JPS59132354A - パイプラツプ被膜の非破壊的陰極分離試験方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術的背景 本発明は、保護被膜による金属表面の防食評価のための
方法と装置に関する。

本発明は、より詳細には金属のパイプラインにおける様
な、金属表面の反腐食保護層の陰極分離の程度を測定す
るための方法及び装置に関する。

現在においては、関連するパイプラインの外表面からの
、そこに付着している反腐食保護被膜の陰極分離の程度
を非破壊的に測定するための方法及び装置が必要とされ
ている。

金属表面は、それに接触する多くの腐食性電解質の流体
てよって悪い影響を受けている。例えば、天燃ガス及び
石油工業においては、埋設されたパイプライン及び地上
のパイプラインの両方の外表面に広範囲にわたって腐食
が生じている。

この望ましくない金属表面の腐食を減少させ、あるいは
完全に除去するために、反腐食保護被膜がパイプライン
工業において広範囲に使用されている。これらの到る所
で使用されている反腐食保護被膜は、らせん状に巻かれ
たテープ状の保護外被の形式をしばしばとっている。そ
のテープ状の保護部品は、未処置のパイプラインの外表
面に直接巻かれるか、あるいは実際には第１次の被覆を
された、即ち前処理のされたパイプラインの外表・面に
巻かれる。

反腐食パイプライン保護被膜の実効性に直接関係する重
要な測定可能なパラメータは、陰極分離のパラメータで
ある。この性質は、パイプが土壌中における陰極防食電
位にあるような場合に、保護被膜において非意図的に形
成された脱落部（ｈｏ工１ｄａｙ）　、即ち不連続部分
の周囲の陰極反応の結果として、金属表面上の反腐食保
護被膜の分離の程度として定義される。

ここにおいて用いられた陰極防食は、地中に埋設された
金属製ノミイブラインに小さなポテンシャルを与える現
象に起因する。この埋設されたパイプラインの伺与され
た陰極の状態は金属表面の腐食を制限し、防止する、 陰極分離の性質を測定するために工業的に用いられてき
た従来技術の方法には、米国におけるＡＳＴＭ／Ｇ−８
法（「パイプライン被覆の陰極分離法」）があり、また
ヨーロッパにおいて用いられた、同様の方法であるＤ工
Ｎ５Ｏ−６７０法がある。

従来方法においては、反腐食保護被膜を付着した試験用
・ξイブ片を、３０日乃至９０日の期間、塩型解質溶液
中に鮨出し、その後、保護被膜に意図的に切れ目をいれ
、ポテンシャルがその装置に与えられるようにすること
が、陰極分離した領域の決定を促進する手続きであった
。

試験期間の後、反腐食保護被膜は意図的にいれられた脱
落部の所で切断され、その脱落部の箇所から抵抗が感じ
られるところまではぎ戻されて、分離した面積の大きさ
が物理的に測定される。

従来の陰極分離測定法の主な欠点は以下の通りである。

（イ）従来方法は、物理的な破壊を伴なう。

（ロ）従来方法は、抵抗感がある場所を主観的に決定す
るため、結果の解釈が主観的なものとなる。

←・）従来方法は、各試験を終了するために長期間を必
要としており、非常に時間がかかる。

本発明は、上述の従来方法の欠点を兄事に改善したもの
であり、その重要な特徴点の幾つかは次の通りである。

（ａ）本発明に従う方法は非破壊的であって、本来の場
所において電気的測定がなされる。

（ｂ）本発明に従う方法は記録可能な電気的測定を利用
するため、従来方法で必要とされた測定者の主観的解釈
による偏りがない。

（Ｃ）陰極分離された領域の程度に関する情報は、従来
技術では３０日乃至９０日という試験期間の後に結論と
して得られていたが、１日を期間の基準として得ること
ができる。

（ｄ、）本発明に従う電気的測定によれば、試験ブータ
ラ容易にコンピュータで記憶し、処理し、検索すること
かて゛きる。

（Ｃ）＠後に、本発明に従う方法によれば、従来方法に
比べて、非常に少ないパイプ試料しか使用ずろ必要がな
い・ 発明の概要 従って、本発明の１つの目的は、反腐食保護被膜による
金属表面の防食の評価をするための方法及び装置を提供
することである。

本発明の別の目的は、金属製パイプラインにおけるよう
に、金属表面の反腐食保護層の陰極分離の程度を測定す
るための方法及び装置の提供にある。

本発明のこれらの目的及び他の目的は、記述された本発
明の好適な実施態様に従い、パイプラップ被膜の非破壊
的陰極分離試験のための方法及び装−置により遂行され
る。

本発明に従う方法によれば、前記の電解質の流体中にお
いて、作業試験用管電極及び対電極を通る回路を設定し
、かつ平衡させ、前記の作業試験用管電極が前記の電解
質流体中で陰極防食の状態になる。

次に、前記の対電極から前記の陰極防食された作業試験
用管電極を分離する。更に、前記の電解質の流体中に、
電子的制御及び測定装置を備え、前記の作業試験用管電
極、対電極及び照合電極を通る回路を再び設定する。そ
の後に、測定された既知の電圧ステップを前記の作業試
験用管電極に加える。そして、前記の測定された電圧ス
テップを加えた後に、電流を測定する。最後に、前記の
電流のデータを分析し、前記の作業試験側管電極及び電
解質流体間の境界面の２重層のキャパシタンスを決定す
る。

好適実施例の説明 本発明が、より十分に、かつ容易に理解され、その結果
、本発明の特徴が認識されるために、以下に図面を伴な
い例を用いて本発明を説明する。

なお、添付図面において、同じ部分には同じ参照符号が
用いられる。

先ず第１図について説明する。本図は、本発明の好適な
実施例の断面図であり、その実施例において使用される
電子的制御及び測定装置のブロック図を示すものでもあ
る。

陰極分離の程度の測定をするための装置は総体的に１０
で示されている。該装置のハウジング１２は本質的に筒
状構造として示されている。

作業試験側管電極１４ば、垂直方向に向けられ、ハウジ
ング１２内において吊り下げられている。

電解溶液１６は、ハウジング１２を満たし、吊り下げら
れた作業試験側管電極１４及び同様に垂直方向に向けら
れて吊り下げられたマグネシウム陽極である対電極１８
を囲んでいる。

照合電極２０は、標準カロメル照合電極であって、電解
溶液１６中において同様に向けられ吊り下げられている
。

第２図は、試験用パイプ試料の部分透視図であって、保
護被膜における不連続部分即ち脱落部及び関連する陰極
分離領域を示すものである。

試験用パイプ試料１４の断片は、ここでは総体的に３２
で示されている。金属製管状中空パイプ３４を被覆して
いるのは、反腐食保護被膜３６である。

隣接する・ξイブ外表面４２から保護被膜３６を分離し
た領域である、陰極分離領域は、とこでは４０で示され
ている。

そのパイプの内表面は、ここでは４４で示されている。

第３Ａ図は、第２図の試験用パイプ試料の拡大された部
分的断面図であり、第２図の線Ａ−Ａに沿って切離した
、保護被膜における脱落部及び関連する陰極分離領域を
示すものである。

陰極分離領域４０の大きさは、本図において、より明確
に示されている。ノヘウジング１２中の電解溶液１６は
、ひき起された脱落部３８を通って浸入し、接着剤４６
と反応してパイプの外表面４２から反腐食保護被膜３６
を分離させ、離接の明確な陰極分離領域４０を生じさせ
る。

その脱落部において発生する化学的陰極反応は次式で特
徴付けられる。

２Ｈ＋＋２ｅ＝＝Ｈ２ 陰極分離領域４０において発生する基本的な化学的陰極
反応は次式で特徴付けられる。

Ｈ２０＋％０２＋２ｅ−２０Ｈ− 以下においては、本発明に用いられた電気的原理及び技
術の議論だけでなく、電気理論及び技術的背景の議論が
なされる、 金属電極が電解溶液につけられている場合に形成された
コンデンサについては、前世紀におけるヘルムホルツ（
Ｈｅ１ｍｈｏ工ｔｚ　）の発見以来研究されてきた。

第３Ｂ図は、電解液に接触している電極の過渡的な電気
的作用を説明するための等価回路を示している。ここに
ＲＦはファラデー抵抗であり、Ｃｂ、Ｌ、は２重層のキ
ャパシタンスである。電解液抵抗ＲＥは、照合電極２０
及び作業試験用管電極試料１４間の全ての抵抗を含むも
のであるが、精確な電圧測定を保証し、電流が一定にな
る前の遅延を除去するために極小に保たれなければなら
ない。ファラデー抵抗ＲＦは、ファラデー電流が小さい
ことを示すため、高くなければならない。然しなから、
ファラデー電流に関しては、以下に説明するような補正
がなされた。

金属電極１８の表面はコンデンサの一方の極として作用
し、電解液１６は他方の極として作用する。このコンデ
ンサに蓄、えられる電荷の大きさは、電解溶液によって
ぬらされた電極の総面積に比例する。この法則は多孔性
電極の表面積を決定するために利用されてきた。

本発明は、バッカーマン（Ｈａ、ｃｋｅｒｍａｎ　）等
によって始めて開発された単一パルスの矩形波法な用い
ている。

２重層キャパシタンスＣＤ、Ｌ、即ちＤＬＣは、充電電
流の測定により決定される。即ち、該キャパシタンスは
次の様に定義されるからである。

ＣＤ、Ｌ、”乙。／　ｄ　Ｖ　／　ｄｔここにおいて、
ｔは秒単位の時間であり、■は電位である。

この式の積分の結果は、 １７＋、乙＝ｌｒＬ乙。−乙Ｏ６／ΔＶＣＤ、Ｌ、　−
−−（，２Ｉに こで乙。は初期電流である。時間に対する電流の対数を
プロットすると直線になる。この直線の傾きｍは、次式
の様に容量を計算するために用いられる。

Ｃ−一乙　／ΔＶｍ　　　　　　−−（３）Ｄ、Ｌ、　
　　　０ 単一矩形波パルスは充電電流をＯか一定値に減衰させる
ことを保証するに十分な長さの作業試験用管電極試料１
４上に印加される。

作業試験側管電極試料１４はマグネシウム陽極１８から
一時的に切離され、次に２重層キャパシタンスＣがポテ
ンレヤル拳ステップ法によりり、Ｌ。

測定される。更に、作業試験側管電極試料１４には、適
当な電圧値である１００ミリポル）（ｍＶ）の電圧ステ
ップ（立上り時間０．１　ｕｓｅｃ　）が加えられ、そ
の後、電流の減衰が時間経過とともに監視される。なお
、約３０乃至３００７７１Ｖの範囲の電圧ステップが試
験用管電極に加えられ得ることに注意されたい。もし、
統計的な曲線のあてはめによって、測定された電流が実
際に２重層コンデンサ充電電流であることが結論される
ならば、２重層キャパシタンスＣＤ、Ｌ、は減衰曲線か
ら計算される。

そこで前もって設定された測定曲線が、電解溶液によっ
てぬらされた作業試験側管電極試料１４の総面積を決定
するために用いられる。この面積は、陰極分離領域に非
常によく一致することが、ＡＳＴＭ　Ｇ−８法のような
破壊的従来技術を用いて測定された陰極分離面積と更に
比較された結果判明している。

ＡＳＴＭ　Ｇ−８法の全ての事項は、試験用パイプ試料
１４の配置を考慮して行なわれた。然し、これらの他に
、各試験用パイプ試料１４は、第１図に示された略ブロ
ック線図によると、電子的制御及び測定装置２ｊＫ電気
的に接続されていた。

本発明の電子的制御及び測定装置２１は、マイクロコン
ピュータ・コントローラ２２、スキャナ２４、ポテンシ
オスタット２６、電圧計２８及びブロック３０を含んで
いる。スキャナ２４は、全ての作業試験側管電極試料１
４が、１日を基準として連続して自動的に電子的制御及
び測定装置２１と接続され得るように用いられる。

マイクロコンピュータ・コントローラ２２は、同様に、
いずれの特定の作業試験側管電極試料１４が電子的制御
及び測定装置２１に接続されるように、プログラムされ
る。ポテンシオスタット２６は、作業試験側管電極１４
及び照合電極（標準カロメル照合電極）２０間の電圧を
一定にし、作業試験側管電極１４及び対電極（マグネシ
ウム陽極）間を十分な電流が流れるようにしている。

ポテンシオスタット２６に加えられた電圧は、コンピュ
ータ・ソフトウェアによって制御されるが、これは、ポ
テンシオスタット２６がＡＤ変換器及び互換インンーフ
ェースを有するためである。

プロッタ３０は、作業試験側管電極試料１４の電流及び
電圧出力記録紙を得るために用いられる。

電圧計２８は、ポテンシオスタット２６の電流対電圧変
換器から毎秒７７回の割合でデータを採取し、得られた
データをコンピュータ・コントローラに伝送する。

第４図は、本発明の好適な実施例のコンピュータ・コン
トローラに記憶されたプログラムのステップを示すコン
ピュータ・プログラム・フロチャートである。

この本発明の好適な実施例において、コンピュータ・プ
ログラムは、第１図で示される電子的制御及び測定装置
２１の指示に用いるために作成された。本プログラムに
よれば一利用者は、測定したい作業試験用管電適試料１
４をポテンシャル・ステップのパラメータとともに入力
することがでさる。試験側管電極試料１４の電流出力は
、処理並びに統計調査及び曲線あてはめのため、同様に
コンピュータ・コントローラ２２に送られる。本発明に
従う方法の様々なステップは、ここで用いられコンピュ
ータ・コントローラ２２に記憶されたプログラムのフロ
ーチャートである第４図に示される。

コンピュータ・コントローラ２２は、利用者を促して、
試験側管電極試料１４がスキャナ２４を介して接続され
るための入力データだけでなく、ポテンシャル・ステッ
プのために必要な初期電圧及び最終電圧に関する入力デ
ータを入力させる。

作業試験側管電極試料１４は、マグネシウム陽極から切
離され、電子的制御及び測定装置２１への接続に先だっ
て少な（とも１５分間は平衡可能である。

本発明に従う方法においては、電流の測定データは１４
ミリ秒毎に電圧計２８からコンピュータ・コントローラ
２２へ送られる。これらのデータ点に関スる指数関数の
あてほめのための回帰値（ｒｅｇｒｅｓｓｉｏｎ　ｖａ
ｌｕｅ　）は、コンピュータ、コントローラ２２によっ
て計算され、関数方程式が生成される。その計算は、回
帰によって得られたあてはめの精度を示す決定係数Ｒ２
、及びＦ比を含んでいる。もし、そのＦ比が９５％の信
頼性レベルで意味のある指数的関係を示すならば、その
データは分布容量効果を示すものであり、多（のファラ
デー電流が失われている。この場合、そのデータは記録
され、プログラムは次のステップに進む。

コンピュータが計算した電流減衰曲線は次式のような形
式をしている。

乙ｃ　＝ｔ　ｏ　Ｅ　Ｘ　Ｐ　（−ｍｔ）ここに係数ｍ
は前述した傾きであり、知はアンペア（姐ｐｅｒｅ　）
単位の充電電流であり、１−ｏはｔ　＝＝　Ｑでのビー
り電流であり、ｔは秒単位の時間である。ファラド（Ｆ
ａｒａｄ　）単位のキャパシタンスは（３）式で与えら
れる。全ての試験用試料に関してキャパシタンスリスト
が次に印刷される。

以下は、陰極分離された面積の計算のための技法に関す
る議論である。試験用標本当１４０表面の単位面積当り
の２重層キャパシタンス（ＤＬＣ）が被覆されていない
／ξイブに関して、標準照合カロメル電極に対する・ξ
イブの電位の関数として測定された。

第５図は、様々な電位の関数として特定のキヤ・モジタ
ンスを示すグラフ図である。

第５図において示されたデータは、様々な電位下での試
験用試料に関するぬれた陰極分離面積の計算用の測定曲
線を得るために用いられた。−０，８ボルトＭと−０，
７ボルト（■）の間の１００ｍＶの行程が、殆ど一定の
特定のキャパシタンス誉有スる曲線の一部を利用するた
めに、前記のポテンシャル・ステップのために採用され
た、 これらの電位においては、ファラデー電流は、小さな陰
極分離面積に関する充電電流のほぼ１０％である。従っ
て、電圧パルスの後０．３秒流れる電流は電流値から差
し引かれた。本方法において用いられ第４図に示された
基本的なコンピュータ・プログラムは回帰曲線のあてほ
めを計算し、９５％の信頼性レベルでの指数関数曲線へ
のあてはめに適合しないデータのいずれも排除する。こ
れらの予防措置によって、２重層キャパシタンス（ＤＬ
Ｃ）に関する充電電流のみが測定されていることが保証
される。陰極分離された面積の計算のために使用された
特定のキャパシタンスは毎平方センナメートル肖り２０
０マイクロフアラツド（ｍ１ｃｒｏｆａｒａｄｓ　／　
ｃＩｒＬ２）であった。

次の表１は、５つの典型的な試験用パイプ試料標本の陰
極分離された面積を、本発明の２重層キャパシタンス（
ＤＬＣ，）により決定した場合と、ＡＳＴＭＧ−８法に
より物理的に決定した場合の両方について記載する。以
下に与えられる陰極分離面積は１つの試験用標本当り３
つの意図的に形成した脱落部の総計である。

表　　　１ １　　：３０　６．２　６．３１２６０２　６０　７．
４　１４．７２９３４ ３　６０　８．１　８．８１７６５ ４　３０　１１．４　１１．７２３２９５　３０　１６
．２　１６．２３２４５第６図は、２重層キャパシタン
ス（ＤＬＣ）を時間の関数として示すグラフ図である。

上に示した５つの試料パイプ標本の２重層のキャパシタ
ンスにおける経時変化が第６図にグラフに示されている
。

これらのテストデータが、陰極電位に対する反腐食防護
被膜の長時間における作用を決定するために利用でさる
ことに注目することも重要である。

例えば、第６図の標本曲線２及び３は、最初の２０日間
においては２重層のキャパシタンス（ＤＬＣ）の初期的
増加を示すがその後は実質的に何の変化も示していない
。一方、第６図の標本曲線４及び５は、少なくとも３０
日の期間は２重層の容量（ＤＬＣ）の着実な増加を示し
ている。

表■は電子的に測定された陰極分離面積及び従来技術の
破壊的方法によって決定された分離領域の間の非常に良
好な相関を示している、表Ｉの標本番号２に関しては、
電子的方法による方が大きな分離面積を示しているが、
これは試験用パイプ試料の非意図的な脱落部によって計
算したためと説明される。他の標本に関しては、２重層
キャパシタンス（ＤＬＣ）法による方が小さな分離面積
を示している。この不一致は、従来技術の破壊的方法を
用いた場合には、弱い境界面の接着結合（これは電解液
の侵入を許すものではない）及び陰極分離の間の区別が
できないことに最大の原因があると思われる。

本発明に従う、被覆されたパイプ試料の本来の陰極分離
面積の大きさを決定するための２重層キャパシタンス（
ＤＬＣ）法は、非破壊検査としてすぐに有益なものであ
り、陰極分離面積の大きさの精確な情報を供給し、現在
使用されている破壊的方法よりも主観的結果が少ない試
験方法を提供する。

本発明の好的な実施態様に関する上述の詳細な説明は本
発明の理解を明確化することのみを目的としてなされた
ものであり、その説明から必須でない限定をされて理解
されたり意味するものとされたすすべきではなく、本発
明の機能や均等なものは当業者にとって明白となろう。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の好適な実施態様の断面図であって、
使用される電子的制御及び測定装置のブロック線図を含
むものであり、 第２図は、試験用パイプ試料の部分透視図であって、保
護被膜における不連続部分即ち肚姓び関連ずろ陰極分離
領域を示すものであり、第３Ａ図は、第２図の試験用パ
イプ試料の拡大離領域を示すものであり、 第３Ｂ図は、電解液に接触する電極の過渡的な電気的作
用を説明するための等価回路を示す回路図であり、 第４図は、本発明の好適な実施例のコンピュータ・コン
トローラに記憶されたプログラムのステップを示すコン
ピュータ・プログラム・フローチャートであり、 第５図は、様々な電位の関数として特定のキャパシタン
スを示すグラフ図であり、 第６図は、時間の関数として２重層のキャパシタンスを
示すグラフ図である。 なお、図面において、 １０・・・陰極分離測定装置、１２・・・ハウジング、
１６・・・電解液、２１・・・電子的制御及び測定装置
、３２・・・試験用パイプ試料、３４・・・金属製管状
中空パイプ、３６・・・保護被膜、３８・・・脱落部、
４０・・・陰極分離領域、４２・・・パイプ外表面、４
４・・・パイプ内表面、４６・・・接着剤、ＲＥ・・・
電解液抵抗、ＲＦ・・・ファラデー抵抗、ＣＤ、Ｌ、・
・・２重層キャパシタンス。 図面の浄四（内容に変更なし） Ｆ／Ｇ、３Ｂ つノビ１−７　プロア゛仏７０−土イ斗手続補正書（方
式） 昭和口年、２月８日 特許庁長官若杉和夫殿 １事件の表示 昭和行年　襲：♀願第　２０ヤつン号 ノ＼°イア°ラ　／ブ馬＜ｔＣ５月炙θ　二Ｉｆ−７，
を女ブ□？ξ　Ｏｊ、ｒ　Ｗ　裕う５′庖１ミ八、ｌ倹
オニ１表魅°゛見、ヱ ６補正をする者 事件との関係　　　出　願　人 住所

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）電解質の流体と接触している金属表面の、表面被
   膜による防食を陰極分離の程度の測定によって評価する
   方法であって、 前記電解質の流体中において作業試験用管電極及び対電
   極を通る回路を設定し、かつ平衡させ、前記作業試験用
   管電極は陰極防食の状態に達し、 前記の対電極から前記の陰極防食された作業試験用管電
   極を切離し、 前記電解質の流体中において、電子的制御及び測定装置
   を伴なって、前記の作業試験用管電極、前記の対電極及
   び照合電極を通る回路を再び設定し、 測定された叶知の電圧ステップを前記の作業試験用管電
   極に印加し、 前記の測定された電圧ステップの印加後に流れる電流を
   測定し、 前記の電流データを分析して、前記の作業試験用管電極
   及び前記の電解質の流体間の境界面における２重層のキ
   ャパシタンスを決定する、ステップから構成される方法
   。 （２）前記の電流データは、連続的に監視され、かつ記
   録されてなる特許請求の範囲第１項記載の防食評価方法
   。 （３）　　マイクロコンピュータ・コントローフ　ｉＣ
   記ｔｔされた予め定められたプログラムは、前記の電子
   的制御及び測定装置に動作信号を供給する特許請求の範
   囲第１項記載の防食評価方法。 （４）前記の試験用管電極に加えられた電圧ステップは
   、約１０乃至３００ミリボルト（ｍ■）の範囲にある特
   許請求の範囲第１項記載の防食評価方法。 （５）前記の対電極は、マグネシウム製である特許請求
   の範囲第１項記載の防食評価方法。 （６）前記の照合電極は、カロメル電極である特許請求
   の範囲第１項記載の防食評価方法。 （７）前記の２重層のキャパシタンスは、前記の試験用
   管電極に関して、前記の照合電極に対する管電位の関数
   として測定される特許請求の範囲第１項記載の防食評価
   方法。 （８）前記の電子的制御及び測定装置は、相互に協働す
   る、マイクロコンピュータ・コントローラ、スキャナー
   、ポテンシオスタット、電圧計及びブロックを備えてな
   る特許請求の範囲第１項に記載された防食評価方法。 （９）電解質の流体に接触している金属表面の、表面被
   膜による防食を陰極分離の程度の測定によって評価する
   ための装置であって、 試験用電極装置ハウジングと、 前記ハウジング内に含まれる電解質の流体と、前記の電
   解質の流体中における回路に接続された作業試験用管電
   極、対電極及び照合電極と、前記回路の作業試験用管電
   極に加えられる電圧ステップ・パルスのソースと、 前記の電圧ステップの印加後の電流測定のための装置と
   、 前記の電流を分析し、前記作業試験用管電極及び前記電
   解質の流体間の境界面における２重層ノキャパシタンス
   の程度を決定するタメノ装置と、から構成される前記の
   評価のための装置。 （１０）前記電流のデータは、連続的に監視され、かつ
   記録されてなる特許請求の範囲第９項記載の防食評価の
   ための装置。 （１１）　　マイクロコンピュータ・コントローラニ記
   憶された予め定められたプログラムは、前記の電子的制
   御及び測定装置に対し、必須な動作信号を供給する特許
   請求の範囲第９項記載の防食評価のための装置。 （１２）前記の対電極は、マグネシウム製である特許請
   求の範囲第９項記載の防食ザ価のための装置。 ０３）前記の照合電極は、標準カロメル照合電極である
   特許請求の範囲第９項記載の防食評価のための装置。 圓　前記の２重層のキャパシタンスは、前記の試験用管
   電極に関して、前記の照合電極に対する管電位の関数と
   して決定されるものである特許請求の範囲第９項記載の
   防食評価のための装置。 ０勺　　前記の電圧ステップ・ノξルスのソースは、ポ
   テンシオスタットである特許請求の範囲第９項記載の防
   食評価のための装置。 ０６）前記の電流測定のための装置は、電圧計である特
   許請求の範囲第９項記載の防食評価のだめの装置。 ０７）前記の電流データの分析のための装置は、コンピ
   ュータ・コントローラである特許請求の範囲第９項記載
   の防食評価のための装置。 （１８）前記の電子的制御及び測定装置は、相互に協働
   するマイクロコンピュータ・コントローラ、スキャナ、
   ポテンシオスタット、電圧計及びブロックを備えてなる
   ことを特徴とする特許請求の範囲第９項記載の防食評価
   のための装置。