JPS59136979A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPS59136979A
JPS59136979A JP58010356A JP1035683A JPS59136979A JP S59136979 A JPS59136979 A JP S59136979A JP 58010356 A JP58010356 A JP 58010356A JP 1035683 A JP1035683 A JP 1035683A JP S59136979 A JPS59136979 A JP S59136979A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
section
package
reference plates
reference plate
envelope
Prior art date
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Pending
Application number
JP58010356A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuo Suzuki
信雄 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58010356A priority Critical patent/JPS59136979A/ja
Publication of JPS59136979A publication Critical patent/JPS59136979A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は半導体装置に係わり、特に半導体素子の感光部
の位置が外囲器の基準板により正確に位置合わせされた
半導体装置に関する。
〔発明の技術的背景〕
従来、半導体装置例えば固体イメージセンサとしでは第
1図及び第2図に示すものが知られている。1 図中の1は、例えば表面に凹部2を有するセラミックか
らなる外囲器本体である。この凹部2の底面には、光入
射によシミ気信号を出力する例えばCCDイメージセン
サのチツf3が載置されている。前記外囲器本体lの対
向する側壁    ′には、複数のり−ド4・・・が設
けられている。同外囲器本体lには2つの貫通穴5,5
が開孔されている。同外囲器本体lの凹部周縁部6表面
には、ガラス板7が封着されている。
ところで、前述した固体イメージセンサを使用するとき
は、被写体をピントのずれなく撮像するだめイメージセ
ンサを結像光学系(レンズ)に対して所定の位置に置く
ことが必要である。
しかるに、固体イメージセンサの位置調整をその都度行
うことは手間がかかるため、従来、チップ3を外囲器本
体1に開孔された貫通孔5゜5を基準として固着し、該
貫通孔5,5を基準としてレンズに対する固体イメージ
センサの位置調整を行なったり、あるいはガラス板7を
チップ3に対して所定の位置にくるように封着し、該ガ
ラス板7の側辺を基準としてレンズに対する固体イメー
ジセンサの位置調整を行なったりした。
〔背景技術の問題点〕
しかしながら、前者の場合、外囲器本体lがセラミ、り
からなるため、該外囲器本体lを焼結により製造すると
き収縮し、もって正確な寸法精度が得らない。したがっ
て、チップ3を外囲器本体lの舅通孔5,5を基準とし
て固着すると、個々の製品によって位置ずれを生じ、イ
メージセンサとレンズとのxy力方向位置合わせが困難
であった。また、後者の場合、チップ3に対して所定の
位置合わせがなされるようにガラス板7を封着するため
、操作が煩雑で、しかも上記と同様の問題があった。
更に、従来の固体イメージセンサの場合、ガラス板7の
厚みズレ、ガラス板7とチア13間の距離ズレ等がその
まま光路長に影響を及はすだめ、該イメージセンサをZ
軸方向に対して正確に位置合せできない。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情に説みてなされたもので、結像光学系
に対してxy力方向び2方向の位置合わせを正確かつ容
易にできる半導体装置を提供することを目的とするもの
である。
〔発明の(既製〕
本発明は、表面の凹部底面に光信号を電気信優に父換す
る半導体素子を収納した外囲器上に、結像光学系の位置
合わせに利用される枠状の光学的位置基準板を接着剤I
6を介して設けることによって、結像光学系に対してx
y力方向び2方向の位置合わせを正確かつ容易にできる
ものである。
実施例 以下、本発明の一実施例である固体イメージセンナを第
3図(a) y (b)を参照して説明する。
図中のIノは、例えば表面に凹部12を有するセラミッ
クからなる外囲器本体である。この凹部12の底面には
、光入射によシミ気信七・を出力する例えばCCDイメ
ージセンサのチップ013が載置されている。前記外囲
器本体1−1の対向する側壁には、a数のリード14・
・・が設けられている。同外囲器本体11の凹部周縁部
15表面には、透明板としてのガラス板16が例えば低
融点ガラスの粉床を介して封着されている。
こうした外囲器本体11とガラス板16からなる外囲器
17の外囲器本体1)の凹部周縁部15狼面には、枠状
の金属製の基準板(光学的位置基準板)18が厚い熱硬
化有機接着剤層ノ9を介して固着されている。前記接着
剤319は、その厚みが基準板16の上面とチップ13
間の距離が光路長となるように塗布されている。なお、
接着剤層ノ9の厚みは、塗布直後は前記光路長より十分
厚くなっている。
前述した構造のイメージセンサにおいて、外囲器17に
基準板18を固着するには第4図のようにして行なう。
まず、顕微鏡20の下方に外囲器17を載置しだ後、前
記顕微鏡20と外囲器17間の上下動可能な治具の下面
に例えば真空チャックによp基準板18を保持する。つ
づいて、顕微鏡20によりチップ13の感光部を見なが
ら、外囲器J7をxy力方向移動して該感光部が基準板
18の側辺に対して所定の位置にくるように調整する。
次いで、治具2ノを基準板18の裏面の接着剤層19が
外囲器本体1ノの凹部周縁部15表面に達するまで下方
に移動する。次に、加熱により接着剤層J9を溶融して
基準板J8を凹部周縁部15表面に固着する。この後、
治具2ノの真空を解除する。
しかして、前述した構造の固体イメージセンサによれば
、外囲器本体1ノの凹部12のチッ7”13と基準とな
るべき枠状の金属製の基準板18が接着剤層19を介し
て外囲器本体)Jと一体化しているため、従来の外囲器
本体の貫通孔を位置合わせの基準とした場合と比べ外囲
器本体の収縮に伴うズレを回避し、固体イメージセンサ
とレンズの位置合わせを基準板18の側面を基準として
正確に行なえるとともに、従来のガラス板の側辺を基準
とした場合と比ベチップの気密封止を兼ねず位置合わせ
が容易である。
また、接着剤層19は、基準板18の上面とチップl3
上面間の距離が所望の光路長と々るように基準板18の
裏面に途布されているため、チップ13のZ方向の位置
決めを正確に行なえる。
なお、本発明に係る固体イメージセンサとしては第3図
(a) + (b)図示のものに限らず、第5図に示す
如くガラス板16の周縁部上に枠状の金属製の基準板2
2を熱硬化有機接着剤層19を介してガラス板16に対
し庇状に設けた構造のもの、あるいは第6図に示す如く
外囲器本体11の凹部周縁部15上に枠状の金属製の基
準板23を熱硬化有機接着剤層J9を介してチ。
プノ3の感光部周辺を遮蔽するように設けた構造のもの
でもよい。
また、上記実施例では固体イメージセンサの位置合わせ
を基準板の側面を基準とする場合について述べたが、こ
れに限らず、基準板に貫通穴あるいは突起部を2ケ所設
け、これらを基準として位置合わせを行なってもよい。
更に、上記実施例では接着剤層として熱硬化有機接着剤
層を用いたが、これに限らず、紫外線硬化剤層やこれと
熱硬化有機接着剤層との混合物でもよい。
更には、上記実施例では光学的位置基準板として金属製
のものを用いたが、これに限らず、露出面を鞘度よぐ加
工できるものであればプラスチック製のものでもよい。
〔発明の効果〕
以上詳述した如く本発明に、よれば、結像光学系に対し
てxyZ方向び2方向の位置合ゎせを正確かつ容易にな
し得る固体イメージセンサ等の半導体装置を提供できる
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の固体イメージセンサの平面図、第2図は
第1図のX−X線に溜う断面図、第3図(a)は本発明
の一実施例である固体イメージセンサの断面図、同図(
b)は同図(a)の平面図、第4図は第3図(a)、(
b)図示の固体イメージセンサにおいて外囲器に基準板
を固着する状態を示すだめの説明図、第5図及び第6図
は夫々本発明の他の実施例を示す断面図である。 11・・・外囲器本体、12・・・凹部、ノ3・・・チ
ップ(半導体素子)、14・・・リード、15・・・凹
部周縁部、16・・・ガラス板、17・・・外囲器、ノ
8゜22 、2.7・・・金属製の基準板(光学的位置
基準板)、19・・・熱硬化有機接着剤層、20・・・
顕微鏡、2ノ・・・治具6 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第4図 第5図 第6図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)外囲器本体の凹部底面に光信号を電気信号に変換
    する半導体素子を収納し、透明板で封止した構造の外囲
    器上に、枠状の光学的位置基準板を接着剤層を介して設
    けたことttn徴とする半導体装置。
  2. (2)接着剤層の厚みを、光学的位置基準板の上面と半
    導体素子上面間の距離か所望の光路長となるように設定
    したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導
    体装置。
JP58010356A 1983-01-25 1983-01-25 半導体装置 Pending JPS59136979A (ja)

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JP58010356A JPS59136979A (ja) 1983-01-25 1983-01-25 半導体装置

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JP58010356A JPS59136979A (ja) 1983-01-25 1983-01-25 半導体装置

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JPS59136979A true JPS59136979A (ja) 1984-08-06

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JP58010356A Pending JPS59136979A (ja) 1983-01-25 1983-01-25 半導体装置

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