JPS5917039Y2 - ROM checker - Google Patents

ROM checker

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Publication number
JPS5917039Y2
JPS5917039Y2 JP2382779U JP2382779U JPS5917039Y2 JP S5917039 Y2 JPS5917039 Y2 JP S5917039Y2 JP 2382779 U JP2382779 U JP 2382779U JP 2382779 U JP2382779 U JP 2382779U JP S5917039 Y2 JPS5917039 Y2 JP S5917039Y2
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JP
Japan
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rom
data
under test
ram
output
Prior art date
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Application number
JP2382779U
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Japanese (ja)
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JPS55128296U (en
Inventor
康 青木
章 小峰
Original Assignee
東芝テック株式会社
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Publication date
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Priority to JP2382779U priority Critical patent/JPS5917039Y2/en
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Description

【考案の詳細な説明】 この考案はROMチェッカーの改良に関する。[Detailed explanation of the idea] This invention relates to an improvement of a ROM checker.

ROMチェッカーは被試験ROMのデータを指定された
アドレスにもとづいて読出し、その読出したデータをR
AMに転送格納させ、その後RAMのテ゛−夕とマスタ
ROMのテ゛−夕とを比較して被試験ROMを検査する
ようにしている。
The ROM checker reads the data of the ROM under test based on the specified address, and writes the read data to R.
The data is transferred to the AM and stored therein, and then the ROM under test is inspected by comparing the data in the RAM and the data in the master ROM.

従来この種ROMチェッカーにおいては被試験ROMが
らのデータの読出しアドレスの指定を順序式でしかでき
ず、ランダムに行なうことができなかった。
Conventionally, in this type of ROM checker, the address for reading data from the ROM under test can only be specified sequentially, and cannot be specified randomly.

このため被試験ROMからのテ゛−夕の読出しアドレス
をランダムに指定するようプログラムを組んで行うこと
も考えられるが、このようにするとその為に別途プログ
ラムを設定する必要があり、ソフトの負担が増大する問
題がある。
For this reason, it may be possible to create a program to randomly specify the data read address from the ROM under test, but doing so would require a separate program to be set, which would increase the burden on the software. There is a growing problem.

この考案はこのような欠点を除去するために考えられた
もので被試験ROMの検査をランダムにアドレス指定し
て行うことができるものにおいてソフトの負担が増大す
ることがなく、しかも構成が簡単なROMチェッカーを
提供することを目的とする。
This idea was devised to eliminate these drawbacks, and it is possible to test the ROM under test by randomly specifying addresses, without increasing the burden on the software, and with a simple configuration. The purpose is to provide a ROM checker.

以下、この考案の一実施例を図面を参照して説明する。An embodiment of this invention will be described below with reference to the drawings.

1はCPU(中央処理ユニツ1〜)で、このCPU1は
演算回路、インスI・ラクションレコーダ、メモノ制御
回路等からなっている。
Reference numeral 1 denotes a CPU (central processing unit 1-), and this CPU 1 is comprised of an arithmetic circuit, an input/traction recorder, a memo control circuit, and the like.

前記CPU1にはデータバス2及び′アドレスバス3を
それぞれ介してシステムRAM/ROM4及び゛マスタ
ROM5か゛接続されている。
A system RAM/ROM 4 and a master ROM 5 are connected to the CPU 1 via a data bus 2 and an address bus 3, respectively.

又6はRAM、7は被試、@ROMで、これらは前記C
PU1に対してテ゛−タバス8、バスドライバー9及び
前記テ゛−タバス2を介して接続するとともにアドレス
バス10、マルチプレクサ11及び前記アドレスバス3
を介して接続している。
Also, 6 is RAM, 7 is tested @ROM, and these are the above C
It is connected to the PU 1 via the data bus 8, bus driver 9, and the data bus 2, and also connected to the address bus 10, the multiplexer 11, and the address bus 3.
are connected via.

前記データバス8には又レベル判定回路12が接続され
ている。
A level determination circuit 12 is also connected to the data bus 8.

前記CPU1には又データバス13を介してI10ポー
ト14を接続している。
An I10 port 14 is also connected to the CPU 1 via a data bus 13.

前記CPU 1は前記システムROM/R−AM4のR
OM内に設定されているプログラムにもとづいて上記シ
ステムROM/RAM4のRAM、前記マスタROM5
、RAM6、被試験ROM7及びI10ポート14をそ
れぞれ制御するようにしている。
The CPU 1 is the R of the system ROM/R-AM4.
Based on the program set in the OM, the RAM of the system ROM/RAM4, the master ROM5
, RAM 6, ROM under test 7 and I10 port 14, respectively.

なおシステムROM/RAM4のRAMはシステムRO
M/RAM4のROMにもとづ<CPU1の動作に必要
なテ゛−タの一時待避や格納に使用されるようになって
いる。
Note that the system ROM/RAM4 RAM is the system RO.
Based on the ROM of the M/RAM 4, it is used for temporarily saving and storing data necessary for the operation of the CPU 1.

前記CPU1からはリード信号r及びライト信号Wが出
力され、上記リード信号rは前記システムROM/RA
M4のリード端子、前記マスクROM5のリード端子及
び2人力形アンドゲート15の一方の入力端子にそれぞ
れ供給され、上記ライト信号Wは上記システムROM/
RAM4のライト端子に供給されるようになっている。
A read signal r and a write signal W are output from the CPU 1, and the read signal r is output from the system ROM/RA.
The write signal W is supplied to the lead terminal of M4, the lead terminal of the mask ROM 5, and one input terminal of the two-manufactured AND gate 15, and the write signal W is supplied to the system ROM/
It is designed to be supplied to the write terminal of RAM4.

前記I10ポート14は前記CPU1に制御されてバス
セレクト信号bs、ダイナミックメモリアクセススター
ト信号ds、カウンタセレクト信号CSをそれぞれ所定
のタイミングで出力するもので、上記バスセレクト信号
bsを2人力形アンドゲート16の一方の入力端子に供
給し、上記スタート信号dsをフリップフロップ17の
セット端子に供給し、かつ上記カウンタセレクト信号C
Sを前記マルチプレクサ11のカウンタセレクト端子に
供給している。
The I10 port 14 is controlled by the CPU 1 and outputs a bus select signal bs, a dynamic memory access start signal ds, and a counter select signal CS at predetermined timings. The start signal ds is supplied to one input terminal of the flip-flop 17, and the counter select signal C is supplied to one input terminal of the flip-flop 17.
S is supplied to the counter select terminal of the multiplexer 11.

前記フリップフロップ17はカセット出力を前記アンド
ゲート16の他方の入力端子に供給するとともに2人力
形アンドゲート 18.19.20の一方の入力端子に
それぞれ供給している。
The flip-flop 17 supplies the cassette output to the other input terminal of the AND gate 16 and to one input terminal of a two-manufactured AND gate 18, 19, and 20, respectively.

又前記フリップフロップ17はリセット出力を前記アン
ドゲート15の他方の入力端子に供給するとともに前記
I10ポート14にダイナミックメモリアクセスエンド
信号deとして供給するようにしている。
Further, the flip-flop 17 supplies a reset output to the other input terminal of the AND gate 15 and also supplies it to the I10 port 14 as the dynamic memory access end signal de.

又21はクロックパルスを出力する発振器で、この発振
器21からのクロックパルスを前記アンドゲート20の
他方の入力端子に供給するようにしている。
Reference numeral 21 denotes an oscillator that outputs clock pulses, and the clock pulses from this oscillator 21 are supplied to the other input terminal of the AND gate 20.

前記発振器21は発生するクロックパルスの周波数をボ
リューム等によって可変できるようになっている。
The oscillator 21 is configured such that the frequency of the generated clock pulse can be varied by adjusting the volume or the like.

そして前記アンドゲート15出力を2人力形オアゲート
22に供給し、前記アンドゲート16出力を前記バスド
ライバー9のイネーブル端子及び前記マルチプレクサ1
1のバスセレクト端子にそれぞれ供給するようにしてい
る。
Then, the output of the AND gate 15 is supplied to the two-man type OR gate 22, and the output of the AND gate 16 is supplied to the enable terminal of the bus driver 9 and the multiplexer 1.
1 bus select terminal.

前記アンドゲート20出力をノード・ライト制御回路2
3に供給するようにしている。
The output of the AND gate 20 is connected to the node write control circuit 2.
I am trying to supply it to 3.

前記リード・ライ)・制御回路23はアントゲ−1−2
0出力に応動してカウンタ24にカウント信号を供給す
るとともにそのカウント信号に同期した制御信号を前記
アントゲ−H8,19の他方の入力端子にそれぞれ供給
するようにしている。
The read/write) control circuit 23 is ant game 1-2.
In response to the 0 output, a count signal is supplied to the counter 24, and a control signal synchronized with the count signal is supplied to the other input terminals of the anti-games H8 and 19, respectively.

前記アンドゲート18出力は前記オアゲート22の他方
の入力端子に供給され上記オアゲート22出力は前記R
AM6及び被試験ROM7のリード端子にそれぞれ供給
されるようになっている。
The output of the AND gate 18 is supplied to the other input terminal of the OR gate 22, and the output of the OR gate 22 is supplied to the R
It is designed to be supplied to the lead terminals of AM6 and ROM7 under test, respectively.

前記アンドゲート19出力は前記RAM6のライト端子
に供給されるようになっている。
The output of the AND gate 19 is supplied to the write terminal of the RAM 6.

前記RAM6はライト端子とリード端子に同時に信号が
入力されたときにはテ゛−夕の書込み処理を優先して行
なうようになっている。
The RAM 6 is designed so that when signals are input to the write terminal and the read terminal at the same time, priority is given to data write processing.

前記カウンタ24は順序方式でカウント動作して例えば
4ビツトのパラレルなカウント出力を送出するもので゛
そのカウント信号を接点操作ボード25の入力端子11
.■2.■3.I4にそれぞれ供給するとともにフルカ
ランl−したときにはリセット動作してアクセスエンド
端子から前記フリップフロップ17のリセット端子にリ
セット信号を出力するようにしている。
The counter 24 performs a sequential counting operation and sends out, for example, a 4-bit parallel count output.The count signal is sent to the input terminal 11 of the contact operation board 25.
.. ■2. ■3. I4, and when a full run is made, a reset operation is performed and a reset signal is output from the access end terminal to the reset terminal of the flip-flop 17.

前記接点操作ボード25には第1グループの出力端子0
1,02゜03.04と第2グループの出力端子05,
06,07゜08が設けられ、入力端子11〜■4を出
力端子01〜04にそれぞれ接続して順序方式のカウン
ト出力Aを取り出すとともに入力端子■1〜■4を例え
ば出力端子08〜05にそれぞれ接続してランダム方式
のカウント出力Bを取り出している。
The contact operation board 25 has a first group of output terminals 0.
1,02゜03.04 and second group output terminal 05,
06, 07°08 are provided, and the input terminals 11 to 4 are connected to the output terminals 01 to 04, respectively, to take out the count output A of the sequential method, and the input terminals 1 to 4 are connected to the output terminals 08 to 05, for example. They are connected to each other to take out a random count output B.

そして前記カウント出力Aを前記マルチプレクサ11の
第1のカウンタアドレス端子に供給するとともに前記カ
ウント出力Bを前記マルチプレクサ11の第2のカウン
タアドレス端子に供給している。
The count output A is supplied to a first counter address terminal of the multiplexer 11, and the count output B is supplied to a second counter address terminal of the multiplexer 11.

前記レベル判定回路12は前記被試験ROM7からテ゛
−タバスライン8に出力されるテ゛−夕のレベルを判定
するもので、上記テ゛−夕のレベルが規定値を満足しな
いときには前記I10ポート14にレベルエラー信号1
eを出力するようにしている。
The level judgment circuit 12 judges the level of the data output from the ROM under test 7 to the data bus line 8, and when the level of the data does not satisfy a specified value, a level error is sent to the I10 port 14. signal 1
e is output.

そして前記I10ポート14はレベルエラー信号1eの
入力があったときその内容を前記CPU1へ伝達するよ
うにしている。
The I10 port 14 transmits the contents to the CPU 1 when the level error signal 1e is input.

又27は前記被試験ROM7に電源電圧を供給する被試
験ROM用電源で、この電源27は前記I10ポーI・
14から制御信号によって出力電圧を変化するようにし
ている。
Further, 27 is a power supply for the ROM under test which supplies a power supply voltage to the ROM under test 7, and this power supply 27 is connected to the I10 port I.
The output voltage is changed by a control signal from 14.

例えば被試験ROM7として5.0ポル1〜で作動し、
かつ±10%の変動を許容するものを使用すれば前記電
源27は前記I10ポー1−14からの制御信号によっ
て出力電圧を5.5ポルl−,5,Oポルl−,4,5
ボルトの3段階に切換えできるようになっている。
For example, the ROM 7 under test operates at 5.0 por 1 or more,
If a power source that allows ±10% variation is used, the power supply 27 will adjust the output voltage to 5.5pol l-, 5, Opol l-, 4,5 according to the control signal from the I10 port 1-14.
It is possible to switch between three bolt levels.

このような構成において前記CPU1は先ず■10ポー
ト14を制御して被試験ROM用電源27に例えば出力
電圧5.0ボルトになる制御信号を供給する。
In such a configuration, the CPU 1 first controls the 10 port 14 and supplies the ROM under test power supply 27 with a control signal that provides an output voltage of 5.0 volts, for example.

次にCPU1はI10ポート14を制御してマルチプレ
クサ11にカウンタセレクト信号CSを供給してカウン
ト出力A、 Bのいずれをマルチプレクサ11に人力さ
せるか選択する。
Next, the CPU 1 controls the I10 port 14 to supply a counter select signal CS to the multiplexer 11 to select which of the count outputs A and B is to be manually input to the multiplexer 11.

例えばカウント出力Aを選択する。For example, select count output A.

続いてCPU1はI10ポート14を制御してフリップ
フロップ17にダイナミックメモリアクセススタート信
号dsを供給する。
Subsequently, the CPU 1 controls the I10 port 14 to supply the flip-flop 17 with a dynamic memory access start signal ds.

しかしてフリップフロップ17かセット動作しセット出
力がアントゲ−1〜16.18.19.20にそれそ゛
れ供給される。
Then, the flip-flop 17 operates to set, and the set output is supplied to each of the games 1 to 16, 18, 19, and 20.

こうして発振器21からのクロックパルスがリード・ラ
イト制御回路23に供給され、この制御回路23からク
ロックパルスに対応したカウント信号がカウンタ24に
供給されるとともに上記カウント信号に同期した制御信
号がアントゲ−) 18.19にそれぞれ供給される。
In this way, the clock pulse from the oscillator 21 is supplied to the read/write control circuit 23, and from this control circuit 23, a count signal corresponding to the clock pulse is supplied to the counter 24, and a control signal synchronized with the count signal is sent to the counter 24. 18 and 19 respectively.

又このときCPU 1はI10ポート14を制御してバ
スセレクト信号bsを出力させる。
Also, at this time, the CPU 1 controls the I10 port 14 to output the bus select signal bs.

このバスセレクト信号卜はアンドゲート16を介してマ
ルチプレクサ11のバスセレクト端子に供給されるとと
もにバスドライバー9のイネーブル端子に供給される。
This bus select signal is supplied to the bus select terminal of the multiplexer 11 via the AND gate 16 and also to the enable terminal of the bus driver 9.

こうして77レチプレクサ11はCPU1からのアドレ
ス指定信号の入力を禁止するとともにカウンタセレクト
信号C8にもとづいてカウント出力Aをアドレス指定信
号とみて人力するようになる。
In this way, the 77 retiplexer 11 prohibits the input of the address designation signal from the CPU 1, and also treats the count output A as an address designation signal based on the counter select signal C8.

又バスドライバー9はデータバス2とテ゛−タバス8と
の連絡を断ちCPU 1とRAM6及び被試験ROM7
間のテ゛−タ交換を禁止する。
Also, the bus driver 9 cuts off the communication between the data bus 2 and the data bus 8, and disconnects the CPU 1, RAM 6, and ROM under test 7.
Data exchange between the two is prohibited.

さらにリード・ライト制御回路23からは制御信号がア
ントゲ−) 18.19を介して出力されるようになる
のでRAM5はライト動作を開始するとともに被試験R
OM7はリード動作を開始するようになり被試験ROM
7のデータがRAM6に格納される。
Furthermore, a control signal is outputted from the read/write control circuit 23 via the computer 18.19, so that the RAM 5 starts the write operation and the R under test
OM7 starts reading operation and the ROM under test
7 data is stored in RAM6.

このときの被試験ROM7からのデータの読出しはマル
チプレクサ11によってアドレスが指定されて行なわれ
るがそのアドレス決めはCPU1では無くカウンタのカ
ウント信号によって行なわれる。
At this time, data is read from the ROM 7 under test by specifying an address by the multiplexer 11, but the address is determined not by the CPU 1 but by a count signal from a counter.

今は順序方式でカウント動作を行なうカウント出力Aの
入力が選択されているのでアドレス決めは一定の順序に
もとづいて行なわれる。
Since the input of count output A, which performs counting operation in a sequential manner, is currently selected, addressing is performed based on a fixed order.

又このときのアクセスタイムはカウンタのカウント速度
すなわち発振器21の発振周波数によって決められる。
Further, the access time at this time is determined by the counting speed of the counter, that is, the oscillation frequency of the oscillator 21.

さらにこのときレベル判定回部12は被試験ROM7か
らテ゛−タバス8へ出力されるテ゛−夕のレベルをチェ
ックし、もしレベルが規定レベルになっていなければI
10ポート14に対してレベルエラー信号1eを出力す
る。
Furthermore, at this time, the level determination circuit 12 checks the level of the data output from the ROM under test 7 to the data bus 8, and if the level is not at the specified level, the I
A level error signal 1e is output to the 10 port 14.

このレベルエラー信号1eのI10ポー1−14に対す
る人力によってCPU 1は被試験ROM7のデータレ
ベルに異常があることを知ることか゛できる。
By manually applying the level error signal 1e to I10 ports 1-14, the CPU 1 can know that there is an abnormality in the data level of the ROM 7 under test.

二うしてカウンタ24か゛フルーカウントするとカウン
タ24のアクセスエンド端子からリセット信号が出力さ
れてフリップフロップ される。
When the counter 24 reaches full count, a reset signal is output from the access end terminal of the counter 24 and the flip-flop is activated.

そしてフリップフロップ17がリセットされるとこのフ
リップフロップ17からI10ポート14ヘダイナミッ
クメモリアクセスエンド信号deが供給される。
When the flip-flop 17 is reset, the dynamic memory access end signal de is supplied from the flip-flop 17 to the I10 port 14.

又同時にマルチプレクサ11のアドレスバスセレクト端
子及びバスドライバー9のイネーブル端子への人力信号
が立下がりマルチプレクサ11及びバスドライバー9が
イネーブル状態となる。
At the same time, the human input signal to the address bus select terminal of the multiplexer 11 and the enable terminal of the bus driver 9 falls, and the multiplexer 11 and the bus driver 9 become enabled.

これによってテ゛−タバスの2と8が連結され又アドレ
スバスの3と10が連結されるようになり、RAM6が
CPU1によって制御可能な状態となる。
As a result, data buses 2 and 8 are connected, and address buses 3 and 10 are connected, so that the RAM 6 can be controlled by the CPU 1.

しかしてCPU1からのリード信号rがマスタROM5
とRAM6に人力され側内からデータがCPUのアドレ
ス指定にもとづいて読出され比較される。
Therefore, the read signal r from CPU1 is read from master ROM5.
Data is read out from within the RAM 6 based on address designation by the CPU and compared.

こうして被試験ROM7から読出されたデータが正常で
゛あるか否かがマスクROM5のデータと被試験ROM
7のデータが移し込まれたRAM6のテ゛−夕とを比較
することによって検査される。
Whether the data read from the ROM under test 7 is normal or not is determined by the data in the mask ROM 5 and the ROM under test.
7 is inspected by comparing it with the transferred data in RAM 6.

そしてこのような検査が終了して被試験ROM7から読
出されたテ゛−夕に異常がなければCPU1は今度はI
10ポート14を制御してカウント出力Bを選択するカ
ウンタセレクト信号CSヲマルチプレクサ11のカウン
タセレクト端子に供給する。
After this test is completed, if there is no abnormality in the data read from the ROM 7 under test, the CPU 1 will now turn on the I/O.
A counter select signal CS which controls the 10 port 14 and selects the count output B is supplied to the counter select terminal of the multiplexer 11.

こうして今度は被試験ROM7からのデータの読出しア
ドレスの指定はランダム式のカウント出力Bによって行
なわれるようになる。
In this way, the address for reading data from the ROM 7 under test is now designated by the random count output B.

しかして被試験ROM7からはテ゛−夕がランダムに読
出されてRAM6に転送され、この転送が終了すると再
びテ゛−タバスの2と8及びアドレスバスの3と10が
それぞれ連結されCPU1によってマスクROM5のテ
゛−夕とRAM6のデータとが比較され被試験ROM7
が検査される。
Data is then randomly read from the ROM 7 under test and transferred to the RAM 6. When this transfer is completed, data buses 2 and 8 and address buses 3 and 10 are connected again, respectively, and the CPU 1 transfers the data to the mask ROM 5. The data is compared with the data in RAM6 and the data in ROM7 under test is
is inspected.

このように最初は被試験ROM7のテ゛−タ読出しが順
序式に行なわれて検査が行なわれ次には被試験ROM7
のデータ読出しがランダムに行なわれて検査が行なわれ
るので、被試@ROM7の検査を多目的に行なうことが
でき検査機能を向」ニすることができる。
In this way, at first the data of the ROM under test 7 is sequentially read and tested, and then the ROM 7 under test is read out in a sequential manner.
Since the data reading is performed randomly and the test is performed, the test @ROM 7 can be tested for multiple purposes, and the test function can be made more versatile.

又被試験ROM7の検査においてデータ読出し時のレベ
ル検査、被試験ROM7への電源電圧レベルの変更も行
なえるので゛さらに多目的検査を行なうことかで゛き検
査機能をさらに向−卜することがて゛きる。
In addition, when testing the ROM 7 under test, it is possible to check the level when reading data and change the power supply voltage level to the ROM 7 under test, so it is possible to perform more multi-purpose testing and further improve the testing function. .

又、被試、@ROM7からのデータの読出し及びRAM
6へのテ゛−夕の格納におけるアドレス指定はカウンタ
24及び接点操作ボード25を使用してCPU1とは独
立して行なっているので、ランダムなアドレス指定にシ
ステムROM/RAM4のROMに別途プログラムを設
定する必要がなく、ソフ1への負担が増大することはな
い。
Also, reading data from the tested @ROM7 and RAM
Address specification for data storage in 6 is done independently of the CPU 1 using the counter 24 and contact operation board 25, so a separate program is set in the system ROM/RAM 4 for random address specification. There is no need to do this, and the burden on the software 1 does not increase.

しかもカウンタが1個でよく、また各種のランダム状態
を接点操作ボード25の接点の接続を変更するのみでよ
く構成が簡単で゛ある。
Moreover, only one counter is required, and the configuration is simple, as various random states can be changed by simply changing the connections of the contacts on the contact operation board 25.

又発振器21から出力されるクロックパルスの周波数を
変化して被試験ROM7に対するアクセスタイムを変化
できるようにしているので被試験ROM7としてアクセ
スタイムの異なるものがあってもそれに充分対処するこ
とができ、検査機能をさらに向上することができる。
Furthermore, since the access time to the ROM 7 under test can be changed by changing the frequency of the clock pulse output from the oscillator 21, even if the ROM 7 under test has a different access time, it can be sufficiently coped with. The inspection function can be further improved.

さらにこのものにおいては被試、@ROM7のテ゛−夕
をRAM6に移し込んでいる最中はCPU1とRAM6
、被試験ROM7とは電気的に分離されているので、C
PU1はシステムROM/RAM4とマスタROM5と
を動作して他の仕事をも行なうことが可能となる。
Furthermore, in this case, while the data under test, @ROM7, is being transferred to RAM6, CPU1 and RAM6
, since it is electrically isolated from the ROM7 under test.
The PU 1 can operate the system ROM/RAM 4 and the master ROM 5 to perform other tasks.

以上詳述したようにこの考案によれば被試、験ROMの
データをランダムなアドレス指定によって検査すること
ができるものにおいてソフトの負担が増大することがな
く、かつ構成が簡単なROMチェッカーを提供できるも
のである。
As detailed above, this invention provides a ROM checker that can check the data of the ROM under test by specifying random addresses, does not increase the burden on the software, and has a simple configuration. It is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図はこの考案の実施例を示すブロック図である。 1・・・CPU (中央処理ユニット)、4・・・シス
テムROM/RAM、5・・・マスタROM、6・・・
RAM、7・・・被試験ROM、11・・・マルチプレ
クサ、24・・・カウンタ、25・・・接点操作ボード
The figure is a block diagram showing an embodiment of this invention. 1...CPU (Central Processing Unit), 4...System ROM/RAM, 5...Master ROM, 6...
RAM, 7... ROM under test, 11... Multiplexer, 24... Counter, 25... Contact operation board.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 中央処理ユニットと、この中央処理ユニットにデータバ
ス及びアドレスバスを介して接続されたマスクROMと
、前記中央処理ユニットにデータバス及びアドレスバス
を介して接続されたRAM及び被試験ROMと、前記中
央処理ユニットに制御され所定周波数のカウント信号を
カウントしてパラレルなカウント出力を送出するカウン
タと、このカウンタのカウント出力をランダムなカウン
ト出力に変更する接点操作ボードと、前記アドレスバス
中に介挿される前記中央処理ユニットに制御されてその
中央処理ユニットからのアドレス指定信号により前記R
AMのアドレス指定を行うか、前記接点操作ボードを介
して入力されるカウント出力により前記RAM及び被試
験ROMのアドレス指定を行うか切換えるマルチプレク
サとを設け、前記中央処理ユニットは前記マルチプレク
サを制御してカウント出力により前記RAM及び被試験
ROMのアドレス指定を行って前記被試験ROMのデー
タを読出して前記RAMに格納し、その後アドレス指定
信号により前記RAM及びマスクROMのアドレス指定
を行って両者のテ゛−タ比較を行うことを特徴とするR
OMチェッカー
a central processing unit; a mask ROM connected to the central processing unit via a data bus and an address bus; a RAM and a ROM under test connected to the central processing unit via a data bus and an address bus; A counter that is controlled by a processing unit and counts a count signal of a predetermined frequency and sends out a parallel count output, a contact operation board that changes the count output of this counter to a random count output, and is inserted in the address bus. Under the control of the central processing unit, the R
a multiplexer for switching between addressing the RAM and addressing the RAM and the ROM under test based on the count output inputted through the contact operation board; and the central processing unit controls the multiplexer. The RAM and the ROM under test are addressed by the count output, data in the ROM under test is read out and stored in the RAM, and then the RAM and mask ROM are addressed by the address designation signal to read the data from the ROM under test and read the data from the ROM under test. R is characterized by performing data comparison.
OM checker
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