JPS59160248A - プログラムテスト装置 - Google Patents

プログラムテスト装置

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Publication number
JPS59160248A
JPS59160248A JP58035039A JP3503983A JPS59160248A JP S59160248 A JPS59160248 A JP S59160248A JP 58035039 A JP58035039 A JP 58035039A JP 3503983 A JP3503983 A JP 3503983A JP S59160248 A JPS59160248 A JP S59160248A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
branch instruction
address data
program
register
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58035039A
Other languages
English (en)
Inventor
Haruo Takagi
高木 治夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Tateisi Electronics Co
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tateisi Electronics Co, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Tateisi Electronics Co
Priority to JP58035039A priority Critical patent/JPS59160248A/ja
Publication of JPS59160248A publication Critical patent/JPS59160248A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/36Preventing errors by testing or debugging software

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の分野 この発明はプログラムテスト装゛誼に関し、特に、分岐
命令を含むプログラムを実行したとき、その分岐命令の
実行を示すC1カバレージ指標を収集してプログラムを
テストするようなプログラムテスト装置に関する。
発明の背景 従来よりコンピュータのプログラムが正常に実行し得る
か否かをテストするためには、作成されたプログラムを
デバッギングしてバグ出しを行なう必要がある。しかし
、このようなデバッギングを行なうためには、大形のコ
ンピュータなどを必要とし、簡単にプログラムのテスト
を行なうことができなかった。
一方、最近ではプログラムテスト(またはデバッグ)の
完全性をチェックするために、プログラムがどう実行さ
れたかというよりも、むしろプログラム中のどの部分が
まだ実行されていないかをより効率的な手法によって明
らかにする必要性が生じてきた。そのようなプログラム
のテストの1手法としてカバレージ分析がある。カバレ
ージ分析のうち複数のステップを含むプログラムにおい
て、少なくとも1回以上実行されたステップの数の割合
のことを01カバレージ指標と称されている。このよう
なC1カバレージ指標を収集できればより簡単かつ効率
的にプログラムをテストできる。しかし、プログラムの
モジュール化、N層化。
共用化が進むと、すべてのプログラムについてC1カバ
レージ指標を収集する必要はない。すなわち、所望のプ
ログラムエリアのみの01カバレージ指標を収集できれ
ば充分である。しかしながら、プログラムの構造上、所
望のエリアはシーケンシャルではなくとびとびすなわち
ランダムに点在していることがある。このようなランダ
ムに点在している所望のエリアの01カバレージ指標を
収集できればその解析処理を短くできるが、そのような
プログラムテスト装置は従来にはなかった。
発明の目的 それゆえに、この発明の主たる目的は、プログラムに含
まれる所望の分岐命令を指定して、そのC1カバレージ
指標を収集できるようなプログラムテスト装置を提供す
ることである。
発明の構成および効果 この発明を要約すれば、テストすべき所望の分岐命令の
アドレスデータを指定し、指定されたアドレスデータと
中央処理手段が分岐命令を実行したときに出力されるア
ドレスデータとが一致しているか否かを判別し、一致し
ていれば中央処理手段から出力された分岐命令のアドレ
スデータを記憶するように構成したものである。
したがって、この発明によれば、プログラムを実行する
中央処理手段から直接分岐命令の実行の有無を表わすC
1カバレージ指標を収集でき、プログラム品質の確認と
向上とを図ることができる。
また、テストすべき所望の命令を指定できるので、プロ
グラムの標準化、m層化、構造化などにより既にデパツ
ギングの完了したエリアについてはC1カバレージ指標
の収集範囲から除外することによって、分岐命令がプロ
グラム内に点在していても所望の01カバレージ指標の
みを入手できる。
そして、収集したC1カバレージ指標の解析処理時間も
短くできる。
以下に、図面に示す実施例とともにこの発明をより詳細
に説明する。
実施例の説明 第1図はこの発明の一実施例の概略ブロック図である。
まず、第1図を参照して、この実施例の構成について説
明する。中央処理手段としてのCPU1は内蔵されてい
るプログラムを実行するものであって、このcpuiに
はデータバスDBとアドレスバスABとコントロールパ
スCBとが接続される。データバスDBには命令デコー
ダ2が接続される。この命令デコーダ2はcpuiがプ
5− ログラムに含まれる分岐命令を実行したときにデータバ
スDBに出力されるフェッチデータをデコードすること
により、分岐命令を検出するものである。命令デコーダ
2によって分岐命令に基づくデータがデコードされると
、そのデコード出力はフリップフロップ3とORゲート
4の一方入力端とに与えられる。
コントロールバスCBにはコントロール回路8が接続さ
れる。このコントロール回路8はcPUlがプログラム
を実行するごとにタイミング信号を出力する。このタイ
ミング信号は命令デコーダ2に与えられるとともに、デ
レー回路(DL)7を介してフリップ70ツブ3のリセ
ット入力端に与えられる。デレー回路7はタイミング信
号を1CPリサイクル期間だけ遅延するものである。し
たがって、フリップフロップ3は命令デコーダ2が分岐
命令を検出したときにセットされ、その後分岐命令によ
る行先のアドレスを出力するICPリサイクル11間経
過後にリセットされる。すなわち、フリップフロップ3
は分岐命令が出力されて6− から、その分岐命令によって分岐される行先のアドレス
が出力されるまでの間セットされている。
フリップ70ツブ3の出力はORゲート4の他方入力端
に与えられる。したがって、ORゲート4は分岐命令が
出力されてから、その分岐命令による行先のアドレスが
出力されるまでの間ハイレベルの信号をANDゲート5
の一方入力端に与える。
ANDゲート5の他方入力端にはコントロール回路8か
らタイミング信号が与えられる。したがって、ANDゲ
ート5は分岐命令が出力されてから、その分岐命令によ
る行先のアドレスが出力されるまでの間タイミング信号
をレジスタ9に与える。一方、アドレスバスABにはバ
ッファレジスタ6が接続される。このバッファレジスタ
6にはコントロール回路8からタイミング信号が与えら
れている。したがって、バッファレジスタ6はタイミン
グ信号に基づいて、cpuiからアドレスバスABに出
力されたアドレスデータを一時記憶する。バッファレジ
スタ6に一時記憶されたアドレスデータはマルチプレク
サ9に与えられるとともに、オーバレイメモリ12にも
与えられる。CPL113はcpuiによって実行され
たプログラムをテストするためのものであって、このC
PU13のアドレスバスはマルチプレクサ9に接続され
、テストすべき命令に対応するアドレスデータを出力す
る。CPU13から書込読出指令信号がマルチプレクサ
9に与えられる。この書込読出指令信号はマルチプレク
サ9の入力をレジスタ6側またはcpul 3側に切換
えるためのものである。
マルチプレクサ9で選択されたアドレスデータはメモリ
10に与えられる。このメモリ10はCPu1がたとえ
ば8ビツトであれば64 K x 1 bitの記憶I
I域を有していて、テストすべき命令のアドレスに対応
する番地にたとえば論W!rlJが設定される。そして
、レジスタ6に記憶されているアドレスデータによって
対応する番地が指定されたとき、ハイレベルの信号がA
NDゲート11の一方入力端に与えられる。このAND
ゲート11の他方入り端にはコントロール回路8からタ
イミング信号が与えられ、その出力は書込許可信号とし
てオーバーレイメモリ12に与えられる。
第2図および第3図は分岐命令のアドレスとメモリ10
との対応間係を示す図であり、第4図および第5図はこ
の発明の一実施例の動作を説明するためのフロー図であ
る。
次に、第2図ないし第5図を参照して、この発明の一実
施例の具体的な動作について説明する。
まず、CPU13は書込指令信号をマルチプレクサ9に
与えてその入力をCPU13のアドレスバス側に切換え
る。その結果、メモリ1oはCPU13からのアドレス
データによって所望の番地が指定される。すなわち、C
PU13は第4図に示すように、まずメモリ10のすべ
てのエリアをクリアし、その慢テストすべき分岐命令に
対応する番地に論11MJを設定する。その侵、CPU
 13はマルチプレクサ9に読出指令信号を与えて、そ
の入力をレジスタ6側に切換える。
CPU1は分岐命令を実行すると、データバスDBに7
エツプデータを出力する。命令デコーダ2はCPU1か
らデータバスDBを介して出力さ9− れるフェッチデータをデコードし、そのデコード出力で
7リツプ70ツブ3をセットする。また、このデコード
出力はORゲート4を介してANDゲート5に与えられ
、このANDゲート5を開く。
ANDゲート5はコントロール回路8からのタイミング
信号をレジスタ6に与える。したがって、レジスタ6に
はcpuiからの分岐命令に対応するアドレスデータが
記憶される。次のCPUサイクルにおいて、分岐命令に
よって指定される行先のアドレスデータがバッファレジ
スタ6に記憶されるが、このときまだフリップ70ツブ
3がリセットされていないので、ANDゲート5は次の
タイミング(Il!号をレジスタ14に今える。したが
って、レジスタ14は分岐命令に対応するアドレスデー
タと分岐命令に基づく行先のアドレスデータとを記憶す
る。
デレー回路7はコントロール回路8から出力されたタイ
ミング信号をlCPUサイクル期間だけ遅延してフリッ
プ70ツブ3をリセットする。フリップ70ツブ3がリ
セットされたことにより、10− ORゲート4を介してANDゲート5にローレベルの信
号が与えられ、このゲートが閉じられる。
したがって、レジスタ14には分岐命令が出力されたと
きのその分岐命令に対応するアドレスデータと分岐命令
に基づく行先のアドレスデータとが記憶されることにな
る。レジスタ14に記憶された分岐命令のアドレスデー
タはマルチプレクサ9を介してメ[す10に与えられる
。メモリ10はアドレス指定された番地からデータを読
出す。読出されたデータが論理「0」のとき、すなわち
CPU1の実すテした命令がテストすべき命令でないと
きにはA N I)ゲー1−11が閉じられ、オーバレ
イメモリ12にl送信号が与えられない。しかし、メモ
リ10からテストすべき命令に対応する番地から論理「
1]のデータが読出されると、ANDゲート11は1送
信号をオーバレイメモリ12に与える。したがって、オ
ーバレイメモリ12はレジスタ14に記憶されている所
望の分岐命令のアドレスデータを記憶する。
上述のごとく、この実施例によれば、オーバレイメモリ
12には所望のテスト寸べき分岐命令のアドレスデータ
すなわちC1カバレージ指標のみが記憶されるので、オ
ーバレイメモリ12の内容を解析することによって、容
易にプログラムのテストを行なうことができる。
なお、上述の実施例ではCPLllを8ビツトとして構
成し、メモリ10を64にバイトx1b目のエリアを有
するものとしたが、第2図に示すようにCPtJlが1
6ビツトであれば21 G x 1bitのエリアを有
するRAMを用いればよい。また、CPLJlから出力
される分岐アドレスがA。
ないしAzoであれば上位の16ビツトをメモリ10に
対応させればよい。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例の概略ブロック図である。 第2図および第3図は第1図に示すCPUとメモリとの
対応関係を説明するための図である。第4図および第5
図はこの発明の一実施例の具体的な動作を説明するため
のフロー図である。 図において、1はCPU12は命令デコーダ、3はフリ
ップ70ツブ、4はORゲート、5はANDゲート、6
はレジスタ、7はデレー回路、8はコントロール回路、
9はマルチプレクサ、10はメモリ、12はオーバレイ
メモリ、13はCPU114はレジスタを示す。 13− 第2図      第3図 第4図 第5図 スタート γaCrt、+ cr帽較 狡工 No  紅!8座・ オーツτしイメモリ 269−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 複数の分岐命令を含むプログラムにおいて、前記プログ
    ラムを実行したときに前記分岐命令が正常に実行された
    か否かを示すC1カバレージ指標を収集するためのプロ
    グラムテスト装置であって、前記プログラムを実行した
    ときに、前記分岐命令とその分岐命令によって指定され
    る行先のそれぞれのアドレスデータを出力するための中
    央処理手段、 前記中央処理手段が前記分岐命令を実行したときに出力
    するデータをデコードするデコーダ、前記分岐命令とそ
    の分岐命令によって指定される行先のそれぞれを表わす
    アドレスデータを記憶するための記憶手段、 前記記憶手段に記憶すべき分岐命令のアドレスデータを
    指定するためのアドレスデータ指定手段、前記アドレス
    データ指定手段で指定されたアドレスデータと前記記憶
    手段に記憶されているアドレスデータとの一致を判別す
    る判別手段、および前記判別手段の一致判別出力に応じ
    て、前記中央処理手段から出力される前記分岐命令のア
    ドレスデータを前記記憶手段に記憶させるための制御手
    段を備えた、プログラムテスト装置。
JP58035039A 1983-03-03 1983-03-03 プログラムテスト装置 Pending JPS59160248A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58035039A JPS59160248A (ja) 1983-03-03 1983-03-03 プログラムテスト装置

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58035039A JPS59160248A (ja) 1983-03-03 1983-03-03 プログラムテスト装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59160248A true JPS59160248A (ja) 1984-09-10

Family

ID=12430902

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58035039A Pending JPS59160248A (ja) 1983-03-03 1983-03-03 プログラムテスト装置

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