態から抜は出しコマンド解析動
作がなされる。ここでT1コマンドが謔識されろと先に
述べたピント誤り率の測定動作が実行されろ。動作終了
後、誤り率測定の結果が終了情報として転送され最後に
終了割込みを発生しT1コマンドの動作を終了てろ。
以上はビット誤り率測定の′1゛1コマンドであり、T
1コマンドの選択は入出力装置体)27または入出力装
置(B) 2 Bより操作者によって自由に指定するこ
とができる。−力、」・5図に示1−T2コマンド(回
線品質のチェック)、TNコマンド(送受信レベルの表
示)のように試験用のコマンドは種々考えられろが、入
出力装置からの指定とそれらに対応した制御プログラム
を牙4図中のROM55、RAM56に格納しておくこ
とにより、それらの機能を実現することができろ。
1コマンドの選択は入出力装置体)27または入出力装
置(B) 2 Bより操作者によって自由に指定するこ
とができる。−力、」・5図に示1−T2コマンド(回
線品質のチェック)、TNコマンド(送受信レベルの表
示)のように試験用のコマンドは種々考えられろが、入
出力装置からの指定とそれらに対応した制御プログラム
を牙4図中のROM55、RAM56に格納しておくこ
とにより、それらの機能を実現することができろ。
また、基本処理装置21のプログラムQ)構造によって
はその都度、入出力装置より入力する必要はな(、定期
的にかつ自動的に試験用コマンドを実行することか可能
である。なお、矛6図において−モデムインタフェース
線32は単に内#:′fろモデム23と回線制御部22
とを結合する制御線およびデータ線である。従来の単体
形モデムでは物理的、電気的インタフェースが規格とし
て規定されているが、本発明例の場合−特に制約されろ
必要f′iな(、装置固有の問題として取扱うことが可
能となる。
はその都度、入出力装置より入力する必要はな(、定期
的にかつ自動的に試験用コマンドを実行することか可能
である。なお、矛6図において−モデムインタフェース
線32は単に内#:′fろモデム23と回線制御部22
とを結合する制御線およびデータ線である。従来の単体
形モデムでは物理的、電気的インタフェースが規格とし
て規定されているが、本発明例の場合−特に制約されろ
必要f′iな(、装置固有の問題として取扱うことが可
能となる。
本発明によれば、端末装置自体がモデム試験機能を備え
るため、通信回線への接続試験時、才だ障害時のデータ
誤り率測定、あるいは通信回線上の送受信レベルの表示
、モデムの動作状態の表示等、各種切り分は作業を行な
う際に単体のモデム試験器が不要となり、保守作業の効
率を向上させろ効果がある。
るため、通信回線への接続試験時、才だ障害時のデータ
誤り率測定、あるいは通信回線上の送受信レベルの表示
、モデムの動作状態の表示等、各種切り分は作業を行な
う際に単体のモデム試験器が不要となり、保守作業の効
率を向上させろ効果がある。
矛1圀は従来のモデムと端末装置との接続を示す接続図
、牙2図は従来のモデムと専用試験器との接続を示て接
続図、矛6図は本考案を適用した端末装置とモデム試験
装置と内蔵モデムとの接続図−矛4図は回線制御部とモ
デム試験装置のノ・−ドウエア構成例、矛5図は回線制
御プロセッヅのフローチャート例をおのおの示す。 11・・・端末装置、21・基本処理装置、22・回線
制御部、26・モデム、24 ・モデム試験装置、2!
5.−26 人出力制御部(A+、(B)、27.2
8・・入出力装置(5)、(B)、31・・通信回線、
62・・モデムインタフェース線、33・・入出力イン
タフェースバス、41・・専用試験器、51・・モデム
インタフェース線、52 ・通信用LSI、53・・・
回線匍制御プロセッサ、54・処理装置インタフェース
部、55−ROfM、56・・・RA fVl 。 代理人弁理士 高 橋 明2,7夫 。 」:1シ ノ 図 /l 第2図 早 3 図 //
、牙2図は従来のモデムと専用試験器との接続を示て接
続図、矛6図は本考案を適用した端末装置とモデム試験
装置と内蔵モデムとの接続図−矛4図は回線制御部とモ
デム試験装置のノ・−ドウエア構成例、矛5図は回線制
御プロセッヅのフローチャート例をおのおの示す。 11・・・端末装置、21・基本処理装置、22・回線
制御部、26・モデム、24 ・モデム試験装置、2!
5.−26 人出力制御部(A+、(B)、27.2
8・・入出力装置(5)、(B)、31・・通信回線、
62・・モデムインタフェース線、33・・入出力イン
タフェースバス、41・・専用試験器、51・・モデム
インタフェース線、52 ・通信用LSI、53・・・
回線匍制御プロセッサ、54・処理装置インタフェース
部、55−ROfM、56・・・RA fVl 。 代理人弁理士 高 橋 明2,7夫 。 」:1シ ノ 図 /l 第2図 早 3 図 //
Claims (1)
- 変復調装置(以下、モデムと記す)と、モデム制御部と
、入出力装置と、入出力装置制御部と、それら各装置を
制御す、石基本処理装置とより成る端末装置において、
モデム機能を試験するために専用の制御部を内蔵し、操
作者が端末装置の、入力装置より特定のコマンドを発行
したとき、または1障害時あるいは定期的な動作確認時
に、端末装置に組込んだプログラムによ1)モデムが自
動的に試験動作を実行し、その結果が端末装置0出力装
置、あるいは記憶装置へ出力もしくは蓄積されるように
したことを特徴とする端末装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58059234A JPS59185449A (ja) | 1983-04-06 | 1983-04-06 | 変復調装置試験機能を内蔵した端末装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58059234A JPS59185449A (ja) | 1983-04-06 | 1983-04-06 | 変復調装置試験機能を内蔵した端末装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59185449A true JPS59185449A (ja) | 1984-10-22 |
Family
ID=13107486
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58059234A Pending JPS59185449A (ja) | 1983-04-06 | 1983-04-06 | 変復調装置試験機能を内蔵した端末装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59185449A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5175633A (en) * | 1990-10-10 | 1992-12-29 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Method of diagnosing operating conditions of an image processor |
US5463633A (en) * | 1994-02-22 | 1995-10-31 | Rockwell International Corporation | Use of at commands to test modem with HP3065 |
-
1983
- 1983-04-06 JP JP58059234A patent/JPS59185449A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5175633A (en) * | 1990-10-10 | 1992-12-29 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Method of diagnosing operating conditions of an image processor |
US5463633A (en) * | 1994-02-22 | 1995-10-31 | Rockwell International Corporation | Use of at commands to test modem with HP3065 |
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