JPS59175580A - Heat generating resistor - Google Patents

Heat generating resistor

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Publication number
JPS59175580A
JPS59175580A JP58048854A JP4885483A JPS59175580A JP S59175580 A JPS59175580 A JP S59175580A JP 58048854 A JP58048854 A JP 58048854A JP 4885483 A JP4885483 A JP 4885483A JP S59175580 A JPS59175580 A JP S59175580A
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JP
Japan
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film
bobbin
shows
heating resistor
etching
Prior art date
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Pending
Application number
JP58048854A
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Japanese (ja)
Inventor
稔 大須賀
宜茂 大山
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、3次元形状を有した材料に、発熱抵抗体を形
成する手段に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Application of the Invention] The present invention relates to means for forming a heating resistor in a material having a three-dimensional shape.

〔従来技術〕[Prior art]

従来の発熱抵抗体は、3次元材料の上に、Ptなとの素
線を巻き付けておシ、所要時間が多く、抵抗値がバラつ
くなどの欠点があった。
Conventional heating resistors involve winding wires such as Pt around a three-dimensional material, which has drawbacks such as a long time required and variable resistance values.

し発明の目的〕 本発明の目的は、3次元形状を有した材料に、発熱抵抗
体を、高い精度で、迅速に、容易に形成する手段を提供
することにある。
OBJECTS OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a means for quickly and easily forming a heating resistor on a material having a three-dimensional shape with high precision.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明では、上記目的を達成するために、発熱抵抗体を
レーザー加工法や、エツチング法によシ3次元加工する
ようにしたものである。
In the present invention, in order to achieve the above object, the heating resistor is three-dimensionally processed by a laser processing method or an etching method.

実施例 第1図は、熱線式空気流量計のセンサ部に用いるボビン
の素材である。中空のセラミック円筒1の内に金属性の
リード線2をそう人して接着しである。第2図は、ボビ
ン3を素材として、Ptの抵抗体を形成する第1の方法
であるレーザートリミング法について、大略のフローチ
ャートを記したものである。素材であるボビン3に、真
空薄膜形成法(蒸着法、イオンブレーティング法、スパ
ッタ法)によシPtなどの膜を形成する。この膜は、発
熱抵抗体となるものである。次に、レーザートリミング
によシ、所定の形にP、等の薄膜を切シ落とし、最後に
、ガラス等によりコーティング処理する。第3図は、真
空薄膜形成法の中でも、他の方法よシ、付着強度、膜分
布、まわ殴込み、膜厚制御等の点で優れているスパッタ
法における装置の概略を示したものである。ターゲット
電源4により、ターゲット5を陰極に、またホルダ6を
陽極に印加する。ボビン3は、ホルダ6上に設置される
。容器9内を真空ポンプ7により真空にする。ボンベ8
によシアルボン等の気体を容器9内に入れる。電圧を印
加することによシ容器9内にプラズマ状態10を形成し
、アルゴン陽イオン11をターゲット5に衝突させる。
Embodiment FIG. 1 shows the material of a bobbin used in the sensor section of a hot wire air flow meter. A metallic lead wire 2 is inserted and glued inside a hollow ceramic cylinder 1. FIG. 2 is a schematic flowchart of the laser trimming method, which is the first method of forming a Pt resistor using the bobbin 3 as a material. A film of Pt or the like is formed on the bobbin 3, which is a material, by a vacuum thin film forming method (evaporation method, ion blating method, sputtering method). This film serves as a heating resistor. Next, a thin film of P, etc. is cut off into a predetermined shape by laser trimming, and finally, a coating treatment is performed with glass or the like. Figure 3 shows an outline of the equipment used in the sputtering method, which is superior to other vacuum thin film forming methods in terms of adhesion strength, film distribution, rounding, and film thickness control. . A target power source 4 applies power to the target 5 as a cathode and the holder 6 as an anode. The bobbin 3 is installed on the holder 6. The inside of the container 9 is evacuated by the vacuum pump 7. cylinder 8
A gas such as sialbone is put into the container 9. By applying a voltage, a plasma state 10 is formed in the container 9, and argon positive ions 11 are caused to collide with the target 5.

するとターゲット5よシスバッタ原子12が放出される
。スパッタ原子12が安定して発生しはじめたら、シャ
ッター13を開き、ボビン3にスパッタ原子12を付着
させる。
Then, cis locust atoms 12 are released from target 5. When the sputtered atoms 12 begin to be generated stably, the shutter 13 is opened and the sputtered atoms 12 are attached to the bobbin 3.

第4図は、Pt膜をスパッタリングした後のボビン3の
断面図である。21は、Pt膜20の付着強度を増すた
めに下地であるセラミック1との間に入れたコンタクト
メタル21でアシ、通常次の素材の中のいずれかを用い
る。−〇r、TI。
FIG. 4 is a cross-sectional view of the bobbin 3 after sputtering the Pt film. Reference numeral 21 denotes a contact metal 21 inserted between the base ceramic 1 and the Pt film 20 in order to increase the adhesion strength of the Pt film 20. Usually, one of the following materials is used. -〇r, TI.

Ta1M、etc。このコンタクトメタル21の上にP
、等の発熱抵抗体となる膜2(lスパッタリングしたも
のである。
Ta1M, etc. P on top of this contact metal 21
A film 2 (l sputtered) is used as a heating resistor such as .

第5図は、スパッタを行なう時の行程の大略である。前
処理とは、素材表面に付着しているダストや油脂を取シ
のそく行程である。次に、着付力を増すためのコンタク
トメタルを素材の表面に形成して、その後発熱抵抗体と
なるPt膜をスパッタリングする。第6図は、第5図の
前処理の行程を記したものであシ。素材表面のゴミや油
脂を取シのそく行程である。
FIG. 5 schematically shows the process for sputtering. Pre-treatment is the process of removing dust and oil from the surface of the material. Next, a contact metal is formed on the surface of the material to increase adhesion, and then a Pt film that will become a heating resistor is sputtered. FIG. 6 shows the pre-processing process shown in FIG. 5. This is the process of removing dirt and oil from the surface of the material.

第7図は、発熱抵抗体をスパッタする行程の大略を記し
たものである。スパッタする前に、スパッタ原子が定定
して素材に付着するために素材を加熱しておく、またシ
ャッターはスパッタ原子が安定して発生した後に開ける
FIG. 7 schematically shows the process of sputtering the heating resistor. Before sputtering, the material is heated so that the sputtered atoms settle and adhere to the material, and the shutter is opened after the sputtered atoms are stably generated.

第8図は、素材のボビン3上に形成されたPt膜を所望
の形に切断するレーザ加工装置の概略を示した。レーザ
ー源30としてはルビーレーザーを用い波長0.7μm
程度のレーザー光31を発振させる。レーザー光31は
スプリンタ−32によ多分割され、一方は、レンズ33
によシボビン3上に焦射され、加工用として用いられる
。また、もう一方のレーザー光は、レンズ34.35を
通シ、カメラ36によって、観測用の光として用いられ
る。またレーザー光31は、シャッター37により通断
される。ボビン3は、加工台37上に設置され、加工さ
れる。
FIG. 8 schematically shows a laser processing device for cutting the Pt film formed on the bobbin 3 of the material into a desired shape. A ruby laser is used as the laser source 30 with a wavelength of 0.7 μm.
Laser light 31 of approximately The laser beam 31 is split into multiple parts by a splinter 32, one of which is split by a lens 33.
The light is focused onto the grain bobbin 3 and used for processing. The other laser beam passes through lenses 34 and 35 and is used by camera 36 as observation light. Further, the laser beam 31 is cut off by a shutter 37. The bobbin 3 is placed on a processing table 37 and processed.

第9図は、加工台37の構成と動作を示したものである
。レーザー光31は、ボビン3.1上に焦射される。ボ
ビン3は、Pt膜が表面に形成されているために全体が
4電体となっている。ボビン3のリード線2は、非導電
体のチャンク41によシ押えられる。シャッタ41の内
側には、導電体の°電極42が設けられており、加工の
最中にもボビン3上のPt膜の抵抗を常に測定している
。またボビン3は、ホルダー43と、チャック41上の
ネジ440作用によシ、回転しながら右方向へ移動し、
ボビン3上のP、膜をら膜上に切断するようになってい
る。この加工の最中にもPt膜の電気抵抗をdj11定
しており、るる一定の値となった時に、vJ断加工忙や
める。この方法によJ)、Pt膜抵抗のバラツキがなく
な〃、センサの量産時の精変向上につながる。
FIG. 9 shows the configuration and operation of the processing table 37. Laser light 31 is focused onto bobbin 3.1. Since the bobbin 3 has a Pt film formed on its surface, the entire bobbin 3 is a four-electric body. The lead wire 2 of the bobbin 3 is held down by a non-conductive chunk 41. A conductive electrode 42 is provided inside the shutter 41 to constantly measure the resistance of the Pt film on the bobbin 3 even during processing. Further, the bobbin 3 is rotated and moved to the right by the action of the holder 43 and the screw 440 on the chuck 41.
P on the bobbin 3 is designed to cut the membrane into two pieces. During this processing, the electrical resistance of the Pt film is kept constant at dj11, and when it reaches a constant value, the vJ cutting process is stopped. This method eliminates variations in the Pt film resistance and leads to improved accuracy during mass production of sensors.

第10図は、以上の行程によシ加工された、センサの断
面図(a)と、みとシ図(b)を示した。コンタクトメ
タル52とPt膜51は、レーザーによシセラミック部
1の表面まで完全に切断される。この加工によ如第10
図(b)のようにPt膜は、ら線状に切断される。また
Pt膜は、リード線2にも接続されている。
FIG. 10 shows a cross-sectional view (a) and a cross-sectional view (b) of the sensor processed through the above steps. The contact metal 52 and the Pt film 51 are completely cut to the surface of the ceramic part 1 by laser. With this processing, the 10th
As shown in Figure (b), the Pt film is cut into spiral shapes. The Pt film is also connected to the lead wire 2.

第11図は、P tM’め保護のため(1(、P、膜上
にガラスなどリコーティングしたものである。また第1
2図は、コンタクトメタルを形成せずに、セラミックl
の表面にPi膜51を直接スパッタし、レーザーにより
加工したものである。これは、コストダウンを目的とし
たものである。
Figure 11 shows that the P tM' film is recoated with glass or the like on the film (1 (, P) to protect the P tM'.
Figure 2 shows ceramic l without forming contact metal.
A Pi film 51 is directly sputtered on the surface of the substrate and processed using a laser. This is for the purpose of cost reduction.

以上は、レーザーによるP、Hの加工法を述べたか次に
、ケミカルミーリングによる加工法を示す。ケミカルミ
ーリングは、化学的切削法ともいわれる化学エツチング
である。とこでは、3次元形状のエツチングを目的とし
ている。第13図は、行程の大略を示した。素材である
ボビン3上にPt膜を形成し、その後とのPt膜をケミ
カルミ−リングによシ加工し、発熱抵抗体を形成する。
The above has described the processing method of P and H using a laser. Next, the processing method using chemical milling will be described. Chemical milling is a chemical etching also called chemical cutting method. Here, the purpose is to etch a three-dimensional shape. FIG. 13 shows an outline of the process. A Pt film is formed on the bobbin 3 as a material, and the other Pt films are processed by chemical milling to form a heating resistor.

また、必要に応じてFi P を膜表面のコーティング
を行なう。
Furthermore, the surface of the film is coated with Fi P if necessary.

第14図は、ケミカルミーリングの工程を示したもので
ある。工程は、前処理、マスキング、エツチング、後処
理の4つに分かれている。ケミカルミーリングでのマス
キングは、素材表面に、耐薬品皮膜を形成し、これをげ
がいて、はく離させて行う。このはく離した部分のPt
膜がエツチングされる。第15図は、このケミカルミー
リングの工程を図解したものである。第15図<a)は
素材テするボビン3である。第15図(b)では、ボビ
ン3上にPt膜60を形成した図であ、!II)、(C
)はP。
FIG. 14 shows the chemical milling process. The process is divided into four parts: pre-treatment, masking, etching, and post-treatment. Masking with chemical milling is performed by forming a chemical-resistant film on the surface of the material, and then scraping and peeling it off. This peeled part of Pt
The membrane is etched. FIG. 15 illustrates this chemical milling process. FIG. 15<a) shows the bobbin 3 used for material. In FIG. 15(b), a Pt film 60 is formed on the bobbin 3. II), (C
) is P.

膜60上に皮膜であるマスカント61を形成したもので
あシ、このマスカント61を第15図(d)に示したよ
うに、けがいて、はく離する。次に第15図(e)でエ
ツチングを行い、マスカン)61をはく離した部分を取
シのそく。この時、エツチングによシ膜厚を制御してセ
ラミック1の表面までP を膜が完全に取りのぞかれる
ようにする。最後に、後処理として、残留皮膜を除却す
る(第15図(f) )。ここで第15図(d)のマス
カント61の加ニーはく離を制御すれば、任億の形状の
Pt膜が形成されることになυ。第15図@は、その−
例でおる。ら線状の発熱抵抗体である。以上の方法によ
り、3次元形状のエツチングが可能となシ、P、膜の加
工精度は、大幅に向上され、数ミクロンオーダーの精度
が達成される。
A maskant 61, which is a film, is formed on the membrane 60, and this maskant 61 is scored and peeled off as shown in FIG. 15(d). Next, etching is performed as shown in FIG. 15(e), and the part where the maskant 61 has been removed is removed. At this time, the film thickness is controlled by etching so that the P film is completely removed up to the surface of the ceramic 1. Finally, as a post-treatment, the residual film is removed (FIG. 15(f)). If the knee peeling of the maskant 61 shown in FIG. 15(d) is controlled, a Pt film with an arbitrary shape can be formed. Figure 15 @ is the -
I'll give you an example. It is a wire-shaped heating resistor. By the above method, the processing accuracy of the film, which can be etched into a three-dimensional shape, is greatly improved, and an accuracy on the order of several microns is achieved.

第16図は、エツチング技術を利用した、発熱抵抗体の
形成法である。この方法では、フん接するPt膜の間隔
が非常にせまく(数十ミクロンオーダー)超微細加工が
可能と汝る。また、Pt膜をエツチングするのではなく
、他の物質をエツチングするので、エツチング自体が容
易である。第16図(b)〜(e)は第16図(a)の
丸印内の部分の拡大図である。最初に、セラミック1の
表面に、SIO!の膜70と、アルミナの膜71を形成
する(第16図Φ))。次に第16図(C)に示したよ
うにアルミナの膜71をエツチングする。その後第16
図(d)では、エツチングされたアルミナの膜71をマ
スクとして、エツチング液を選択し、5102膜70の
エツチングを行う。ここでは、8102のエツチング部
が、第16図(d)のA部で示したように、上部のアル
ミナ膜71の下にもぐり込む、アンダーカットという現
象が生じる。最後に、第16図(e)のようにP、を蒸
着又はスパッタすると、アルミナ膜71の上部に蒸着す
るPt膜72(a)と、8102膜70の上に蒸着する
Pt膜72(b)が形成される。この時、第16図(d
)のA部で示したような、アンダーカット部があるため
に72(b)のPt膜は、アルミナ膜の下まで入シ込み
。P【膜72(a)と72(b)の間隔は非常に狭く、
超微細加工が達成される。また、第16図(C)のエツ
チングを任意の形状に行なえば、所望のP、膜ができる
FIG. 16 shows a method of forming a heating resistor using etching technology. It is believed that this method enables ultra-fine processing in which the interval between the Pt films in contact with each other is very narrow (on the order of several tens of microns). Furthermore, since the Pt film is not etched but another substance is etched, the etching itself is easy. FIGS. 16(b) to 16(e) are enlarged views of the portions enclosed by circles in FIG. 16(a). First, apply SIO! to the surface of ceramic 1. A film 70 of alumina and a film 71 of alumina are formed (FIG. 16 Φ)). Next, as shown in FIG. 16(C), the alumina film 71 is etched. Then the 16th
In Figure (d), the etching solution is selected using the etched alumina film 71 as a mask, and the 5102 film 70 is etched. Here, a phenomenon called undercut occurs in which the etched portion 8102 sinks under the upper alumina film 71, as shown in section A in FIG. 16(d). Finally, as shown in FIG. 16(e), when P is deposited or sputtered, a Pt film 72 (a) is deposited on the alumina film 71 and a Pt film 72 (b) is deposited on the 8102 film 70. is formed. At this time, Fig. 16 (d
), the Pt film in 72(b) penetrated to the bottom of the alumina film due to the undercut part shown in part A of 72(b). P[The distance between the membranes 72(a) and 72(b) is very narrow;
Ultra-fine processing is achieved. Furthermore, if the etching shown in FIG. 16(C) is carried out into an arbitrary shape, a desired P film can be obtained.

第17図は、3次元形状物体のスパッタ法でPt膜を直
接ボビン3上に、ら線型の形状にスパッタする方法であ
る。ここでは、エツチング等の工程は不要である。ボビ
ン3は、チャック80とホルダー81の作用によ多回転
しながら左右に動く。
FIG. 17 shows a method of sputtering a Pt film directly onto the bobbin 3 in a spiral shape using a three-dimensional object sputtering method. Here, steps such as etching are not necessary. The bobbin 3 moves left and right while rotating multiple times due to the action of the chuck 80 and the holder 81.

ターゲット82よシ、スパッタ原子83が、マスク84
の穴85を通過して、ボビン3上に付着する。ここで、
ボビン3が水平方向に移動しながら1回転すると、ら線
のPt膜がボビン3上に形成される。第17図(b)は
、マスク84の形状を示したものであシ、中央付近に、
数個幀がおいている。
From the target 82, the sputtered atoms 83 pass through the mask 84.
It passes through the hole 85 and is attached onto the bobbin 3. here,
When the bobbin 3 rotates once while moving in the horizontal direction, a spiral Pt film is formed on the bobbin 3. FIG. 17(b) shows the shape of the mask 84. Near the center, there is a
There are several walls.

この方法では、スパッタ工程のみなので、大幅なコスト
ダウンとなる。
This method requires only a sputtering process, resulting in a significant cost reduction.

第18図は、第17図の装置によシ形成されたPt膜の
形状である。ボビン3の回転運動と、水平運動を制御す
ることにより、第18図に示したような、ら線状の発熱
抵抗体が形成される。また、マスク84の穴85の形状
により任意の形状のPt膜が作られる。
FIG. 18 shows the shape of a Pt film formed by the apparatus shown in FIG. 17. By controlling the rotational movement and horizontal movement of the bobbin 3, a spiral heating resistor as shown in FIG. 18 is formed. Further, a Pt film having an arbitrary shape can be formed depending on the shape of the hole 85 of the mask 84.

第19図は、第17図の応用であシ、ボビン3はチャッ
ク80によ多回転運動のみを行い、マスク84が水平方
向に移動する。
FIG. 19 is an application of FIG. 17, in which the bobbin 3 only performs multiple rotations on the chuck 80, and the mask 84 moves in the horizontal direction.

第20図は、3次元形状のフォトエツチング法である。FIG. 20 shows a photoetching method for three-dimensional shapes.

チャック80、ホルダ811マスク84の動作は、第1
7図と同様である。ボビン3の表面には、Pt膜とフォ
トレジスト層が形成されている。このフォトレジストを
光源90と、マスク84の作用により、ら線状に露光さ
せる方法である。光源90よシ出た光は、鏡91により
集光さ、れて、シャッター92を通過した後、レンズ9
3により平行光線に変換され、マスク84の穴85に達
し、ボビン3に選択的に熱射される。
The operation of the chuck 80, holder 811, and mask 84 is as follows:
This is similar to Figure 7. A Pt film and a photoresist layer are formed on the surface of the bobbin 3. In this method, this photoresist is exposed in a spiral pattern using the light source 90 and the mask 84. The light emitted from the light source 90 is focused by a mirror 91, passes through a shutter 92, and then passes through a lens 9.
3, the light is converted into parallel light, reaches the hole 85 of the mask 84, and is selectively radiated onto the bobbin 3.

第21図は、3次元フォトエツチングの工程を図示した
ものである。第21図(b)〜(f)id、第21図(
a)の丸印部を拡大した図である。第21図(b)でセ
ラミック1の表面にPLLi2O2フォトレジスト膜1
01を形成する。次に第21図(C)のように、マスク
84と光源90により、フォトレジスト層101上のマ
スク84の穴85に相当する部分を露光させる。次に露
光しない部分のフォトレジスト層を除去しく第21図(
d) ) 、エツチングする( (e) ) 、とのP
t膜のエツチング後、残ったフォトレジスト層102を
取シ除く。以上によシ、P、の発熱抵抗体の微細加工が
可能となる。
FIG. 21 illustrates the three-dimensional photoetching process. Fig. 21 (b) to (f) id, Fig. 21 (
It is a figure which expanded the circle mark part of a). In FIG. 21(b), a PLLi2O2 photoresist film 1 is formed on the surface of the ceramic 1.
01 is formed. Next, as shown in FIG. 21(C), a portion of the photoresist layer 101 corresponding to the hole 85 of the mask 84 is exposed using the mask 84 and the light source 90. Next, remove the portions of the photoresist layer that will not be exposed to light (see Figure 21).
d)), etching ((e)), and P
After etching the T film, the remaining photoresist layer 102 is removed. As described above, microfabrication of the heating resistor of P is possible.

第22図〜第25図は、以上の各種のPi模膜形成法よ
シ作成された、ボビン3上の発熱抵抗体200である。
FIGS. 22 to 25 show heat generating resistors 200 on the bobbin 3 produced by the various Pi pattern forming methods described above.

第22図は、みそがきわめて細いもの、第23図は、ボ
ビン3をPt膜200で一様にカバーしたもの、第24
図は発熱抵抗体200と温度補償用抵抗体201を分離
して膜状に形成したもの、第25図は、流線型のボビン
3にPt膜200を形成したものである。
Fig. 22 shows a case in which the miso is extremely thin, Fig. 23 shows a case in which the bobbin 3 is uniformly covered with a Pt film 200, and Fig. 24 shows a case in which the bobbin 3 is uniformly covered with a Pt film 200.
The figure shows a case in which a heating resistor 200 and a temperature compensation resistor 201 are separated and formed into a film shape, and FIG. 25 shows a case in which a Pt film 200 is formed on a streamlined bobbin 3.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明では、発熱抵抗体を、レーザー加工法や、エツチ
ング法などの方法により形成するために、膜形成の精度
の大幅な向上が達成される。
In the present invention, since the heating resistor is formed by a method such as a laser processing method or an etching method, the accuracy of film formation can be greatly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図はすべて本発明の実施例を示し、第1図はボビン素材
の構造図、第2図は抵抗体の構造図、第3図はスパッタ
法による装置の概略図、第4図はボビンの断面図、第5
〜第7図はスパッタリング工程図、第8図はレーザ加工
装置の概略図、第9図は加工台の断面図、第10〜第1
2図はセンサの断面図、第13.第14図はエツチング
工程図、第15図はケミカルミーリング工程の説明図、
第16図は発熱抵抗体の形成法説明図、第17図はスパ
ッタ法説明図、第18図はPt膜の形状図、第19図は
第17図の応用の説明図、第20図はフォトエツチング
法の説明図、第21図はフォトエツチング工程図、第2
2〜第25図はボビン上の発熱抵抗体の説明図である。 1・・・セラミック円筒、2・・・リード線、3・・・
ボビン、4・・・電源、6−・・ホルダ、7・・・真空
ポンプ、9・・・容第 3  口 第 4 国 第 5 日 第 6 日 第 9  目 薬 10 口 奉 71 口 5 第  72 ロ 奉 13  囚 11し 1 王   H[j= 第 75 幻 第 15  目 第 76 の 奉  77 国 5 第 18  目 第 /9  口 4 第 20  の (0−) (し) 寮 21  齢 茅22目 第23目 冶 24 囚
The figures all show embodiments of the present invention. Figure 1 is a structural diagram of a bobbin material, Figure 2 is a structural diagram of a resistor, Figure 3 is a schematic diagram of a device using a sputtering method, and Figure 4 is a cross section of a bobbin. Figure, 5th
- Figure 7 is a sputtering process diagram, Figure 8 is a schematic diagram of the laser processing device, Figure 9 is a cross-sectional view of the processing table, and Figures 10 to 1.
Figure 2 is a cross-sectional view of the sensor, and Figure 13. Fig. 14 is an etching process diagram, Fig. 15 is an explanatory diagram of a chemical milling process,
Fig. 16 is an explanatory diagram of the method for forming a heating resistor, Fig. 17 is an explanatory diagram of the sputtering method, Fig. 18 is a diagram of the shape of the Pt film, Fig. 19 is an explanatory diagram of an application of Fig. 17, and Fig. 20 is a photo explanatory diagram. An explanatory diagram of the etching method, Figure 21 is a photoetching process diagram, Figure 2
2 to 25 are explanatory diagrams of the heating resistor on the bobbin. 1... Ceramic cylinder, 2... Lead wire, 3...
Bobbin, 4... Power source, 6-... Holder, 7... Vacuum pump, 9... Volume 3rd mouth 4th country 5th day 6th day 9th day Eye drops 10 Mouth serving 71 mouth 5th 72nd b Ho 13 Prisoner 11 Shi 1 Wang H [j= 75th Vision 15th 76th Ho 77 Country 5 18th 18th / 9 Kuchi 4 20th (0-) (shi) Dormitory 21 Ageo 22nd 23rd Meji 24 prisoners

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1.3次元形状を有する材料に、発熱抵抗体を形成する
方法であり、特に、レーザー加工法や、エツチング法な
どの、発熱抵抗体を形成する手段を用いたことを特徴と
する発熱抵抗体。
1. A heating resistor that is a method of forming a heating resistor on a material having a three-dimensional shape, and is characterized in that it uses a method of forming a heating resistor such as a laser processing method or an etching method. .
JP58048854A 1983-03-25 1983-03-25 Heat generating resistor Pending JPS59175580A (en)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61139723A (en) * 1984-12-12 1986-06-27 Hitachi Ltd Temperature-sensitive resistor of air flowmeter and preparation thereof
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