JPS59125042A - デイジタルロツクイン型光吸収測定装置 - Google Patents
デイジタルロツクイン型光吸収測定装置Info
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- JPS59125042A JPS59125042A JP23079682A JP23079682A JPS59125042A JP S59125042 A JPS59125042 A JP S59125042A JP 23079682 A JP23079682 A JP 23079682A JP 23079682 A JP23079682 A JP 23079682A JP S59125042 A JPS59125042 A JP S59125042A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ディジタルロックイン型光吸収?!11定装
置に関し、詳しくは、光吸収の弱いあるいti強い光源
が存在しない波長領域に吸収帯を持つ様な地球大気成分
や大気汚染物質の定量を行う場合に、高い8/N比で気
体密度を定量する為の分光測光技術に関する。更に詳し
くは、本発明は、光吸収を用いた大気微量成分、大気汚
染気体(H20,03,、NO2等)及び種々の化学物
質(Cl−1a 、L(CI笠)の数密度測定用に、測
定の高精度化をはかる意味で微弱光検出の為のディジタ
ルロンフィン法を手段として組合せた新しい型のディジ
タルロンフィン型光吸収測定装置に関するものである。
置に関し、詳しくは、光吸収の弱いあるいti強い光源
が存在しない波長領域に吸収帯を持つ様な地球大気成分
や大気汚染物質の定量を行う場合に、高い8/N比で気
体密度を定量する為の分光測光技術に関する。更に詳し
くは、本発明は、光吸収を用いた大気微量成分、大気汚
染気体(H20,03,、NO2等)及び種々の化学物
質(Cl−1a 、L(CI笠)の数密度測定用に、測
定の高精度化をはかる意味で微弱光検出の為のディジタ
ルロンフィン法を手段として組合せた新しい型のディジ
タルロンフィン型光吸収測定装置に関するものである。
従来のこの神の装置は、原理的に窪光束式のものと複光
采式のものに大別される。単光束式のものは、第1図(
a)の様に、光i= iからの光を吸収試料2の適当な
長さの層を通して分1牧糸3内におりるモノクロメータ
の入口スリット上に焦点を結し」せるか、あるいは(b
)の様に、モノクロメータを出た単色光源の光を試料2
にあてる方式である。吸収を決定する為には、試料なし
の状態でもう一度同じ操作を行う。この場合には、勿論
、この2つの操作の間で光源及び検出器の安定性を確か
める必要がある。この様にして得られた第2図(a)の
様なスペクトルから各波長毎に吸収とバンクグラウンド
とを比較して吸収スペクトルを出す。
采式のものに大別される。単光束式のものは、第1図(
a)の様に、光i= iからの光を吸収試料2の適当な
長さの層を通して分1牧糸3内におりるモノクロメータ
の入口スリット上に焦点を結し」せるか、あるいは(b
)の様に、モノクロメータを出た単色光源の光を試料2
にあてる方式である。吸収を決定する為には、試料なし
の状態でもう一度同じ操作を行う。この場合には、勿論
、この2つの操作の間で光源及び検出器の安定性を確か
める必要がある。この様にして得られた第2図(a)の
様なスペクトルから各波長毎に吸収とバンクグラウンド
とを比較して吸収スペクトルを出す。
複光束式n二、第3図の様に、連続光源1からの光を2
つの光束に分け、各波長における光景を比較することに
よシ、迅速に、かつ正確に行う。図の様に、光束の1つ
は試料2を通り、もう−力は変化しうる補正済の減衰器
6を通シ、チョッパ7によって2つの光束を交互に分散
系3のモノクロメータに送シ込む。モノクロメータが波
長範囲をスキャンすると、検出器及び増幅器から成る検
出系4は2つの信号を認識して弁別する。試料による吸
収がある場合には、この2つの信号に差ができ、サーボ
増幅器8により、モータが回転して、比較光束中の減衰
器すが働く。比較光束のエネルギーは、この様にして、
2つの光束間に差がなくなるまで減らされ、サーボ機構
は常に2つの光束間の差を減少して、バランスを保つ様
に働く。試料による吸収は各波長におりる減衰器の位1
?【によシ与えられる。減衰器6と記録計9のペンとは
機械的、電気的に接続しておシ、波長が駕わると動く様
になっている記録紙の上に、第2図(b)の様な吸収ス
ペクトルを描く。
つの光束に分け、各波長における光景を比較することに
よシ、迅速に、かつ正確に行う。図の様に、光束の1つ
は試料2を通り、もう−力は変化しうる補正済の減衰器
6を通シ、チョッパ7によって2つの光束を交互に分散
系3のモノクロメータに送シ込む。モノクロメータが波
長範囲をスキャンすると、検出器及び増幅器から成る検
出系4は2つの信号を認識して弁別する。試料による吸
収がある場合には、この2つの信号に差ができ、サーボ
増幅器8により、モータが回転して、比較光束中の減衰
器すが働く。比較光束のエネルギーは、この様にして、
2つの光束間に差がなくなるまで減らされ、サーボ機構
は常に2つの光束間の差を減少して、バランスを保つ様
に働く。試料による吸収は各波長におりる減衰器の位1
?【によシ与えられる。減衰器6と記録計9のペンとは
機械的、電気的に接続しておシ、波長が駕わると動く様
になっている記録紙の上に、第2図(b)の様な吸収ス
ペクトルを描く。
原理的には、以上の様なものが、従来用いられてきた光
吸収測定装置であるが、このfmの梠成では以下に示す
如き欠点があった。
吸収測定装置であるが、このfmの梠成では以下に示す
如き欠点があった。
(1)、機械的にも操作的にも又温度環境という観点か
らも、室内実験用のものであり、野外、宇宙観測用には
むかない。
らも、室内実験用のものであり、野外、宇宙観測用には
むかない。
(2)、光吸収測定とは言っても、吸収が比較的強い(
全光量の%程度)場合に限られ、対象物質の吸収スペク
トルを求めるという点に主眼が置かれたものである。
全光量の%程度)場合に限られ、対象物質の吸収スペク
トルを求めるという点に主眼が置かれたものである。
(3)、光学装置と検出系の問題は完全に分離ネれてお
シ、各々独立な問題として扱わ7するから、検出精度が
よくないし、また、機構的にも、原理的にも弱い吸収帯
を持つ物質の定量という用途にはむかない。
シ、各々独立な問題として扱わ7するから、検出精度が
よくないし、また、機構的にも、原理的にも弱い吸収帯
を持つ物質の定量という用途にはむかない。
本発明は従来の技術に内在する上記欠点を除去する為に
なされたものであシ、従って本発明の目的は、野外又は
宇宙環境等、測定環ばか大きく変化する条件のもとて時
間的ドj7)、4度ドリフト等の影響を受けずに、微弱
な光を用いて高精度に大気微量成分、汚染物質を的確に
定量することができ、大気微量成分、大気汚染物質等の
定量及びその日変化、季節変化、経年変化等の調査を可
能にした新規な光吸収測定装置を提供することにある。
なされたものであシ、従って本発明の目的は、野外又は
宇宙環境等、測定環ばか大きく変化する条件のもとて時
間的ドj7)、4度ドリフト等の影響を受けずに、微弱
な光を用いて高精度に大気微量成分、汚染物質を的確に
定量することができ、大気微量成分、大気汚染物質等の
定量及びその日変化、季節変化、経年変化等の調査を可
能にした新規な光吸収測定装置を提供することにある。
上記目的を達成する為に、本発明に係る装置には、光源
から発生する光を直接的に光検知器へ進む第1の光と光
吸収体を介してmI記検知器へ進む第2の光とに分け、
他力ディジタルロックイン力式における第1及び第2の
単安定回路から出力される第1及び第2のパルス信号を
、水晶発振回路、バイナリカウンタ、レジスフ、アッグ
ダウンカウンク、フリップフロップを含むゲートパルス
発生回路に入力せしめ、該ゲートパルス発生回路から出
力されるゲートパルスと前記光検知器の出力をVF変換
した出力信号とを前記デイジタルロツクイン力式におけ
るゲート回路に入力せしめ、該ゲート回路からそれぞれ
出力される前dピ第1の光に苅M>した第1の信号と前
記@2の光に対応する第2の信号によシ前記光吸収体の
定量を行っている。
から発生する光を直接的に光検知器へ進む第1の光と光
吸収体を介してmI記検知器へ進む第2の光とに分け、
他力ディジタルロックイン力式における第1及び第2の
単安定回路から出力される第1及び第2のパルス信号を
、水晶発振回路、バイナリカウンタ、レジスフ、アッグ
ダウンカウンク、フリップフロップを含むゲートパルス
発生回路に入力せしめ、該ゲートパルス発生回路から出
力されるゲートパルスと前記光検知器の出力をVF変換
した出力信号とを前記デイジタルロツクイン力式におけ
るゲート回路に入力せしめ、該ゲート回路からそれぞれ
出力される前dピ第1の光に苅M>した第1の信号と前
記@2の光に対応する第2の信号によシ前記光吸収体の
定量を行っている。
光吸収を用いて、種々の気体種を定量する場合に、光源
及び検知器共に十分な光量ヲ与える場合は極めて稀であ
り、特に、対流圏、成層圏等での野外観測においては、
電力制限、重量制限等とのかね合いからどうしても取り
扱う光量が微弱とならざるを得ない。しかも測定環境が
測定中に大きく変化する事も測定を困難にする安置であ
る。この様な場合、小さな光の吸収量を出す為には、観
測時間を長く取る事によってS/Nを向上させ、(7か
も、背景光電流や暗電流の時間的ドリフト、湯度ドソフ
トに影響されないシステムとする小が一?4求され、本
発明では光吸収法に、ディジタルロックイン法を組合せ
てS/Nを向上させ、かつ高イr’、度化な計る為に、
ディジタルロックインフラ式のゲ・−トパルスを高精度
化する事によって、微弱吸収量の定;9.全可能にする
ものである。
及び検知器共に十分な光量ヲ与える場合は極めて稀であ
り、特に、対流圏、成層圏等での野外観測においては、
電力制限、重量制限等とのかね合いからどうしても取り
扱う光量が微弱とならざるを得ない。しかも測定環境が
測定中に大きく変化する事も測定を困難にする安置であ
る。この様な場合、小さな光の吸収量を出す為には、観
測時間を長く取る事によってS/Nを向上させ、(7か
も、背景光電流や暗電流の時間的ドリフト、湯度ドソフ
トに影響されないシステムとする小が一?4求され、本
発明では光吸収法に、ディジタルロックイン法を組合せ
てS/Nを向上させ、かつ高イr’、度化な計る為に、
ディジタルロックインフラ式のゲ・−トパルスを高精度
化する事によって、微弱吸収量の定;9.全可能にする
ものである。
次に本発明をその好ましい一実施例について図面を参照
しながら具体的に説明する。
しながら具体的に説明する。
第4図は本発明に係る装置の光学系の一実施例を示す概
略構成図である。図において、参照番号11け光源、1
2は反射鏡、13は集光レンズ、14はビームスプリン
タ、15a115bは窓、16は多重反射型吸収セル、
17は集光レンズ、18は減光器、19はチョッパモー
タ、20はフォトインクラック、21は蝶形チョンバ、
22は狭帯域干渉フィルタ又は分光器、23は光電子増
倍管(光検知器)をそれぞれ示す。
略構成図である。図において、参照番号11け光源、1
2は反射鏡、13は集光レンズ、14はビームスプリン
タ、15a115bは窓、16は多重反射型吸収セル、
17は集光レンズ、18は減光器、19はチョッパモー
タ、20はフォトインクラック、21は蝶形チョンバ、
22は狭帯域干渉フィルタ又は分光器、23は光電子増
倍管(光検知器)をそれぞれ示す。
光源11から出た光は、反射鏡12で反射させられ森形
チョッパ21が12−13−14−18を通る光に対し
てn0penITとなるフェーズにおいて、光検知器2
3上に焦点を結ぶ様な集光レンズ13を通る。集光しン
ズ13を通った光はビームスプリンター4で窓15a方
向の光■と減光器187j向の光重0にほぼ1:1に分
けられる。窓15a力向の光Iは多重反射型吸収セル1
6中に入9、相対する球面鏡(間隔35))間を27回
多重反射させられて、窓15bから集光レンズ17に入
る。この集光レンズ17は、チョッパ21カ、12−1
3−14−18力向の光を遮光し、(45光レンズ17
方向からの光を反射するフェーズにある(回転している
)時に、ちょうど検知器23上に焦点を結ぶ様な焦点距
離を持つレンズである。従って、光僚11から出た光は
蝶形チョッパ21が回転するにつれて約3秒間12−1
3−14−18 を通った光が干渉フィルタ22を通っ
て検知器23に入り、その後、約3秒間、16−15b
−17を通った光が、!、+41ξ形テヨンバ21で
反射させられ、干渉フィルタ22′f:通って検知器n
に入力される。このように、光源11から出た光■0、
■は、蝶形チョッパ21で適当な繰返し周期(例えば0
.16Hz)で交互に検知器23に4びかれる。91−
って、検知器23で得られる光の信号波形は第5図の(
a)の様なものとなる。
チョッパ21が12−13−14−18を通る光に対し
てn0penITとなるフェーズにおいて、光検知器2
3上に焦点を結ぶ様な集光レンズ13を通る。集光しン
ズ13を通った光はビームスプリンター4で窓15a方
向の光■と減光器187j向の光重0にほぼ1:1に分
けられる。窓15a力向の光Iは多重反射型吸収セル1
6中に入9、相対する球面鏡(間隔35))間を27回
多重反射させられて、窓15bから集光レンズ17に入
る。この集光レンズ17は、チョッパ21カ、12−1
3−14−18力向の光を遮光し、(45光レンズ17
方向からの光を反射するフェーズにある(回転している
)時に、ちょうど検知器23上に焦点を結ぶ様な焦点距
離を持つレンズである。従って、光僚11から出た光は
蝶形チョッパ21が回転するにつれて約3秒間12−1
3−14−18 を通った光が干渉フィルタ22を通っ
て検知器23に入り、その後、約3秒間、16−15b
−17を通った光が、!、+41ξ形テヨンバ21で
反射させられ、干渉フィルタ22′f:通って検知器n
に入力される。このように、光源11から出た光■0、
■は、蝶形チョッパ21で適当な繰返し周期(例えば0
.16Hz)で交互に検知器23に4びかれる。91−
って、検知器23で得られる光の信号波形は第5図の(
a)の様なものとなる。
従って、「光学系部分」(第1図の左側部分24)を真
空又は乾燥窒素で封じておき、吸収セル16に測定対象
気体を入れれば、Beerの法則により気体による吸収
量が小さければ、その吸収量に比例して光1iIは減る
事になる。光量差l0−I(=△■とおく)を精度良く
求める為に、以下の様に、デイジタルロツクイン力式を
用いる。
空又は乾燥窒素で封じておき、吸収セル16に測定対象
気体を入れれば、Beerの法則により気体による吸収
量が小さければ、その吸収量に比例して光1iIは減る
事になる。光量差l0−I(=△■とおく)を精度良く
求める為に、以下の様に、デイジタルロツクイン力式を
用いる。
第6図、第7図にディジタルロックイン型光吸収測定装
置の原理を示す。以下、これらの図を参照しながら説明
して行く。
置の原理を示す。以下、これらの図を参照しながら説明
して行く。
一般に、チョッパの開閉には若干の時間を要し、この間
において、しばしば光の強度に乱れが生じる(第5図(
a))。従って、この過渡的な時間帯では信号パルス(
光検出器23の出力をV/F変換したパルス)の言i数
を避ける必要がある。そこで、フォトインクラブタ20
によって作らiする参照信号(第5図の(1))、第7
図の101)を利用し、単安定回路M1と高精度ゲート
パルス発生回路M3によってイご号の立上9より時間t
lだけ遅れた所から正確な時間幅t2の矩形信号105
を形成し、これを加31用の制御信号とする。同様に、
単安定回路M2と高精度ゲートパルス発生回路M!Iに
よシ106の様な矩形111号(時間幅11)を形成し
、これを減算用の制御信号とする。但し、信号105.
106においてパルス幅t2、t4は各々チョッパが完
全に開いた期間、完全に閉じた期間に含まれるようにす
る。
において、しばしば光の強度に乱れが生じる(第5図(
a))。従って、この過渡的な時間帯では信号パルス(
光検出器23の出力をV/F変換したパルス)の言i数
を避ける必要がある。そこで、フォトインクラブタ20
によって作らiする参照信号(第5図の(1))、第7
図の101)を利用し、単安定回路M1と高精度ゲート
パルス発生回路M3によってイご号の立上9より時間t
lだけ遅れた所から正確な時間幅t2の矩形信号105
を形成し、これを加31用の制御信号とする。同様に、
単安定回路M2と高精度ゲートパルス発生回路M!Iに
よシ106の様な矩形111号(時間幅11)を形成し
、これを減算用の制御信号とする。但し、信号105.
106においてパルス幅t2、t4は各々チョッパが完
全に開いた期間、完全に閉じた期間に含まれるようにす
る。
今までのディジタルロックイン法では、ゲートパルス1
04を作るのに、即ち高精度ゲートパルス発生回路M3
の部分に、単安定回路(=几C)を用いていたが、この
種のものではパルス幅の精度が10−3が限度であシ、
しかも、温度変化にも弱いという欠点があった。
04を作るのに、即ち高精度ゲートパルス発生回路M3
の部分に、単安定回路(=几C)を用いていたが、この
種のものではパルス幅の精度が10−3が限度であシ、
しかも、温度変化にも弱いという欠点があった。
本発明では、ゲートパルス幅t2、t4を正確(△t<
10−’ の精度)に一致させる為に、第8図の様な水
晶発振子、シフトレジスタ及びアップダウンカウンタを
用いて計数精度を10−6以下とした。即ち、V/F変
換器のフルスケール周波数をI M Hzとして実際の
光信号のV/F変換変換及パル2周波数00KHz程度
、ゲート幅t2、t4を2秒とすれば、計数精度は士−
L−=±6.25刈0−″の計数I?i殿が得ら扛る。
10−’ の精度)に一致させる為に、第8図の様な水
晶発振子、シフトレジスタ及びアップダウンカウンタを
用いて計数精度を10−6以下とした。即ち、V/F変
換器のフルスケール周波数をI M Hzとして実際の
光信号のV/F変換変換及パル2周波数00KHz程度
、ゲート幅t2、t4を2秒とすれば、計数精度は士−
L−=±6.25刈0−″の計数I?i殿が得ら扛る。
2X8X10”
従って、この結果、Io==lQカウントに対する△■
=数カウントの計数値は、少なくとも計数精度という観
点からは十分意味のあるものと言う“事ができ、非常に
弱い吸収h1:△1をも測定する事が出来るといえる。
=数カウントの計数値は、少なくとも計数精度という観
点からは十分意味のあるものと言う“事ができ、非常に
弱い吸収h1:△1をも測定する事が出来るといえる。
以上に見たように、光量差△■を求める際に、光i1:
: i (’ 、Iの相方に含まれる背景光電流や光電
子増倍管暗電流の時間的ドリフト、温度ドリフト等に起
因する雑音成分は、2〜3秒という繰返し周期の間では
殆んど変化しないので、アップダウンカウンタでΔI=
Io−Iを求める小によってかなシ除かれ、光計差△■
の純粋な対象気体による吸収量、に近い値が求められる
事になる。即ち、対象気体による吸収量を求める過程で
、同時に雑音成分をも取り除いてVN比を実効的に高め
るという一石二鳥の効果をもたらすわけである。残りの
雑音成分、f、!flち光電変換時の繰り返し周期より
長い周波数成分の雑音、ショット雑音、光電子放出が確
、 率分布を持つ事に起因する雑音等については、観測
時間を長く取る事によって、原理的に、いくらでもS/
N比を上げる噂ができ、この方式の大きなq!f徴と言
える。
: i (’ 、Iの相方に含まれる背景光電流や光電
子増倍管暗電流の時間的ドリフト、温度ドリフト等に起
因する雑音成分は、2〜3秒という繰返し周期の間では
殆んど変化しないので、アップダウンカウンタでΔI=
Io−Iを求める小によってかなシ除かれ、光計差△■
の純粋な対象気体による吸収量、に近い値が求められる
事になる。即ち、対象気体による吸収量を求める過程で
、同時に雑音成分をも取り除いてVN比を実効的に高め
るという一石二鳥の効果をもたらすわけである。残りの
雑音成分、f、!flち光電変換時の繰り返し周期より
長い周波数成分の雑音、ショット雑音、光電子放出が確
、 率分布を持つ事に起因する雑音等については、観測
時間を長く取る事によって、原理的に、いくらでもS/
N比を上げる噂ができ、この方式の大きなq!f徴と言
える。
第8図は第6図で説明した本発明に係る高精度ゲートパ
ルス発生回路〜■3の一実施例を示すブロック構成図で
ある。図において、参照番号31は例えば、4.194
304M)(z (D水晶発振回路、32は4ピントバ
イナリカウンタ、33は第1図のフォトインクジゲタ2
0で作られる例えばQ、151(z(周期(125秒)
U)@開信号の立上シと立下りに作られる1パルス(第
7図の102.103)イh号の和、34は例えば8ビ
ツトシフトレジスタ、35は例えば61161の4ピン
トアンプダウンカウンタ、36は3人力NORゲート、
37は単安定回路、38はJK−7リツグフロンプ、3
9 icj高Br度ゲートパルスの出力をそftそれボ
丁。
ルス発生回路〜■3の一実施例を示すブロック構成図で
ある。図において、参照番号31は例えば、4.194
304M)(z (D水晶発振回路、32は4ピントバ
イナリカウンタ、33は第1図のフォトインクジゲタ2
0で作られる例えばQ、151(z(周期(125秒)
U)@開信号の立上シと立下りに作られる1パルス(第
7図の102.103)イh号の和、34は例えば8ビ
ツトシフトレジスタ、35は例えば61161の4ピン
トアンプダウンカウンタ、36は3人力NORゲート、
37は単安定回路、38はJK−7リツグフロンプ、3
9 icj高Br度ゲートパルスの出力をそftそれボ
丁。
入力信号33(第6図の単安定回路I心、へ・12から
出力される信号102.103)は例えば8.125秒
1rjに1パルス(パルス幅0.3μS)スつシフトレ
ジスタ34に入力され、このシフトレジスタ34の出力
QHによって、高精度ゲートパルス作成用のJ K−ノ
リング70ツブ38を立ち上げる。それと同時にシフト
レジスタ34の出力Q〃によって、6個のアップダウン
カウンタ35の最上桁(第8図の一番右側のカウンタ)
のデータ(図では、J)CBA=0101より 5Xl
6’= 5242880力ウント分)をプリセットし
て水晶発振回路31、バイナリカウンタ32で作成され
た2、097152〜lHzパルスを■端に入力させて
、それにより、上記5242880力ウント分を減算し
始める。そして、アンプダウンカウンタ35の最上桁の
カウンタの下(”+’1.3ピントの出力(図〕QA1
QB1QC)が全てゼロ、R(Jち4 X 16’=4
194304カウント減算した&でNO比ゲート36、
単安定回路37により高精度ゲートパルスを閉じる1パ
ルスヲ作ってJK−7リンプフロング38を閉じる。こ
の結果、出力39には第7図104の如きパルス信号が
発生する。ゲートノ(ルス104のパルス幅は、上記4
X 165力ウント分=2.000000秒の高希′
度なゲートノくルスとなる。この高精度なゲートパルス
信号104は第6図のゲート回路OAに人力され、それ
によって、第4図の光検出器23の出力をV/k“変換
した出力信号SIGがゲート処理さiする。該ゲート回
路G1から第7図に示される出力信号107.108が
発生し、これらのイi(号107.108により光−1
,1,差が求められる。
出力される信号102.103)は例えば8.125秒
1rjに1パルス(パルス幅0.3μS)スつシフトレ
ジスタ34に入力され、このシフトレジスタ34の出力
QHによって、高精度ゲートパルス作成用のJ K−ノ
リング70ツブ38を立ち上げる。それと同時にシフト
レジスタ34の出力Q〃によって、6個のアップダウン
カウンタ35の最上桁(第8図の一番右側のカウンタ)
のデータ(図では、J)CBA=0101より 5Xl
6’= 5242880力ウント分)をプリセットし
て水晶発振回路31、バイナリカウンタ32で作成され
た2、097152〜lHzパルスを■端に入力させて
、それにより、上記5242880力ウント分を減算し
始める。そして、アンプダウンカウンタ35の最上桁の
カウンタの下(”+’1.3ピントの出力(図〕QA1
QB1QC)が全てゼロ、R(Jち4 X 16’=4
194304カウント減算した&でNO比ゲート36、
単安定回路37により高精度ゲートパルスを閉じる1パ
ルスヲ作ってJK−7リンプフロング38を閉じる。こ
の結果、出力39には第7図104の如きパルス信号が
発生する。ゲートノ(ルス104のパルス幅は、上記4
X 165力ウント分=2.000000秒の高希′
度なゲートノくルスとなる。この高精度なゲートパルス
信号104は第6図のゲート回路OAに人力され、それ
によって、第4図の光検出器23の出力をV/k“変換
した出力信号SIGがゲート処理さiする。該ゲート回
路G1から第7図に示される出力信号107.108が
発生し、これらのイi(号107.108により光−1
,1,差が求められる。
本発明の上記考”4成によれば、紫外域から赤外域にか
けての広い波長域での各種大気成分、大気汚染物質等の
弱い光吸収を用いた物質の定置及び環境条件が厳しい野
外、宇宙環境での物質定置、測定が可能となシ、データ
処理系に適当な処理装置(ミニコンピユータ、マイクロ
コンピュータ等)を付加する事によって常時、大気成分
、汚染気体等のモニタリングが出来るという利点がある
。
けての広い波長域での各種大気成分、大気汚染物質等の
弱い光吸収を用いた物質の定置及び環境条件が厳しい野
外、宇宙環境での物質定置、測定が可能となシ、データ
処理系に適当な処理装置(ミニコンピユータ、マイクロ
コンピュータ等)を付加する事によって常時、大気成分
、汚染気体等のモニタリングが出来るという利点がある
。
更に、前記実施例で述べた高精度化されたディジタルロ
ンフィン法を用いれば、本発す」におりる光吸収法とし
てだけでなく、地球超高j暗大気からの夜光観測や種々
の化学物質からの螢光、燐光スペクトル測定等微弱光の
検出という意味においても大いに威力を発輝するものと
思われる。
ンフィン法を用いれば、本発す」におりる光吸収法とし
てだけでなく、地球超高j暗大気からの夜光観測や種々
の化学物質からの螢光、燐光スペクトル測定等微弱光の
検出という意味においても大いに威力を発輝するものと
思われる。
以上本発明をその良好な一実施例について説明したが、
それは単なる例示的なものであり、ここで説明された実
施例によってのみ本願発明が限定されるものではなく、
その範囲内におけるすべての変形、変更を含むものであ
る。
それは単なる例示的なものであり、ここで説明された実
施例によってのみ本願発明が限定されるものではなく、
その範囲内におけるすべての変形、変更を含むものであ
る。
第1図(a)、(b)は従来におけるこの棹の装置60
例(単光束式)を示すブロック図、第2図(a)、(b
)は従来の装置ト°tの動作特性図、;33図は従来に
おけるこの種の装置の他側(複光束式)を示すブロック
図、第4図は本発明に係る装置k−の光学系の一実施例
を示す概略(74成図、第5図はチョッパの開閉による
光の強度を説明する為の図、第6図は本発明に使用され
るデイジタルロックインカ式の概略構成図、第7図は本
発明の1iIII作タイムチャート、第8図C:本発明
に係るゲートパルス発生回路の一実施例を示すブロック
構成図である。 1・・・連続光源、2・・・試着、3・・・分散系、4
・・・検出系、5−・・記録紙、6・・・減衰器、7@
・−チョッパ、8・・6サーボ増I19:A器、9・・
・記録計、Mls M2 拳・・単安定回路、M3・・
・高精度ゲートパルス発生回路、Ql 拳−・ゲート回
路、11・・争光諒、12・・・反射鏡、13・・・集
光レンズ、14・・命ビームスプリッタ、15a%15
b・・・窓、16・−や−測定に必猥とされる光路長を
もった多重反射型吸収セル、17・・・集光レンズ、1
8・・・減光器、19・・・チョッパモータ、20會・
・フォトインタラプタ、21・・・蝶形チョンパ、22
・・・狭帯域干渉フィルタ又は分光器、23・・・光検
知器(光電子増倍管)、24・・9光学系部分、31嗜
・・水晶発振回路、32・・・バイナリカウンタ、33
・・・参照信号の繰返し周期0.16Hz(=6.25
秒)の場合、8.125秒ID ニ第3図の単安定回路
M1、M2で作られるパルス102、・103の和、3
4@−・シフトレジスタ 35 @ψ・アンプダウンカ
ウンタ、360・・NOl(、ゲート、37・・の単安
定回路、38−−− JK−フリップフロッグ、39・
・・出力 特許出願人 日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 熊谷雄太部 al [bl 第1 図 第2図 第3 図 209− 第4図
例(単光束式)を示すブロック図、第2図(a)、(b
)は従来の装置ト°tの動作特性図、;33図は従来に
おけるこの種の装置の他側(複光束式)を示すブロック
図、第4図は本発明に係る装置k−の光学系の一実施例
を示す概略(74成図、第5図はチョッパの開閉による
光の強度を説明する為の図、第6図は本発明に使用され
るデイジタルロックインカ式の概略構成図、第7図は本
発明の1iIII作タイムチャート、第8図C:本発明
に係るゲートパルス発生回路の一実施例を示すブロック
構成図である。 1・・・連続光源、2・・・試着、3・・・分散系、4
・・・検出系、5−・・記録紙、6・・・減衰器、7@
・−チョッパ、8・・6サーボ増I19:A器、9・・
・記録計、Mls M2 拳・・単安定回路、M3・・
・高精度ゲートパルス発生回路、Ql 拳−・ゲート回
路、11・・争光諒、12・・・反射鏡、13・・・集
光レンズ、14・・命ビームスプリッタ、15a%15
b・・・窓、16・−や−測定に必猥とされる光路長を
もった多重反射型吸収セル、17・・・集光レンズ、1
8・・・減光器、19・・・チョッパモータ、20會・
・フォトインタラプタ、21・・・蝶形チョンパ、22
・・・狭帯域干渉フィルタ又は分光器、23・・・光検
知器(光電子増倍管)、24・・9光学系部分、31嗜
・・水晶発振回路、32・・・バイナリカウンタ、33
・・・参照信号の繰返し周期0.16Hz(=6.25
秒)の場合、8.125秒ID ニ第3図の単安定回路
M1、M2で作られるパルス102、・103の和、3
4@−・シフトレジスタ 35 @ψ・アンプダウンカ
ウンタ、360・・NOl(、ゲート、37・・の単安
定回路、38−−− JK−フリップフロッグ、39・
・・出力 特許出願人 日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 熊谷雄太部 al [bl 第1 図 第2図 第3 図 209− 第4図
Claims (1)
- 光源から発生する光を直接的に光検知器へ進む第1の光
と光吸収体を介して前記検知器へ進む第2の光とに分け
、他力デイジタルロツクイン力式における第1及び第2
の単安定回路から出力される第1及び第2のパルス化け
を、水晶発振回路、バイナリカウンタ、レジスタ、アッ
プダウンカウンタ、7リツプ70ツブを含むゲートパル
ス発生回路に人力せしめ、該ゲートパルス発生回路から
出力されるゲートパルスとOil記光検光検知器力を■
/F変」外しだ出力信号とを前記ディジタルロック17
カ式におけるゲート回路に入力せしめ、該ゲート回路か
らそれぞれ出力される前記第1の光に対1.し、した第
1の信号と111記第2の光に対応する第2の信号によ
V) Ai’l記光吸収光吸収体を行うことを特徴とし
たディジタルロンフィン型光吸収測定装置1°i、。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23079682A JPS59125042A (ja) | 1982-12-31 | 1982-12-31 | デイジタルロツクイン型光吸収測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23079682A JPS59125042A (ja) | 1982-12-31 | 1982-12-31 | デイジタルロツクイン型光吸収測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59125042A true JPS59125042A (ja) | 1984-07-19 |
Family
ID=16913402
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23079682A Pending JPS59125042A (ja) | 1982-12-31 | 1982-12-31 | デイジタルロツクイン型光吸収測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59125042A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01265140A (ja) * | 1987-12-31 | 1989-10-23 | Autom Appar Mas Gmbh | 移動プロセスストリーム中の材料をスペクトル光度計によって分析するための装置 |
-
1982
- 1982-12-31 JP JP23079682A patent/JPS59125042A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01265140A (ja) * | 1987-12-31 | 1989-10-23 | Autom Appar Mas Gmbh | 移動プロセスストリーム中の材料をスペクトル光度計によって分析するための装置 |
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