JPS59170708A - 表面積測定法 - Google Patents
表面積測定法Info
- Publication number
- JPS59170708A JPS59170708A JP4408483A JP4408483A JPS59170708A JP S59170708 A JPS59170708 A JP S59170708A JP 4408483 A JP4408483 A JP 4408483A JP 4408483 A JP4408483 A JP 4408483A JP S59170708 A JPS59170708 A JP S59170708A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
未発明は、クーロスタットノ人を適用したノ、Ｉ、板の
被メツキ部有効表面積の測定方法に関し、更に詳しくは
、電気メツキ開始前にメッキ液中で迅速に被メッキ部イ
１効表面積を求める事が可能な表面積な１１１定法に関
する。
被メツキ部有効表面積の測定方法に関し、更に詳しくは
、電気メツキ開始前にメッキ液中で迅速に被メッキ部イ
１効表面積を求める事が可能な表面積な１１１定法に関
する。
［発明の技術的背景とその問題点］
心気メンキにおいて優れたメンキ被膜を得るには、適ｉ
１−な電流密度で電気メーソキを行なう必要がある。電
流密度はメッキ速度のみならず、メンキ被膜の外観、強
度、電着性等に大きな影響を及ぼすからである。
１−な電流密度で電気メーソキを行なう必要がある。電
流密度はメッキ速度のみならず、メンキ被膜の外観、強
度、電着性等に大きな影響を及ぼすからである。
電流密度の適」に値を決定するためには、通常、メンキ
開始前に予め、メンキ液中への）、（板の露出面積、即
ち、被メッキ部右効表面積かＪｌｌ定される。然し、被
メンキ部の形状か礼雑なときにはそのイ１効表面積の測
定は極めて困難となる。
開始前に予め、メンキ液中への）、（板の露出面積、即
ち、被メッキ部右効表面積かＪｌｌ定される。然し、被
メンキ部の形状か礼雑なときにはそのイ１効表面積の測
定は極めて困難となる。
例えば、セミアディティブ法に）１（つく印刷配線）１
Ｖ板用の電気メンキにあっては、被メツキ部が−Ｉｉホ
に複雑な配線形状をとるため、そのｔＥ確なイ３効表面
積を求め、適止な電流密度を決定するのに多大な労力と
時間を要するという問題がある。
Ｖ板用の電気メンキにあっては、被メツキ部が−Ｉｉホ
に複雑な配線形状をとるため、そのｔＥ確なイ３効表面
積を求め、適止な電流密度を決定するのに多大な労力と
時間を要するという問題がある。
このため、従来、印刷配線基板の電気メッキに於ては、
生産性を重視する立場から、」二記被メッキ部の有効表
面積の精布測定が省略される傾向があった。即ち、被メ
ツキ部の有効表面積は現場作業者の水生の経験に基づく
目視判断によって求められることが多かった。然し、配
線形状かノ１１贋に複雑な場合には、ｌ＝Ｉ視判断の誤
りを避けるＪＧができず、不適切な電流密度によるメツ
キネ良又はメッキ厚不足という事態を余儀なくぎれ、品
質管理の而からも四囲となっていた。
生産性を重視する立場から、」二記被メッキ部の有効表
面積の精布測定が省略される傾向があった。即ち、被メ
ツキ部の有効表面積は現場作業者の水生の経験に基づく
目視判断によって求められることが多かった。然し、配
線形状かノ１１贋に複雑な場合には、ｌ＝Ｉ視判断の誤
りを避けるＪＧができず、不適切な電流密度によるメツ
キネ良又はメッキ厚不足という事態を余儀なくぎれ、品
質管理の而からも四囲となっていた。
かかる事態を解消するため、テレビカメラとコンピュー
タを組合せた図形処理装置の開発が試みられている。然
しながら、該装置は非常に犬がかりとなる上、コストが
膨大なものとなるため実用性に欠け、北記問題の実質的
な解決手段となるものではなかった。
タを組合せた図形処理装置の開発が試みられている。然
しながら、該装置は非常に犬がかりとなる上、コストが
膨大なものとなるため実用性に欠け、北記問題の実質的
な解決手段となるものではなかった。
［発明の目的］
本発明の目的は、被メンキ部の有効表面積を迅速に測定
する実用的な方法を提供し、以って電気メンキに於ける
適正な電流密度を求める事にある。Ｖ ［発明の概要］ 未発明者らは、Ｌ記目的を達成すべく鋭意研究を屯ねた
結果、電気メツキ液に浸漬された基板の被メッキ部有効
表面にはメッキ液中の各種イオンか吸着されて、所謂電
気二重層というコンデンサーか形成されること、この電
気二重層の電気容量は一定条件下で、正確に該有効表面
積に比例すること、及び電気二重層の容部は基板の分極
（ｉｆｆをｉ１＋１１定することにより求まることに、
７ＩＩ−Ｉ Ｌ、本発明を完成した。
する実用的な方法を提供し、以って電気メンキに於ける
適正な電流密度を求める事にある。Ｖ ［発明の概要］ 未発明者らは、Ｌ記目的を達成すべく鋭意研究を屯ねた
結果、電気メツキ液に浸漬された基板の被メッキ部有効
表面にはメッキ液中の各種イオンか吸着されて、所謂電
気二重層というコンデンサーか形成されること、この電
気二重層の電気容量は一定条件下で、正確に該有効表面
積に比例すること、及び電気二重層の容部は基板の分極
（ｉｆｆをｉ１＋１１定することにより求まることに、
７ＩＩ−Ｉ Ｌ、本発明を完成した。
本発明の被メツキ部の有効面積Ａｌｌ定り、は電気メン
キ液中に被メツキ基板を浸漬し、該）、（板に所定量の
電荷を瞬時に伺与した後、その直後の）１（板の分極値
を開回路状ｙ魚で測定し、該分極イ１（１から゛ｉｌｌ
気二屯層の毛屑容量を算出することによって有効表面積
を測定することを特徴とする。
キ液中に被メツキ基板を浸漬し、該）、（板に所定量の
電荷を瞬時に伺与した後、その直後の）１（板の分極値
を開回路状ｙ魚で測定し、該分極イ１（１から゛ｉｌｌ
気二屯層の毛屑容量を算出することによって有効表面積
を測定することを特徴とする。
本発明の測定法に於ては、電気メンキ液中に浸漬された
基板に所定量の電荷を瞬時に伺与した後、その直後の基
板の分極値を開回路状態で測定する市によって基板の電
気二重居合％（Ｃｄ）をａ出し、得られた電気二重層容
量（Ｃｄ）の値から被メンキ部の有効面積求めものであ
る。即ち、本発明では゛電気二重層容量（Ｃｄ）を求め
るのに所謂クーロスタット法（４′８公昭５８−１２８
１２号公報、り、−公開５８−１１１０１号公報に記戦
）を使用する。
基板に所定量の電荷を瞬時に伺与した後、その直後の基
板の分極値を開回路状態で測定する市によって基板の電
気二重居合％（Ｃｄ）をａ出し、得られた電気二重層容
量（Ｃｄ）の値から被メンキ部の有効面積求めものであ
る。即ち、本発明では゛電気二重層容量（Ｃｄ）を求め
るのに所謂クーロスタット法（４′８公昭５８−１２８
１２号公報、り、−公開５８−１１１０１号公報に記戦
）を使用する。
以下、本発明の表面積測定法を図面を参照してＩｉＴ説
する。
する。
第一・図は発明で用いるクーロスタラｌ−？Ｊ（におけ
るｉｌｉ源、充電系、作用電極、参照電極、対極等の配
置の一例を示す。
るｉｌｉ源、充電系、作用電極、参照電極、対極等の配
置の一例を示す。
図中、メッキ槽４内には作用電極として働く基板１又は
１′、対極３、参照型ｐｊｉ２か配Ｊ貧されている。）
、（板１又は１°に電荷パルスを１７−える充゛屯系と
しては、コンデンサー５が使用されている。このコンデ
ンサー５は電源６とリレー７によって接続することによ
り所定１１の電荷が充電され、リレー７のりＪ替によっ
て対極３を介してその゛電荷を瞬時に基板ｌ又は１°に
移動せしめることができる様になっている。その際に基
板ｌ又は１゛に生じる分極（１ｔ（ηの変化は参照電極
２によって測定され、電位−差記録装置８によって記録
される。
１′、対極３、参照型ｐｊｉ２か配Ｊ貧されている。）
、（板１又は１°に電荷パルスを１７−える充゛屯系と
しては、コンデンサー５が使用されている。このコンデ
ンサー５は電源６とリレー７によって接続することによ
り所定１１の電荷が充電され、リレー７のりＪ替によっ
て対極３を介してその゛電荷を瞬時に基板ｌ又は１°に
移動せしめることができる様になっている。その際に基
板ｌ又は１゛に生じる分極（１ｔ（ηの変化は参照電極
２によって測定され、電位−差記録装置８によって記録
される。
クーロスタンド法に於ては、次の様にして、電気二重層
容量（Ｃｄ）が求められる。
容量（Ｃｄ）が求められる。
先ず、予め表面積Ｓの既知な基板１′を一定温度、一定
攪拌条件ドの電気メツキ液に浸漬する。
攪拌条件ドの電気メツキ液に浸漬する。
しかる後にコンデンサー５から該基板１°に′電荷パル
スを与えて所定量の電荷をイ・］Ｉｊ−シ、参照電極２
を介して電位差記録装（δ８上に）、（板１゛の分極値
η−待時間の関係曲線を（１する。基板１°に与えられ
た電気量と電荷付与直後の基板１゛の分極ｍ’ｉとの間
にはド記の式（１）が成立する。
スを与えて所定量の電荷をイ・］Ｉｊ−シ、参照電極２
を介して電位差記録装（δ８上に）、（板１゛の分極値
η−待時間の関係曲線を（１する。基板１°に与えられ
た電気量と電荷付与直後の基板１゛の分極ｍ’ｉとの間
にはド記の式（１）が成立する。
Δｑ＝ηｏｃｄ、、、、、、 （１）
ηｏ：Ｊ、ｓ：板ビに電荷を賦与した直後の基板１′の
分極値 Ｃｄ 一基板１“の電気二重層容量１１−Δｑ ：
２ｔ；板ビの電気−二重居合ＨＨに！Ｊえられた電気が η０は分極値η−待時間の曲線の１＝０の時のηのｆｉ
ｔ、ｉもしくは１＝０に外挿した時のηの仙から求める
ことが出来、Δｑは充電系のコンデンサー容吊＝とその
充電電圧の積から求めることが出来るので、これらの値
から式（１）により直ちにｃｄが３１出される。
分極値 Ｃｄ 一基板１“の電気二重層容量１１−Δｑ ：
２ｔ；板ビの電気−二重居合ＨＨに！Ｊえられた電気が η０は分極値η−待時間の曲線の１＝０の時のηのｆｉ
ｔ、ｉもしくは１＝０に外挿した時のηの仙から求める
ことが出来、Δｑは充電系のコンデンサー容吊＝とその
充電電圧の積から求めることが出来るので、これらの値
から式（１）により直ちにｃｄが３１出される。
このＣｄのイ１ムを基板１゛の表面積Ｓで除することに
よって、該基板１′の単位面積当りの電気二毛屑容Ｘ１
１（Ｃｄｏ ）が求まる。
よって、該基板１′の単位面積当りの電気二毛屑容Ｘ１
１（Ｃｄｏ ）が求まる。
次に、表面積の未知な基板工の被メンキ部イー３効表面
についＪ、−１，記と同一の温度、攪拌条件の電気メン
キ液中で分極値を測定することによって電気−二−重層
容量（Ｃｄ）を上記の方法と同様にして算出し、この電
気二重層容量（Ｃｄ）を上記単位面積当りの電気−土層
容量（Ｃｄｏ）で除することによって基板１の被メッキ
部有効表面が求められる。
についＪ、−１，記と同一の温度、攪拌条件の電気メン
キ液中で分極値を測定することによって電気−二−重層
容量（Ｃｄ）を上記の方法と同様にして算出し、この電
気二重層容量（Ｃｄ）を上記単位面積当りの電気−土層
容量（Ｃｄｏ）で除することによって基板１の被メッキ
部有効表面が求められる。
未発明で用いる電気メンキ液は、如何なる成分、Ｍ１成
のものであってもよい。然しなから、一連の既知及び未
知の基板に関する分極値のｌ！ｉｌｌ定にあってはメッ
キ倍の成分、組成、温度、攪拌等の条ヂ１か−・定であ
ることか好ましい。
のものであってもよい。然しなから、一連の既知及び未
知の基板に関する分極値のｌ！ｉｌｌ定にあってはメッ
キ倍の成分、組成、温度、攪拌等の条ヂ１か−・定であ
ることか好ましい。
基板１又は１゛に伺与すべき適正な′市気量は被メンキ
部のイ１効表面積の大きざに依存する。この゛屯気ｊ−
は、通常、ノん板１又はｌ゛に生しる分極電位の絶り・
ｌ値が１ηｌ ＜ １０ ｍ Ｖの範囲と成るように設
定される。分極′ｉシ位の絶対値が１ηｌ＞ｌｏｍｖ７
：ｌ範囲では」、記式（１）の関係が散布に成＼′ノし
なくなってしまうからである。
部のイ１効表面積の大きざに依存する。この゛屯気ｊ−
は、通常、ノん板１又はｌ゛に生しる分極電位の絶り・
ｌ値が１ηｌ ＜ １０ ｍ Ｖの範囲と成るように設
定される。分極′ｉシ位の絶対値が１ηｌ＞ｌｏｍｖ７
：ｌ範囲では」、記式（１）の関係が散布に成＼′ノし
なくなってしまうからである。
以１−の説明から明らかな通り、本願発明の表ｔｎｉ積
測定方法は、（υ電気メンキ開始前に該メンキ浴中で被
メンキ部イ１効表面積を測定することがｊｒｆ能であり
、スイッチ７の切（＋によって表面積のＡ１１１定後、
直ちに電気メッキを行うことができるので高能率かつ実
用的であること、う）装置か簡単であり、かつ装置に要
する費用が廉価であること、（３）被メ・ンキ部イＪ効
表面植の測定を極めて迅速に杓う°１１か出来、従って
容易に適ＩＬな電が５密度を求めることがで出来ること
等の効果を奏し、そのＪｌｒ業−１−の利用（曲値は極
めて大である。
測定方法は、（υ電気メンキ開始前に該メンキ浴中で被
メンキ部イ１効表面積を測定することがｊｒｆ能であり
、スイッチ７の切（＋によって表面積のＡ１１１定後、
直ちに電気メッキを行うことができるので高能率かつ実
用的であること、う）装置か簡単であり、かつ装置に要
する費用が廉価であること、（３）被メ・ンキ部イＪ効
表面植の測定を極めて迅速に杓う°１１か出来、従って
容易に適ＩＬな電が５密度を求めることがで出来ること
等の効果を奏し、そのＪｌｒ業−１−の利用（曲値は極
めて大である。
［発明の実施例］
実施例１
先ず、メンキ液として、下記の組成の硫酸鋼メッキ浴を
建浴した。
建浴した。
次に、このメッキ液中に表面積がそれぞれ２．５゜４．
５，７．０，８．０，１１．０，１４．０ ［ゴの６種
類の）１（板を浸漬し、温度２５°Ｃ５空気／＼ブリン
グ条ヂ１ド、 第］−図に示した配置のコンデンサー
を用いて、該基板にη０かｌＯｍＶ前後となるクーロン
の゛重荷を瞬時【こ伺り、した後、その直後のノ、（板
の分極イｆｆη０をＳ、Ｃ。
５，７．０，８．０，１１．０，１４．０ ［ゴの６種
類の）１（板を浸漬し、温度２５°Ｃ５空気／＼ブリン
グ条ヂ１ド、 第］−図に示した配置のコンデンサー
を用いて、該基板にη０かｌＯｍＶ前後となるクーロン
の゛重荷を瞬時【こ伺り、した後、その直後のノ、（板
の分極イｆｆη０をＳ、Ｃ。
Ｅ １１極を参照電極としてを用い、開回路状ｆＥ、で
測定した。各表面積につき、該分極値η。から式（１）
用いて求めた′電気二重層容量の（＋７ｉを第２図に小
す。
測定した。各表面積につき、該分極値η。から式（１）
用いて求めた′電気二重層容量の（＋７ｉを第２図に小
す。
第２図からり］らかな通り、」−１記基板の単（＜ｔ
１（ｉｉ ４責ゝ１′１りの′ｉｌｐ気−Φ層容Ｑ居合
（Ｃ：ｄｏ ）は５５０壓Ｆ／改であった。
１（ｉｉ ４責ゝ１′１りの′ｉｌｐ気−Φ層容Ｑ居合
（Ｃ：ｄｏ ）は５５０壓Ｆ／改であった。
次に、被メンキ部の表面積が未知の印刷配線基板を−［
−記メツキ液中に浸漬して１−と同様な）Ｊ−ツノ、で
″屯気二毛屑容）ｉｔを求めたところ、その値（よ８３
００弘Ｆであった。従ッテ、コ、 （７）イ直ヲｔｒｉ
イ：ｔ ｌｌ’ｌ！桔−Ａ６りの′上気二重居合：ｉ３
： （ｃｄ、 ） ５５０ 、 Ｆ／ｌ：ｆｉで除して
得られる被メンキ部の有効表面積ｌま１５．１ｄである
。
−記メツキ液中に浸漬して１−と同様な）Ｊ−ツノ、で
″屯気二毛屑容）ｉｔを求めたところ、その値（よ８３
００弘Ｆであった。従ッテ、コ、 （７）イ直ヲｔｒｉ
イ：ｔ ｌｌ’ｌ！桔−Ａ６りの′上気二重居合：ｉ３
： （ｃｄ、 ） ５５０ 、 Ｆ／ｌ：ｆｉで除して
得られる被メンキ部の有効表面積ｌま１５．１ｄである
。
本発明の測定法の信頼性を確認するため、この被メツキ
部有効表面積をブラニメータ番こよって１１１１＋定し
たところ、そのイ１（（はｔ４−．５ｔｍとなり、本発
明の方法により求めた値と良く一致して（１）ｌこ。
部有効表面積をブラニメータ番こよって１１１１＋定し
たところ、そのイ１（（はｔ４−．５ｔｍとなり、本発
明の方法により求めた値と良く一致して（１）ｌこ。
第１図は本発明で用いるクーロスタ・ント法番こおける
電源、充電系、作用電極、参照′電極、対極〈９の配置
の一例をツバす。 第２図は基板のイ５効表面積と電気−Φ居合Ｉ１１との
関係を表す本発明の説明図である・ １又はビ・・・基板 ２・・・参照電極３・・・
対極 ４・・・メ・ンキ槽５・・・コン
デンサー ６・・・’ｉＬ） ＆ｊ７・・・リレー
８・・・電位差記録装置〆 ・ −■ 、Ｊ−；゛ ＝−（ｊイ）、□３″ｌヒＶ１
電源、充電系、作用電極、参照′電極、対極〈９の配置
の一例をツバす。 第２図は基板のイ５効表面積と電気−Φ居合Ｉ１１との
関係を表す本発明の説明図である・ １又はビ・・・基板 ２・・・参照電極３・・・
対極 ４・・・メ・ンキ槽５・・・コン
デンサー ６・・・’ｉＬ） ＆ｊ７・・・リレー
８・・・電位差記録装置〆 ・ −■ 、Ｊ−；゛ ＝−（ｊイ）、□３″ｌヒＶ１
Claims (1)
- １Ｆ気メンキ液中に被メンキ基板を浸漬し、該ノ＾板に
所定量の電荷を瞬時に付与した後、その直後の基板の分
極値を開回路状態で測定し、該分極イＩ６から電気−毛
屑の電気容部を狼、出することによって該基板の被メッ
キ部有効表面積を′Ａ１１１疋する方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4408483A JPS59170708A (ja) | 1983-03-18 | 1983-03-18 | 表面積測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4408483A JPS59170708A (ja) | 1983-03-18 | 1983-03-18 | 表面積測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59170708A true JPS59170708A (ja) | 1984-09-27 |
Family
ID=12681746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4408483A Pending JPS59170708A (ja) | 1983-03-18 | 1983-03-18 | 表面積測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59170708A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5387940A (en) * | 1976-12-24 | 1978-08-02 | Robert Eric | Method of measuring one side immersed surface of electrode of electrochemical bath and device for executing said method |
-
1983
- 1983-03-18 JP JP4408483A patent/JPS59170708A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5387940A (en) * | 1976-12-24 | 1978-08-02 | Robert Eric | Method of measuring one side immersed surface of electrode of electrochemical bath and device for executing said method |
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