JPS59161855A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS59161855A
JPS59161855A JP3760083A JP3760083A JPS59161855A JP S59161855 A JPS59161855 A JP S59161855A JP 3760083 A JP3760083 A JP 3760083A JP 3760083 A JP3760083 A JP 3760083A JP S59161855 A JPS59161855 A JP S59161855A
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JP
Japan
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semiconductor chip
copper
thermal expansion
plate
auxiliary support
Prior art date
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Pending
Application number
JP3760083A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Iwama
岩間 敏男
Tadashi Sakagami
阪上 正
Kazutoyo Narita
成田 一豊
Noboru Kawasaki
昇 川崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Power Semiconductor Device Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Haramachi Electronics Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Haramachi Electronics Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP3760083A priority Critical patent/JPS59161855A/ja
Publication of JPS59161855A publication Critical patent/JPS59161855A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3737Organic materials with or without a thermoconductive filler
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は半導体装置に係り,特に,ろう材の熱疲労特性
を高めた車両用半導体装置に関するものである。
〔発明の背景〕
従来より一般に用いられている車両用半導体装置の例を
取り、ろう材の熱疲労特性を図を用いて説明する。
第1図は当該半導体装置の平面図である。
第1図において,正極となる放熱電極板1の各凹部1a
に整流方向を揃えて半導体チツプが配置され,他方負極
となる放熱電極板2の各凹部2aにも放熱電極板1の場
合とは逆の整流方向に方向を揃えて半導体チツプが配置
され,それぞれの半導体チツプを各放熱電極板1,2に
固着された端子台3,4の入力端子5,6に電気的に接
続した構成となつている。
以下,第1図のA−A切断線に沿う断面図を用いて従来
装置の具体的構成例を説明する。
第2図において,放熱電極板2に予じめプレス加工等に
より凹部2aを形成しておき,ここに半導体チツプ7,
リード電極8をろう材9a,9bを介して順次固着する
。リード電極8の半導体チツプ7との固着部はヘツダー
形状となつており,中間にはクツシヨン部8aが設けら
れている。半導体チツプ7の表面保護材としてシリコー
ンゴム10が凹部2aに充填される。リード電極8の上
端部はエポキシ樹脂等からなる端子台4に保持された入
力端子6とろう材11で接続されている。尚,放熱電極
板2と端子台4は固着用リベツト等で機械的に固着され
ている。
又、第3図に示す従来例では,凹部2aと半導体チツプ
7の間に銅よりなる凹状補助支持板12が介在され、相
互間はろう材9a,9cで固着されると共にリード電極
8の所謂Sベント部8bが半導体チツプ7にろう材9b
により固着されている。
上記従来装置において,運転動作時には装置温度が上昇
し。停止時には装置温度が低下するので車両の運転につ
れて、装置には温度サイクルが繰り返し加わることにな
る。
温度サイクルが加わつた時,構成部品間の熱膨張係数差
によつて,各部品を結合しているろう材9a〜9cには
,半導体チツプ7の主表面と平行な方向のせん断応力と
半導体チツプ7の主表面と垂直な方向の引張又は圧縮の
荷重が連続して加わることになり,ろう材9a〜9cの
熱疲労を招くことになる。ろう材9a〜9cの熱疲労寿
命は装置自身の寿命に直接影響する重要な項目であり,
熱疲労特性を向上させるには,上記したせん断応力,引
張又は圧縮の荷重を小さくしなければならない。
ろう材個々の熱疲労寿命Nfは下式で表わされる。
Nf=B/(Δγ+A・Δσ)2…(1)Δγ:せん断
応力の振幅 Δa:荷重(引張又は圧縮)の振幅 A,B:定数 せん断応力の振幅Δγの主な要因は,部材の熱膨張係数
,温度上昇,ろう材の厚さ, 部材のろう材との固着面の寸法等があり,荷重の振幅Δ
σの主な要因として,部材の熱膨張係数,温度上昇,部
材の固着面積等がある。即ち,せん断応力,荷重を小さ
くするには、部材間の熱膨張係数差,温度上昇をそれぞ
れ小さくする必要があり、両従来装置についてみると、
ろう材9a,9bについて、このような対策を施す必要
があることになる。
第2図に示す従来装置は、端子台4が大きな熱膨張係数
を持つているため、リード電極8の中間にクツシヨン部
8aを設けることにより,荷重を吸収せしめ、もつて熱
疲労寿命の向上を狙つたものである。一方、せん断応力
についてみると、放熱電極板2が銅ペアルミニウム等の
熱伝導性の良いものが用いられている場合、温度上昇は
小さく、寿命向上は期待できるが、熱膨張係 数の差は無視できず、大した寿命向上成果は得られない
。放熱電極板2として鉄を用いる場合、熱膨張係数の点
では、銅、アルミニウムより優位であり、熱伝導性でも
、装置自身の電流容量が小さい領域では、ろう材9a,
9bのせん断応力がバランスするので実用上は問題はな
り。しかしながら,電流容量が大きくなり、半導体チツ
プ7での発熱量が大きくなると、熱膨張差,装置自体の
温度上昇、が大きくなつて、ろう材9aが受けるせん断
応力はろう材9bの受けるせん断応力に比して大きくな
り、寿命が低下する問題がある。
又、第3図に示す従来装置は、補助支持板12を良熱伝
導性ある材質のものを用い,熱拡散板的な役目を持たせ
ることにより温度上昇の低下を狙つたものであるが、半
導体チツプ7と補助支持板12の熱膨張係数の差は、大
容量化するに従つて無視できなくなる。又、Sベンド部
8bの応力緩和効果は第2図に示したクツシヨン部8a
のそれに較べて小さく、しかも、シリコーンゴム10内
に位置しているため、シリコーンゴム10を荷重による
伸び縮み時に破損し易く、表面保護機能を失わせ易い問
題があつた。
〔発明の目的〕
それゆえ、本発明の目的は、装置の耐熱疲労特性に優れ
、寿命の長い半導体装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、前記した従来装置の欠点の解決策として、熱
膨張係数は半導体チツプのそれに近く、熱伝導率は銅の
それに近い材料を補助支持板として用い,リード電極と
しては中間にクツシヨン部を有するヘツダー状のものを
用いることを特徴としている。
補助支持板は、鉄とニツケルの合金板の両面に銅板が例
えば熱間圧延等により一体化されたクラツド材や銅マト
リクス中に炭素繊維を埋設した複合材が有効である。
〔発明の実施例〕
以下,本発明を一実施例を示す図面に従つて説明する。
第4図は本発明になる車両用半導体装置を示しており,
第1図〜第3図に示したものと同一物・相当物には同一
符号を付けている。
第4図において,銅−鉄・ニツケル合金板−銅のクラツ
ド板あるいは銅マトリクスに炭素繊維を埋設した複合板
に予じめプレス加工等により凹状とし,ニツケルメツキ
を行つて得た補助支持板12を用意し、半導体チツプ7
、リード電極8、ろう材9a,9bを図示の如く順次セ
ツトした後、ろう材9a,9bの融点以上に加熱して相
互間を固着し、半導体チツプ7の表面保護材としてシリ
コーンゴム10を充填する。次に、放熱電極板2の凹部
2aにろう材9c上記の過程を経た補助支持板12を図
示の如く順次セツトし,再び,ろう材9cの融点以上に
加熱する。
次に,リード電極8の上端部を端子台4に保持された入
力端子6とろう材11で接続し、最後に,放熱電極板2
と端子台4をリベツト等で固着することで製作は完了す
る。
自動車等の全波整流回路部品として用いる場合,交流発
電機に取付け、三相結線を行つてから、入力端子6の他
方端に交流発電機の出力端子を接続する。放熱電極板1
,2は直流出力端子となる。
荷重はクツシヨン部8aで吸収されるため、荷重による
ろう材9a,9bの寿命低下はない。せん断応力につい
ては、補助支持板12が低熱膨張係数、良熱伝導性を有
しているため、大容量化してもろう材9aに加わるせん
断応力は低い。ろう材9bに加わるせん断応力はリード
電極8のヘツダー状固着部の寸法が小さいので、あまり
大きくない。従つて、ろう材9a,9bに加わるせん断
応力のバランスは良い。更にろう材9cについては、温
度上昇が放熱電極板2自体によつて低くなつているから
、問題はない。従つて、全ろう材9a〜9cの熱疲労特
性は向上しており、長寿命の半導体装置が得られる。
補助支持板12について、第5図、第6図を引用して説
明する。
第5図では銅−鉄・ニツケル−銅のクラツド材になるも
のが示されている。予じめ、鉄とニツケルの合金板12
aを形成し、その両側に銅板12bを800〜1000
℃で熱間圧延して得ることができる。鉄・ニツケル合金
12aは熱膨張係数低下,銅12bは熱伝導率向上のた
めに組合わされるものであり。補助支持板12としての
熱膨張係数,熱伝導率は、鉄・ニツケル合金12a,銅
12bの比率を変えることで調整できる。
第6図では銅マトリクス12dに炭素繊維12cを埋設
したものが示されている。炭素繊維12cに銅をメツキ
したものの束を用意し、この束に銅スラリーを含浸せし
めてから、ホツトプレスして得られる。炭素繊維12c
は熱膨張係数低下,銅マトリクス12dは熱伝導率向上
のために組合わされたのであり、炭素繊維12c,銅マ
トリクス12dの組成比を変えることにより補助支持板
12の熱膨張係数,熱伝導率を調整することができる。
第7図は本発明の他の実施例を示している。
第7図で第4図に示したものと同一物,相当物には同一
符号を付けている。
この実施例では、補助支持板12は凹状でなく平板状と
なつており、シリコーン・ゴム10は放熱電極板2の凹
部2a内に充填されている。
このような構成でも、補助支持板12は熱拡散板的役目
を充分に果すので、長寿命が得られる。
以上説明した実施例12係らず、各種の形状、材料から
なる補助支持板が利用できる。
〔発明の効果〕
以上述べた様に、本発明によれば、耐熱疲労特性に優れ
、長寿命の半導体装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の車両用半導体装置の平面図,第2図,第
3図は第1図のA−A切断線に沿つた断面図,第4図は
本発明の一実施例を示す断面図,第5図,第6図は第4
図に示された補助支持板の拡大図,第7図は本発明の他
の実施例を示す断面図である。 2…放熱電極板 2a…凹部 4…端子台6…入力端子
 7…半導体チツプ 8…リード電極 8a…クツシヨン部 9a〜9c…ろう材 10…シリコーン・ゴム11…ろ
う材 12…補助支持板 代理人 弁理士 高橋明夫

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.放熱電極板の凹部にろう材を介して補助支持板,半
    導体チツプ,リード電極が順次固着され,リード電極の
    半導体チツプとは反対側の先端部が放熱電極板に固着さ
    れた絶縁物からなる端子台の入力端子と接続され,半導
    体チツプは表面保護材で被れている半導体装置において
    ,補助支持板は熱膨張係数が半導体チツプのそれに近く
    熱伝導率が銅のそれに近い材料からなり。 リード電極は表面保護材と先端部の間にクツシヨン部を
    有し半導体チツプへの固着部がヘツダー状となつている
    ことを特徴とする半導体装置。
  2. 2.上記第1項において,補助支持板は鉄・ニツケル合
    金板の両面に銅板が一体化されているクラツド材あるい
    は銅マトリクス中に炭素繊維を埋設した複合材からなる
    ことを特徴とする半導体装置。
JP3760083A 1983-03-07 1983-03-07 半導体装置 Pending JPS59161855A (ja)

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JP3760083A JPS59161855A (ja) 1983-03-07 1983-03-07 半導体装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63252457A (ja) * 1987-04-09 1988-10-19 Toshiba Corp 半導体整流素子
US8083611B2 (en) 2008-11-05 2011-12-27 Sri Sports Limited Putter-type golf club head

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