JPS59176749A - 電子写真用硫化カドミウム粒子 - Google Patents
電子写真用硫化カドミウム粒子Info
- Publication number
- JPS59176749A JPS59176749A JP5019283A JP5019283A JPS59176749A JP S59176749 A JPS59176749 A JP S59176749A JP 5019283 A JP5019283 A JP 5019283A JP 5019283 A JP5019283 A JP 5019283A JP S59176749 A JPS59176749 A JP S59176749A
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- JP
- Japan
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- particles
- cds
- distribution
- particle size
- cadmium sulfide
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子写真用感光体、住￥に絶縁層、感光層、電
極層を基本構成とする三Ｊ脅４ｈ成′醒子写真用感光体
の感光層の主構成材料である硫化カドミウム光導電性粒
子に関する。
極層を基本構成とする三Ｊ脅４ｈ成′醒子写真用感光体
の感光層の主構成材料である硫化カドミウム光導電性粒
子に関する。
従来用いられてきた硫化カドミウム粒子にはかなυ問題
があり、その主原因として粒子の形状径分布のバラツキ
が挙げられる。すなわち従来の硫化カドミウム粒子は、
非等方性の非常に複雑な形状を持つだめ粒度分布がラン
ダムで比表面積が大きい。そのため環境等の影響を受け
やすく、感光体として用いた際の特性が不安定となる難
点があった。
があり、その主原因として粒子の形状径分布のバラツキ
が挙げられる。すなわち従来の硫化カドミウム粒子は、
非等方性の非常に複雑な形状を持つだめ粒度分布がラン
ダムで比表面積が大きい。そのため環境等の影響を受け
やすく、感光体として用いた際の特性が不安定となる難
点があった。
また、粒径を１μ以下に微細化したり、粒子間の空隙を
ほぼなくすまで多量の結着材を使用したりして、粒子表
面から受ける環境の影響を減らそうとした従来例もある
が、これらの粒子を用いた場合、感光体の著しい感度低
下を生じるという、欠点があった。
ほぼなくすまで多量の結着材を使用したりして、粒子表
面から受ける環境の影響を減らそうとした従来例もある
が、これらの粒子を用いた場合、感光体の著しい感度低
下を生じるという、欠点があった。
本発明の目的は上述の如き欠点を解決した電子写真用硫
化カドミウム粒子を提供するものである。
化カドミウム粒子を提供するものである。
すなわち、本発明の目的は著しい感度低下をもたらすこ
となく、安定した特性を有する電子写真用感光体に使用
される光導電性硫化カドミウムを提供するものである。
となく、安定した特性を有する電子写真用感光体に使用
される光導電性硫化カドミウムを提供するものである。
本発明者は各種検討の結果、上述の如き欠点を解決する
には以下のことが必要であることを見出した。
には以下のことが必要であることを見出した。
まず、感光体特性の不安定要因例えば高湿下での帯電に
よる保持率低下などは粒子の表面及びまたは表面近傍に
基因する欠陥に係るものが多い。
よる保持率低下などは粒子の表面及びまたは表面近傍に
基因する欠陥に係るものが多い。
これを防止するには粒子の表面積を低下させること、ま
たはさらに、表面を適切な材料で被覆保獲することが有
効である。但し後者の場合、感光体の感度を低下させな
いよう、被覆する層の厚さ捷たは量は必要最低限にする
ことが望貫しい。
たはさらに、表面を適切な材料で被覆保獲することが有
効である。但し後者の場合、感光体の感度を低下させな
いよう、被覆する層の厚さ捷たは量は必要最低限にする
ことが望貫しい。
上述の条件を満たすには、硫化カドミウム粒子の形状及
び粒度分布が下記の項目であればよい。
び粒度分布が下記の項目であればよい。
１）表面積を低下させてかつ、被覆材が均一につくため
に粒子の形状は等方的、すなわち球に近い状態が望まし
い。但し多数の粒子が凝集等によって等方的な粒子（２
次粒子）をつくる場合は除外される。本発明では等方性
の目安は１つの粒子の径の最大、最小値の比で表現し、
その比は４．０以下、好寸しくは２．５以下である。
に粒子の形状は等方的、すなわち球に近い状態が望まし
い。但し多数の粒子が凝集等によって等方的な粒子（２
次粒子）をつくる場合は除外される。本発明では等方性
の目安は１つの粒子の径の最大、最小値の比で表現し、
その比は４．０以下、好寸しくは２．５以下である。
２）感光体中の感光層に形成する方法はＣｄＳ粒子は被
覆材及び／又は結着材と混合の後塗布するのが基本であ
るが、この場合感光層内での電荷の移動がスムースであ
ることが特性の安定化につながる。そのだめには粒子が
感光層内に均一にかつ最密に分配されることが望ましい
。これを達成するには粒径が等方的であるのみでは不充
分であってその粒径が規則的であることが望ましい。本
発明において、粒径分布は基本的に正規分布及び／又は
対数正規分布に従うものである。さらに個々の粒子の径
をｄｉその数ｎ１としたときｄａ−Σｎ１ｄ１／Σｎ１
で求まる算術平均粒径が６．０〜７．５μとし、特に好
ましくは、６．５〜７．０μが適している。さらにσ。
覆材及び／又は結着材と混合の後塗布するのが基本であ
るが、この場合感光層内での電荷の移動がスムースであ
ることが特性の安定化につながる。そのだめには粒子が
感光層内に均一にかつ最密に分配されることが望ましい
。これを達成するには粒径が等方的であるのみでは不充
分であってその粒径が規則的であることが望ましい。本
発明において、粒径分布は基本的に正規分布及び／又は
対数正規分布に従うものである。さらに個々の粒子の径
をｄｉその数ｎ１としたときｄａ−Σｎ１ｄ１／Σｎ１
で求まる算術平均粒径が６．０〜７．５μとし、特に好
ましくは、６．５〜７．０μが適している。さらにσ。
−（Σｎｉ （ｄｌｄａ ）２／Σｎ、 ）係で求する
、標準偏差が３．０μ以下とし、特に好ましくは、１．
５〜２，５μ以下がよい。
、標準偏差が３．０μ以下とし、特に好ましくは、１．
５〜２，５μ以下がよい。
上記の条件を満す硫化カドミウム粒子は、比表面積が従
来に較べ小さく、表面近隣に存在するドナータイプの欠
陥の数も少ない。そのため、これを補償するアクセプタ
タイプの銅の添加量には適値があることも見出しだ。す
なわち、本発明では、硫化カドミウム１モルあたり、０
．５〜３．ＯＸ １０”−’モルとし、特に好ましくは
、１．０〜２．０Ｘ１０−’モルが適する。
来に較べ小さく、表面近隣に存在するドナータイプの欠
陥の数も少ない。そのため、これを補償するアクセプタ
タイプの銅の添加量には適値があることも見出しだ。す
なわち、本発明では、硫化カドミウム１モルあたり、０
．５〜３．ＯＸ １０”−’モルとし、特に好ましくは
、１．０〜２．０Ｘ１０−’モルが適する。
本発明において、硫化カドミウムを製造する方法として
は、通常の湿式反応法で得た硫化カドミウムに２０〜５
０ｗｔ％の融剤例えばＮａＣｔ、 ＣｄＣ４２の粉末を
加え、融剤の融点以上、例えば５００℃以上で空気中で
焼成した後、表面欠陥をより減少させるために、まださ
らに空気中で熱処理を行なうという方法などが挙げられ
る。
は、通常の湿式反応法で得た硫化カドミウムに２０〜５
０ｗｔ％の融剤例えばＮａＣｔ、 ＣｄＣ４２の粉末を
加え、融剤の融点以上、例えば５００℃以上で空気中で
焼成した後、表面欠陥をより減少させるために、まださ
らに空気中で熱処理を行なうという方法などが挙げられ
る。
これを感光体として用いるにはＣｄＳ粒子を適当な結着
剤と混合し、Ａｔ基板上に塗布したものに、さらに絶縁
層となるフィルムを貼付けたり、適当な樹脂を塗布する
方法が一般的な方法である。
剤と混合し、Ａｔ基板上に塗布したものに、さらに絶縁
層となるフィルムを貼付けたり、適当な樹脂を塗布する
方法が一般的な方法である。
次に本発明の実施例を製造方法と共に示す。
実施例１
湿式反応法により、不純物としてすてにＣｕがＣｄＳ
１モルあたυ１．５ Ｘ １０−’モル添加されている
ＣｄＳ生粉に、重量比でＣｄＣ４２４８，３％ ＮａＣ
４１，７係を融剤として混入し、十分混合後、５３０℃
で３０分間焼成し、これを再び４５０℃で６０分間焼成
した。これにより得られたＣｄＳ粒子を走査型電顕で観
察しだところ、個々の粒子が等方的でその最大径と最小
径の比が全て、約２．５以下であった。またこの粒子の
粒度分布を走査電顕写真よシ測定したところ、第１図の
様な結果を得だ。これより求めた算術平均値は６８μ、
標準偏差は１．８８μであった。また、第１図を正規確
率紙にプロットしてみると、第２図のように直線として
表わされ、これは正規分布であることがわかる。
１モルあたυ１．５ Ｘ １０−’モル添加されている
ＣｄＳ生粉に、重量比でＣｄＣ４２４８，３％ ＮａＣ
４１，７係を融剤として混入し、十分混合後、５３０℃
で３０分間焼成し、これを再び４５０℃で６０分間焼成
した。これにより得られたＣｄＳ粒子を走査型電顕で観
察しだところ、個々の粒子が等方的でその最大径と最小
径の比が全て、約２．５以下であった。またこの粒子の
粒度分布を走査電顕写真よシ測定したところ、第１図の
様な結果を得だ。これより求めた算術平均値は６８μ、
標準偏差は１．８８μであった。また、第１図を正規確
率紙にプロットしてみると、第２図のように直線として
表わされ、これは正規分布であることがわかる。
な紐、これより求めた平均粒径は６．３μ、標準偏差は
２．０μであった。
２．０μであった。
このＣｄＳを用いてＮＰ感光ドラム（三層構成）を作製
した。感光層厚は４０μとした。該ドラムをＮ Ｐ １
１写機（ＮＰ２００Ｊ）で１００００枚コピー相当の耐
久試験を行った所、電位の保持率は９０％以上感度のシ
フトは２０％以内という良好な特性を示した。
した。感光層厚は４０μとした。該ドラムをＮ Ｐ １
１写機（ＮＰ２００Ｊ）で１００００枚コピー相当の耐
久試験を行った所、電位の保持率は９０％以上感度のシ
フトは２０％以内という良好な特性を示した。
又、感光層の空隙率を測定した所３５％という従来Ｃｄ
Ｓのそれとくら一七で約４０係低下した値を示し感光層
内のＣｄＳ粒子の充填が向上していることがわかった。
Ｓのそれとくら一七で約４０係低下した値を示し感光層
内のＣｄＳ粒子の充填が向上していることがわかった。
実施例２
湿式反応法によシ、不純物として既にＣｕがＣｄＳ １
モルあたり、１．０Ｘ１０ モル添加されているＣｄ
Ｓ生粉に、重量比でＣａＣｌ２４６．３ ％ ＮａＣｌ
３７％を融剤として混入し、十分混合後、５３０℃で３
０分間焼成し、これを再び４５０℃で６０分間焼成した
。これによシ得られたＣｄＳ粒子を走査型電顕で観察し
たところ、個々の粒子が等方的でその最大径と最小径の
比が全て、約２．５以下であった。またこの粒子の粒度
分布を走査電顕写真よシ測定したところ第３図の様な結
果を得た。これよシ求めた算術平均粒径は６．５μ、標
準偏差は２．０μであった。また第３図を正規確率紙に
プロットしてみると、第４図の様に直線として表わされ
、これは正規分布であることがわかる。なお、とれより
求めた平均粒径は６０μ標準偏差は２．１μであった。
モルあたり、１．０Ｘ１０ モル添加されているＣｄ
Ｓ生粉に、重量比でＣａＣｌ２４６．３ ％ ＮａＣｌ
３７％を融剤として混入し、十分混合後、５３０℃で３
０分間焼成し、これを再び４５０℃で６０分間焼成した
。これによシ得られたＣｄＳ粒子を走査型電顕で観察し
たところ、個々の粒子が等方的でその最大径と最小径の
比が全て、約２．５以下であった。またこの粒子の粒度
分布を走査電顕写真よシ測定したところ第３図の様な結
果を得た。これよシ求めた算術平均粒径は６．５μ、標
準偏差は２．０μであった。また第３図を正規確率紙に
プロットしてみると、第４図の様に直線として表わされ
、これは正規分布であることがわかる。なお、とれより
求めた平均粒径は６０μ標準偏差は２．１μであった。
このＣｄＳを用いてＮＰＰ光ドラム（三層構成）を作製
した。これをＮＰ２Ｏ０Ｊで１ｏｏｏｏ枚コピー相当の
耐久試験を行なったところ、電位保持率９０％以上、感
度変化は２０％以内という良好な特性を得た。なお、こ
の感光層の空隙率は３２係という測定結果を得ている。
した。これをＮＰ２Ｏ０Ｊで１ｏｏｏｏ枚コピー相当の
耐久試験を行なったところ、電位保持率９０％以上、感
度変化は２０％以内という良好な特性を得た。なお、こ
の感光層の空隙率は３２係という測定結果を得ている。
比較例１
実施例１において、添加Ｃｕ量を１．２Ｘ１０−’モル
としだ生粉に融剤を混入することなしに１．４５０℃で
６０分間焼成し、これを再び同条件で焼成した。こうし
て得られたＣｄＳ粒子は走査型電顕で観察しだところ、
個々の粒子が等方的でなく、中には１５μ程度の平板状
の２次凝集体を含むことがわかった。また、この粒子の
粒度分布をルーゼックス法を用いて測定したところ、算
術平均粒径は７．６μ、標準偏差は４．５μであった。
としだ生粉に融剤を混入することなしに１．４５０℃で
６０分間焼成し、これを再び同条件で焼成した。こうし
て得られたＣｄＳ粒子は走査型電顕で観察しだところ、
個々の粒子が等方的でなく、中には１５μ程度の平板状
の２次凝集体を含むことがわかった。また、この粒子の
粒度分布をルーゼックス法を用いて測定したところ、算
術平均粒径は７．６μ、標準偏差は４．５μであった。
これより得られた分布、第５図を正規確率紙にプロット
したのが第６図であるが、直線にならず、この分布は正
規分布ではないといえる。
したのが第６図であるが、直線にならず、この分布は正
規分布ではないといえる。
このＣｄＳを用いてＮＰ感感光ドララム作製し、ＮＰ２
Ｏ０Ｊで１万枚コピー相当の耐久試験を行なった結果、
電位保持率６５係、感度変化は約３０チであった。また
この感光層の空隙率は６０チであった。
Ｏ０Ｊで１万枚コピー相当の耐久試験を行なった結果、
電位保持率６５係、感度変化は約３０チであった。また
この感光層の空隙率は６０チであった。
以上の如く本発明によるＣｄＳを用いることによって、
著しい感度低下をもたらすことなく、電子写真特性の安
定した、感光体が得られる。
著しい感度低下をもたらすことなく、電子写真特性の安
定した、感光体が得られる。
第１図は実施例１で得られた粒子の電顕写真による粒度
分布測定の結果を表わした図、第２図はその結果を正規
確率紙にプロットした図、第３図。 第４図は実施例２における同様の結果を示す図、第５図
、第６図は比較例によって得られた同様の結果を示す図
である。 第１図 粒径（μ）
分布測定の結果を表わした図、第２図はその結果を正規
確率紙にプロットした図、第３図。 第４図は実施例２における同様の結果を示す図、第５図
、第６図は比較例によって得られた同様の結果を示す図
である。 第１図 粒径（μ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 電子写真用感光体に使用される光導電性値イしカドミウ
ム粒子において、下記の（Ｂ） 、 （ｂ） 、 （Ｃ
）の条件を有することを特徴とする電子写真用値イヒカ
ドミウム粒子。 （ａ）１個の粒子内の最大径と最／」・径の死力；４．
０以下であり、 （ｂ） 粒径において、 イ）粒径の分布が正規分布寸たは夕寸数正規分布に従い
、 口）その個数算術平均粒径７５： ６． Ｏ〜７．５μ
、ハ）標準偏差値が３０μ以下 であり、（ｃ）含
有される銅の量が硫化カドミウム１モルあ た リ 、
０．５〜３．ＱＸＩＯモ ル 。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5019283A JPS59176749A (ja) | 1983-03-25 | 1983-03-25 | 電子写真用硫化カドミウム粒子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5019283A JPS59176749A (ja) | 1983-03-25 | 1983-03-25 | 電子写真用硫化カドミウム粒子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59176749A true JPS59176749A (ja) | 1984-10-06 |
Family
ID=12852288
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5019283A Pending JPS59176749A (ja) | 1983-03-25 | 1983-03-25 | 電子写真用硫化カドミウム粒子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59176749A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6305183B1 (en) | 1998-09-09 | 2001-10-23 | Toyoda Koki Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for cooling workpiece |
-
1983
- 1983-03-25 JP JP5019283A patent/JPS59176749A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6305183B1 (en) | 1998-09-09 | 2001-10-23 | Toyoda Koki Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for cooling workpiece |
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