JPS59125042A - デイジタルロツクイン型光吸収測定装置 - Google Patents

デイジタルロツクイン型光吸収測定装置

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JPS59125042A
JPS59125042A JP23079682A JP23079682A JPS59125042A JP S59125042 A JPS59125042 A JP S59125042A JP 23079682 A JP23079682 A JP 23079682A JP 23079682 A JP23079682 A JP 23079682A JP S59125042 A JPS59125042 A JP S59125042A
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JP
Japan
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light
signal
circuit
gate
detector
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Application number
JP23079682A
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English (en)
Inventor
Fumio Takahashi
高橋 文穂
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS59125042A publication Critical patent/JPS59125042A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ディジタルロックイン型光吸収?!11定装
置に関し、詳しくは、光吸収の弱いあるいti強い光源
が存在しない波長領域に吸収帯を持つ様な地球大気成分
や大気汚染物質の定量を行う場合に、高い8/N比で気
体密度を定量する為の分光測光技術に関する。更に詳し
くは、本発明は、光吸収を用いた大気微量成分、大気汚
染気体(H20,03,、NO2等)及び種々の化学物
質(Cl−1a 、L(CI笠)の数密度測定用に、測
定の高精度化をはかる意味で微弱光検出の為のディジタ
ルロンフィン法を手段として組合せた新しい型のディジ
タルロンフィン型光吸収測定装置に関するものである。
従来のこの神の装置は、原理的に窪光束式のものと複光
采式のものに大別される。単光束式のものは、第1図(
a)の様に、光i= iからの光を吸収試料2の適当な
長さの層を通して分1牧糸3内におりるモノクロメータ
の入口スリット上に焦点を結し」せるか、あるいは(b
)の様に、モノクロメータを出た単色光源の光を試料2
にあてる方式である。吸収を決定する為には、試料なし
の状態でもう一度同じ操作を行う。この場合には、勿論
、この2つの操作の間で光源及び検出器の安定性を確か
める必要がある。この様にして得られた第2図(a)の
様なスペクトルから各波長毎に吸収とバンクグラウンド
とを比較して吸収スペクトルを出す。
複光束式n二、第3図の様に、連続光源1からの光を2
つの光束に分け、各波長における光景を比較することに
よシ、迅速に、かつ正確に行う。図の様に、光束の1つ
は試料2を通り、もう−力は変化しうる補正済の減衰器
6を通シ、チョッパ7によって2つの光束を交互に分散
系3のモノクロメータに送シ込む。モノクロメータが波
長範囲をスキャンすると、検出器及び増幅器から成る検
出系4は2つの信号を認識して弁別する。試料による吸
収がある場合には、この2つの信号に差ができ、サーボ
増幅器8により、モータが回転して、比較光束中の減衰
器すが働く。比較光束のエネルギーは、この様にして、
2つの光束間に差がなくなるまで減らされ、サーボ機構
は常に2つの光束間の差を減少して、バランスを保つ様
に働く。試料による吸収は各波長におりる減衰器の位1
?【によシ与えられる。減衰器6と記録計9のペンとは
機械的、電気的に接続しておシ、波長が駕わると動く様
になっている記録紙の上に、第2図(b)の様な吸収ス
ペクトルを描く。
原理的には、以上の様なものが、従来用いられてきた光
吸収測定装置であるが、このfmの梠成では以下に示す
如き欠点があった。
(1)、機械的にも操作的にも又温度環境という観点か
らも、室内実験用のものであり、野外、宇宙観測用には
むかない。
(2)、光吸収測定とは言っても、吸収が比較的強い(
全光量の%程度)場合に限られ、対象物質の吸収スペク
トルを求めるという点に主眼が置かれたものである。
(3)、光学装置と検出系の問題は完全に分離ネれてお
シ、各々独立な問題として扱わ7するから、検出精度が
よくないし、また、機構的にも、原理的にも弱い吸収帯
を持つ物質の定量という用途にはむかない。
本発明は従来の技術に内在する上記欠点を除去する為に
なされたものであシ、従って本発明の目的は、野外又は
宇宙環境等、測定環ばか大きく変化する条件のもとて時
間的ドj7)、4度ドリフト等の影響を受けずに、微弱
な光を用いて高精度に大気微量成分、汚染物質を的確に
定量することができ、大気微量成分、大気汚染物質等の
定量及びその日変化、季節変化、経年変化等の調査を可
能にした新規な光吸収測定装置を提供することにある。
上記目的を達成する為に、本発明に係る装置には、光源
から発生する光を直接的に光検知器へ進む第1の光と光
吸収体を介してmI記検知器へ進む第2の光とに分け、
他力ディジタルロックイン力式における第1及び第2の
単安定回路から出力される第1及び第2のパルス信号を
、水晶発振回路、バイナリカウンタ、レジスフ、アッグ
ダウンカウンク、フリップフロップを含むゲートパルス
発生回路に入力せしめ、該ゲートパルス発生回路から出
力されるゲートパルスと前記光検知器の出力をVF変換
した出力信号とを前記デイジタルロツクイン力式におけ
るゲート回路に入力せしめ、該ゲート回路からそれぞれ
出力される前dピ第1の光に苅M>した第1の信号と前
記@2の光に対応する第2の信号によシ前記光吸収体の
定量を行っている。
光吸収を用いて、種々の気体種を定量する場合に、光源
及び検知器共に十分な光量ヲ与える場合は極めて稀であ
り、特に、対流圏、成層圏等での野外観測においては、
電力制限、重量制限等とのかね合いからどうしても取り
扱う光量が微弱とならざるを得ない。しかも測定環境が
測定中に大きく変化する事も測定を困難にする安置であ
る。この様な場合、小さな光の吸収量を出す為には、観
測時間を長く取る事によってS/Nを向上させ、(7か
も、背景光電流や暗電流の時間的ドリフト、湯度ドソフ
トに影響されないシステムとする小が一?4求され、本
発明では光吸収法に、ディジタルロックイン法を組合せ
てS/Nを向上させ、かつ高イr’、度化な計る為に、
ディジタルロックインフラ式のゲ・−トパルスを高精度
化する事によって、微弱吸収量の定;9.全可能にする
ものである。
次に本発明をその好ましい一実施例について図面を参照
しながら具体的に説明する。
第4図は本発明に係る装置の光学系の一実施例を示す概
略構成図である。図において、参照番号11け光源、1
2は反射鏡、13は集光レンズ、14はビームスプリン
タ、15a115bは窓、16は多重反射型吸収セル、
17は集光レンズ、18は減光器、19はチョッパモー
タ、20はフォトインクラック、21は蝶形チョンバ、
22は狭帯域干渉フィルタ又は分光器、23は光電子増
倍管(光検知器)をそれぞれ示す。
光源11から出た光は、反射鏡12で反射させられ森形
チョッパ21が12−13−14−18を通る光に対し
てn0penITとなるフェーズにおいて、光検知器2
3上に焦点を結ぶ様な集光レンズ13を通る。集光しン
ズ13を通った光はビームスプリンター4で窓15a方
向の光■と減光器187j向の光重0にほぼ1:1に分
けられる。窓15a力向の光Iは多重反射型吸収セル1
6中に入9、相対する球面鏡(間隔35))間を27回
多重反射させられて、窓15bから集光レンズ17に入
る。この集光レンズ17は、チョッパ21カ、12−1
3−14−18力向の光を遮光し、(45光レンズ17
方向からの光を反射するフェーズにある(回転している
)時に、ちょうど検知器23上に焦点を結ぶ様な焦点距
離を持つレンズである。従って、光僚11から出た光は
蝶形チョッパ21が回転するにつれて約3秒間12−1
3−14−18 を通った光が干渉フィルタ22を通っ
て検知器23に入り、その後、約3秒間、16−15b
 −17を通った光が、!、+41ξ形テヨンバ21で
反射させられ、干渉フィルタ22′f:通って検知器n
に入力される。このように、光源11から出た光■0、
■は、蝶形チョッパ21で適当な繰返し周期(例えば0
.16Hz)で交互に検知器23に4びかれる。91−
って、検知器23で得られる光の信号波形は第5図の(
a)の様なものとなる。
従って、「光学系部分」(第1図の左側部分24)を真
空又は乾燥窒素で封じておき、吸収セル16に測定対象
気体を入れれば、Beerの法則により気体による吸収
量が小さければ、その吸収量に比例して光1iIは減る
事になる。光量差l0−I(=△■とおく)を精度良く
求める為に、以下の様に、デイジタルロツクイン力式を
用いる。
第6図、第7図にディジタルロックイン型光吸収測定装
置の原理を示す。以下、これらの図を参照しながら説明
して行く。
一般に、チョッパの開閉には若干の時間を要し、この間
において、しばしば光の強度に乱れが生じる(第5図(
a))。従って、この過渡的な時間帯では信号パルス(
光検出器23の出力をV/F変換したパルス)の言i数
を避ける必要がある。そこで、フォトインクラブタ20
によって作らiする参照信号(第5図の(1))、第7
図の101)を利用し、単安定回路M1と高精度ゲート
パルス発生回路M3によってイご号の立上9より時間t
lだけ遅れた所から正確な時間幅t2の矩形信号105
を形成し、これを加31用の制御信号とする。同様に、
単安定回路M2と高精度ゲートパルス発生回路M!Iに
よシ106の様な矩形111号(時間幅11)を形成し
、これを減算用の制御信号とする。但し、信号105.
106においてパルス幅t2、t4は各々チョッパが完
全に開いた期間、完全に閉じた期間に含まれるようにす
る。
今までのディジタルロックイン法では、ゲートパルス1
04を作るのに、即ち高精度ゲートパルス発生回路M3
の部分に、単安定回路(=几C)を用いていたが、この
種のものではパルス幅の精度が10−3が限度であシ、
しかも、温度変化にも弱いという欠点があった。
本発明では、ゲートパルス幅t2、t4を正確(△t<
10−’ の精度)に一致させる為に、第8図の様な水
晶発振子、シフトレジスタ及びアップダウンカウンタを
用いて計数精度を10−6以下とした。即ち、V/F変
換器のフルスケール周波数をI M Hzとして実際の
光信号のV/F変換変換及パル2周波数00KHz程度
、ゲート幅t2、t4を2秒とすれば、計数精度は士−
L−=±6.25刈0−″の計数I?i殿が得ら扛る。
2X8X10” 従って、この結果、Io==lQカウントに対する△■
=数カウントの計数値は、少なくとも計数精度という観
点からは十分意味のあるものと言う“事ができ、非常に
弱い吸収h1:△1をも測定する事が出来るといえる。
以上に見たように、光量差△■を求める際に、光i1:
: i (’ 、Iの相方に含まれる背景光電流や光電
子増倍管暗電流の時間的ドリフト、温度ドリフト等に起
因する雑音成分は、2〜3秒という繰返し周期の間では
殆んど変化しないので、アップダウンカウンタでΔI=
Io−Iを求める小によってかなシ除かれ、光計差△■
の純粋な対象気体による吸収量、に近い値が求められる
事になる。即ち、対象気体による吸収量を求める過程で
、同時に雑音成分をも取り除いてVN比を実効的に高め
るという一石二鳥の効果をもたらすわけである。残りの
雑音成分、f、!flち光電変換時の繰り返し周期より
長い周波数成分の雑音、ショット雑音、光電子放出が確
、 率分布を持つ事に起因する雑音等については、観測
時間を長く取る事によって、原理的に、いくらでもS/
N比を上げる噂ができ、この方式の大きなq!f徴と言
える。
第8図は第6図で説明した本発明に係る高精度ゲートパ
ルス発生回路〜■3の一実施例を示すブロック構成図で
ある。図において、参照番号31は例えば、4.194
304M)(z (D水晶発振回路、32は4ピントバ
イナリカウンタ、33は第1図のフォトインクジゲタ2
0で作られる例えばQ、151(z(周期(125秒)
U)@開信号の立上シと立下りに作られる1パルス(第
7図の102.103)イh号の和、34は例えば8ビ
ツトシフトレジスタ、35は例えば61161の4ピン
トアンプダウンカウンタ、36は3人力NORゲート、
37は単安定回路、38はJK−7リツグフロンプ、3
9 icj高Br度ゲートパルスの出力をそftそれボ
丁。
入力信号33(第6図の単安定回路I心、へ・12から
出力される信号102.103)は例えば8.125秒
1rjに1パルス(パルス幅0.3μS)スつシフトレ
ジスタ34に入力され、このシフトレジスタ34の出力
QHによって、高精度ゲートパルス作成用のJ K−ノ
リング70ツブ38を立ち上げる。それと同時にシフト
レジスタ34の出力Q〃によって、6個のアップダウン
カウンタ35の最上桁(第8図の一番右側のカウンタ)
のデータ(図では、J)CBA=0101より 5Xl
 6’= 5242880力ウント分)をプリセットし
て水晶発振回路31、バイナリカウンタ32で作成され
た2、097152〜lHzパルスを■端に入力させて
、それにより、上記5242880力ウント分を減算し
始める。そして、アンプダウンカウンタ35の最上桁の
カウンタの下(”+’1.3ピントの出力(図〕QA1
QB1QC)が全てゼロ、R(Jち4 X 16’=4
194304カウント減算した&でNO比ゲート36、
単安定回路37により高精度ゲートパルスを閉じる1パ
ルスヲ作ってJK−7リンプフロング38を閉じる。こ
の結果、出力39には第7図104の如きパルス信号が
発生する。ゲートノ(ルス104のパルス幅は、上記4
 X 165力ウント分=2.000000秒の高希′
度なゲートノくルスとなる。この高精度なゲートパルス
信号104は第6図のゲート回路OAに人力され、それ
によって、第4図の光検出器23の出力をV/k“変換
した出力信号SIGがゲート処理さiする。該ゲート回
路G1から第7図に示される出力信号107.108が
発生し、これらのイi(号107.108により光−1
,1,差が求められる。
本発明の上記考”4成によれば、紫外域から赤外域にか
けての広い波長域での各種大気成分、大気汚染物質等の
弱い光吸収を用いた物質の定置及び環境条件が厳しい野
外、宇宙環境での物質定置、測定が可能となシ、データ
処理系に適当な処理装置(ミニコンピユータ、マイクロ
コンピュータ等)を付加する事によって常時、大気成分
、汚染気体等のモニタリングが出来るという利点がある
更に、前記実施例で述べた高精度化されたディジタルロ
ンフィン法を用いれば、本発す」におりる光吸収法とし
てだけでなく、地球超高j暗大気からの夜光観測や種々
の化学物質からの螢光、燐光スペクトル測定等微弱光の
検出という意味においても大いに威力を発輝するものと
思われる。
以上本発明をその良好な一実施例について説明したが、
それは単なる例示的なものであり、ここで説明された実
施例によってのみ本願発明が限定されるものではなく、
その範囲内におけるすべての変形、変更を含むものであ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)、(b)は従来におけるこの棹の装置60
例(単光束式)を示すブロック図、第2図(a)、(b
)は従来の装置ト°tの動作特性図、;33図は従来に
おけるこの種の装置の他側(複光束式)を示すブロック
図、第4図は本発明に係る装置k−の光学系の一実施例
を示す概略(74成図、第5図はチョッパの開閉による
光の強度を説明する為の図、第6図は本発明に使用され
るデイジタルロックインカ式の概略構成図、第7図は本
発明の1iIII作タイムチャート、第8図C:本発明
に係るゲートパルス発生回路の一実施例を示すブロック
構成図である。 1・・・連続光源、2・・・試着、3・・・分散系、4
・・・検出系、5−・・記録紙、6・・・減衰器、7@
・−チョッパ、8・・6サーボ増I19:A器、9・・
・記録計、Mls M2 拳・・単安定回路、M3・・
・高精度ゲートパルス発生回路、Ql 拳−・ゲート回
路、11・・争光諒、12・・・反射鏡、13・・・集
光レンズ、14・・命ビームスプリッタ、15a%15
b・・・窓、16・−や−測定に必猥とされる光路長を
もった多重反射型吸収セル、17・・・集光レンズ、1
8・・・減光器、19・・・チョッパモータ、20會・
・フォトインタラプタ、21・・・蝶形チョンパ、22
・・・狭帯域干渉フィルタ又は分光器、23・・・光検
知器(光電子増倍管)、24・・9光学系部分、31嗜
・・水晶発振回路、32・・・バイナリカウンタ、33
・・・参照信号の繰返し周期0.16Hz(=6.25
秒)の場合、8.125秒ID ニ第3図の単安定回路
M1、M2で作られるパルス102、・103の和、3
4@−・シフトレジスタ 35 @ψ・アンプダウンカ
ウンタ、360・・NOl(、ゲート、37・・の単安
定回路、38−−− JK−フリップフロッグ、39・
・・出力 特許出願人   日本電気株式会社 代 理 人   弁理士 熊谷雄太部 al [bl 第1 図 第2図 第3 図 209− 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光源から発生する光を直接的に光検知器へ進む第1の光
    と光吸収体を介して前記検知器へ進む第2の光とに分け
    、他力デイジタルロツクイン力式における第1及び第2
    の単安定回路から出力される第1及び第2のパルス化け
    を、水晶発振回路、バイナリカウンタ、レジスタ、アッ
    プダウンカウンタ、7リツプ70ツブを含むゲートパル
    ス発生回路に人力せしめ、該ゲートパルス発生回路から
    出力されるゲートパルスとOil記光検光検知器力を■
    /F変」外しだ出力信号とを前記ディジタルロック17
    カ式におけるゲート回路に入力せしめ、該ゲート回路か
    らそれぞれ出力される前記第1の光に対1.し、した第
    1の信号と111記第2の光に対応する第2の信号によ
    V) Ai’l記光吸収光吸収体を行うことを特徴とし
    たディジタルロンフィン型光吸収測定装置1°i、。
JP23079682A 1982-12-31 1982-12-31 デイジタルロツクイン型光吸収測定装置 Pending JPS59125042A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01265140A (ja) * 1987-12-31 1989-10-23 Autom Appar Mas Gmbh 移動プロセスストリーム中の材料をスペクトル光度計によって分析するための装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01265140A (ja) * 1987-12-31 1989-10-23 Autom Appar Mas Gmbh 移動プロセスストリーム中の材料をスペクトル光度計によって分析するための装置

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