JPS59157522A - 振動測定装置 - Google Patents

振動測定装置

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Publication number
JPS59157522A
JPS59157522A JP3162083A JP3162083A JPS59157522A JP S59157522 A JPS59157522 A JP S59157522A JP 3162083 A JP3162083 A JP 3162083A JP 3162083 A JP3162083 A JP 3162083A JP S59157522 A JPS59157522 A JP S59157522A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
vibration
circuit
signal
voltage
Prior art date
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Pending
Application number
JP3162083A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinobu Omae
大前 義信
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP3162083A priority Critical patent/JPS59157522A/ja
Publication of JPS59157522A publication Critical patent/JPS59157522A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01HMEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
    • G01H9/00Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves by using radiation-sensitive means, e.g. optical means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ((イ)産業上の利用分野 この発明は、振動測定装置、特にセンサ部に空間フィル
タを用いた振動m+j定装置に関する。
(0)背景 従来」:すh 1iill定物の振動を測定するのに、
動電形振動センサや圧電形振動センサを用いた振動測定
装置が(重用されている。しかし、これら従来の振動測
定装置に用いられる振動センサはいずれも機械歪を電気
78号に変換するものであるから、電気的、@気的な誘
導による影響を受けやすく、また防爆性にも%tがある
という欠点があった。そのため高粘度な振動測定や、防
爆性がシビアに要求される特殊環境下での測定には適さ
ず、これらの点で問題のない全く新たな原理の振動測定
装置の開発が望寸れていた。
(/1目的 この発明の目的は、振動を乱すことなく安全。
防爆性全有する振動測定装置を提供するにある。
(勾(苗1戊 」二記1」的をS成するために、この発明の振動測定装
Ftは、センサ部全光学手段で構成している。
すなわちこの発明の振動測定装置は波測定物の振動端面
に照明光を投射する光源と5前記振動端而に対面し、前
記1Ilu測定物の振動により周波数変調された光信号
を検出する空間フィルタと、この空間フィルタで検出さ
れた周波数変調光全電気信号に変換する光電変換手段と
、この光電変換手段よ ・り出力される周波数変調信号
全復調する復調回路と、この復調回路の復調信号の振幅
より前記θU測定物の振動振幅を検出する振動4’bi
幅検出回路と。
前記復W1M回路の′D調信号の周波数より前記〜U測
定物の振1jj周波数を検出する振動周波数検出回路と
で構成されている。
(IJ1実施例 以下、実施例によりこの発明の詳細な説細する。
第1図はこの発明の一実施例を示す振動測定装置のブロ
ック図である。同図において1は被測定振動体であり、
矢符Aの方向に振動する。敲測定物1の端面には、照明
用光源駆動回路2によシ駆動される発光ダイオード3よ
シの発光が照明用光ファイバ4を介して照射されるよう
に構成されている。
5は多数の細径のファイバを一列(あるいは2(3) 次元的)に配列してなる空間フィルタである。照明用光
ファイバ4より被(固定物1の端面に照射された光は被
測定′吻1の端面で反射して、レンズ6を介して空間フ
ィルタ5に入力される、空間フィルタ5ば、被測定物1
の端面に生しる種々の光学的模様のうち、細径ファイバ
の配列ピンチに等しいピッチの模様のみをギャノチする
ものである6、この空間フィルタ5にギャッチされる光
信号は。
被(固定物1の振動にJ二り周波数変調を受ける1、7
は、空間フィルタ5よりの周波数変調光を伝送する光フ
ァイバ、8け光ファイバ7J:りの周波数変調光を受け
て市気悟号に変換するホトダイオード、9は変換された
電気信+3(周波数変調信号)を増幅する九′を匡変換
増幅回路、10は周波数変調信号を復調するF1vI復
調回路、11d復調イバ号を1/2に分周する分周回路
、12は分周回路11の出力信号の周波数を′電圧信号
に変換する周波数・′「は圧変換回路、15はFM復調
信号のピーク値を検出するピーク値検出回路、14はピ
ーク値検出回路で検出されたピーク値′市[]:、を周
波数・電圧変(4) 換回路12の出力電圧で除算して振動振幅値を算出する
振幅演算回路である。
なお上記において、空間フィルタ5とレンズ6で光7フ
イバアレイ空間フィルタ応用の振動センサを形成し、ホ
トダイオード8以師の回路は信号処理部を形成する。そ
して振動センサは被測定振動領域に置かれ、照明用光源
と撮動センザ聞及び振動センサと信号処理部間は、上記
した光ファイバ4及び7で結合される。
次に以上のように構成される実施例振動測定装置におけ
る動作について説明する。
今、被測定物1が周波数f s、振幅Uoで振動してい
るとすると、すなわち振動信号がUosin(27Cf
st)であるとすると、空間フィルタ5の前方を通過す
る被測定物1の速度は、上記振動信号の時間微分した値
となり、  2’KfsUoCOS(2714St)f
表わせる。それゆえ被測定物1の振動によって空間フィ
ルタ5にギャッチされる振動端面のランダム光信号は2
冗fsUocOs(2冗fst)に対応した周波数成分
を有する。す々わち被測定物1の空間フィルタ5前を通
過する速さに」:り周波数変調を受ける。この周波数変
調を受けた光は空間フィルタ5より、光ファイバ7を経
てホトダイオード8に加えられ′F程気気1号に変換さ
れる。この信号は光電変換増幅回路9で増幅されるが、
その出力波形すなわち周波数変調された信号波形は第2
図(a)に示すものとなる。この周波数変調された信号
をF IVI復調回路10で復調すると、第2図(1)
)に示す波形の信号が得られる。この後調信号の振幅は
被測定物1が空間フィルタ5の前方を通過する速さの変
化に対応して変化するものであるから、被測定物1の1
振動に対して2周期の変化が生じる。しだがって、この
信号の周波数を分周回路11で1/に分周することによ
り、被測定物1の振動周波数fsに等しい周波数の信号
が得られる。そのだめ2分周回路11より出力される周
波数信号を周波数・電圧変換回路12で電圧信号に変換
することにより、被測定v/J1の振動周波数f、に応
じた電圧V(fS)を得ることができる。
一方、FM復調回路1oより出力される復調信号の最大
振幅は、空間フィルタ前方を通過する被測定物1の速さ
、すなわぢ2zfsUoに比例するものであるから、復
調信号のピーク値をピーク値検出[11路13で検出す
る。ピーク値検出回路13で検出されたピーク値に対応
する電圧V(2xfsUO)が振幅演算回路14に加え
られる。振幅演算回路14には2周波数・電圧変換回路
12から振動周波数1’sに対応した電圧V (fs)
も人力されているので、振幅演算回路14は電圧V(2
′1r、fSUo)を電圧V(fS)で除算して、被測
定物1の振動振幅UOにのみ対応した電圧V(Uo)が
出力される。
以」二のようにして、被測定物1の振!1111娠幅U
と振動周波数fsを測定することができる。
々お上記実施例において、被測定物の振幅方向に対して
振動センサの光軸が直角になるようにしているが、必ず
しも直角にする必要はなく、直角以外の角度である場合
には、信号処理部の演算回路で演算の際若干の考慮をす
ればよい。
また被測定物の形状によって、被測定物に対して空間フ
ィルタを対面でき得ない場合には、被測定物の適所に空
間フィルタと対面させ、照明光を照射する検出用突起物
を取り伺けてもよい。
(へ)効果 この発明の振!l1II測定装置によれば、振動センサ
に空間フィルタを用い、少なくともセンサ部では全て光
学的に信号処理を行なっているので1本質的に安全防爆
であるとともに′電磁雑音に強い振動測定装置を得るこ
とができる。寸だ被測定物の振動端面に空間フィルタを
対面配置でき得る場合には、振動センサは被測定物に非
接触であるだめ。
振動センサにより何ら振動を乱すことがない。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す振動測定装置のブロ
ック図、第2図は第1図に示す同振動測定装置の動作を
説明するだめの波形図である。 1:被測定物、  2;照明用光源駆動回路。 6:発光ダイオード、  4・7二光フアイバ。 5:空間フィルタ、  8:ホトダイオード。 9−光′厖変換増幅回路、   10:FM復調回路。 11:分周回路、  12:周波数・電圧変換回路、 
 13: ピーク値検出回路。 14:振幅演算回路。 特許出願人     株式会社島津製作所代理人  弁
坤士  中 杓 茂 信

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)波測定物の振動端面に照明光を投射する光源と、
    前記振動端面に対面し、前記彼測定物の振動によシ周波
    数変調された光信号を検出する空間フィルタと、この空
    間フィルタで検出された周波数変調光を電気信号に変換
    する光電変換手段と、この光電変換手段より出力される
    周波数変軸信号を復調する復調回路と、この復調回路の
    復調愕号の振幅より前記岐測定物の振動振幅全検出する
    振動振幅検出回路と、前記痩調回路の復調信号の周波数
    よシ前記彼測定物の奈動周波Jli、を検出する振動周
    波数検出回路とよりなる振動測定装置。
JP3162083A 1983-02-25 1983-02-25 振動測定装置 Pending JPS59157522A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0669163U (ja) * 1993-03-03 1994-09-27 石田プレス工業株式会社 液垂れ防止用の瓶蓋
CN109374110A (zh) * 2018-10-15 2019-02-22 北京航天控制仪器研究所 一种基于光纤振动传感系统的自学习装置及方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0669163U (ja) * 1993-03-03 1994-09-27 石田プレス工業株式会社 液垂れ防止用の瓶蓋
CN109374110A (zh) * 2018-10-15 2019-02-22 北京航天控制仪器研究所 一种基于光纤振动传感系统的自学习装置及方法
CN109374110B (zh) * 2018-10-15 2021-03-26 北京航天控制仪器研究所 一种基于光纤振动传感系统的自学习装置及方法

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